JP3119688B2 - 傾き検出方法 - Google Patents

傾き検出方法

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JP3119688B2 JP03270593A JP27059391A JP3119688B2 JP 3119688 B2 JP3119688 B2 JP 3119688B2 JP 03270593 A JP03270593 A JP 03270593A JP 27059391 A JP27059391 A JP 27059391A JP 3119688 B2 JP3119688 B2 JP 3119688B2
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尚三 福田
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電子部品実装設備にお
いて、電子部品を高速かつ高精度に実装するために必要
とされる視覚認識装置の画像認識方法で、処理対象物で
ある電子部品の傾きをその画像パターンより正確に計測
する方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、電子部品実装分野では電子部品を
高速かつ高精度に回路基板に実装する技術が必要とされ
ている。このため、電子部品を撮像して得られる画像パ
ターンを高速に処理して、電子部品の位置・傾きの検出
を高速かつ正確に行う画像認識技術が活用される傾向に
ある。
【0003】従来、画像認識技術を活用した傾き検出方
法は、画像パターンと背景の境界点を検出し、検出した
境界点を直線近似し、その直線の傾きをもって対象電子
部品の傾きとするといった方法が提案されている。
【0004】以下図を参照しながら従来の傾き検出方法
に付いて説明する。図4はリード付き電子部品40を対象
とし、上部リードの先端位置の傾きを検出する例を示す
ものである。
【0005】まずリード付き電子部品40の境界点を検出
するための走査を行う。41は走査線であり、走査線41上
で輝度変化が著しく起こる位置を境界点42と判定する。
この走査処理を一定間隔で行うことで、図4(a) のよう
に、境界点42が検出される。
【0006】次に検出された境界点42を最小二乗法など
により直線近似することで、図4(b) のように、近似直
線44を求め、近似直線44の傾きをもって対象となるリー
ド付き電子部品40の上部リード先端位置の傾きとする。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】前述した従来技術によ
る傾き検出方法で境界点の直線近似を行う際、ノイズと
なる不要な境界点を選別し削除しなければならない。そ
のため図4(b) に示すようなウインド43を設け、内部の
境界点のみを直線近似するといった方法がとられてい
る。
【0008】しかし、図5(a) に示すように対象となる
リード付き電子部品50が回転した場合、図5(b) のよう
にウインド53内に傾き検出に不要な境界点が含まれ、近
似直線54は正しい傾きを示さなくなり、対象物の正確な
傾きを検出できない。
【0009】本発明は、上述した従来技術の欠点を克服
し、高速かつ信頼性の高い傾き検出方法を提供すること
を目的とするものである。
【0010】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に本発明の傾き検出方法は、まず従来方法と同様に処理
対象となる電子部品の画像パターンの境界点を検出す
る。次に、検出された境界点のうち、あらかじめ与えら
れた基準軸方向(水平または垂直方向)の最外端に位置
する境界点を求め第1の外郭点とする。この第1の外郭
点からみた他の境界点の方向(右回りまたは左回り方
向)を目標参照方向として定め、始点から目標参照方向
に隣接する境界点へのベクトルと、残りの各境界点への
ベクトルとのなす角が、目標参照方向と逆回転方向に最
大となる境界点を抽出し、次の外郭点とする。たとえ
ば、右隣の境界点へのベクトルが基準とすれば、右回り
が目標参照方向であるから、左回りに最大の角をなすベ
クトルの指す境界点を抽出し、次の外郭点とする。同様
にして順次全ての外郭点を検出し外郭点群を得る。検出
された外郭点群のうち隣合う外郭点対が、傾きを表す直
線上にあることを判別する所定の条件に合うものを抽出
する。抽出された外郭点対を通る直線の傾きを対象部品
の傾きとして検出する。
【0011】
【作用】本発明は上記した構成により、傾き検出に不要
な境界点を自動的に無視することが可能となる。その
上、種々の条件により傾きを表す境界点を正確に判別で
きるので、リード付き電子部品などのような画像パター
ンに凹凸のある対象に対しても、信頼性の高い傾き検出
を行うことが可能となる。
【0012】
【実施例】本発明の一実施例の傾き検出方法として、リ
ード付き電子部品のリード先端位置の傾きを検出する方
法について図1、図2、図3を用いて説明する。
【0013】図1において、第1工程は画像パターン入
力工程1である。この工程で、認識対象物であるリード
付き電子部品をビデオカメラなどの撮像手段で撮像する
ことにより映像信号を得る。得られた映像信号をデジタ
ル化し、図2(a) の画像パターン20とする。
【0014】第2工程は境界点検出工程2である。画像
パターンと背景の境界では、著しい輝度レベルの変化が
みられる。そこで第1工程により得られた画像パターン
20に対して一定間隔で走査を行い、図2(a) のように、
走査線21上で著しい輝度レベルの変化がみられる点を求
め境界点22とする。
【0015】第3工程は第1の外郭点決定工程3であ
る。あらかじめ与えられているリード方向24により、図
2(b) のように、リード付き電子部品20の上部リード先
端位置の周辺にウインド23を設け、このウインド23とリ
ード付き電子部品の画像パターン20の輪郭線のたとえば
最右端の交点を第1の外郭点25とする。
【0016】なお、ウインドを設定しない場合は、第2
工程より得られた境界点22のうち、あらかじめ与えられ
た基準軸方向のたとえば最右端に位置する境界点を第1
の外郭点とする。このとき基準軸方向として、たとえ
ば、リード方向24に垂直方向の軸などを用いる。
【0017】第4工程は外郭点決定工程4である。図3
(a) のように、始点である第1の外郭点25をP0とし、
P0より他の境界点P1〜P10を参照するたとえば右回
り方向を目標参照方向31とする。そして図3(b) のよう
に、P0に隣接する境界点P1へのベクトルをV1と
し、P2〜P10へのベクトルのうち、V1を基準とし、
目標参照方向31の逆回転方向32つまり左回りに最大の角
をなすベクトルを求めると、境界点P2へのベクトルV
2となる。よってP2を第2の外郭点とする。以下同様
に次の外郭点を求める。
【0018】第5工程は外郭点決定終了判定工程5であ
る。第4工程により検出された外郭点を新たな始点と
し、参照する境界点が無くなるまで第4工程を繰り返し
実行し、外郭点決定を終了する。
【0019】なお、第2の外郭点P2を始点とし第3の
外郭点を求める場合、境界点P3,P4,P5へのベク
トルは同方向であるから、始点より最も離れたP5を第
3の外郭点とする。また、第3の外郭点P5を始点とし
第4の外郭点を求めるとP6が候補となる。しかし、境
界点P2から境界点P5へのベクトルV3と、境界点P
5から境界点P6へのベクトルV4のなす角θは小さく
同一直線上にあると判定できる。そこで、第3の外郭点
P5を取消し、P6を第3の外郭点とする。さらに、P
8が第4の外郭点、P10が第5の外郭点となる。
【0020】第6工程は傾き決定工程6である。前記工
程により検出された外郭点群のうち、隣合う外郭点対P
0,P2,P6,P8,P10を結ぶ線分をそれぞれL
1,L2,L3,L4とする。まず、外郭点対間に挟ま
れる境界点の数の多いものを判断条件とすると、L2が
選択される。次に外郭点対間の距離が離れたものを判断
条件にすると、同様にL2が選択される。リード先端位
置の傾きはリード方向24と垂直に近い値であるから、次
にリード方向と垂直に近い線分を判断条件にすると、L
2とL3が選択される。以上の判定条件より、L2がリ
ード先端位置の傾きを表す線分と判断できる。よってL
2の傾きをもってリード先端位置の傾きとし、傾き検出
を終了する。
【0021】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、傾き検
出に不要な境界点の存在に影響されることなく、正確な
傾きの検出を行うことが可能なため、処理対象となる電
子部品の形状や姿勢に影響される可能性が減少し、より
信頼性の高い対象物の傾き検出が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の傾き検出方法の概要を示す
フローチャートである。
【図2】本発明の一実施例の傾き検出方法としてリード
付き電子部品のリード先端位置の傾きを検出する場合
の、境界点検出および第1の外郭点決定を説明する図で
ある。
【図3】同リード付電子部品のリード先端位置の傾きを
検出する場合の、残りの外郭点決定および傾き決定を説
明する図である。
【図4】従来の傾き検出方法の一例をリード付き電子部
品の先端位置の傾き検出で説明する図である。
【図5】従来の同リード付き電子部品の先端位置の傾き
検出の際の問題点を説明する図である。
【符号の説明】
1 画像パターン入力工程 2 境界点検出工程 3 第1の外郭点決定工程 4 外郭点決定工程 5 外郭点検出終了判定工程 20 リード付き電子部品の画像パターン 22 境界点 23 ウインド
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 清水 隆 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 器産業株式会社内 (56)参考文献 特開 平2−223812(JP,A) 特開 平3−121573(JP,A) 特開 昭63−271584(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G06T 1/00 G06T 7/00 - 7/60 H04N 7/18 G01N 21/84 - 21/958

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 認識対象物を撮像して画像を得る第1工
    程と、認識対象物の画像パターンと背景の境界点を検出
    する第2工程と、前記第2工程で検出された境界点よ
    り、あらかじめ与えられた水平または垂直の基準軸方向
    の最外端に位置する境界点を求め第1の外郭点とする第
    3工程と、前記第1の外郭点を始点とし、始点より他の
    境界点を参照する方向を右または左回りの目標参照方向
    と定める場合、始点から前記目標参照方向に隣合う境界
    点へ向かうベクトルに対し、残りの境界点へのベクトル
    のうちで目標参照方向と逆回転方向に最大の角をなすベ
    クトルを検出し、検出したベクトルが示す境界点を次の
    外郭点とする第4工程と、前記第4工程により検出され
    た外郭点を新たな始点とし、順次次の外郭点を検出して
    いく第5工程と、検出された外郭点群のうち隣合う外郭
    点対において、所定の判定条件により1組の外郭点対を
    求め、2点を通る直線の傾きをもって認識対象物の傾き
    とする第6工程を有する傾き検出方法。
  2. 【請求項2】 あらかじめ傾き検出対象となる領域がわ
    かっている場合、その領域にウインドを設け、処理対象
    をウインド内のみとし、さらに第3工程において、ウイ
    ンドと画像パターンの境界線との交点を第1の外郭点と
    し、第4工程から第6工程の処理を行うことを特徴とす
    る請求項1記載の傾き検出方法。
  3. 【請求項3】 第4工程において、該当するベクトルが
    複数検出された場合には最も良いベクトルを選択し、第
    5工程において、前回検出したベクトルとのなす角が所
    定の角度以内であるベクトルを検出した場合、始点とな
    っている前回検出された外郭点を抹消し、今回検出され
    た外郭点に置き換えることを特徴とする請求項1記載の
    傾き検出方法。
  4. 【請求項4】 第6工程において、外郭点対間の距離の
    長いもの、あるいは外郭点対間に挟まれる境界点の数の
    多いもの、あるいはあらかじめ与えられた基準軸方向と
    外郭点対を通る直線のなす角の小さいものの、1つまた
    はその組み合わせ判定条件とする請求項1記載の傾き検
    出方法。
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