JP3264997B2 - 画像入力装置 - Google Patents
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は,ファクシミリ装置,ス
キャナー等に適用される画像入力装置に関し,より詳細
には,CCD(固体撮像素子)を用いて画像データを読
み取る画像入力装置に関する。
キャナー等に適用される画像入力装置に関し,より詳細
には,CCD(固体撮像素子)を用いて画像データを読
み取る画像入力装置に関する。
【0002】
【従来の技術】CCD(固体撮像素子)を用いて画像デ
ータを読み取る画像入力装置では,原稿に対して光源か
ら光を照射し,その反射光をCCDで光電変換によって
アナログ信号として入力し,A/D変換(アナログ・デ
ジタル変換),シェーディング補正,MTF補正,2値
化等の処理を施すことにより,画像データとして読み取
っている。
ータを読み取る画像入力装置では,原稿に対して光源か
ら光を照射し,その反射光をCCDで光電変換によって
アナログ信号として入力し,A/D変換(アナログ・デ
ジタル変換),シェーディング補正,MTF補正,2値
化等の処理を施すことにより,画像データとして読み取
っている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら,従来の
CCDを用いて画像データを読み取る画像入力装置によ
れば,CCDの眼(読み取り単位領域)の大きさよりも
細い横細線を読み取った場合にCCDからの出力が低く
なって,その部分の画素が白画素と判定される恐れがあ
るため,線切れが発生し,画質が低下するという問題点
があった。
CCDを用いて画像データを読み取る画像入力装置によ
れば,CCDの眼(読み取り単位領域)の大きさよりも
細い横細線を読み取った場合にCCDからの出力が低く
なって,その部分の画素が白画素と判定される恐れがあ
るため,線切れが発生し,画質が低下するという問題点
があった。
【0004】具体的には,図6に示すように,原稿上で
のCCDの眼の大きさよりも細い横細線を読み取った場
合,CCDの出力が原稿白地レベルに近い値となる。図
7の○(生データ)は,このときのCCDの出力を示
す。その後,この生データ○はMTF補正によってピー
ク強調が施されるが,通常の3*3のマトリックスのM
TF補正では,前後の出力差が小さいため,図7の●
(MTF補正後データ)で示す程度の補正データしか得
られない。このため,2値化処理におけるスレッシュレ
ベル(即ち,黒画素判定レベル)にかからなくなり,白
画素と判定され,線切れが発生する。
のCCDの眼の大きさよりも細い横細線を読み取った場
合,CCDの出力が原稿白地レベルに近い値となる。図
7の○(生データ)は,このときのCCDの出力を示
す。その後,この生データ○はMTF補正によってピー
ク強調が施されるが,通常の3*3のマトリックスのM
TF補正では,前後の出力差が小さいため,図7の●
(MTF補正後データ)で示す程度の補正データしか得
られない。このため,2値化処理におけるスレッシュレ
ベル(即ち,黒画素判定レベル)にかからなくなり,白
画素と判定され,線切れが発生する。
【0005】本発明は上記に鑑みてなされたものであっ
て,横細線の線切れを低減させ,画質の向上を図ること
を目的とする。
て,横細線の線切れを低減させ,画質の向上を図ること
を目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は上記の目的を達
成するために,注目画素と原稿白地レベルとの差分,及
び,副走査方向の前後数画素と原稿白地レベルとの差分
の合計レベルを求め,合計レベルと所定の合計レベル判
定値とを比較する第1の比較手段と,注目画素の差分と
所定のピークレベル判定値とを比較する第2の比較手段
と,注目画素を中心とした出力形状が細線を読み取った
出力形状と一致するか否かを判定する第1の判定手段
と,前記合計レベル判定値より小で,ピークレベル判定
値より小で,且つ,一致すると判定された場合に,注目
画素を横細線と認識する細線認識手段と,前記細線認識
手段によって横細線と認識された場合に,注目画素に対
する細線用スレッシュレベルとして通常のスレッシュレ
ベルより白側のレベルにスレッシュレベルを設定するス
レッシュレベル設定手段とを備えた画像入力装置を提供
するものである。
成するために,注目画素と原稿白地レベルとの差分,及
び,副走査方向の前後数画素と原稿白地レベルとの差分
の合計レベルを求め,合計レベルと所定の合計レベル判
定値とを比較する第1の比較手段と,注目画素の差分と
所定のピークレベル判定値とを比較する第2の比較手段
と,注目画素を中心とした出力形状が細線を読み取った
出力形状と一致するか否かを判定する第1の判定手段
と,前記合計レベル判定値より小で,ピークレベル判定
値より小で,且つ,一致すると判定された場合に,注目
画素を横細線と認識する細線認識手段と,前記細線認識
手段によって横細線と認識された場合に,注目画素に対
する細線用スレッシュレベルとして通常のスレッシュレ
ベルより白側のレベルにスレッシュレベルを設定するス
レッシュレベル設定手段とを備えた画像入力装置を提供
するものである。
【0007】また,前述した構成に加えて,注目画素に
対して主走査方向の前側の数画素が黒画素であるか否か
を判定する第2の判定手段を備え,前記細線認識手段
は,前記合計レベル判定値より小で,ピークレベル判定
値より小で,判定結果が一致で,且つ,主走査方向の前
側の数画素が黒画素であると判定された場合に,注目画
素を横細線と認識する画像入力装置を提供するものであ
る。
対して主走査方向の前側の数画素が黒画素であるか否か
を判定する第2の判定手段を備え,前記細線認識手段
は,前記合計レベル判定値より小で,ピークレベル判定
値より小で,判定結果が一致で,且つ,主走査方向の前
側の数画素が黒画素であると判定された場合に,注目画
素を横細線と認識する画像入力装置を提供するものであ
る。
【0008】また,前述した構成に加えて,注目画素に
対して主走査方向の前側の数画素が黒画素であり,且
つ,注目画素の前ラインの数画素が白画素であるか否か
を判定する第2の判定手段を備え,前記細線認識手段
は,前記合計レベル判定値より小で,ピークレベル判定
値より小で,判定結果が一致で,且つ,主走査方向の前
側の数画素が黒画素及び前ラインの数画素が白画素であ
ると判定された場合に,注目画素を横細線と認識する画
像入力装置を提供するものである。
対して主走査方向の前側の数画素が黒画素であり,且
つ,注目画素の前ラインの数画素が白画素であるか否か
を判定する第2の判定手段を備え,前記細線認識手段
は,前記合計レベル判定値より小で,ピークレベル判定
値より小で,判定結果が一致で,且つ,主走査方向の前
側の数画素が黒画素及び前ラインの数画素が白画素であ
ると判定された場合に,注目画素を横細線と認識する画
像入力装置を提供するものである。
【0009】尚,前述した合計レベル判定値,及び,ピ
ークレベル判定値は,副走査方向の読み取り画素密度に
応じて変更されることが望ましい。
ークレベル判定値は,副走査方向の読み取り画素密度に
応じて変更されることが望ましい。
【0010】また,前記スレッシュレベル設定手段は,
細線用スレッシュレベルを副走査方向の読み取り線密度
に応じて変更することが望ましい。
細線用スレッシュレベルを副走査方向の読み取り線密度
に応じて変更することが望ましい。
【0011】
【作用】本発明の画像入力装置(請求項1)は,第1の
比較手段,第2の比較手段,第1の判定手段によって,
合計レベル判定値より小で,ピークレベル判定値より小
で,且つ,一致すると判定された場合に,細線認識手段
で注目画素を横細線と認識する。横細線と認識される
と,スレッシュレベル設定手段はスレッシュレベルを細
線用スレッシュレベルに設定する。
比較手段,第2の比較手段,第1の判定手段によって,
合計レベル判定値より小で,ピークレベル判定値より小
で,且つ,一致すると判定された場合に,細線認識手段
で注目画素を横細線と認識する。横細線と認識される
と,スレッシュレベル設定手段はスレッシュレベルを細
線用スレッシュレベルに設定する。
【0012】また,本発明の画像入力装置(請求項2)
は,第1の比較手段,第2の比較手段,第1の判定手
段,第2の判定手段によって,合計レベル判定値より小
で,ピークレベル判定値より小で,判定結果が一致で,
且つ,主走査方向の前側の数画素が黒画素であると判定
された場合に,細線認識手段で注目画素を横細線と認識
する。横細線と認識されると,スレッシュレベル設定手
段はスレッシュレベルを細線用スレッシュレベルに設定
する。
は,第1の比較手段,第2の比較手段,第1の判定手
段,第2の判定手段によって,合計レベル判定値より小
で,ピークレベル判定値より小で,判定結果が一致で,
且つ,主走査方向の前側の数画素が黒画素であると判定
された場合に,細線認識手段で注目画素を横細線と認識
する。横細線と認識されると,スレッシュレベル設定手
段はスレッシュレベルを細線用スレッシュレベルに設定
する。
【0013】また,本発明の画像入力装置(請求項3)
は,第1の比較手段,第2の比較手段,第1の判定手
段,第2の判定手段によって,合計レベル判定値より小
で,ピークレベル判定値より小で,判定結果が一致で,
且つ,主走査方向の前側の数画素が黒画素及び前ライン
の数画素が白画素であると判定された場合に,細線認識
手段で注目画素を横細線と認識する。横細線と認識され
ると,スレッシュレベル設定手段はスレッシュレベルを
細線用スレッシュレベルに設定する。
は,第1の比較手段,第2の比較手段,第1の判定手
段,第2の判定手段によって,合計レベル判定値より小
で,ピークレベル判定値より小で,判定結果が一致で,
且つ,主走査方向の前側の数画素が黒画素及び前ライン
の数画素が白画素であると判定された場合に,細線認識
手段で注目画素を横細線と認識する。横細線と認識され
ると,スレッシュレベル設定手段はスレッシュレベルを
細線用スレッシュレベルに設定する。
【0014】
【実施例】以下,本発明の画像入力装置をファクシミリ
装置に適用した場合を例とし,〔実施例1〕,〔実施例
2〕,〔実施例3〕の順に図面を参照して詳細に説明す
る。
装置に適用した場合を例とし,〔実施例1〕,〔実施例
2〕,〔実施例3〕の順に図面を参照して詳細に説明す
る。
【0015】〔実施例1〕図1は,実施例1のファクシ
ミリ装置のブロック構成図を示し,CCD(固体撮像素
子)を介して原稿画像を入力する画像入力部101と,
画像入力部101で入力した原稿画像に各種画像処理を
施す画像処理部102と,装置全体の制御を行うCPU
103と,画像データのバッファ等の働きをするRAM
104と,数値入力及びモード入力を行うための操作部
105と,画像データを出力するための記録部106
と,ファクシミリ送信・受信の制御を行う通信制御部1
07とを備えている。尚,108はシステムバスを示
す。
ミリ装置のブロック構成図を示し,CCD(固体撮像素
子)を介して原稿画像を入力する画像入力部101と,
画像入力部101で入力した原稿画像に各種画像処理を
施す画像処理部102と,装置全体の制御を行うCPU
103と,画像データのバッファ等の働きをするRAM
104と,数値入力及びモード入力を行うための操作部
105と,画像データを出力するための記録部106
と,ファクシミリ送信・受信の制御を行う通信制御部1
07とを備えている。尚,108はシステムバスを示
す。
【0016】図2は,画像入力部101及び画像処理部
102の構成を示すブロック図である。画像入力部10
1は,光電変換によって原稿画像を読み取るCCD20
1と,CCD201で読み取った画像データ(アナログ
信号)をデジタル信号に変換し,更に,シェーディング
補正を行うA/D変換・シェーディング補正回路202
とを備えている。画像処理部102は,細線認識を行う
細線認識回路203と,画像入力部101から入力した
データを記憶する画像用メモリ204と,細線認識回路
203を介して画像データを入力し,MTF補正及び2
値化を行うMTF補正・2値化回路205と,細線認識
回路203で横細線と認識された注目画素のスレッシュ
レベルを細線用スレッシュレベルに設定するスレッシュ
レベル設定回路206とを備えている。尚,MTF補正
・2値化回路205は,スレッシュレベル設定回路20
6において各画素単位に設定されるスレッシュレベルに
基づいて2値化を実行する。
102の構成を示すブロック図である。画像入力部10
1は,光電変換によって原稿画像を読み取るCCD20
1と,CCD201で読み取った画像データ(アナログ
信号)をデジタル信号に変換し,更に,シェーディング
補正を行うA/D変換・シェーディング補正回路202
とを備えている。画像処理部102は,細線認識を行う
細線認識回路203と,画像入力部101から入力した
データを記憶する画像用メモリ204と,細線認識回路
203を介して画像データを入力し,MTF補正及び2
値化を行うMTF補正・2値化回路205と,細線認識
回路203で横細線と認識された注目画素のスレッシュ
レベルを細線用スレッシュレベルに設定するスレッシュ
レベル設定回路206とを備えている。尚,MTF補正
・2値化回路205は,スレッシュレベル設定回路20
6において各画素単位に設定されるスレッシュレベルに
基づいて2値化を実行する。
【0017】以上の構成において,その動作を説明す
る。図6に示すように,原稿上でのCCDの眼の大きさ
よりも細い横細線を読み取った場合,CCDの出力が原
稿白地レベルに近い値となる。図7の○(生データ)
は,このときのCCDの出力を示す。この生データ○に
対してそのままMTF補正を行うと図7の●(MTF補
正後データ)で示す程度の補正データとなる。このた
め,2値化処理におけるスレッシュレベル(即ち,黒画
素判定レベル)にかからなくなり,白画素と判定され,
線切れが発生する恐れがある。
る。図6に示すように,原稿上でのCCDの眼の大きさ
よりも細い横細線を読み取った場合,CCDの出力が原
稿白地レベルに近い値となる。図7の○(生データ)
は,このときのCCDの出力を示す。この生データ○に
対してそのままMTF補正を行うと図7の●(MTF補
正後データ)で示す程度の補正データとなる。このた
め,2値化処理におけるスレッシュレベル(即ち,黒画
素判定レベル)にかからなくなり,白画素と判定され,
線切れが発生する恐れがある。
【0018】従って,実施例1では,細線認識回路20
3において,注目画素と原稿白地レベルとの差分,及
び,副走査方向の前後数画素と原稿白地レベルとの差分
の合計レベルを求め,合計レベルと所定の合計レベル判
定値とを比較し,続いて,注目画素の差分と所定のピー
クレベル判定値とを比較し,更に,注目画素を中心とし
た出力形状が細線を読み取った出力形状と一致するか否
かを判定し,上記の比較・判定結果に基づいて,合計レ
ベル判定値より小で,ピークレベル判定値より小で,且
つ,一致すると判定された場合に,注目画素を横細線と
認識する。注目画素が横細線と認識された場合には,ス
レッシュレベル設定回路206を介して注目画素に対す
るスレッシュレベルを,通常のスレッシュレベルより白
側のレベルである細線用スレッシュレベルに設定する。
3において,注目画素と原稿白地レベルとの差分,及
び,副走査方向の前後数画素と原稿白地レベルとの差分
の合計レベルを求め,合計レベルと所定の合計レベル判
定値とを比較し,続いて,注目画素の差分と所定のピー
クレベル判定値とを比較し,更に,注目画素を中心とし
た出力形状が細線を読み取った出力形状と一致するか否
かを判定し,上記の比較・判定結果に基づいて,合計レ
ベル判定値より小で,ピークレベル判定値より小で,且
つ,一致すると判定された場合に,注目画素を横細線と
認識する。注目画素が横細線と認識された場合には,ス
レッシュレベル設定回路206を介して注目画素に対す
るスレッシュレベルを,通常のスレッシュレベルより白
側のレベルである細線用スレッシュレベルに設定する。
【0019】図3は,画像処理部102における処理を
示すフローチャートである。図7に示すように,副走査
方向画素の各々の出力と原稿白地レベルとの差分をA,
B,C,D,Eとすると,差分Cの画素(注目画素)を
横細線と認識する条件は, A+B+C+D+E<α(合計レベル判定値) C<β(ピークレベル判定値) C>B>A,C>D>E(Cをピークとした細線を読み
取った出力形状) を満たす場合となる。
示すフローチャートである。図7に示すように,副走査
方向画素の各々の出力と原稿白地レベルとの差分をA,
B,C,D,Eとすると,差分Cの画素(注目画素)を
横細線と認識する条件は, A+B+C+D+E<α(合計レベル判定値) C<β(ピークレベル判定値) C>B>A,C>D>E(Cをピークとした細線を読み
取った出力形状) を満たす場合となる。
【0020】従って,細線認識回路203において,先
ず,注目画素及び注目画素の副走査方向の前後4画素の
それぞれの差分A〜Eを求め,これらの差分の合計(A
+B+C+D+E)と予め設定してある合計レベル判定
値αとを比較する(S301)。ここで,A+B+C+
D+E<αでなければ,横細線でないと判断し,S30
5へ進む。
ず,注目画素及び注目画素の副走査方向の前後4画素の
それぞれの差分A〜Eを求め,これらの差分の合計(A
+B+C+D+E)と予め設定してある合計レベル判定
値αとを比較する(S301)。ここで,A+B+C+
D+E<αでなければ,横細線でないと判断し,S30
5へ進む。
【0021】一方,A+B+C+D+E<αであれば,
注目画素の差分Cと予め設定してあるピークレベル判定
値βとを比較する(S302)。ここで,C<βでなけ
れば,横細線でないと判断し,S305へ進む。
注目画素の差分Cと予め設定してあるピークレベル判定
値βとを比較する(S302)。ここで,C<βでなけ
れば,横細線でないと判断し,S305へ進む。
【0022】一方,C<βであれば,注目画素をピーク
とした出力形状であるか否かを判定する(S303)。
ここで,C>B>A,C>D>Eでなければ,横細線で
ないと判断し,S305へ進む。C>B>A,C>D>
Eであれば,S301〜S303の横細線と認識する3
つの条件を満足するので,注目画素を横細線と認識し,
スレッシュレベル設定回路206において,細線用スレ
ッシュレベルを設定する(S304)。細線用スレッシ
ュレベルは,通常のスレッシュレベルより白側のレベル
であり,例えば,図7に示すスレッシュ2のレベルであ
る。
とした出力形状であるか否かを判定する(S303)。
ここで,C>B>A,C>D>Eでなければ,横細線で
ないと判断し,S305へ進む。C>B>A,C>D>
Eであれば,S301〜S303の横細線と認識する3
つの条件を満足するので,注目画素を横細線と認識し,
スレッシュレベル設定回路206において,細線用スレ
ッシュレベルを設定する(S304)。細線用スレッシ
ュレベルは,通常のスレッシュレベルより白側のレベル
であり,例えば,図7に示すスレッシュ2のレベルであ
る。
【0023】一方,S301〜S303において,条件
を満たさない項目がある場合には,S305で通常のス
レッシュレベルが設定される。
を満たさない項目がある場合には,S305で通常のス
レッシュレベルが設定される。
【0024】次に,S306においてMTF補正を行
う。MTF補正によって生データ○は,図7に示すよう
にMTF補正後データ●に補正される。従って,注目画
素のMTF補正後データ●のようにスレッシュ2より低
くなり,S307の2値化処理によって,横細線画素の
黒と判断されるべき画素が黒と判断され,細線が切れる
ことなく再現される。
う。MTF補正によって生データ○は,図7に示すよう
にMTF補正後データ●に補正される。従って,注目画
素のMTF補正後データ●のようにスレッシュ2より低
くなり,S307の2値化処理によって,横細線画素の
黒と判断されるべき画素が黒と判断され,細線が切れる
ことなく再現される。
【0025】前述したように実施例1では,横細線を認
識するための条件を設定し,その条件を満たした場合に
注目画素を横細線と認識し,注目画素のスレッシュレベ
ルを細線用スレッシュレベルに設定するので,横細線が
切れにくくなり,画質の向上を図ることができる。
識するための条件を設定し,その条件を満たした場合に
注目画素を横細線と認識し,注目画素のスレッシュレベ
ルを細線用スレッシュレベルに設定するので,横細線が
切れにくくなり,画質の向上を図ることができる。
【0026】尚,前述した合計レベル判定値α,ピーク
レベル判定値βの値は副走査方向の読み取り密度(例え
ば,3.85本/mm,7.7本/mm,15.4本/
mm)に応じて最適な値に設定を変更する。これによ
り,更に横細線の認識率を向上させることができる。
レベル判定値βの値は副走査方向の読み取り密度(例え
ば,3.85本/mm,7.7本/mm,15.4本/
mm)に応じて最適な値に設定を変更する。これによ
り,更に横細線の認識率を向上させることができる。
【0027】また,スレッシュレベル設定回路206で
設定する細線用スレッシュレベルは,副走査方向の読み
取り線密度(即ち,線幅)に応じて可変とする。例え
ば,ふつう字モード(副走査方向3.85本/mm)の
ときは,小さい字モード(副走査方向7.7本/mm)
よりもスレッシュレベルを高く設定して線切れをなくす
ようにすることができる。
設定する細線用スレッシュレベルは,副走査方向の読み
取り線密度(即ち,線幅)に応じて可変とする。例え
ば,ふつう字モード(副走査方向3.85本/mm)の
ときは,小さい字モード(副走査方向7.7本/mm)
よりもスレッシュレベルを高く設定して線切れをなくす
ようにすることができる。
【0028】〔実施例2〕実施例2は,実施例1の構成
及び動作に加えて,注目画素に対して主走査方向の前側
の数画素が黒画素であるか否かを判定する判定手段(後
述するS401)を追加したものである。従って,基本
的な構成及び動作は,実施例1と共通につき,異なる部
分のみを説明する。
及び動作に加えて,注目画素に対して主走査方向の前側
の数画素が黒画素であるか否かを判定する判定手段(後
述するS401)を追加したものである。従って,基本
的な構成及び動作は,実施例1と共通につき,異なる部
分のみを説明する。
【0029】図4(a)は,実施例2の画像処理部10
2における処理を示すフローチャートであり,図3のフ
ローチャートにS401を追加したものである。従っ
て,注目画素を横細線と認識する条件は, A+B+C+D+E<α(合計レベル判定値) C<β(ピークレベル判定値) C>B>A,C>D>E(Cをピークとした細線を読み
取った出力形状) C1,C2=黒 を満たす場合となる。
2における処理を示すフローチャートであり,図3のフ
ローチャートにS401を追加したものである。従っ
て,注目画素を横細線と認識する条件は, A+B+C+D+E<α(合計レベル判定値) C<β(ピークレベル判定値) C>B>A,C>D>E(Cをピークとした細線を読み
取った出力形状) C1,C2=黒 を満たす場合となる。
【0030】ここで,C1,C2は,図4(b)に示す
ように,注目画素をC0とした場合の注目画素C0に対
して主走査方向の前側の2画素である。
ように,注目画素をC0とした場合の注目画素C0に対
して主走査方向の前側の2画素である。
【0031】S401において,C1,C2=黒と判定
されると,S301〜S401の横細線と認識する4つ
の条件を満足するので,注目画素を横細線と認識し,ス
レッシュレベル設定回路206において,細線用スレッ
シュレベルを設定する(S304)。細線用スレッシュ
レベルは,通常のスレッシュレベルより白側のレベルで
あり,例えば,図7に示すスレッシュ2のレベルであ
る。
されると,S301〜S401の横細線と認識する4つ
の条件を満足するので,注目画素を横細線と認識し,ス
レッシュレベル設定回路206において,細線用スレッ
シュレベルを設定する(S304)。細線用スレッシュ
レベルは,通常のスレッシュレベルより白側のレベルで
あり,例えば,図7に示すスレッシュ2のレベルであ
る。
【0032】次に,S306においてMTF補正を行
う。MTF補正によって生データ○は,図7に示すよう
にMTF補正後データ●に補正される。従って,注目画
素のMTF補正後データ●のようにスレッシュ2より低
くなり,S307の2値化処理によって,横細線画素の
黒と判断されるべき画素が黒と判断され,細線が切れる
ことなく再現される。
う。MTF補正によって生データ○は,図7に示すよう
にMTF補正後データ●に補正される。従って,注目画
素のMTF補正後データ●のようにスレッシュ2より低
くなり,S307の2値化処理によって,横細線画素の
黒と判断されるべき画素が黒と判断され,細線が切れる
ことなく再現される。
【0033】前述したように実施例2では,横細線を認
識するための条件に注目画素の前2画素が黒画素である
か,即ち,連続した細線と判断して良いか否かの判定を
加えたので,横細線の認識率を向上させることができ
る。また,実施例1と同様の効果を奏することができ
る。
識するための条件に注目画素の前2画素が黒画素である
か,即ち,連続した細線と判断して良いか否かの判定を
加えたので,横細線の認識率を向上させることができ
る。また,実施例1と同様の効果を奏することができ
る。
【0034】〔実施例3〕実施例3は,実施例1の構成
及び動作に加えて,注目画素に対して主走査方向の前側
の数画素が黒画素であり,且つ,注目画素の前ラインの
数画素が白画素であるか否かを判定する判定手段(後述
するS501)を追加したものである。従って,基本的
な構成及び動作は,実施例1と共通につき,異なる部分
のみを説明する。
及び動作に加えて,注目画素に対して主走査方向の前側
の数画素が黒画素であり,且つ,注目画素の前ラインの
数画素が白画素であるか否かを判定する判定手段(後述
するS501)を追加したものである。従って,基本的
な構成及び動作は,実施例1と共通につき,異なる部分
のみを説明する。
【0035】図5(a)は,実施例3の画像処理部10
2における処理を示すフローチャートであり,図3のフ
ローチャートにS501を追加したものである。従っ
て,注目画素を横細線と認識する条件は, A+B+C+D+E<α(合計レベル判定値) C<β(ピークレベル判定値) C>B>A,C>D>E(Cをピークとした細線を読み
取った出力形状) C1,C2=黒,且つ,B0,B1,B2=白 を満たす場合となる。
2における処理を示すフローチャートであり,図3のフ
ローチャートにS501を追加したものである。従っ
て,注目画素を横細線と認識する条件は, A+B+C+D+E<α(合計レベル判定値) C<β(ピークレベル判定値) C>B>A,C>D>E(Cをピークとした細線を読み
取った出力形状) C1,C2=黒,且つ,B0,B1,B2=白 を満たす場合となる。
【0036】ここで,C1,C2,B0,B1,B2
は,図5(b)に示すように,注目画素をC0とした場
合の注目画素C0に対して主走査方向の前側の2画素,
及び,前ラインの3画素である。
は,図5(b)に示すように,注目画素をC0とした場
合の注目画素C0に対して主走査方向の前側の2画素,
及び,前ラインの3画素である。
【0037】S501において,C1,C2=黒,且
つ,B0,B1,B2=白と判定されると,S301〜
S501の横細線と認識する4つの条件を満足するの
で,注目画素を横細線と認識し,スレッシュレベル設定
回路206において,細線用スレッシュレベルを設定す
る(S304)。細線用スレッシュレベルは,通常のス
レッシュレベルより白側のレベルであり,例えば,図7
に示すスレッシュ2のレベルである。
つ,B0,B1,B2=白と判定されると,S301〜
S501の横細線と認識する4つの条件を満足するの
で,注目画素を横細線と認識し,スレッシュレベル設定
回路206において,細線用スレッシュレベルを設定す
る(S304)。細線用スレッシュレベルは,通常のス
レッシュレベルより白側のレベルであり,例えば,図7
に示すスレッシュ2のレベルである。
【0038】次に,S306においてMTF補正を行
う。MTF補正によって生データ○は,図7に示すよう
にMTF補正後データ●に補正される。従って,注目画
素のMTF補正後データ●のようにスレッシュ2より低
くなり,S307の2値化処理によって,横細線画素の
黒と判断されるべき画素が黒と判断され,細線が切れる
ことなく再現される。
う。MTF補正によって生データ○は,図7に示すよう
にMTF補正後データ●に補正される。従って,注目画
素のMTF補正後データ●のようにスレッシュ2より低
くなり,S307の2値化処理によって,横細線画素の
黒と判断されるべき画素が黒と判断され,細線が切れる
ことなく再現される。
【0039】前述したように実施例3では,横細線を認
識するための条件に注目画素の前2画素が黒画素で,且
つ,前ラインの3画素が白画素であるか,即ち,連続し
た細線と判断して良いか否かの判定を加えたので,横細
線の認識率を向上させることができる。また,実施例1
と同様の効果を奏することができる。
識するための条件に注目画素の前2画素が黒画素で,且
つ,前ラインの3画素が白画素であるか,即ち,連続し
た細線と判断して良いか否かの判定を加えたので,横細
線の認識率を向上させることができる。また,実施例1
と同様の効果を奏することができる。
【0040】
【発明の効果】以上説明したように本発明の画像入力装
置は,注目画素と原稿白地レベルとの差分,及び,副走
査方向の前後数画素と原稿白地レベルとの差分の合計レ
ベルを求め,合計レベルと所定の合計レベル判定値とを
比較する第1の比較手段と,注目画素の差分と所定のピ
ークレベル判定値とを比較する第2の比較手段と,注目
画素を中心とした出力形状が細線を読み取った出力形状
と一致するか否かを判定する第1の判定手段と,前記合
計レベル判定値より小で,ピークレベル判定値より小
で,且つ,一致すると判定された場合に,注目画素を横
細線と認識する細線認識手段と,前記細線認識手段によ
って横細線と認識された場合に,注目画素に対する細線
用スレッシュレベルとして通常のスレッシュレベルより
白側のレベルにスレッシュレベルを設定するスレッシュ
レベル設定手段とを備えたため,横細線の線切れを低減
させ,画質の向上を図ることができる。
置は,注目画素と原稿白地レベルとの差分,及び,副走
査方向の前後数画素と原稿白地レベルとの差分の合計レ
ベルを求め,合計レベルと所定の合計レベル判定値とを
比較する第1の比較手段と,注目画素の差分と所定のピ
ークレベル判定値とを比較する第2の比較手段と,注目
画素を中心とした出力形状が細線を読み取った出力形状
と一致するか否かを判定する第1の判定手段と,前記合
計レベル判定値より小で,ピークレベル判定値より小
で,且つ,一致すると判定された場合に,注目画素を横
細線と認識する細線認識手段と,前記細線認識手段によ
って横細線と認識された場合に,注目画素に対する細線
用スレッシュレベルとして通常のスレッシュレベルより
白側のレベルにスレッシュレベルを設定するスレッシュ
レベル設定手段とを備えたため,横細線の線切れを低減
させ,画質の向上を図ることができる。
【0041】また,本発明の画像入力装置は,前述した
構成に加えて,注目画素に対して主走査方向の前側の数
画素が黒画素であるか否かを判定する第2の判定手段を
備え,前記細線認識手段は,前記合計レベル判定値より
小で,ピークレベル判定値より小で,判定結果が一致
で,且つ,主走査方向の前側の数画素が黒画素であると
判定された場合に,注目画素を横細線と認識するため,
横細線に認識率を高めることができ,更に横細線の線切
れを低減させ,画質の向上を図ることができる。
構成に加えて,注目画素に対して主走査方向の前側の数
画素が黒画素であるか否かを判定する第2の判定手段を
備え,前記細線認識手段は,前記合計レベル判定値より
小で,ピークレベル判定値より小で,判定結果が一致
で,且つ,主走査方向の前側の数画素が黒画素であると
判定された場合に,注目画素を横細線と認識するため,
横細線に認識率を高めることができ,更に横細線の線切
れを低減させ,画質の向上を図ることができる。
【0042】また,本発明の画像入力装置は,前述した
構成に加えて,注目画素に対して主走査方向の前側の数
画素が黒画素であり,且つ,注目画素の前ラインの数画
素が白画素であるか否かを判定する第2の判定手段を備
え,前記細線認識手段は,前記合計レベル判定値より小
で,ピークレベル判定値より小で,判定結果が一致で,
且つ,主走査方向の前側の数画素が黒画素及び前ライン
の数画素が白画素であると判定された場合に,注目画素
を横細線と認識するため,横細線に認識率を高めること
ができ,更に横細線の線切れを低減させ,画質の向上を
図ることができる。
構成に加えて,注目画素に対して主走査方向の前側の数
画素が黒画素であり,且つ,注目画素の前ラインの数画
素が白画素であるか否かを判定する第2の判定手段を備
え,前記細線認識手段は,前記合計レベル判定値より小
で,ピークレベル判定値より小で,判定結果が一致で,
且つ,主走査方向の前側の数画素が黒画素及び前ライン
の数画素が白画素であると判定された場合に,注目画素
を横細線と認識するため,横細線に認識率を高めること
ができ,更に横細線の線切れを低減させ,画質の向上を
図ることができる。
【図1】実施例1のファクシミリ装置のブロック構成図
である。
である。
【図2】画像入力部及び画像処理部の構成を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
【図3】実施例1の画像処理部における処理を示すフロ
ーチャートである。
ーチャートである。
【図4】同図(a)は実施例2の画像処理部における処
理を示すフローチャート,同図(b)は注目画素C0及
び画素C1,C2を示す説明図である。
理を示すフローチャート,同図(b)は注目画素C0及
び画素C1,C2を示す説明図である。
【図5】同図(a)は実施例3の画像処理部における処
理を示すフローチャート,同図(b)は注目画素C0及
び画素C1,C2,B0,B1,B2を示す説明図であ
る。
理を示すフローチャート,同図(b)は注目画素C0及
び画素C1,C2,B0,B1,B2を示す説明図であ
る。
【図6】CCDの眼の大きさと横細線の関係を示す説明
図である。
図である。
【図7】横細線の線切れ発生及びスレッシュレベルを示
す説明図である。
す説明図である。
101 画像入力部 102 画像
処理部 103 CPU 104 RA
M 105 操作部 106 記録
部 107 通信制御部 108 シス
テムバス 201 CCD 202 A/D変換・シェーディング補正回路 203 細線認識回路 204 画像用メモリ 205 MTF補正・2値化回路 206 スレッシュレベル設定回路
処理部 103 CPU 104 RA
M 105 操作部 106 記録
部 107 通信制御部 108 シス
テムバス 201 CCD 202 A/D変換・シェーディング補正回路 203 細線認識回路 204 画像用メモリ 205 MTF補正・2値化回路 206 スレッシュレベル設定回路
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平2−47974(JP,A) 特開 平3−58671(JP,A) 特開 平4−123668(JP,A) 特開 昭58−124369(JP,A) 特開 昭60−14564(JP,A) 特開 昭57−121370(JP,A) 特開 平6−86065(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H04N 1/403 G06T 1/00 460 H04N 1/19
Claims (5)
- 【請求項1】 CCD(固体撮像素子)を用いて画像デ
ータを読み取る画像入力装置において,注目画素と原稿
白地レベルとの差分,及び,副走査方向の前後数画素と
原稿白地レベルとの差分の合計レベルを求め,合計レベ
ルと所定の合計レベル判定値とを比較する第1の比較手
段と,注目画素の差分と所定のピークレベル判定値とを
比較する第2の比較手段と,注目画素を中心とした出力
形状が細線を読み取った出力形状と一致するか否かを判
定する第1の判定手段と,前記合計レベル判定値より小
で,ピークレベル判定値より小で,且つ,一致すると判
定された場合に,注目画素を横細線と認識する細線認識
手段と,前記細線認識手段によって横細線と認識された
場合に,注目画素に対する細線用スレッシュレベルとし
て通常のスレッシュレベルより白側のレベルにスレッシ
ュレベルを設定するスレッシュレベル設定手段とを備え
たことを特徴とする画像入力装置。 - 【請求項2】 注目画素に対して主走査方向の前側の数
画素が黒画素であるか否かを判定する第2の判定手段を
備え,前記細線認識手段は,前記合計レベル判定値より
小で,ピークレベル判定値より小で,判定結果が一致
で,且つ,主走査方向の前側の数画素が黒画素であると
判定された場合に,注目画素を横細線と認識することを
特徴とする請求項1記載の画像入力装置。 - 【請求項3】 注目画素に対して主走査方向の前側の数
画素が黒画素であり,且つ,注目画素の前ラインの数画
素が白画素であるか否かを判定する第2の判定手段を備
え,前記細線認識手段は,前記合計レベル判定値より小
で,ピークレベル判定値より小で,判定結果が一致で,
且つ,主走査方向の前側の数画素が黒画素及び前ライン
の数画素が白画素であると判定された場合に,注目画素
を横細線と認識することを特徴とする請求項1記載の画
像入力装置。 - 【請求項4】 前記合計レベル判定値,及び,ピークレ
ベル判定値は,副走査方向の読み取り画素密度に応じて
変更されることを特徴とする請求項1,2または3記載
の画像入力装置。 - 【請求項5】 前記スレッシュレベル設定手段は,細線
用スレッシュレベルを副走査方向の読み取り線密度に応
じて変更することを特徴とする請求項1記載の画像入力
装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26088392A JP3264997B2 (ja) | 1992-09-03 | 1992-09-03 | 画像入力装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26088392A JP3264997B2 (ja) | 1992-09-03 | 1992-09-03 | 画像入力装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0686072A JPH0686072A (ja) | 1994-03-25 |
JP3264997B2 true JP3264997B2 (ja) | 2002-03-11 |
Family
ID=17354078
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26088392A Expired - Fee Related JP3264997B2 (ja) | 1992-09-03 | 1992-09-03 | 画像入力装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3264997B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7265378B2 (en) | 2002-07-10 | 2007-09-04 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Electronic devices made with electron transport and/or anti-quenching layers |
-
1992
- 1992-09-03 JP JP26088392A patent/JP3264997B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0686072A (ja) | 1994-03-25 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |