JP3257826B2 - 画像処理装置 - Google Patents
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は，イメージスキャナ，フ
ァクシミリ装置，デジタル複写機等の画像処理装置に関
し，より詳細には，画像データ中の文字領域と中間調領
域とで，２値化処理の方法を切り換える画像処理装置に
関する。
ァクシミリ装置，デジタル複写機等の画像処理装置に関
し，より詳細には，画像データ中の文字領域と中間調領
域とで，２値化処理の方法を切り換える画像処理装置に
関する。
【０００２】
【従来の技術】通常，画像処理装置では，イメージセン
サ（ＣＣＤ：固体撮像素子）によって原稿画像を読み取
り，ＡＤ変換，シェーディング補正，２値化処理等の各
種処理を行い，２値画像を出力している。この時，イメ
ージセンサが読み取る原稿画像には，文字領域と，写真
等の中間調領域が混在するものがある。このような，文
字領域と中間調領域の混在する原稿を扱う場合に，文字
領域，中間調領域共に，固定のスレッシュで２値化を行
うと，文字領域では適切に２値化が行われるが，中間調
領域では，多種の濃度差が存在しているので，画質が劣
化する恐れがある。また，文字領域，中間調領域共に，
ディザ処理等の中間調処理により２値化を行うと，中間
調領域では適切に２値化が行われるが，今度は，文字領
域の方に，画質が劣化する恐れが生じる。
サ（ＣＣＤ：固体撮像素子）によって原稿画像を読み取
り，ＡＤ変換，シェーディング補正，２値化処理等の各
種処理を行い，２値画像を出力している。この時，イメ
ージセンサが読み取る原稿画像には，文字領域と，写真
等の中間調領域が混在するものがある。このような，文
字領域と中間調領域の混在する原稿を扱う場合に，文字
領域，中間調領域共に，固定のスレッシュで２値化を行
うと，文字領域では適切に２値化が行われるが，中間調
領域では，多種の濃度差が存在しているので，画質が劣
化する恐れがある。また，文字領域，中間調領域共に，
ディザ処理等の中間調処理により２値化を行うと，中間
調領域では適切に２値化が行われるが，今度は，文字領
域の方に，画質が劣化する恐れが生じる。
【０００３】このような２値化処理による画質の劣化を
防止するために，従来の画像処理装置では，文字領域と
中間調領域とを識別し，各領域に対して各々適切な２値
化処理を施す方法を用いている。文字領域と中間調領域
とを識別する具体的な方法としては，原稿画像の所定面
積内における濃度の差によって文字領域か中間調領域か
を識別する方法がよく用いられている。
防止するために，従来の画像処理装置では，文字領域と
中間調領域とを識別し，各領域に対して各々適切な２値
化処理を施す方法を用いている。文字領域と中間調領域
とを識別する具体的な方法としては，原稿画像の所定面
積内における濃度の差によって文字領域か中間調領域か
を識別する方法がよく用いられている。
【０００４】また，その他の，文字領域と中間調領域と
を識別する方法として，特開昭６１−２８８５６４号公
報に示されているような「中間調デジタル画像処理装
置」，特開昭６１−２８８５６５号公報に示されている
ような「中間調デジタル画像処理装置」が提案されてい
る。これらの中間調デジタル画像処理装置では，画像デ
ータ中のエッジ情報によって文字領域と中間調領域とを
識別している。
を識別する方法として，特開昭６１−２８８５６４号公
報に示されているような「中間調デジタル画像処理装
置」，特開昭６１−２８８５６５号公報に示されている
ような「中間調デジタル画像処理装置」が提案されてい
る。これらの中間調デジタル画像処理装置では，画像デ
ータ中のエッジ情報によって文字領域と中間調領域とを
識別している。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら，従来の
画像処理装置によれば，所定面積内の濃度差によって文
字領域と中間調領域とを識別しているものの，濃度差が
小さい場合には誤識別が起こるため，文字領域，中間調
領域の各々に適正な２値化処理が施せず，出力画像の画
質が劣化するという問題点があった。
画像処理装置によれば，所定面積内の濃度差によって文
字領域と中間調領域とを識別しているものの，濃度差が
小さい場合には誤識別が起こるため，文字領域，中間調
領域の各々に適正な２値化処理が施せず，出力画像の画
質が劣化するという問題点があった。
【０００６】また，特開昭６１−２８８５６４号公報，
特開昭６１−２８８５６５号公報によれば，画像データ
中のエッジ情報のみによって文字領域と中間調領域とを
識別しているものの，中間調領域にエッジ情報がある
と，誤識別が起こるため，文字領域，中間調領域の各々
に適正な２値化処理が施せず，出力画像の画質が劣化す
るという問題点があった。
特開昭６１−２８８５６５号公報によれば，画像データ
中のエッジ情報のみによって文字領域と中間調領域とを
識別しているものの，中間調領域にエッジ情報がある
と，誤識別が起こるため，文字領域，中間調領域の各々
に適正な２値化処理が施せず，出力画像の画質が劣化す
るという問題点があった。
【０００７】本発明は上記に鑑みてなされたものであっ
て，誤識別による画質の劣化を防止することを目的とす
る。
て，誤識別による画質の劣化を防止することを目的とす
る。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明は上記の目的を達
成するために，イメージセンサで読み取った画像データ
に対して，ＡＤ変換処理，シェーディング補正等の各処
理を施し，シェーディング補正後の画像データに対し
て，文字領域及び中間調領域を識別し，各々の領域に対
して適切な２値化処理を行う画像処理装置において，シ
ェーディング補正後の画像データに対して，画像データ
のエッジ強調を行うエッジ強調手段と，シェーディング
補正後の画像データにおける画像濃度と所定のスレッシ
ュとを比較する第１の比較手段と，エッジ強調手段の出
力における画像濃度と所定のスレッシュとを比較する第
２の比較手段と，第１の比較手段及び第２の比較手段の
比較結果を入力し，ｎ×ｍの画素の集合を１つのブロッ
クとして，ブロック単位で文字領域か中間調領域かを判
定するブロック判定手段とを具備し，ブロック判定手段
は，注目ブロック中に，第１の比較手段において，所定
のスレッシュより高い画像濃度が無く，且つ，第２の比
較手段において，所定のスレッシュより高い画像濃度が
有る場合に，該注目ブロックは文字領域であると判定
し，その以外の場合には，中間調領域と判定する画像処
理装置を提供するものである。
成するために，イメージセンサで読み取った画像データ
に対して，ＡＤ変換処理，シェーディング補正等の各処
理を施し，シェーディング補正後の画像データに対し
て，文字領域及び中間調領域を識別し，各々の領域に対
して適切な２値化処理を行う画像処理装置において，シ
ェーディング補正後の画像データに対して，画像データ
のエッジ強調を行うエッジ強調手段と，シェーディング
補正後の画像データにおける画像濃度と所定のスレッシ
ュとを比較する第１の比較手段と，エッジ強調手段の出
力における画像濃度と所定のスレッシュとを比較する第
２の比較手段と，第１の比較手段及び第２の比較手段の
比較結果を入力し，ｎ×ｍの画素の集合を１つのブロッ
クとして，ブロック単位で文字領域か中間調領域かを判
定するブロック判定手段とを具備し，ブロック判定手段
は，注目ブロック中に，第１の比較手段において，所定
のスレッシュより高い画像濃度が無く，且つ，第２の比
較手段において，所定のスレッシュより高い画像濃度が
有る場合に，該注目ブロックは文字領域であると判定
し，その以外の場合には，中間調領域と判定する画像処
理装置を提供するものである。
【０００９】
【作用】本発明の画像処理装置は，シェーディング補正
後の画像データに対してエッジ強調を行い，シェーディ
ング補正後の画像データにおける画像濃度及びエッジ強
調を行った画像データにおける画像濃度と所定のスレッ
シュとを各々比較し，ブロックごとに比較結果をチェッ
クすることにより，シェーディング補正後の画像データ
における画像濃度に所定のスレッシュより高いデータが
無く，且つ，エッジ強調を行った画像データにおける画
像濃度に所定のスレッシュより高いデータが有るブロッ
クは，文字領域と判断し，固定のスレッシュによる２値
化を行った画像データを出力し，その他のブロックは，
中間調領域と判断し，中間調処理による２値化を行った
画像データを出力する。
後の画像データに対してエッジ強調を行い，シェーディ
ング補正後の画像データにおける画像濃度及びエッジ強
調を行った画像データにおける画像濃度と所定のスレッ
シュとを各々比較し，ブロックごとに比較結果をチェッ
クすることにより，シェーディング補正後の画像データ
における画像濃度に所定のスレッシュより高いデータが
無く，且つ，エッジ強調を行った画像データにおける画
像濃度に所定のスレッシュより高いデータが有るブロッ
クは，文字領域と判断し，固定のスレッシュによる２値
化を行った画像データを出力し，その他のブロックは，
中間調領域と判断し，中間調処理による２値化を行った
画像データを出力する。
【００１０】
【実施例】以下，本発明の画像処理装置について，図面
を参照して詳細に説明する。図１は，本発明の画像処理
装置を搭載した画像読取装置１００の外観図であり，原
稿の読取から２値画像データの出力までの一連の動作を
行う画像処理部が収納されている画像読取装置本体１０
１と，原稿を自動搬送するＡＤＦ１０２と，読取済の原
稿を排紙するための排紙トレイ１０３とから構成されて
いる。
を参照して詳細に説明する。図１は，本発明の画像処理
装置を搭載した画像読取装置１００の外観図であり，原
稿の読取から２値画像データの出力までの一連の動作を
行う画像処理部が収納されている画像読取装置本体１０
１と，原稿を自動搬送するＡＤＦ１０２と，読取済の原
稿を排紙するための排紙トレイ１０３とから構成されて
いる。
【００１１】図２は，画像処理部（本発明の画像処理装
置）における画像データの流れを示すブロック図であ
り，光源（図示せず）から原稿に照射された光の反射光
を電気信号（アナログ信号）に変換するＣＣＤ２０１
と，ＣＣＤ２０１から出力されるアナログ信号をデジタ
ル信号に変換するＡＤ変換部２０２と，ＡＤ変換部２０
２の出力（デジタル信号）に対してシェーディング補正
を行うシェーディング補正部２０３と，注目画素を中心
とするマトリクスを作成するマトリクス形成回路２０４
と，マトリクス形成回路２０４によりマトリクス化した
画像データにＭＴＦ補正（エッジ強調処理）を行うＭＴ
Ｆ補正演算回路２０５と，ＭＴＦ補正後の画像データに
対して，固定のスレッシュで２値化を行う固定スレッシ
ュ２値化回路２０６と，マトリクス形成回路２０４によ
りマトリクス化した画像データに対して，ディザ処理を
用いて２値化を行うディザ処理回路２０７と，マトリク
ス形成回路２０４によりマトリクス化した画像データに
対して，誤差拡散処理を用いて２値化を行う誤差拡散回
路２０８と，中間調処理選択信号によりディザ処理回路
２０７の出力と誤差拡散回路２０８の出力の内一方の出
力を選択して出力する中間調処理選択回路２０９と，Ｍ
ＴＦ補正演算回路２０５から出力された（ＭＴＦ補正を
行った）画像データの画像濃度と予め設定された任意の
スレッシュとを比較するコンパレータＡ２１０と，マト
リクス形成回路２０４から出力された（ＭＴＦ補正を行
っていない）画像データの画像濃度と予め設定された任
意のスレッシュとを比較するコンパレータＢ２１１と，
コンパレータＡ２１０の出力及びコンパレータＢ２１１
の出力とを入力し，所定のブロック内で後述する判定を
行うブロック領域判定回路２１２と，固定スレッシュ２
値化回路２０６の出力及び中間調処理選択回路２０９の
出力を遅延させ，ブロック領域判定回路２１２の出力と
のタイミングを合わせるためのタイミング遅延回路２１
３と，ブロック領域判定回路２１２の判定結果に基づい
て，固定スレッシュ２値化回路２０６と中間調処理選択
回路２０９の出力の内一方の出力を選択して出力する２
値化処理選択回路２１４とから構成される。
置）における画像データの流れを示すブロック図であ
り，光源（図示せず）から原稿に照射された光の反射光
を電気信号（アナログ信号）に変換するＣＣＤ２０１
と，ＣＣＤ２０１から出力されるアナログ信号をデジタ
ル信号に変換するＡＤ変換部２０２と，ＡＤ変換部２０
２の出力（デジタル信号）に対してシェーディング補正
を行うシェーディング補正部２０３と，注目画素を中心
とするマトリクスを作成するマトリクス形成回路２０４
と，マトリクス形成回路２０４によりマトリクス化した
画像データにＭＴＦ補正（エッジ強調処理）を行うＭＴ
Ｆ補正演算回路２０５と，ＭＴＦ補正後の画像データに
対して，固定のスレッシュで２値化を行う固定スレッシ
ュ２値化回路２０６と，マトリクス形成回路２０４によ
りマトリクス化した画像データに対して，ディザ処理を
用いて２値化を行うディザ処理回路２０７と，マトリク
ス形成回路２０４によりマトリクス化した画像データに
対して，誤差拡散処理を用いて２値化を行う誤差拡散回
路２０８と，中間調処理選択信号によりディザ処理回路
２０７の出力と誤差拡散回路２０８の出力の内一方の出
力を選択して出力する中間調処理選択回路２０９と，Ｍ
ＴＦ補正演算回路２０５から出力された（ＭＴＦ補正を
行った）画像データの画像濃度と予め設定された任意の
スレッシュとを比較するコンパレータＡ２１０と，マト
リクス形成回路２０４から出力された（ＭＴＦ補正を行
っていない）画像データの画像濃度と予め設定された任
意のスレッシュとを比較するコンパレータＢ２１１と，
コンパレータＡ２１０の出力及びコンパレータＢ２１１
の出力とを入力し，所定のブロック内で後述する判定を
行うブロック領域判定回路２１２と，固定スレッシュ２
値化回路２０６の出力及び中間調処理選択回路２０９の
出力を遅延させ，ブロック領域判定回路２１２の出力と
のタイミングを合わせるためのタイミング遅延回路２１
３と，ブロック領域判定回路２１２の判定結果に基づい
て，固定スレッシュ２値化回路２０６と中間調処理選択
回路２０９の出力の内一方の出力を選択して出力する２
値化処理選択回路２１４とから構成される。
【００１２】以上の構成により，その動作を説明する。
初めに画像読取装置１００の動作について説明する。画
像読取装置１００は，画像読取装置本体１０１内の画像
処理部にて，原稿載置台に載置された原稿の画像をＣＣ
Ｄ２０１により１ラインずつ読み取り，ＡＤ変換，シェ
ーディング補正，２値化処理方法の選択，各種２値化処
理を行い，２値画像データを出力する。なお，画像読取
装置１００は，１ラインずつ画像を読み取る間隔である
副走査ピッチが可変になっており，用途に応じて画像の
読取間隔を調節できる。また，画像読取装置１００に
は，ＡＤＦ１０２が搭載されており，原稿を自動で搬送
しながら原稿画像を読み取ることができ，読取済の原稿
は，排紙トレイ１０３に排紙される。
初めに画像読取装置１００の動作について説明する。画
像読取装置１００は，画像読取装置本体１０１内の画像
処理部にて，原稿載置台に載置された原稿の画像をＣＣ
Ｄ２０１により１ラインずつ読み取り，ＡＤ変換，シェ
ーディング補正，２値化処理方法の選択，各種２値化処
理を行い，２値画像データを出力する。なお，画像読取
装置１００は，１ラインずつ画像を読み取る間隔である
副走査ピッチが可変になっており，用途に応じて画像の
読取間隔を調節できる。また，画像読取装置１００に
は，ＡＤＦ１０２が搭載されており，原稿を自動で搬送
しながら原稿画像を読み取ることができ，読取済の原稿
は，排紙トレイ１０３に排紙される。
【００１３】次に，図２を参照して，画像処理部におけ
る，ＣＣＤ２０１による原稿の読み取りから，２値画像
データの出力までの動作を説明する。ＣＣＤ２０１は，
原稿載置台に載置された原稿の画像を光信号として読み
取り，読み取った画像の光信号を，アナログ電気信号に
変換し，該アナログ電気信号をＡＤ変換部２０２に送
る。ＡＤ変換部２０２では，ＣＣＤ２０１から送られた
アナログ信号をデジタル信号（例えば８ビットの多値レ
ベルのデジタル信号）に変換し，該デジタル信号をシェ
ーディング補正部２０３に送る。シェーディング補正部
２０３に送られたデジタル信号は，ＣＣＤ２０１の感度
ムラ，光源ムラ等に対する補正処理が行われ，マトリク
ス形成回路２０４に送られる。マトリクス形成回路２０
４は，図示しないラインバッファ及びラッチを備えてお
り，該ラインバッファにより必要なライン分の画像デー
タを記憶し，記憶した画像データに対して，該ラッチに
より注目画素を中心とする空間であるマトリクスを形成
する（例えば５×３或いは３×３）。マトリクス形成回
路２０４から出力された（マトリクス形成された）画像
データは，ＭＴＦ補正演算回路２０５に送られる。ＭＴ
Ｆ補正演算回路２０５では，マトリクス形成回路２０４
により形成されたマトリクスに基づいて，フィルタ演算
を行い，ぼけ画像に対する補正処理，換言すれば，エッ
ジ強調処理を行う。
る，ＣＣＤ２０１による原稿の読み取りから，２値画像
データの出力までの動作を説明する。ＣＣＤ２０１は，
原稿載置台に載置された原稿の画像を光信号として読み
取り，読み取った画像の光信号を，アナログ電気信号に
変換し，該アナログ電気信号をＡＤ変換部２０２に送
る。ＡＤ変換部２０２では，ＣＣＤ２０１から送られた
アナログ信号をデジタル信号（例えば８ビットの多値レ
ベルのデジタル信号）に変換し，該デジタル信号をシェ
ーディング補正部２０３に送る。シェーディング補正部
２０３に送られたデジタル信号は，ＣＣＤ２０１の感度
ムラ，光源ムラ等に対する補正処理が行われ，マトリク
ス形成回路２０４に送られる。マトリクス形成回路２０
４は，図示しないラインバッファ及びラッチを備えてお
り，該ラインバッファにより必要なライン分の画像デー
タを記憶し，記憶した画像データに対して，該ラッチに
より注目画素を中心とする空間であるマトリクスを形成
する（例えば５×３或いは３×３）。マトリクス形成回
路２０４から出力された（マトリクス形成された）画像
データは，ＭＴＦ補正演算回路２０５に送られる。ＭＴ
Ｆ補正演算回路２０５では，マトリクス形成回路２０４
により形成されたマトリクスに基づいて，フィルタ演算
を行い，ぼけ画像に対する補正処理，換言すれば，エッ
ジ強調処理を行う。
【００１４】固定スレッシュ２値化回路２０６では，Ｍ
ＴＦ補正演算回路２０５の出力に対して，固定のスレッ
シュにより２値化処理を行い，２値画像データを出力す
る。また，ディザ処理回路２０７及び誤差拡散回路２０
８では，マトリクス形成回路２０４の出力に対して中間
調処理（ディザ処理或いは誤差拡散処理）を行い，各々
２値画像データを出力する。なお，ディザ処理回路２０
７の出力及び誤差拡散回路２０８の出力は，中間調処理
選択回路２０９で，操作部（図示せず）のキー入力等に
より入力された中間調処理選択信号に基づいて，一方の
出力が選択され，タイミング遅延回路２１３に送られ
る。なお，中間調処理選択信号は，予め操作部におい
て，原稿画像に応じた処理（ディザ処理或いは誤差拡散
処理の一方）が選択されるように設定されている。
ＴＦ補正演算回路２０５の出力に対して，固定のスレッ
シュにより２値化処理を行い，２値画像データを出力す
る。また，ディザ処理回路２０７及び誤差拡散回路２０
８では，マトリクス形成回路２０４の出力に対して中間
調処理（ディザ処理或いは誤差拡散処理）を行い，各々
２値画像データを出力する。なお，ディザ処理回路２０
７の出力及び誤差拡散回路２０８の出力は，中間調処理
選択回路２０９で，操作部（図示せず）のキー入力等に
より入力された中間調処理選択信号に基づいて，一方の
出力が選択され，タイミング遅延回路２１３に送られ
る。なお，中間調処理選択信号は，予め操作部におい
て，原稿画像に応じた処理（ディザ処理或いは誤差拡散
処理の一方）が選択されるように設定されている。
【００１５】一方，ＭＴＦ補正演算回路２０５の出力
が，コンパレータＡ２１０により，予め設定された設定
スレッシュと比較され，比較結果の情報がブロック領域
判定回路２１２に送られる。また，マトリクス形成回路
２０４の出力，即ち，ＭＴＦ補正が行われていない画像
データが，コンパレータＢ２１１により，コンパレータ
Ａ２１０と同様に，予め設定された設定スレッシュと比
較され，比較結果の情報がブロック領域判定回路２１２
に送られる。ここで，コンパレータＡ２１０及びコンパ
レータＢ２１１による比較の様子を，図３を参照して説
明する。図３は，文字領域における画像濃度と設定スレ
ッシュとの比較を示すグラフであり，同図（ａ）がコン
パレータＢ２１１での比較，即ち，エッジ強調を行わな
い画像データの比較の様子を示し，同図（ｂ）がコンパ
レータＡ２１０での比較，即ち，エッジ強調を行った画
像データの比較の様子を示している。エッジ強調を行わ
ない画像データの場合には，同図（ａ）に示す如く，文
字領域における画像濃度には，設定スレッシュより高い
データが無い。また，エッジ強調を行った画像データの
場合には，同図（ｂ）に示す如く，文字領域における画
像濃度には，ＭＴＦ補正演算回路２０５によるエッジ強
調処理の効果が現れるため，設定スレッシュより高いデ
ータが有る。このように，ハイコントラスト部の有る領
域が文字領域と判断できる。ここで，図３から明らかな
ように，設定スレッシュの値は，エッジ強調されていな
い文字領域の最高画像濃度より高い値で，且つ，エッジ
強調されている文字領域の最高画像濃度より低い値に設
定されている。
が，コンパレータＡ２１０により，予め設定された設定
スレッシュと比較され，比較結果の情報がブロック領域
判定回路２１２に送られる。また，マトリクス形成回路
２０４の出力，即ち，ＭＴＦ補正が行われていない画像
データが，コンパレータＢ２１１により，コンパレータ
Ａ２１０と同様に，予め設定された設定スレッシュと比
較され，比較結果の情報がブロック領域判定回路２１２
に送られる。ここで，コンパレータＡ２１０及びコンパ
レータＢ２１１による比較の様子を，図３を参照して説
明する。図３は，文字領域における画像濃度と設定スレ
ッシュとの比較を示すグラフであり，同図（ａ）がコン
パレータＢ２１１での比較，即ち，エッジ強調を行わな
い画像データの比較の様子を示し，同図（ｂ）がコンパ
レータＡ２１０での比較，即ち，エッジ強調を行った画
像データの比較の様子を示している。エッジ強調を行わ
ない画像データの場合には，同図（ａ）に示す如く，文
字領域における画像濃度には，設定スレッシュより高い
データが無い。また，エッジ強調を行った画像データの
場合には，同図（ｂ）に示す如く，文字領域における画
像濃度には，ＭＴＦ補正演算回路２０５によるエッジ強
調処理の効果が現れるため，設定スレッシュより高いデ
ータが有る。このように，ハイコントラスト部の有る領
域が文字領域と判断できる。ここで，図３から明らかな
ように，設定スレッシュの値は，エッジ強調されていな
い文字領域の最高画像濃度より高い値で，且つ，エッジ
強調されている文字領域の最高画像濃度より低い値に設
定されている。
【００１６】次に，コンパレータＡ２１０の出力（比較
結果の情報）及びコンパレータＢ２１１の出力（比較結
果の情報）は，ブロック領域判定回路２１２により，図
４に示す様に区分けされた所定のブロック（８ドット×
８ドット）ごとに判定され，２値化処理選択回路２１４
の選択信号となる。
結果の情報）及びコンパレータＢ２１１の出力（比較結
果の情報）は，ブロック領域判定回路２１２により，図
４に示す様に区分けされた所定のブロック（８ドット×
８ドット）ごとに判定され，２値化処理選択回路２１４
の選択信号となる。
【００１７】一方，タイミング遅延回路２１３により，
比較，判定によるタイミングのズレが修正された２値画
像データが，２値化処理選択回路２１４に入力され，２
値化処理選択回路２１４により，ブロック領域判定回路
２１２の判定結果に基づいて，適正な２値画像データが
選択される。
比較，判定によるタイミングのズレが修正された２値画
像データが，２値化処理選択回路２１４に入力され，２
値化処理選択回路２１４により，ブロック領域判定回路
２１２の判定結果に基づいて，適正な２値画像データが
選択される。
【００１８】ここで，図５を参照して，ブロック領域判
定回路２１２の具体的な動作を詳細に説明する。先ず，
コンパレータＡ２１０及びコンパレータＢ２１１に比較
データ（画像データ）が入力される（Ｓ５０１）。比較
データが入力されると，コンパレータＡ２１０及びコン
パレータＢ２１１は，予め設定された設定スレッシュと
比較データを比較し，比較結果の情報をブロック領域判
定回路２１２に送る。ブロック領域判定回路２１２で
は，ブロック単位ごとに判定を行う。即ち，注目ブロッ
クにおいて，コンパレータＡ２１０の比較結果の情報に
基づいて，ＭＴＦ補正を行った画像データ中に，画像濃
度が設定スレッシュより高いデータが有るか否かを判定
する（Ｓ５０２）。ブロック領域判定回路２１２は，Ｓ
５０２において，設定スレッシュより高いデータが有る
と判断すると，注目ブロックにおいて，コンパレータＢ
２１１の比較結果の情報に基づいて，ＭＴＦ補正を行わ
ない画像データ中に，画像濃度が設定スレッシュより高
いデータが無いか否かを判断する（Ｓ５０３）。ブロッ
ク領域判定回路２１２は，Ｓ５０３において，設定スレ
ッシュより高いデータが無いと判断すると，注目ブロッ
クの中に文字データが有ると判断する（Ｓ５０４）。こ
の場合，ブロック領域判定回路２１２は，注目ブロック
が文字領域であると判断し，固定スレッシュ２値化回路
２０６の出力を選択するように２値化処理選択回路２１
４に指示を出し，２値化処理選択回路２１４により，固
定スレッシュ２値化回路２０６の出力が２値画像データ
として外部へ出力される（Ｓ５０５）。
定回路２１２の具体的な動作を詳細に説明する。先ず，
コンパレータＡ２１０及びコンパレータＢ２１１に比較
データ（画像データ）が入力される（Ｓ５０１）。比較
データが入力されると，コンパレータＡ２１０及びコン
パレータＢ２１１は，予め設定された設定スレッシュと
比較データを比較し，比較結果の情報をブロック領域判
定回路２１２に送る。ブロック領域判定回路２１２で
は，ブロック単位ごとに判定を行う。即ち，注目ブロッ
クにおいて，コンパレータＡ２１０の比較結果の情報に
基づいて，ＭＴＦ補正を行った画像データ中に，画像濃
度が設定スレッシュより高いデータが有るか否かを判定
する（Ｓ５０２）。ブロック領域判定回路２１２は，Ｓ
５０２において，設定スレッシュより高いデータが有る
と判断すると，注目ブロックにおいて，コンパレータＢ
２１１の比較結果の情報に基づいて，ＭＴＦ補正を行わ
ない画像データ中に，画像濃度が設定スレッシュより高
いデータが無いか否かを判断する（Ｓ５０３）。ブロッ
ク領域判定回路２１２は，Ｓ５０３において，設定スレ
ッシュより高いデータが無いと判断すると，注目ブロッ
クの中に文字データが有ると判断する（Ｓ５０４）。こ
の場合，ブロック領域判定回路２１２は，注目ブロック
が文字領域であると判断し，固定スレッシュ２値化回路
２０６の出力を選択するように２値化処理選択回路２１
４に指示を出し，２値化処理選択回路２１４により，固
定スレッシュ２値化回路２０６の出力が２値画像データ
として外部へ出力される（Ｓ５０５）。
【００１９】一方，ブロック領域判定回路２１２は，Ｓ
５０２において，設定スレッシュより高いデータが無い
と判断した場合，及びＳ５０３において，設定スレッシ
ュより高いデータが有ると判断した場合には，注目ブロ
ックの中に文字データが無いと判断する（Ｓ５０６）。
この場合，ブロック領域判定回路２１２は，注目ブロッ
クが中間調領域であると判断し，中間調処理選択回路２
０９の出力を選択するように２値化処理選択回路２１４
に指示を出し，２値化処理選択回路２１４により，中間
調処理選択回路２０９の出力が２値画像データとして外
部へ出力される（Ｓ５０７）。
５０２において，設定スレッシュより高いデータが無い
と判断した場合，及びＳ５０３において，設定スレッシ
ュより高いデータが有ると判断した場合には，注目ブロ
ックの中に文字データが無いと判断する（Ｓ５０６）。
この場合，ブロック領域判定回路２１２は，注目ブロッ
クが中間調領域であると判断し，中間調処理選択回路２
０９の出力を選択するように２値化処理選択回路２１４
に指示を出し，２値化処理選択回路２１４により，中間
調処理選択回路２０９の出力が２値画像データとして外
部へ出力される（Ｓ５０７）。
【００２０】このように，ＭＴＦ補正を行った画像デー
タ中に，画像濃度が設定スレッシュより高いデータが有
っても，ＭＴＦ補正を行わない画像データ中に，画像濃
度が設定スレッシュより高いデータが有る場合には，中
間調領域と判断するため，中間調領域を，誤って文字領
域と判断することを防止でき，文字領域と中間調領域と
の識別を正しく行うことができる。従って，文字領域，
中間調領域の各々に適正な２値化処理が施せ，文字領
域，中間調領域共に，不適正な２値化処理による画質の
劣化を防止することができる。
タ中に，画像濃度が設定スレッシュより高いデータが有
っても，ＭＴＦ補正を行わない画像データ中に，画像濃
度が設定スレッシュより高いデータが有る場合には，中
間調領域と判断するため，中間調領域を，誤って文字領
域と判断することを防止でき，文字領域と中間調領域と
の識別を正しく行うことができる。従って，文字領域，
中間調領域の各々に適正な２値化処理が施せ，文字領
域，中間調領域共に，不適正な２値化処理による画質の
劣化を防止することができる。
【００２１】
【発明の効果】以上より明らかなように本発明の画像処
理装置によれば，イメージセンサで読み取った画像デー
タに対して，ＡＤ変換処理，シェーディング補正等の各
処理を施し，シェーディング補正後の画像データに対し
て，文字領域及び中間調領域を識別し，各々の領域に対
して適切な２値化処理を行う画像処理装置において，シ
ェーディング補正後の画像データに対して，画像データ
のエッジ強調を行うエッジ強調手段と，シェーディング
補正後の画像データにおける画像濃度と所定のスレッシ
ュとを比較する第１の比較手段と，エッジ強調手段の出
力における画像濃度と所定のスレッシュとを比較する第
２の比較手段と，第１の比較手段及び第２の比較手段の
比較結果を入力し，ｎ×ｍの画素の集合を１つのブロッ
クとして，ブロック単位で文字領域か中間調領域かを判
定するブロック判定手段とを具備しブロック判定手段
は，注目ブロック中に，第１の比較手段において，所定
のスレッシュより高い画像濃度が無く，且つ，第２の比
較手段において，所定のスレッシュより高い画像濃度が
有る場合に，該注目ブロックは文字領域であると判定
し，その以外の場合には，中間調領域と判定するたた
め，誤識別による画質の劣化を防止することができる。
理装置によれば，イメージセンサで読み取った画像デー
タに対して，ＡＤ変換処理，シェーディング補正等の各
処理を施し，シェーディング補正後の画像データに対し
て，文字領域及び中間調領域を識別し，各々の領域に対
して適切な２値化処理を行う画像処理装置において，シ
ェーディング補正後の画像データに対して，画像データ
のエッジ強調を行うエッジ強調手段と，シェーディング
補正後の画像データにおける画像濃度と所定のスレッシ
ュとを比較する第１の比較手段と，エッジ強調手段の出
力における画像濃度と所定のスレッシュとを比較する第
２の比較手段と，第１の比較手段及び第２の比較手段の
比較結果を入力し，ｎ×ｍの画素の集合を１つのブロッ
クとして，ブロック単位で文字領域か中間調領域かを判
定するブロック判定手段とを具備しブロック判定手段
は，注目ブロック中に，第１の比較手段において，所定
のスレッシュより高い画像濃度が無く，且つ，第２の比
較手段において，所定のスレッシュより高い画像濃度が
有る場合に，該注目ブロックは文字領域であると判定
し，その以外の場合には，中間調領域と判定するたた
め，誤識別による画質の劣化を防止することができる。
【図１】本発明の画像処理装置を搭載した画像読取装置
の外観図である。
の外観図である。
【図２】本発明の画像処理装置における画像データの流
れを示すブロック図である。
れを示すブロック図である。
【図３】文字領域における画像濃度と設定スレッシュと
の比較を示すグラフである。
の比較を示すグラフである。
【図４】ブロック領域判定回路における，所定のブロッ
クへの区分けを示す説明図である。
クへの区分けを示す説明図である。
【図５】ブロック領域判定回路の動作を示すフローチャ
ートである。
ートである。
２０４ マトリクス形成回路 ２０５ ＭＴ
Ｆ補正演算回路 ２０６ 固定スレッシュ２値化回路 ２０７ ディ
ザ処理回路 ２０８ 誤差拡散回路 ２０９ 中間
調処理選択回路 ２１０ コンパレータＡ ２１１ コン
パレータＢ ２１２ ブロック領域判定回路 ２１３ タイ
ミング遅延回路 ２１４ ２値化処理選択回路
Ｆ補正演算回路 ２０６ 固定スレッシュ２値化回路 ２０７ ディ
ザ処理回路 ２０８ 誤差拡散回路 ２０９ 中間
調処理選択回路 ２１０ コンパレータＡ ２１１ コン
パレータＢ ２１２ ブロック領域判定回路 ２１３ タイ
ミング遅延回路 ２１４ ２値化処理選択回路
Claims (1)
- 【請求項１】 イメージセンサで読み取った画像データ
に対して，ＡＤ変換処理，シェーディング補正等の各処
理を施し，前記シェーディング補正後の画像データに対
して，文字領域及び中間調領域を識別し，各々の領域に
対して適切な２値化処理を行う画像処理装置において， 前記シェーディング補正後の画像データに対して，画像
データのエッジ強調を行うエッジ強調手段と， 前記シェーディング補正後の画像データにおける画像濃
度と所定のスレッシュとを比較する第１の比較手段と， 前記エッジ強調手段の出力における画像濃度と所定のス
レッシュとを比較する第２の比較手段と，前記第１の比
較手段及び第２の比較手段の比較結果を入力し，ｎ×ｍ
の画素の集合を１つのブロックとして，ブロック単位で
文字領域か中間調領域かを判定するブロック判定手段
と， を備え， 前記ブロック判定手段は，注目ブロック中に，前記第１
の比較手段において，所定のスレッシュより高い画像濃
度が無く，且つ，前記第２の比較手段において，所定の
スレッシュより高い画像濃度が有る場合に，前記注目ブ
ロックは文字領域であると判定し，それ以外の場合に
は，中間調領域と判定することを特徴とする画像処理装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19761092A JP3257826B2 (ja) | 1992-06-30 | 1992-06-30 | 画像処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19761092A JP3257826B2 (ja) | 1992-06-30 | 1992-06-30 | 画像処理装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0622129A JPH0622129A (ja) | 1994-01-28 |
| JP3257826B2 true JP3257826B2 (ja) | 2002-02-18 |
Family
ID=16377338
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19761092A Expired - Fee Related JP3257826B2 (ja) | 1992-06-30 | 1992-06-30 | 画像処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3257826B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1104040C (zh) * | 1997-02-04 | 2003-03-26 | 佳能株式会社 | 晶片处理装置和晶片传送装置以及晶片处理方法 |
| CN1111900C (zh) * | 1997-02-21 | 2003-06-18 | 佳能株式会社 | 晶片处理装置、晶片处理方法、和半导体衬底制备方法 |
| US6767840B1 (en) | 1997-02-21 | 2004-07-27 | Canon Kabushiki Kaisha | Wafer processing apparatus, wafer processing method, and semiconductor substrate fabrication method |
-
1992
- 1992-06-30 JP JP19761092A patent/JP3257826B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1104040C (zh) * | 1997-02-04 | 2003-03-26 | 佳能株式会社 | 晶片处理装置和晶片传送装置以及晶片处理方法 |
| CN1111900C (zh) * | 1997-02-21 | 2003-06-18 | 佳能株式会社 | 晶片处理装置、晶片处理方法、和半导体衬底制备方法 |
| US6767840B1 (en) | 1997-02-21 | 2004-07-27 | Canon Kabushiki Kaisha | Wafer processing apparatus, wafer processing method, and semiconductor substrate fabrication method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0622129A (ja) | 1994-01-28 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |