JP3263813B2 - 回路網を構成する端末装置の接地の検査方法及び装置 - Google Patents

回路網を構成する端末装置の接地の検査方法及び装置

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JP3263813B2 JP53404097A JP53404097A JP3263813B2 JP 3263813 B2 JP3263813 B2 JP 3263813B2 JP 53404097 A JP53404097 A JP 53404097A JP 53404097 A JP53404097 A JP 53404097A JP 3263813 B2 JP3263813 B2 JP 3263813B2
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、請求項1、2、5及び6に記載の回路網を
構成する端末装置の接地の検査方法、及び請求項7に記
載の回路網を構成する端末装置の検査装置に関する。
例えば自動車の分野において、複数の制御装置の回路
網化により、個々の制御装置の間のデータ交換を可能に
することは公知である。1つ又は複数の導線を介して制
御装置の間で送られかつ適当な個所で適当なデータを書
込みかつ読出すことができるデータプロトコルを設ける
ことによつて、配線の際の費用及び材料をかなり節約す
ることができる。データバスがないと、それぞれの制御
装置の間で交換すべき各情報について別個のケーブルが
必要になる。
特定の時間導線へ特定の電圧レベルを印加することに
より、データがこのデータバスのプロトコルへ書込ま
れ、かつ読出される。このため、これらの制御装置がほ
ぼ一致する基準電位を持つていることが必要である。自
動車の場合これは車両アースであり、自動車にあるすべ
ての電気機器が等電位面として車両アースに接続されて
いる。前述した種類の回路網化させるシステムは、例え
ばCANシステムとして公知になっている。
欧州特許出願公開第0614298号明細書から回路網化さ
れるシステムの1つの素子において接地の断線が起こる
か、又は給電電位への短絡が起こる時、回路網全体の全
体故障を回避する回路装置が公知である。
更に欧州特許出願公開第0474907号明細書から、回路
網化されるシステムの欠陥検出方法が公知であり、回路
網化されるシステムの素子が互いに環状に接続されてい
る。回路網化されるシステムの1個所における断線は、
データが端末装置から始まつて両方向へ送信されること
によつて、この方法で検出することができる。受信機が
1つの方向のみからデータを受信すると、両方の素子の
間において他の方向に相当する経路に断線が存在するも
のと推論することができる。
さて他の制御装置に対する個々の制御装置の接地が悪
化すると、データ伝送の障害を生じることがある。なぜ
ならば、回路網化されるシステムの個々の素子の電圧レ
ベルが互いに移動するからである。この移動が甚だしく
て、許容範囲から外れると、データバスにおける電圧レ
ベルの変化の検出がもはや保証されなくなる。
従つて本発明の課題は、回路網の個々の素子例えば端
末装置の接地の悪化をできるだけ早期に検出することで
ある。
本発明によれば、回路網を構成する端末装置が、少な
くとも1つの導線を介して互いに接続され、データが、
1つの端末装置から前記少なくとも1つの導線を介して
送信され、かつ他の端末装置により受信され、各端末装
置にある前記少なくとも1つの導線が、抵抗装置及びア
ース接触を介して端末装置の共通な電位即ちアース電位
に接続され、かつ制御可能なスイツチを介して別の特定
の電位に接続可能であり、前記少なくとも1つの導線が
定常状態にあるデータ伝送を電位を持っている時、抵抗
装置にかかる電圧が所定の電位と比較され、抵抗装置に
かかる電圧と所定の電位との比較により、端末装置のア
ース接触の欠陥が評価されることによつて、この課題が
解決される。
それによりデータの継続的な伝送を妨げることなく、
接地(アース接触)を簡単な手段で早期に有利に検出す
ることができる。CAN回路網では、請求項1はCANH導線
による接地を検査する可能性を示している。
本発明による解決策は請求項2に記載されており、そ
れによれば、回路網を構成する端末装置が、少なくとも
1つの導線を介して互いに接続され、データが1つの端
末装置から前記少なくとも1つの導線を介して送信さ
れ、かつ他の端末装置により受信され、各端末装置にあ
る前記少なくとも1つの導線が抵抗装置を介して別の特
定の電位に接続され、かつ制御可能なスイツチ及びアー
ス接触を介して端末装置の共通な電位即ちアース電位に
接続可能であり、前記少なくとも1つの導線が定常状態
にあるデータ伝送電位を持っている時、抵抗装置にかか
る電圧が所定の電位と比較され、抵抗装置にかかる電圧
と所定の電位との比較により、端末装置のアース接触の
欠陥が評価されることによつて、本発明による方法が実
現される。
それによつても、データの継続的な伝送を妨げること
なく、接地の欠陥を簡単な手段で早期に有利に検出する
ことができる。CAN回路網では、請求項2はCANL導線に
よる接地を検査する可能性を示している。
両方の方法では、接地の欠陥による電圧の局部的移動
が、それぞれのデータ導線の電位と比較される。データ
導線に、各制御装置即ち回路網の各端末装置にある接続
部を介して、“平均化された”電位が、すべての端末装
置にある接続部を介して、かかつている。従って個々端
末装置の万一の接地欠陥(アース欠陥)は、データ導線
の電位に僅かな影響しか及ぼさない。それにより個々の
端末装置の接地欠陥の際、評価可能な電圧差が抵抗装置
を介して生じる。
制御可能なスイツチの切換えの際データ導線の電位が
変化する。このような電位変化の際行過ぎが生じて、抵
抗装置にかかる電圧の評価の結果を誤らせることがあ
る。従ってデータ導線の電位が定常状態にある時に初め
て、比較が行われるようにする。
請求項3による方法では、制御可能なスイツチにより
導線が特定の電位に接続された後、比較がある程度の時
間的遅れをもつて行われる。その際この時間的遅れは、
一方では定常状態が得られるように、他方では電位が既
に再び戻されないように、大きさを定められねばならな
い。
請求項4による方法では、制御可能なスイツチの開閉
状態が変化した後、特定の時間間隔(時間窓)内に比較
が行われる。その際切換え過程が実際に行われるまで、
素子が持つ時間遅れが有利に利用される。スチツチとし
てのトランシーバの状態の変化の際、切換え過程が行わ
れるまでに500nsの程度の時間が経過する。この時間窓
内に比較が行われる。それにより電位が定常状態にある
のを有利に保証される。更に正しい電位が存在するのを
保証される。
請求項5による方法では、個々の端末装置により検出
可能な電池電圧が、1つ又は複数の基準端末装置により
検出可能な電池電圧と比較され、検出される電池電圧が
特定の閾値以上に相違していると、接地の欠陥が評価さ
れる。
この方法は、今まで示された検査に関係なく、接地欠
陥の検出に適している。請求項5による方法では、特定
の場所で検出される電池電圧は、例えば情報としてデー
タバスを介して別の端末装置へ送信され、この端末装置
が基準としてそこで検出可能な電気電圧を求める。電池
電圧の送信される値が一層小さいか大きいと、接地欠陥
を評価することができる。
請求項6による方法では、自動車において電池電圧の
比較が特定の車輪回転数値以上においてのみ行われる。
それにより、車内電源(従つて測定可能な電池電圧)が
低い車輪回転数のため低すぎる電圧を持つため、欠陥の
ある判断を生じるのが有利に回避される。
請求項7は回路網の端末装置の接地を検査する装置の
本発明による構成を示しており、2つの導線を介してデ
ータを送信及び受信することにより回路網化が行われ、
各端末装置にある導線が抵抗装置及び接地接触を介して
端末装置の共通な電位即ちアース電位に接続され、かつ
制御可能なスイツチを介して別の電位に接続可能であ
り、各端末装置にある別の導線が抵抗装置を介して端末
装置の別の電位に接続され、かつ制御可能なスイツチ及
び接地接触を介して共通な電位即ちアース電位に接続可
能であり、少なくとも1つの抵抗装置にわたつて降下す
る電圧が、それぞれ1つの比較器の一方の入力端へ供給
され、この比較器の他方の入力端へ比較電位が供給さ
れ、比較器の出力信号から素子の接地の状態が評価され
る。それにより比較的簡単な回路構造が得られ、集積さ
れる形でも安価に実現可能である。
請求項8による装置では、比較器の入力端へ供給され
る異なる電位が、電圧から発生され、マルチプレクサを
介して比較器のそれぞれの入力端へ供給される。その際
回路が僅かなハードウエア費用で製造可能なことが有利
である。
このことは請求項9による回路にも当てはまり、測定
すべき電圧がマルチプレクサを介して評価装置へ供給さ
れる。
本発明の実施例が図面に詳細に示されている。
図1は複数の回路網される端末装置を示し、 図2は接地欠陥を持つ端末装置の電圧状態を示し、 図3は端末装置の接地欠陥を検出する回路の第1の実
施例を示し、 図4は端末装置の接地欠陥を検出する回路の別の実施
例を示し、 図5は接地欠陥の測定の時点を定める時間状況を示
し、 図6は端末装置の接地欠陥を検出する回路の別の実施
例を示し、 図7はCANHにおけるTxDとバスレベルとの時間的関係
を示し、 図8は典型的なCANH駆動段のトランシーバ内部の電圧
損失を示している。
図1は複数の回路網化される端末装置を示している。
端末装置は、マイクロコロトローラを持つ制御装置によ
り形成される。これらの制御装置には結合手段(トラン
シーバ)が属し、これらのトランシーバにより端末装置
が回路に結合される。これらのトランシーバは集積回路
として有利に構成することができる。このように回路網
化される端末装置は、例えば自動車にあつて互いにデー
タを交換せねばならない制御装置であることができる。
図1に示すように、2つの導線CANH及びCANLから成る
データバスを介して通信が行われる。このシステム構成
のため、2つの導線を介するこの通信の際、4Vまでの電
位移動を生じる個々の端末装置のアース欠陥が許容され
る。
例えばアースへのこれら導線の1つの短絡のため、ま
だ1つの導線を介して通信が可能である場合、同様にシ
ステムに固有に規定されて、1.25Vまでの電位差を許容
することができる。従つて通信の際2つの導線を介して
問題なく作用する個々の端末装置が、突然にもはや通信
に関与できないという事態が起こり得る。従つてこのよ
うなアース欠陥をできるだけ早期に検出することが望ま
れる。
図1からわかるように、CANHは、各端末装置にある特
別な終端抵抗を介して、そこに存在するアースに接続さ
れている。CANLは、各端末装置にある特別な終端抵抗を
介して、そこに存在するVCC電圧(+5V)に接続されて
いる。
これは、CANH及びCANLの電圧が、個々の端末装置のそ
れぞれのアース又はVCC電圧の平均された値を示してい
ることを意味する。個々の端末装置のこれらの電圧の万
一の相違は、データ導線の電圧に僅かな影響しか及ぼさ
ない。それにより欠陥のあるアースによる電位の局部的
相違の場合、予想される値とは相違する測定可能な電圧
がCANH又はCANLに現われる。
更に端末装置の局部的供給電圧(U SG)は、個々の端
末装置自体により測定することができる。その際個々の
端末装置は、自身のアース端子に対する供給電圧を測定
する。従つてアース端子に欠陥があると、個々の端末装
置により測定可能な供給電圧が、それに応じて小さくな
る。供給電圧のこの値を、データバスを介して伝送し、
他の定められた供給電圧と比較することができる。比較
による相違から、欠陥のある接触を推論することがで
き、その際接地及び/又はU BATT接触に欠陥の可能性が
ある。
これらの状況を考慮して個々の端末装置のアースずれ
を推論できることがわかる。
これは、アースずれを持つ端末装置の電圧状態を示す
図により明らかである。端末装置のこのアースずれ(即
ち車両アースに対するGND SG間の電位移動)は、制御装
置(Rx)及び/又は車体アース(Ry)に対する悪い接地
が存在することに基いている。その場合次の式が成立す
る。
U SG=U BATT−U GND U GND=ISG*(Rx÷Ry) U RTL=U VCC−U CANL U RTH=U GND−U CANH アース状態が存在しないと、次の式が得られる。
GND SG=CANH=車両アース VCC=CANL U SG=U BATT これからU RTH=0V及びU RTL=0Vが得られる。
前記の式において、関連する公差(RTH,RTL,VCC等)
を考慮することができる。すべての公差を考慮して−単
線データ伝送の際にもまだ機能し得る通信の必要性を考
慮して(上記の最大許容電位偏差参照)−次の限界値が
定義可能である。
U RTH<1V U RTL<1V U SG>(U BATT−2V) ここでバスアイドルモード又は劣勢バス状態における
局部的アース欠陥が求められる。その際注意すべきこと
は、アース欠陥のため大きい電位移動が現われるので、
最大の制御装置動作電流I SGmaxが流れることである。
U GND=ISG*(Rx÷Ry) 従つてアース欠陥の測定は、有意義なように制御装置
に固有な応用に関連せしめられる(例えば窓昇降電動機
が動作している場合)。
RTH又はRTLにおいて例えば800mVより大きい電圧差が
検出されると、付加的になお(立証のため)電圧U SGを
考慮することができる。
アース欠陥が検出されると、種々の有意義な方策をと
ることができる。例えばレシーバが単線受信閾値を操作
し、検出される欠陥が診断記憶装置へ書込まれ、例えば
車両の定例保守の際読出されるか、又は制御装置に付加
電流がない(非常運転の)場合にも、通信(送信)が行
われるようにすることができる。即ちこの場合全く又は
僅かな電位移動しか生じない。
図3はアース欠陥を検出する回路の第1実施例を示し
ている。電圧U RTH及びU RTLはそれぞれ比較器の入力端
へ供給される。この比較器の他の入力端には、アース電
位(GND SG)に対する電圧VCCから誘導される電圧がそ
れぞれ供給される。バスが立上り劣勢状態にある時、ト
リガがモジユールを介して測定が行われる。これは、劣
勢状態への移行後時間が経過すると、誘導されることが
できる。この時間は、立上り過程が終るように選ばれね
ばならず、更にまだ優勢状態へ戻されないように保証さ
れねばならない。
アースずれ測定は、ERROR始動が行われる前に、後に
接続されるフリツプフロツプによりx回立証されるよう
にすることができる。
図4はアース欠陥を検出する回路の別の実施例を示
し、図3の回路に対して電池電圧U BATTも考慮される。
更に基準電位がただ1つのD/A変換器によりマルチプレ
クサを介して発生されて、比較器のそれぞれの入力端へ
供給される。
図5はアース欠陥を測定する時点を定める時間状態を
示している。この図の上部にはバスの状態(劣勢又は優
勢)が示されている。図の下部には、バス状態に関係し
ていつ測定を行うべきかが示されている。
図6はアース欠陥を検出する回路の別の実施例を示
し、この回路はシステムベースチツプへの集積に特に簡
単に適している。ここで測定すべき量U RTH,U RTL,U BA
TTはマルチプレクサを介してただ1つのA/D変換器へ供
給され、評価すべき電圧はA/D変換器を介して論理モジ
ユールへ供給される。このモジユールには、バス状態を
示す信号が供給されるので、測定及び評価が正しい時点
に行われる。
それにより僅かなハードウエア費用で測定を行うこと
が簡単に可能である。
測定の時点を定める別の方法を図7により説明する。
図7aは、劣勢状態から優勢状態への変化の際及び優勢
状態から劣勢状態への変化の際における電圧U CANHを示
している。図7aからわかるように、電圧U CANHの時間的
経過は、“1"から“0"へ又はその逆へのTXの変化の際
(図7b参照)信号が行過ぎ動作を示すようになつてい
る。“優勢”から“劣勢”への変化の際電圧U CANHは電
圧U GNDより小さい。図7aから更にわかるように、TXの
変化後ある程度の時間的遅れをもつて電圧U CANHが変化
する。この時間的遅れは約500nsの程度である。図7cに
おける比較的出力の時間的経過からわかるように、“1"
から“0"へのTXの移行の際行過ぎ動作のため、比較器の
出力が変化する。しかしこれは悪い接地とは関係がな
い。従つて比較器出力のこの変化は回転数と評価すべき
ではない。
図7からわかるように、電圧の測定及び比較は時点t1
に行われる。この時点は“1"から“0"へのTXの変化後時
間窓内にある。この時点にCANH導線の電圧はまだ変化し
ない。更にこの時点(優勢状態への移行の直前)に劣勢
状態が立上るのを保証されている。
こうして電圧の測定及び比較がこの時点に有利に行わ
れる。それにより例えばCANH導線の電圧の行過ぎ動作の
ため起こる比較器出力の変化が欠陥解釈に至らないよう
にすることができる。
図7dは、場合によつてはアース制御可能なスイツチを
示す論理変数を示している。この変数は時点t1に実現さ
れる。この時点には欠陥が存在しなかつたので、欠陥が
検出されない。
図7に関連して状況がCANH導線についてのみ考究され
る。CANL導線の状況は冗長な結果しか生じないので、こ
れら導線の1つについてのみ測定及び比較を行えば充分
である。この目的のため、CANHを使用すると、劣勢状態
で直接そこにアース電位がかかるという利点がある。
更に劣勢状態における測定は、優先状態における測定
に比べて、データバスの電圧レベル部品の品質とは大幅
に無関係であるという利点を持つている。図8は、例え
ばCANH導線について、電圧状況がどのように優勢状態に
あるかを示している。その際CANH導線の電圧は、VCCを
介して決定され、その際次の電圧が考慮される。
U Rint 抵抗における電圧降下 U CE スイツチングトランジスタのコレクタからエ
ミツタへの電圧 U F シヨツトキーダイオードの順方向電圧 所定の公差のため、これらの電圧の和は1.4Vまでの値
をとることができる。部品はその品質及び公差を精確に
は定められていないので、これにより必然的に電圧の相
違が生じる。電圧のこれらの相違は、優勢なバス状態に
おける測定の際、一緒に入り込むことになる。これに反
し劣勢なバス状態における測定では、トランジスタが不
導通なので、部品の公差は問題にならない。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 シユヴアルツ,ギユンテル ドイツ連邦共和国 デー−73239 キル ヒハイム ヒンテル デル ヴエツテ 17 (72)発明者 レーブ,マツクス ドイツ連邦共和国 デー−73104 ベル トリンゲン ブリユールシユトラーセ 8 (56)参考文献 特開 平4−72937(JP,A) 特開 昭59−138153(JP,A) 特開 平7−15453(JP,A) 特開 平2−250536(JP,A) 特開 平6−153301(JP,A) 特開 平6−153303(JP,A) 特開 昭54−79688(JP,A) 特表 平3−500477(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H04L 25/02 302 G01R 31/02 H04L 12/40

Claims (9)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】回路網を構成する端末装置(SG1,SG2,…,S
    Gn)が、少なくとも1つの導線(CANH)を介して互いに
    接続され、データが、1つの端末装置から前記少なくと
    も1つの導線(CANH)を介して送信され、かつ他の端末
    装置により受信され、各端末装置にある前記少なくとも
    1つの導線(CANH)が、抵抗装置(RTH)及びアース接
    触(Rx,Ry)を介して端末装置(SG1,SG2,…,SGn)の共
    通な電位(GND)即ちアース電位に接続され、かつ制御
    可能なスイツチ(Transceiver)を介して別の特定の電
    位(VCC)に接続可能であり、前記少なくとも1つの導
    線(CANH)が定常状態にあるデータ伝送を電位を持って
    いる時、抵抗装置(RTH)にかかる電圧(U RTH)が所定
    の電位と比較され、抵抗装置(RTH)にかかる電圧(U R
    TH)と所定の電位との比較により、端末装置(SG1,SG2,
    …,SGn)のアース接触(Rx,Ry)の欠陥が評価されるこ
    とを特徴とする、回路網を構成する端末装置の接地の検
    査方法。
  2. 【請求項2】回路網を構成する端末装置(SG1,SG2,…,S
    Gn)が、少なくとも1つの導線(CANL)を介して互いに
    接続され、データが1つの端末装置から前記少なくとも
    1つの導線(CANL)を介して送信され、かつ他の端末装
    置により受信され、各端末装置にある前記少なくとも1
    つの導線(CANL)が抵抗装置(RTL)を介して別の特定
    の電位(VCC)に接続され、かつ制御可能なスイツチ(T
    ransceiver)及びアース接触(Rx,Ry)を介して端末装
    置(SG1,SG2,…,SGn)の共通な電位(GND)即ちアース
    電位に接続可能であり、前記少なくとも1つの導線(CA
    NL)が定常状態にあるデータ伝送電位を持っている時、
    抵抗装置(RTL)にかかる電圧(U RTL)が所定の電位と
    比較され、抵抗装置(RTL)にかかる電圧(U RTL)と所
    定の電位との比較により、端末装置(SG1,SG2,…,SGn
    のアース接触(Rx,Ry)の欠陥が評価されることを特徴
    とする、回路網を構成する端末装置の接地の検査方法。
  3. 【請求項3】制御可能なスイツチ(Transceiver)によ
    り導線(CANH,CANL)が別の特定の電位に接続された
    後、比較が特定の時間遅れをもつて行われることを特徴
    とする、請求項1又は2に記載の方法。
  4. 【請求項4】制御可能なスイツチ(Transceiver)の開
    閉状態が変化した後、特定の時間間隔内に比較が行われ
    ることを特徴とする、請求項1ないし3の1つに記載の
    方法。
  5. 【請求項5】複数の端末装置(SG1,SG2,…,SGn)により
    構成される回路網の各端末装置(SG1,SG2,…,SGn)が、
    電池電圧(UBATT)に接続され、かつアース接触(Rx,
    Ry)を介して共通な電位(GND)即ちアース電位に接続
    され、1つの端末装置(SG1)により検出される電池電
    圧(USG)が1つ又は複数の別の端末装置(SG2,…,S
    Gn)により検出される電池電圧(USG)と比較される、
    検査方法において、検出された電池電圧(USG)が、回
    路網を介して前記1つの端末装置(SG1)から前記1つ
    又は複数の別の端末装置(SG2,…,SGn)へ送られ、検出
    された電池電圧(USG)の間の差が所定の閾値以上であ
    ると、アース接触の欠陥が評価されることを特徴とす
    る、回路網を構成する端末装置の接地の検査方法。
  6. 【請求項6】自動車の複数の制御装置としての複数の端
    末装置(SG1,SG2,…,SGn)により構成される回路網の各
    端末装置(SG1,SG2,…,SGn)が、電池電圧(UBATT)に
    接続され、かつアース接触(Rx,Ry)を介して共通な電
    位(GND)即ちアース電位に接続され、1つの端末装置
    (SG1)により検出される電池電圧(USG)が1つ又は複
    数の別の端末装置(SG2,…,SGn)により検出される電池
    電圧(USG)と比較される、検査方法において、自動車
    の特定の車輪回転数値以上においてのみ電池電圧(US
    G)の比較が行われ、検出された電池電圧(USG)が、回
    路網を介して前記1つの端末装置(SG1)から前記1つ
    又は複数の別の端末装置(SG2,…,SGn)へ送られ、検出
    された電池電圧(USG)の間の差が所定の閾値以上であ
    ると、アース接触の欠陥が評価されることを特徴とす
    る、回路網を構成する端末装置の接地の検査方法。
  7. 【請求項7】複数の端末装置(SG1,SG2,…,SGn)により
    構成される回路網がデータを伝送する2つの導線(CA
    NH,CANL)を含み、各端末装置(SG1,SG2,…,SGn)にあ
    る1つの導線(CANH)が、抵抗装置(RTH)及びアース
    接触(Rx,Ry)を介してを端末装置(SG1,SG2,…,SGn
    の共通な電位即ちアース電位に接続され、かつ制御可能
    なスイツチ(Transceiver)を介して別の特定の電位(V
    CC)に接続可能であり、各端末装置(SG1,SG2,…,SGn
    にある別の導線(CANL)が抵抗装置(RTL)を介して端
    末装置(SG1,SG2,…,SGn)の別の特定の電位(VCC)に
    接続され、かつ制御可能なスイツチ(Transceiver)及
    びアース接触(Rx,Ry)を介して端末装置の共通な電位
    (GND)即ちアース電位に接続可能であり、少なくとも
    1つの抵抗装置(RTH,RTL)にわたつて降下する電圧
    が、それぞれ1つの比較器の一方の入力端へ供給され、
    この比較器の他方の入力端へ比較電位が供給され、比較
    器の出力信号から端末装置(SG1,SG2,…,SGn)のアース
    接触の欠陥が評価されることを特徴とする、回路網を構
    成する端末装置の接地の検査装置。
  8. 【請求項8】比較器の入力端へ供給される複数の異なる
    電位が、1つの電圧から発生され、マルチプレクサ(Mu
    x)を介して比較器のそれぞれの入力端へ供給されるこ
    とを特徴とする、請求項7に記載の装置。
  9. 【請求項9】測定すべき電圧(U RTH,U RTL,U BATT)が
    マルチプレクサ(Mux)を介して評価装置へ供給される
    ことを特徴とする、請求項7又は8に記載の装置。
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