JP3262884B2 - 形状評価方法 - Google Patents
形状評価方法Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、例えばプレス成形や射
出成形等により成形された被測定物における表面等の形
状の良否を評価する形状評価方法に関するものである。
出成形等により成形された被測定物における表面等の形
状の良否を評価する形状評価方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】一般に、プレス成形や射出成形等により
成形された各種成形品等の被測定物は、金型内では設計
通りの形状となっているものの、一旦、金型から取り出
すと、例えば、被測定物を形成する材料が備えている弾
性や塑性、復元力、応力等の諸特性により、その形状が
僅かに変化する。このため、被測定物の形状は、所望す
る本来の形状とは微妙に異なり、同一とはならない。従
って、微細な加工が施される成形品においては、その変
形の変動量を把握すると共に、変動量を無視できる程度
に低減する必要がある。
成形された各種成形品等の被測定物は、金型内では設計
通りの形状となっているものの、一旦、金型から取り出
すと、例えば、被測定物を形成する材料が備えている弾
性や塑性、復元力、応力等の諸特性により、その形状が
僅かに変化する。このため、被測定物の形状は、所望す
る本来の形状とは微妙に異なり、同一とはならない。従
って、微細な加工が施される成形品においては、その変
形の変動量を把握すると共に、変動量を無視できる程度
に低減する必要がある。
【０００３】ところが、上記の変動量は、例えば温度、
時間、圧力等の成形条件や、金型と材料の相性等の種々
の因子が互いに重なり合った結果として表れているた
め、被測定物の設計図面や、金型の寸法等から求めるこ
とは不可能となっている。
時間、圧力等の成形条件や、金型と材料の相性等の種々
の因子が互いに重なり合った結果として表れているた
め、被測定物の設計図面や、金型の寸法等から求めるこ
とは不可能となっている。
【０００４】そこで、従来より、プレス成形や射出成形
等により成形された被測定物の変形の変動量を算出し、
その形状の良否を評価する方法として、例えば、特開平
4-104002号公報に開示されているような測定装置を用い
た形状評価方法が行われている。上記従来の形状評価方
法は、先ず、被測定物を挟む位置にＣＣＤカメラとスト
ロボとを配置し、被測定物の輪郭をＣＣＤカメラで撮影
した後、画像処理を行って輪郭の端部を二値化データに
変換する。次に、上記の二値化データと、予め測定装置
に記憶された基準データとを比較し、その差である変動
量を算出すると共に、変動量が所定許容範囲内に入って
いるか否かにより、被測定物の輪郭の形状の良否を評価
している。
等により成形された被測定物の変形の変動量を算出し、
その形状の良否を評価する方法として、例えば、特開平
4-104002号公報に開示されているような測定装置を用い
た形状評価方法が行われている。上記従来の形状評価方
法は、先ず、被測定物を挟む位置にＣＣＤカメラとスト
ロボとを配置し、被測定物の輪郭をＣＣＤカメラで撮影
した後、画像処理を行って輪郭の端部を二値化データに
変換する。次に、上記の二値化データと、予め測定装置
に記憶された基準データとを比較し、その差である変動
量を算出すると共に、変動量が所定許容範囲内に入って
いるか否かにより、被測定物の輪郭の形状の良否を評価
している。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の方法では、被測定物の輪郭の端部の変動量しか算出
できないため、例えば、被測定物の表面等に形成された
微小な凹凸や、あるいは面の歪み、うねり等の種々の形
状の良否を評価することができないという問題点を有し
ている。また、被測定物の形状の良否を評価するために
は、基準データを予め測定装置に記憶させなければなら
ず、従って、基準データを用意できない被測定物は、変
動量を算出することができず、形状の良否を評価するこ
とが不可能となっている。
来の方法では、被測定物の輪郭の端部の変動量しか算出
できないため、例えば、被測定物の表面等に形成された
微小な凹凸や、あるいは面の歪み、うねり等の種々の形
状の良否を評価することができないという問題点を有し
ている。また、被測定物の形状の良否を評価するために
は、基準データを予め測定装置に記憶させなければなら
ず、従って、基準データを用意できない被測定物は、変
動量を算出することができず、形状の良否を評価するこ
とが不可能となっている。
【０００６】本発明は、上記の問題点に鑑みなされたも
のであり、その目的は、被測定物が備えるべき本来の形
状が不明の場合において、本来の形状を近似曲線として
求め、この近似曲線に対する被測定物の変動量を算出す
ることにより、例えば、被測定物の表面等に形成された
微小な凹凸や、あるいは面の歪み、うねり等の種々の形
状の良否を評価することが可能な形状評価方法を提供す
ることにある。
のであり、その目的は、被測定物が備えるべき本来の形
状が不明の場合において、本来の形状を近似曲線として
求め、この近似曲線に対する被測定物の変動量を算出す
ることにより、例えば、被測定物の表面等に形成された
微小な凹凸や、あるいは面の歪み、うねり等の種々の形
状の良否を評価することが可能な形状評価方法を提供す
ることにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明の形
状評価方法は、上記の課題を解決するために、被測定物
の形状を形状測定器にて測定し、測定値から近似により
第１の近似曲線を求めた後、該第１の近似曲線の近似値
に対する測定値の変動分を算出し、この変動分が所定許
容範囲を越えた場合に、上記測定値を得た測定部分を欠
陥部と判定する一方、上記欠陥部の測定値を除いた残り
の測定値と、欠陥部の測定値に対応する該第１の近似曲
線の近似値とから、近似により、第２の近似曲線を再度
求めた後、該第２の近似曲線の近似値に対する欠陥部の
測定値の変動量を算出することを特徴としている。
状評価方法は、上記の課題を解決するために、被測定物
の形状を形状測定器にて測定し、測定値から近似により
第１の近似曲線を求めた後、該第１の近似曲線の近似値
に対する測定値の変動分を算出し、この変動分が所定許
容範囲を越えた場合に、上記測定値を得た測定部分を欠
陥部と判定する一方、上記欠陥部の測定値を除いた残り
の測定値と、欠陥部の測定値に対応する該第１の近似曲
線の近似値とから、近似により、第２の近似曲線を再度
求めた後、該第２の近似曲線の近似値に対する欠陥部の
測定値の変動量を算出することを特徴としている。
【０００８】請求項２記載の発明の形状評価方法は、上
記の課題を解決するために、請求項１記載の形状評価方
法において、中心となる測定値から前後にそれぞれ所定
個数置きに、または連続して、複数個の測定値を選択し
た後、上記中心測定値を含めた該測定値から中心測定値
に対応する近似値を算出し、上記近似値を測定値の全域
に渡って算出することにより上記の第１および第２の近
似曲線を求めることを特徴としている。
記の課題を解決するために、請求項１記載の形状評価方
法において、中心となる測定値から前後にそれぞれ所定
個数置きに、または連続して、複数個の測定値を選択し
た後、上記中心測定値を含めた該測定値から中心測定値
に対応する近似値を算出し、上記近似値を測定値の全域
に渡って算出することにより上記の第１および第２の近
似曲線を求めることを特徴としている。
【０００９】
【作用】請求項１記載の方法によれば、被測定物の形状
を形状測定器にて測定し、測定値から近似により第１の
近似曲線を求めた後、該第１の近似曲線の近似値に対す
る測定値の変動分を算出し、この変動分が所定許容範囲
を越えた場合に、上記測定値を得た測定部分を欠陥部と
判定するので、被測定物が備えるべき本来の形状が不明
であっても、測定値から近似曲線を求め、被測定物の欠
陥部の位置を検出することができる。また、上記欠陥部
の測定値を除いた残りの測定値と、欠陥部の測定値に対
応する該第１の近似曲線の近似値とから、近似により、
第２の近似曲線を再度求めた後、該第２の近似曲線の近
似値に対する欠陥部の測定値の変動量を算出するので、
被測定物が備えるべき本来の形状が不明であっても、測
定値から本来の形状により一層近い第２の近似曲線を求
め、この第２の近似曲線に対する被測定物の欠陥部の変
動量を算出することができる。
を形状測定器にて測定し、測定値から近似により第１の
近似曲線を求めた後、該第１の近似曲線の近似値に対す
る測定値の変動分を算出し、この変動分が所定許容範囲
を越えた場合に、上記測定値を得た測定部分を欠陥部と
判定するので、被測定物が備えるべき本来の形状が不明
であっても、測定値から近似曲線を求め、被測定物の欠
陥部の位置を検出することができる。また、上記欠陥部
の測定値を除いた残りの測定値と、欠陥部の測定値に対
応する該第１の近似曲線の近似値とから、近似により、
第２の近似曲線を再度求めた後、該第２の近似曲線の近
似値に対する欠陥部の測定値の変動量を算出するので、
被測定物が備えるべき本来の形状が不明であっても、測
定値から本来の形状により一層近い第２の近似曲線を求
め、この第２の近似曲線に対する被測定物の欠陥部の変
動量を算出することができる。
【００１０】それゆえ、被測定物が備えるべき本来の形
状が不明の場合において、本来の形状を近似曲線として
求め、この近似曲線に対する被測定物の欠陥部の変動量
を高精度で算出することができる。これにより、例え
ば、被測定物の表面等に形成された微小な凹凸や、ある
いは面の歪み、うねり等の種々の形状の良否を正確に評
価することが可能となる。
状が不明の場合において、本来の形状を近似曲線として
求め、この近似曲線に対する被測定物の欠陥部の変動量
を高精度で算出することができる。これにより、例え
ば、被測定物の表面等に形成された微小な凹凸や、ある
いは面の歪み、うねり等の種々の形状の良否を正確に評
価することが可能となる。
【００１１】請求項２記載の方法によれば、中心となる
測定値から前後にそれぞれ所定個数置きに、または連続
して、複数個の測定値を選択した後、上記中心測定値を
含めた該測定値から中心測定値に対応する近似値を算出
するので、近似値の算出に時間が掛からない。また、上
記近似値を測定値の全域に渡って算出することにより上
記の第１および第２の近似曲線を求めるので、測定値の
全域において、高精度で滑らかな第１および第２の近似
曲線を求めることが可能となる。
測定値から前後にそれぞれ所定個数置きに、または連続
して、複数個の測定値を選択した後、上記中心測定値を
含めた該測定値から中心測定値に対応する近似値を算出
するので、近似値の算出に時間が掛からない。また、上
記近似値を測定値の全域に渡って算出することにより上
記の第１および第２の近似曲線を求めるので、測定値の
全域において、高精度で滑らかな第１および第２の近似
曲線を求めることが可能となる。
【００１２】
【実施例】本発明の一実施例について図１ないし図４に
基づいて説明すれば、以下の通りである。
基づいて説明すれば、以下の通りである。
【００１３】図１に示すように、本実施例にかかる形状
評価方法は、例えば、プレス成形や射出成形等により成
形された各種成形品等の被測定物の表面等を形状測定器
にて測定することにより、例えば表面等に形成された微
小な凹凸や、あるいは面の歪み、うねり等の種々の形状
の良否を評価する方法である。
評価方法は、例えば、プレス成形や射出成形等により成
形された各種成形品等の被測定物の表面等を形状測定器
にて測定することにより、例えば表面等に形成された微
小な凹凸や、あるいは面の歪み、うねり等の種々の形状
の良否を評価する方法である。
【００１４】先ず、図１（ａ）に示すように、形状の良
否の評価を所望する被測定物の表面等を形状測定器にて
測定し、これら測定値を形状データとする。この形状デ
ータは、例えば横軸を測定位置とし、縦軸を所定の基準
点からの高さで示した点列のデータである（同図中、便
宜上、形状データを実線で示す）。
否の評価を所望する被測定物の表面等を形状測定器にて
測定し、これら測定値を形状データとする。この形状デ
ータは、例えば横軸を測定位置とし、縦軸を所定の基準
点からの高さで示した点列のデータである（同図中、便
宜上、形状データを実線で示す）。
【００１５】次に、同図（ｂ）に示すように、上記の形
状データから、例えば二次曲線近似により近似曲線とし
ての第一の仮想曲線を求める（同図中、便宜上、第一の
仮想曲線を点線で示す）。尚、この第一の仮想曲線の求
め方については後述する。
状データから、例えば二次曲線近似により近似曲線とし
ての第一の仮想曲線を求める（同図中、便宜上、第一の
仮想曲線を点線で示す）。尚、この第一の仮想曲線の求
め方については後述する。
【００１６】次いで、同図（ｃ）に示すように、第一の
仮想曲線を基準線とし、この基準線を中心として許容変
動分（±Ｐ）を設定する。即ち、基準線を中心とした幅
（２Ｐ）の許容範囲を設定する。上記の許容範囲は、微
細な加工が施された被測定物において、被測定物の形状
データが第一の仮想曲線と異なっていても、第一の仮想
曲線に対する形状データの変動分が無視できる範囲であ
る。従って、上記の許容変動分（±Ｐ）は、例えば、被
測定物の成形に要求される精度等に応じて、最適となる
ように適宜設定すればよい。
仮想曲線を基準線とし、この基準線を中心として許容変
動分（±Ｐ）を設定する。即ち、基準線を中心とした幅
（２Ｐ）の許容範囲を設定する。上記の許容範囲は、微
細な加工が施された被測定物において、被測定物の形状
データが第一の仮想曲線と異なっていても、第一の仮想
曲線に対する形状データの変動分が無視できる範囲であ
る。従って、上記の許容変動分（±Ｐ）は、例えば、被
測定物の成形に要求される精度等に応じて、最適となる
ように適宜設定すればよい。
【００１７】その後、第一の仮想曲線と形状データとの
差である変動分を算出し、許容範囲を越えた部分（同図
中、便宜上、網掛けで示す）、即ち、許容範囲を越えた
測定値を得た被測定物の測定部分を欠陥部と判定する。
差である変動分を算出し、許容範囲を越えた部分（同図
中、便宜上、網掛けで示す）、即ち、許容範囲を越えた
測定値を得た被測定物の測定部分を欠陥部と判定する。
【００１８】次に、同図（ｄ）に示すように、上記の欠
陥部の測定値を除いた残りの形状データから、例えば二
次曲線近似により近似曲線としての第二の仮想曲線を求
める（同図中、便宜上、第二の仮想曲線を点線で示
す）。尚、この第二の仮想曲線の求め方については後述
する。
陥部の測定値を除いた残りの形状データから、例えば二
次曲線近似により近似曲線としての第二の仮想曲線を求
める（同図中、便宜上、第二の仮想曲線を点線で示
す）。尚、この第二の仮想曲線の求め方については後述
する。
【００１９】続いて、同図（ｅ）に示すように、第二の
仮想曲線を基準線とし、この基準線に対する上記の欠陥
部の測定値の変動量を算出する。
仮想曲線を基準線とし、この基準線に対する上記の欠陥
部の測定値の変動量を算出する。
【００２０】このように、形状データから、例えば二次
曲線近似により第一の仮想曲線を求めるので、被測定物
が備えるべき本来の形状が不明であっても、被測定物の
欠陥部の位置を正確に検出することが可能となってい
る。また、欠陥部の測定値を除いた残りの形状データか
ら、例えば二次曲線近似により第二の仮想曲線を求める
ので、第二の仮想曲線は、被測定物が備えるべき本来の
形状により一層近いものとなる。よって、被測定物の欠
陥部の変動量を、例えば 1/100mm〜1/1000mmの精度で算
出することが可能となっている。
曲線近似により第一の仮想曲線を求めるので、被測定物
が備えるべき本来の形状が不明であっても、被測定物の
欠陥部の位置を正確に検出することが可能となってい
る。また、欠陥部の測定値を除いた残りの形状データか
ら、例えば二次曲線近似により第二の仮想曲線を求める
ので、第二の仮想曲線は、被測定物が備えるべき本来の
形状により一層近いものとなる。よって、被測定物の欠
陥部の変動量を、例えば 1/100mm〜1/1000mmの精度で算
出することが可能となっている。
【００２１】これにより、被測定物が備えるべき本来の
形状が不明の場合において、例えば、被測定物の表面等
に形成された微小な凹凸や、あるいは面の歪み、うねり
等の種々の形状の良否を評価することが可能となる。
形状が不明の場合において、例えば、被測定物の表面等
に形成された微小な凹凸や、あるいは面の歪み、うねり
等の種々の形状の良否を評価することが可能となる。
【００２２】次に、上記の第一の仮想曲線の求め方につ
いて、図２および図３を参照しながら以下に説明する。
尚、以下の説明においては、測定値の全個数がＮ個であ
る形状データを例に挙げることとし、また、説明の便宜
上、形状データを数直線で表す。
いて、図２および図３を参照しながら以下に説明する。
尚、以下の説明においては、測定値の全個数がＮ個であ
る形状データを例に挙げることとし、また、説明の便宜
上、形状データを数直線で表す。
【００２３】先ず、図２（ａ）に示すように、形状デー
タにおける或る測定値を中心測定値に指定する。次に、
この中心測定値から前後にそれぞれ所定個数置きに、ま
たは連続して、複数個の測定値を選択する。同図の場合
では、左から13番目の測定値を中心測定値とし、この中
心測定値から左右にそれぞれ３個置きに、合計６個の測
定値を選択している。従って、選択された測定値（以
下、選択測定値と称する）は、左から 1番目、 5番目、
9番目、17番目、21番目、25番目である。そして、この
場合、左から 1番目から25番目までの形状データが算出
区間となる。尚、形状データの全域に渡って近似値を算
出して第一の仮想曲線を求めるために、算出開始時の中
心測定値は、最初の測定値（ 1番目の測定値）が選択測
定値となるように指定する。
タにおける或る測定値を中心測定値に指定する。次に、
この中心測定値から前後にそれぞれ所定個数置きに、ま
たは連続して、複数個の測定値を選択する。同図の場合
では、左から13番目の測定値を中心測定値とし、この中
心測定値から左右にそれぞれ３個置きに、合計６個の測
定値を選択している。従って、選択された測定値（以
下、選択測定値と称する）は、左から 1番目、 5番目、
9番目、17番目、21番目、25番目である。そして、この
場合、左から 1番目から25番目までの形状データが算出
区間となる。尚、形状データの全域に渡って近似値を算
出して第一の仮想曲線を求めるために、算出開始時の中
心測定値は、最初の測定値（ 1番目の測定値）が選択測
定値となるように指定する。
【００２４】次いで、６個の選択測定値と中心測定値と
の合計７個の測定値から、中心測定値に対応する近似値
を算出する。即ち、上記７個の測定値から二次曲線近似
をして、この近似二次曲線から中心測定値に対応する近
似値を算出する。
の合計７個の測定値から、中心測定値に対応する近似値
を算出する。即ち、上記７個の測定値から二次曲線近似
をして、この近似二次曲線から中心測定値に対応する近
似値を算出する。
【００２５】次に、同図（ｂ）に示すように、上記の中
心測定値の隣の測定値を新たに中心測定値に指定し、同
様にして、この中心測定値から前後にそれぞれ選択測定
値を選択する。同図では、左から14番目の測定値が中心
測定値となり、選択測定値は、左から 2番目、 6番目、
10番目、18番目、22番目、26番目となる。そして、この
場合、左から 2番目から26番目までの形状データが算出
区間となる。次いで、選択測定値と中心測定値との合計
７個の測定値から二次曲線近似をして、この近似二次曲
線から中心測定値に対応する近似値を算出する。以下、
順次、中心測定値を移動させて、中心測定値に対応する
近似値をそれぞれ算出する。
心測定値の隣の測定値を新たに中心測定値に指定し、同
様にして、この中心測定値から前後にそれぞれ選択測定
値を選択する。同図では、左から14番目の測定値が中心
測定値となり、選択測定値は、左から 2番目、 6番目、
10番目、18番目、22番目、26番目となる。そして、この
場合、左から 2番目から26番目までの形状データが算出
区間となる。次いで、選択測定値と中心測定値との合計
７個の測定値から二次曲線近似をして、この近似二次曲
線から中心測定値に対応する近似値を算出する。以下、
順次、中心測定値を移動させて、中心測定値に対応する
近似値をそれぞれ算出する。
【００２６】算出終了時の中心測定値は、同図（ｃ）に
示すように、最後の測定値（ N番目の測定値）が選択測
定値となるように指定する。同図では、左から(N-12)番
目の測定値が中心測定値となり、選択測定値は、左から
(N-24)番目、(N-20)番目、(N-16)番目、 (N-8)番目、
(N-4)番目、 N番目となる。そして、この場合、左から
(N-24)番目から N番目までの形状データが算出区間とな
る。次いで、選択測定値と中心測定値との合計７個の測
定値から二次曲線近似をして、この近似二次曲線から中
心測定値に対応する近似値を算出する。
示すように、最後の測定値（ N番目の測定値）が選択測
定値となるように指定する。同図では、左から(N-12)番
目の測定値が中心測定値となり、選択測定値は、左から
(N-24)番目、(N-20)番目、(N-16)番目、 (N-8)番目、
(N-4)番目、 N番目となる。そして、この場合、左から
(N-24)番目から N番目までの形状データが算出区間とな
る。次いで、選択測定値と中心測定値との合計７個の測
定値から二次曲線近似をして、この近似二次曲線から中
心測定値に対応する近似値を算出する。
【００２７】以上のようにして、形状データの全域に渡
って中心測定値に対応する複数の近似値が二次曲線近似
により算出され、これら複数の近似値を接続して、図３
に示すように、高精度で滑らかな第一の仮想曲線が求め
られる。
って中心測定値に対応する複数の近似値が二次曲線近似
により算出され、これら複数の近似値を接続して、図３
に示すように、高精度で滑らかな第一の仮想曲線が求め
られる。
【００２８】次に、上記の第二の仮想曲線の求め方につ
いて、図４を参照しながら以下に説明する。尚、形状デ
ータにおける、被測定物の欠陥部が検出されない部分の
第二の仮想曲線の求め方は、第一の仮想曲線の求め方と
同一であるので、その説明を省略し、被測定物の欠陥部
が検出された部分の第二の仮想曲線の求め方についての
み説明することとする。
いて、図４を参照しながら以下に説明する。尚、形状デ
ータにおける、被測定物の欠陥部が検出されない部分の
第二の仮想曲線の求め方は、第一の仮想曲線の求め方と
同一であるので、その説明を省略し、被測定物の欠陥部
が検出された部分の第二の仮想曲線の求め方についての
み説明することとする。
【００２９】図４に示すように、例えば形状データにお
ける(n-12)番目、(n-11)番目、 (n-1)番目〜 (n-3)番
目、 (n+5)番目および (n+6)番目の測定値が欠陥部とな
っている場合には、 n番目の測定値を中心測定値に指定
し、先述したようにして、この中心測定値に対応する近
似値を算出する。このような場合、欠陥部の測定値は除
かれているので、上記除かれた測定値の代わりに、この
測定値に対応する第一の仮想曲線の近似値を用いる。従
って、中心測定値や選択測定値が欠陥部に当たる場合に
は、対応する第一の仮想曲線の近似値を中心測定値や選
択測定値として代用する。
ける(n-12)番目、(n-11)番目、 (n-1)番目〜 (n-3)番
目、 (n+5)番目および (n+6)番目の測定値が欠陥部とな
っている場合には、 n番目の測定値を中心測定値に指定
し、先述したようにして、この中心測定値に対応する近
似値を算出する。このような場合、欠陥部の測定値は除
かれているので、上記除かれた測定値の代わりに、この
測定値に対応する第一の仮想曲線の近似値を用いる。従
って、中心測定値や選択測定値が欠陥部に当たる場合に
は、対応する第一の仮想曲線の近似値を中心測定値や選
択測定値として代用する。
【００３０】以上のようにして、欠陥部を除いた形状デ
ータの全域に渡って中心測定値に対応する複数の近似値
が算出され、これら複数の近似値を接続して、高精度で
滑らかな第二の仮想曲線が求められる。
ータの全域に渡って中心測定値に対応する複数の近似値
が算出され、これら複数の近似値を接続して、高精度で
滑らかな第二の仮想曲線が求められる。
【００３１】上記の第一および第二の仮想曲線の求め方
の説明においては、中心測定値から左右にそれぞれ３個
置きに、合計６個の選択測定値を選択する場合を例に挙
げたが、選択測定値の選択方法および選択個数は、勿
論、上記の説明で挙げた選択方法および選択個数に限定
されるものではなく、任意の個数置きに、または連続し
て、任意の個数の選択測定値を選択することが可能であ
る。即ち、選択測定値の選択方法および選択個数は、第
一および第二の仮想曲線を求める際のパラメータとなっ
ている。従って、選択測定値の選択方法および選択個数
は、例えば、被測定物の成形に要求される精度や、被測
定物の表面等の曲率等に応じて、滑らかな最適の第一お
よび第二の仮想曲線が得られ、かつ、高精度で欠陥部の
変動量が算出できるように適宜設定すればよい。
の説明においては、中心測定値から左右にそれぞれ３個
置きに、合計６個の選択測定値を選択する場合を例に挙
げたが、選択測定値の選択方法および選択個数は、勿
論、上記の説明で挙げた選択方法および選択個数に限定
されるものではなく、任意の個数置きに、または連続し
て、任意の個数の選択測定値を選択することが可能であ
る。即ち、選択測定値の選択方法および選択個数は、第
一および第二の仮想曲線を求める際のパラメータとなっ
ている。従って、選択測定値の選択方法および選択個数
は、例えば、被測定物の成形に要求される精度や、被測
定物の表面等の曲率等に応じて、滑らかな最適の第一お
よび第二の仮想曲線が得られ、かつ、高精度で欠陥部の
変動量が算出できるように適宜設定すればよい。
【００３２】尚、第一および第二の仮想曲線は、被測定
物の成形に要求される精度や、変動分・変動量の算出に
掛かる時間等を考慮して、例えば二次曲線近似とすれば
よいが、勿論、第一および第二の仮想曲線は、二次曲線
近似に限定されるものではなく、例えば三次曲線近似を
行ってもよい。
物の成形に要求される精度や、変動分・変動量の算出に
掛かる時間等を考慮して、例えば二次曲線近似とすれば
よいが、勿論、第一および第二の仮想曲線は、二次曲線
近似に限定されるものではなく、例えば三次曲線近似を
行ってもよい。
【００３３】上記の形状評価方法により、例えば温度、
時間、圧力等の成形条件や、金型と材料の相性等の種々
の因子が互いに重なり合った結果として表れた被測定物
の欠陥部の位置と変動量とを高精度で算出することがで
きる。これにより、例えば、被測定物の表面等に形成さ
れた微小な凹凸や、あるいは面の歪み、うねり等の種々
の形状の良否を正確に評価することが可能となる。従っ
て、上記の評価を、例えば被測定物の成形時に使用され
る金型の作製にフィードバックさせて、金型の寸法や曲
率等を微妙に修正することにより、金型から取り出した
ときの被測定物の形状を矯正することができ、被測定物
の形状を、所望する本来の形状とすることが可能とな
る。
時間、圧力等の成形条件や、金型と材料の相性等の種々
の因子が互いに重なり合った結果として表れた被測定物
の欠陥部の位置と変動量とを高精度で算出することがで
きる。これにより、例えば、被測定物の表面等に形成さ
れた微小な凹凸や、あるいは面の歪み、うねり等の種々
の形状の良否を正確に評価することが可能となる。従っ
て、上記の評価を、例えば被測定物の成形時に使用され
る金型の作製にフィードバックさせて、金型の寸法や曲
率等を微妙に修正することにより、金型から取り出した
ときの被測定物の形状を矯正することができ、被測定物
の形状を、所望する本来の形状とすることが可能とな
る。
【００３４】
【発明の効果】本発明の請求項１記載の形状評価方法
は、以上のように、被測定物の形状を形状測定器にて測
定し、測定値から近似により第１の近似曲線を求めた
後、該第１の近似曲線の近似値に対する測定値の変動分
を算出し、この変動分が所定許容範囲を越えた場合に、
上記測定値を得た測定部分を欠陥部と判定する一方、上
記欠陥部の測定値を除いた残りの測定値と、欠陥部の測
定値に対応する該第１の近似曲線の近似値とから、近似
により、第２の近似曲線を再度求めた後、該第２の近似
曲線の近似値に対する欠陥部の測定値の変動量を算出す
る方法である。
は、以上のように、被測定物の形状を形状測定器にて測
定し、測定値から近似により第１の近似曲線を求めた
後、該第１の近似曲線の近似値に対する測定値の変動分
を算出し、この変動分が所定許容範囲を越えた場合に、
上記測定値を得た測定部分を欠陥部と判定する一方、上
記欠陥部の測定値を除いた残りの測定値と、欠陥部の測
定値に対応する該第１の近似曲線の近似値とから、近似
により、第２の近似曲線を再度求めた後、該第２の近似
曲線の近似値に対する欠陥部の測定値の変動量を算出す
る方法である。
【００３５】それゆえ、被測定物が備えるべき本来の形
状が不明の場合において、測定値から本来の形状を近似
曲線として求め、被測定物の欠陥部の位置を検出するこ
とができると共に、上記の近似曲線に対する被測定物の
欠陥部の変動量を高精度で算出することができる。これ
により、例えば、被測定物の表面等に形成された微小な
凹凸や、あるいは面の歪み、うねり等の種々の形状の良
否を正確に評価することが可能となるという効果を奏す
る。
状が不明の場合において、測定値から本来の形状を近似
曲線として求め、被測定物の欠陥部の位置を検出するこ
とができると共に、上記の近似曲線に対する被測定物の
欠陥部の変動量を高精度で算出することができる。これ
により、例えば、被測定物の表面等に形成された微小な
凹凸や、あるいは面の歪み、うねり等の種々の形状の良
否を正確に評価することが可能となるという効果を奏す
る。
【００３６】尚、上記の評価に基づいて、例えば被測定
物の成形時に使用される金型の寸法や曲率等を微妙に修
正することにより、金型から取り出したときの被測定物
の形状を矯正することができ、被測定物の形状を、所望
する本来の形状とすることが可能となる。
物の成形時に使用される金型の寸法や曲率等を微妙に修
正することにより、金型から取り出したときの被測定物
の形状を矯正することができ、被測定物の形状を、所望
する本来の形状とすることが可能となる。
【００３７】本発明の請求項２記載の形状評価方法は、
以上のように、中心となる測定値から前後にそれぞれ所
定個数置きに、または連続して、複数個の測定値を選択
した後、上記中心測定値を含めた該測定値から中心測定
値に対応する近似値を算出し、上記近似値を測定値の全
域に渡って算出することにより上記の第１および第２の
近似曲線を求める方法である。
以上のように、中心となる測定値から前後にそれぞれ所
定個数置きに、または連続して、複数個の測定値を選択
した後、上記中心測定値を含めた該測定値から中心測定
値に対応する近似値を算出し、上記近似値を測定値の全
域に渡って算出することにより上記の第１および第２の
近似曲線を求める方法である。
【００３８】これにより、近似値の算出に時間が掛から
ず、しかも、測定値の全域に渡って、高精度で滑らかな
近似曲線を求めることが可能となるという効果を奏す
る。
ず、しかも、測定値の全域に渡って、高精度で滑らかな
近似曲線を求めることが可能となるという効果を奏す
る。
【図１】本発明の一実施例の形状評価方法における被測
定物の欠陥部の位置と変動量を算出する手順を示すもの
であって、（ａ）は形状データを示す概略のグラフであ
り、（ｂ）は第一の仮想曲線を示す概略のグラフであ
り、（ｃ）は欠陥部の位置を検出する様子を示す説明図
であり、（ｄ）は第二の仮想曲線を示す概略のグラフで
あり、（ｅ）は欠陥部の変動量を算出する様子を示す説
明図である。
定物の欠陥部の位置と変動量を算出する手順を示すもの
であって、（ａ）は形状データを示す概略のグラフであ
り、（ｂ）は第一の仮想曲線を示す概略のグラフであ
り、（ｃ）は欠陥部の位置を検出する様子を示す説明図
であり、（ｄ）は第二の仮想曲線を示す概略のグラフで
あり、（ｅ）は欠陥部の変動量を算出する様子を示す説
明図である。
【図２】（ａ）、（ｂ）、（ｃ）共に、上記の第一の仮
想曲線の求め方の手順を示す説明図である。
想曲線の求め方の手順を示す説明図である。
【図３】図２の手順により求められた第一の仮想曲線を
示す説明図である。
示す説明図である。
【図４】上記の第二の仮想曲線の求め方の手順を示す説
明図である。
明図である。
±Ｐ 許容変動分 ２Ｐ 許容範囲の幅
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01B 21/30 102 G01B 7/00 - 7/34
Claims (2)
- 【請求項１】被測定物の形状を形状測定器にて測定し、
測定値から近似により第１の近似曲線を求めた後、該第
１の近似曲線の近似値に対する測定値の変動分を算出
し、この変動分が所定許容範囲を越えた場合に、上記測
定値を得た測定部分を欠陥部と判定する一方、上記欠陥
部の測定値を除いた残りの測定値と、欠陥部の測定値に
対応する該第１の近似曲線の近似値とから、近似によ
り、第２の近似曲線を再度求めた後、該第２の近似曲線
の近似値に対する欠陥部の測定値の変動量を算出するこ
とを特徴とする形状評価方法。 - 【請求項２】中心となる測定値から前後にそれぞれ所定
個数置きに、または連続して、複数個の測定値を選択し
た後、上記中心測定値を含めた該測定値から中心測定値
に対応する近似値を算出し、上記近似値を測定値の全域
に渡って算出することにより上記の第１および第２の近
似曲線を求めることを特徴とする請求項１記載の形状評
価方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP07183693A JP3262884B2 (ja) | 1993-03-30 | 1993-03-30 | 形状評価方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP07183693A JP3262884B2 (ja) | 1993-03-30 | 1993-03-30 | 形状評価方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06288763A JPH06288763A (ja) | 1994-10-18 |
| JP3262884B2 true JP3262884B2 (ja) | 2002-03-04 |
Family
ID=13472033
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP07183693A Expired - Fee Related JP3262884B2 (ja) | 1993-03-30 | 1993-03-30 | 形状評価方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3262884B2 (ja) |
Families Citing this family (10)
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|---|---|---|---|---|
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| JP4741344B2 (ja) * | 2005-11-07 | 2011-08-03 | ダイハツ工業株式会社 | 形状認識装置及び歪評価装置 |
| DE102007016056B4 (de) * | 2007-04-03 | 2011-08-25 | Sauer GmbH LASERTEC, 87437 | Verfahren und Vorrichtung zur Werkstückeinmessung und Werkstückbearbeitung |
| JP2009080076A (ja) * | 2007-09-27 | 2009-04-16 | Nippon Steel Corp | 成形品の形状評価方法及び装置 |
| JP4814918B2 (ja) * | 2008-08-01 | 2011-11-16 | 日本工業検査株式会社 | 金属管の残厚推定方法 |
| JP5395470B2 (ja) * | 2009-03-12 | 2014-01-22 | ダイハツ工業株式会社 | 形状認識装置 |
| JP2010210577A (ja) * | 2009-03-12 | 2010-09-24 | Daihatsu Motor Co Ltd | 形状認識装置 |
| JP5310332B2 (ja) * | 2009-07-13 | 2013-10-09 | 大同特殊鋼株式会社 | 形状検査装置および形状検査方法 |
| JP5692790B2 (ja) * | 2011-02-02 | 2015-04-01 | オプテックス・エフエー株式会社 | 錠剤の外観検査装置及びｐｔｐ包装機 |
| JP6111495B2 (ja) * | 2012-12-13 | 2017-04-12 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | 光学式計測装置 |
-
1993
- 1993-03-30 JP JP07183693A patent/JP3262884B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06288763A (ja) | 1994-10-18 |
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