JPS5919282B2 - 板材の断面厚さ形状測定装置を較正する方法 - Google Patents
板材の断面厚さ形状測定装置を較正する方法Info
- Publication number
- JPS5919282B2 JPS5919282B2 JP1576677A JP1576677A JPS5919282B2 JP S5919282 B2 JPS5919282 B2 JP S5919282B2 JP 1576677 A JP1576677 A JP 1576677A JP 1576677 A JP1576677 A JP 1576677A JP S5919282 B2 JPS5919282 B2 JP S5919282B2
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- Japan
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は板材の断面厚さ形状測定装置に関する。
たとえば鉄鋼、非鉄金属等の圧延板において、圧延中の
板の断面厚さ形状を測定することは品質管理上重要であ
る。この断面形状とは、圧延板の場合、第１図に示す如
く、ボディクラウン量（Ｃａ＋ｂーー）およびウェッジ
量１ａ−ｂｌについてであり、前者は所定の範囲にある
ことが、また後者は小さいことが望ましい。
板の断面厚さ形状を測定することは品質管理上重要であ
る。この断面形状とは、圧延板の場合、第１図に示す如
く、ボディクラウン量（Ｃａ＋ｂーー）およびウェッジ
量１ａ−ｂｌについてであり、前者は所定の範囲にある
ことが、また後者は小さいことが望ましい。
また、圧延板は、圧延ロールの傷等によつて異常突起を
生じることがあり、しかも後工程での修正が不可能にな
るため早期発見が必要である。このような点から、従来
第２図に示すような装置が使用されている。
生じることがあり、しかも後工程での修正が不可能にな
るため早期発見が必要である。このような点から、従来
第２図に示すような装置が使用されている。
これ＆栽被測定板１の板幅方向に沿つて測定ユニット２
を、駆動装置３により掃引移動させたとき測定系４から
得られる板厚信号と位置検出器５から得られる位置信号
とを記録計６に記録する。測定ユニット２はたとえば放
射線源および検出器等を有するものである。そして、第
３図はその１測定例である。この測定によりクラウン量
の管理値を求めてクラウン量、ウェッジ量等を計算する
。
を、駆動装置３により掃引移動させたとき測定系４から
得られる板厚信号と位置検出器５から得られる位置信号
とを記録計６に記録する。測定ユニット２はたとえば放
射線源および検出器等を有するものである。そして、第
３図はその１測定例である。この測定によりクラウン量
の管理値を求めてクラウン量、ウェッジ量等を計算する
。
また位置検出器５からの信号によつて板端からの通常の
規定位置（第１図では２５ｍ７ｆｉに選んでいる）およ
び中央部の測定データを取出し、これにより計算するこ
とも可能である・断面形状の測定の場合、測定誤差が非
常に重要であり、この中には設定誤差と偏差誤差が含ま
れる。
規定位置（第１図では２５ｍ７ｆｉに選んでいる）およ
び中央部の測定データを取出し、これにより計算するこ
とも可能である・断面形状の測定の場合、測定誤差が非
常に重要であり、この中には設定誤差と偏差誤差が含ま
れる。
このうち設定誤差は被測定板の厚さを予め装置に設定す
る際に生じる誤差であり、これは偏差指示範囲を較正で
きる基準板内蔵形の厚さ測定装置の場合でも、その較正
値自体に含まれている。そして設定誤差を軽減するため
に被測定板のエッジで装置を較正する方法があり、この
方法によつて厚さを設定する際の設定誤差は除かれる。
しかしながら、偏差範囲を較正した際の較正値に含まれ
る誤差は残るから被測定板の厚さが増し、偏差指示範囲
が広がると測定誤差が増大する欠点がある。１例として
、設定誤差が設定値の±０．１０Ａ８直線性誤差が偏差
値の±１％の性能の基準板内蔵形Ｘ線厚さ計を用いてク
ラウン量２００μｍの被測定板を沖淀すれば偏差誤差は
次表のようになり、板厚の増加と共に偏差誤差が増大す
る。
る際に生じる誤差であり、これは偏差指示範囲を較正で
きる基準板内蔵形の厚さ測定装置の場合でも、その較正
値自体に含まれている。そして設定誤差を軽減するため
に被測定板のエッジで装置を較正する方法があり、この
方法によつて厚さを設定する際の設定誤差は除かれる。
しかしながら、偏差範囲を較正した際の較正値に含まれ
る誤差は残るから被測定板の厚さが増し、偏差指示範囲
が広がると測定誤差が増大する欠点がある。１例として
、設定誤差が設定値の±０．１０Ａ８直線性誤差が偏差
値の±１％の性能の基準板内蔵形Ｘ線厚さ計を用いてク
ラウン量２００μｍの被測定板を沖淀すれば偏差誤差は
次表のようになり、板厚の増加と共に偏差誤差が増大す
る。
本発明は上述の点に鑑みてなされたもので、被測定板の
断面厚さ形状を高精度測定し得る装置を較正する方法の
提供を目的とする。
断面厚さ形状を高精度測定し得る装置を較正する方法の
提供を目的とする。
この目的達成のため、本発明では、被測定板のエツジで
被沖淀板を基準として装置を較正した上で、さらに偏差
指示範囲を偏差基準板で較正するような断面厚さ形状測
定装置を較正する方法を構成したものである。
被沖淀板を基準として装置を較正した上で、さらに偏差
指示範囲を偏差基準板で較正するような断面厚さ形状測
定装置を較正する方法を構成したものである。
以下第４図および第５図を参照して本発明の実施例を説
明する。
明する。
第４図は直線性誤差特性例を、第５図は本発明による特
性と従来装置の特性比較例を示したものである。
性と従来装置の特性比較例を示したものである。
Ｘ線厚さ計を用いて被測定板を測定する場合、被測定板
のエツジから規定の位置たとえば２５ｍ１の位置で湧淀
ユニツトの移動を停止し、この部分の厚さを基準として
装置を構成する。
のエツジから規定の位置たとえば２５ｍ１の位置で湧淀
ユニツトの移動を停止し、この部分の厚さを基準として
装置を構成する。
次いで偏差を較正する基準板をＸ線ビーム中に入れ偏差
範囲を較正する。その後偏差基準板をビームから抜き出
し測定ユニツトを移動して沖淀する。具体的数値をあて
はめると、偏差指示範囲を士２００μｍとし、偏差基準
板として２００ｔｔｍ（±０．１％）のものを使用すれ
ば、直線性誤差が最大となるのは、第４図に示すように
較正点の略略中央である。
範囲を較正する。その後偏差基準板をビームから抜き出
し測定ユニツトを移動して沖淀する。具体的数値をあて
はめると、偏差指示範囲を士２００μｍとし、偏差基準
板として２００ｔｔｍ（±０．１％）のものを使用すれ
ば、直線性誤差が最大となるのは、第４図に示すように
較正点の略略中央である。
したがつて偏差誤差は略々±１μｍ程度となつて前掲表
の性能を遥かに上回ることができる。上記実施例では基
準板内蔵形のＸ線厚さ計に限るものではなく、偏差を較
正する基準板を持つ厚さ測定装置に適用できることはい
うまでもない。
の性能を遥かに上回ることができる。上記実施例では基
準板内蔵形のＸ線厚さ計に限るものではなく、偏差を較
正する基準板を持つ厚さ測定装置に適用できることはい
うまでもない。
また、被測定板の厚さの絶対値が要求される場合には、
設定値によつて装置を較正した後、被測淀板のエツジよ
り規定の位置たとえば２５１１の厚さを測定し厚さの絶
対値を得てこれを記憶した後、上述のようにして得た偏
差値を、前記の記憶絶対値と演算することにより被測１
定板の断面厚さ形状の絶対値が得られる。本発明は上述
のように、被測定板のエツジで被測定板を基準として装
置を較正した上で、偏差指示範囲を偏差基準板で較正す
るようにしたため、設定誤差の影響が全くなくなり、ま
た偏差誤差も無視し得るものとなる。
設定値によつて装置を較正した後、被測淀板のエツジよ
り規定の位置たとえば２５１１の厚さを測定し厚さの絶
対値を得てこれを記憶した後、上述のようにして得た偏
差値を、前記の記憶絶対値と演算することにより被測１
定板の断面厚さ形状の絶対値が得られる。本発明は上述
のように、被測定板のエツジで被測定板を基準として装
置を較正した上で、偏差指示範囲を偏差基準板で較正す
るようにしたため、設定誤差の影響が全くなくなり、ま
た偏差誤差も無視し得るものとなる。
すなわち、偏差誤差は、偏差を較正する基準板自体が有
する誤差と直線性誤差の合計として与えられるが基準板
の誤差は±１％以下にでき、また直線性誤差も上述のよ
うに少くできる。
する誤差と直線性誤差の合計として与えられるが基準板
の誤差は±１％以下にでき、また直線性誤差も上述のよ
うに少くできる。
第１図は圧延板の各部断面寸法を示す説明図、第２図は
従来の圧延板の各部板厚測定装置を示す説明図、第３図
は第２図の装置における１測定例を示す図、第４図は本
発明の原理を説明するための直線誤差特性図、第５図は
従来方法と本発明方法との誤差比較図である。 １・・・・・・被測定板、２・・・・・・測定ユニツト
、３・・・・・・駆動装置。
従来の圧延板の各部板厚測定装置を示す説明図、第３図
は第２図の装置における１測定例を示す図、第４図は本
発明の原理を説明するための直線誤差特性図、第５図は
従来方法と本発明方法との誤差比較図である。 １・・・・・・被測定板、２・・・・・・測定ユニツト
、３・・・・・・駆動装置。
Claims (1)
- １ 放射線源、およびこの放射線源からの放射線を得て
電気信号に変える検出器を含む測定ユニットを有し、前
記放射線源と前記検出器との間に置かれた板材の厚さに
応じた大きさの電気信号を発生する装置であつて、前記
測定ユニットを物質の幅方向に移動することにより板材
の断面厚さ形状を測定する装置の較正方法において、前
記板材のエッジで該板材の厚さを基準として第１の較正
を行い、さらに偏差指示範囲と等価な厚さの基準板を挿
入して第２の較正を行い、前記偏差指示範囲内の偏差に
対して、前記第１の較正値と前記第２の較正値との間を
直線近似するような較正を行うようにしたことを特徴と
する板材の断面厚さ形状測定装置を較正する方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1576677A JPS5919282B2 (ja) | 1977-02-16 | 1977-02-16 | 板材の断面厚さ形状測定装置を較正する方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1576677A JPS5919282B2 (ja) | 1977-02-16 | 1977-02-16 | 板材の断面厚さ形状測定装置を較正する方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS53101458A JPS53101458A (en) | 1978-09-04 |
| JPS5919282B2 true JPS5919282B2 (ja) | 1984-05-04 |
Family
ID=11897909
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1576677A Expired JPS5919282B2 (ja) | 1977-02-16 | 1977-02-16 | 板材の断面厚さ形状測定装置を較正する方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5919282B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH067662U (ja) * | 1992-01-28 | 1994-02-01 | 林工業株式会社 | 庖 丁 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5810604A (ja) * | 1981-07-13 | 1983-01-21 | Toshiba Corp | 板厚測定装置 |
-
1977
- 1977-02-16 JP JP1576677A patent/JPS5919282B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH067662U (ja) * | 1992-01-28 | 1994-02-01 | 林工業株式会社 | 庖 丁 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS53101458A (en) | 1978-09-04 |
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