JPS6079207A - 放射線板厚測定方法 - Google Patents

放射線板厚測定方法

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JPS6079207A
JPS6079207A JP18757283A JP18757283A JPS6079207A JP S6079207 A JPS6079207 A JP S6079207A JP 18757283 A JP18757283 A JP 18757283A JP 18757283 A JP18757283 A JP 18757283A JP S6079207 A JPS6079207 A JP S6079207A
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JP
Japan
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radiation
sample
air
measured
thickness
Prior art date
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Pending
Application number
JP18757283A
Other languages
English (en)
Inventor
Utaro Taira
卯太郎 平
Kiyohiko Kawaguchi
川口 清彦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Steel Corp
Original Assignee
Sumitomo Metal Industries Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Metal Industries Ltd filed Critical Sumitomo Metal Industries Ltd
Priority to JP18757283A priority Critical patent/JPS6079207A/ja
Publication of JPS6079207A publication Critical patent/JPS6079207A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B15/00Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
    • G01B15/02Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness
    • G01B15/025Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness by measuring absorption

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、放射線を用いて精度良く鋼板等の厚さを測定
する方法に関するものである。
(従来技術とその問題点) 例えば鋼板用の放射線厚さ計における、放射線源と放射
線検出器との距離は、圧延ラインの配置、周囲設備の物
理的条件、および圧延機における板そりの発生値等の操
業条件を考慮して、例えば厚板用の場合では250cr
n程度となるのが1tn例である。
ところで1、上記したように、放射線源と放射線、放射
線源をQ、5MeVのγ線とした場合、上記夫々の質量
吸収係数を下nL 人よりめると、空気は0、0804
 cll/ ?、鉄は0.0762 t、/I/ tと
なる。
表 γ)腺の質量吸収係数 よって、250 cmの空咳j0け放射λj!吸収物質
という章味では、下記式に示すようk k> 400μ
厚さの61.1板に相当することになる。′ □0.0
0129X0.0804X250=7.85XOj)7
62Xχ、°、χ触0.04cm=400μ 故に、例えば熱間材の通過に伴って雰囲気空気温度が3
00K(常温)から400Kに上昇したとすれば、空気
密度は3/4に減する為、250crr1の空気層は3
00P厚の鋼板に相当することとなる。
すなわち、常温から100度の温度上昇によって生ずる
雰囲気空気密V変化の板厚測定値への誤差寄与分は、 400−300=100μ となって、精度管理上無視できない大きさに達すること
になる。更に、雰囲気空気の温度上昇の程度は、熱間材
の温度、圧延ラインの操業ピッチ等の種々の条件によっ
ても大きく左右さすることから上記誤差寄与分も大きく
窯化することとなる。
しかし、上記諸差に対する従来の対処方法としては、ブ
ロアー等により放射線14Lさ計設置位置の雰囲気空気
を攪拌および対流させ、高温の雰囲気空気がこもるのを
防止する程度の対策しかとられて分らず、このような方
法では、放射線厚さ計の雰囲気空気の温度変化、ひいて
は密度変化を抑えることは出来ず、板厚測定時に発生す
る誤差を防止するまでには至っていないのが現状である
(発明の目的) 本発明は上記問題点に鑑みて成されたものであり、雰囲
気空気密度の変化に起因する測定誤差を取り除き、精度
良く板厚を測定できる方法を提供せんとするものである
(発明の構成) 本発明は、放射線透過型の板厚測定方法において、被測
定試料が放射線源と放射線検出器間を通過中および通過
前ICおける上記放射線源と被測定試料の間および被測
定試料と放射線検出器の間の夫々の雰囲気密度をめ、こ
れら密度Q)変化が測定値に及はす誤差を補正すること
を要旨とする放射線板厚測定方法である。
(実施例) 以下本発明方法を添付図面に基づいて詳aIVc説明す
る。
先ず、第1の例として、放14.1線厚さ計の設置位1
、i近傍、すなわち放射M iA (1)と被測定試料
(21の関心よび被測定試料(2)と放射線検出器(3
)の間に夫々温度計(41)(42)を設置し、とnら
温度計(4t )(4s)・ にLつで上記放射綜ノ4
さ計周囲の雰囲気空気の温度を測定して補正を行ない板
厚全測定する方法を@42図に示すフローチャートに基
づいて説明する。
(り被測定試料(2)通板時の放射線検出量工t1放射
線源(1)と上記試着(2)間および試料(2)と放射
線検出器+31ii11の雰囲気空気温度Tl、T1を
夫々測定する。
(2)上記放射線検出量It に基づいて、下記式によ
り板厚tを演)′4.する。
1 x。
t = −An − 但し、工0 :試料(2)なしの場合の放射線検出量μ
m 二鉄の質料吸収係数 ρ :鉄の密度 ■上記雰囲気空気は1ILTt、Ta における夫々の
空気密度Rn(Tx)、R*(T愈)を演算する。
■上記演算した空気密度n1(Tt)を用いて下記式に
より放、射綜源(1)と試料(2)間および試料+21
と放射線検出器(3)間における空気層の銅板相当Nさ
tlおよびtJ を演算する。
tx−1μm&trxR1(Tt)xLi)/(μmx
ρ) (1=x、z)Ill、、μmair :空気の
質料吸収係数L1:雰囲気空気層の)Vさ ■上記■および■によねめた演算結果を用いて下記式に
より真の板厚t trueをめる。
true。
世し、tl :工0測定時における放射線源(1)と放
射線検出器(3)間の空気1i:jの鋼板相当厚さ 次に1第2の例として、上記第1の例の温度計(4x)
(4雪)設置1位置に、写囲気空気密匿測定装置+4を
設けた場合の板厚測定方法を第3図に示すフロチャート
に基づいて説明する。
■Ttおよび放射線源(1)と試料(2)間、試料(2
)と放射線検出器(3→の雰囲気空気密度R1−1を測
定する。 □ 品1 @ 、、hve 、”l’“1ゝ ■ 上記■ど1同じ ■ □!6(m、!−Qtlじ なL・、上記化1および第2の例共1c雰囲気窒気用の
温度計(4)あるいは密度測定装置dの設置位置は、試
料(2)の上下において空気の対流の程度、風通し等の
追いにより異なる為、上側、下側、1し1々に1台づつ
設置したものを開示したがこ几に限るものではない。又
図中、(5)は放射線<1(i)、放射線検出器(31
を支承保持するフレームである。
c具体例) セシウム137.VCよるγ線(0,6Mθ■)を照射
する放射線源(1)と放射線検出器(3)間の距離が2
507:Ill (放JiJ線lx (1)と試料(2
)間の距薩が130c+++、試ネ旧2)と放射線検出
器(3)間の距離が120oz+)の放riJ’ +顧
厚さi1°全用いて本発明方法VCより板厚の測定を行
4つだ。
試料12)の・出版前の放射線検出器は41420 c
回、・(゛の時の裏囲気空気湿度は27℃であった。ま
た0、(1・[(2)通板時の放射線検出器eま235
80 ape 、測定時のメ四砥をFr、4v温度は、
放射線源(1)と試料(2)間が80℃、試料(2)と
放射線検出器(31間が60℃であつfco 上記値を用いて、第1の例に示す方法で各位を演算する
と、 ζ0.9418 = 9.418(鴎)=0.175(
腸) ’= 0.171ha) 但し、0.00129r/cJ二〇℃テtn 空気N 
度0.0804:t、Ill :空気の買置吸収係数7
.85 ?/crj :鉄の密度 α0762LJ/7 :鉄(7)質MI&収係i&とな
り、補正汝の板厚値すなわち真の板厚値ttrueは、 t true =9.418+0.393−0.175
−0.171=9.465 (w) となる。
すなわち、本発明方法により測定した値(9,465■
)と、補正を加えていない従来方法により測定した値(
9,418sm )とでは0.047am = 47μ
の差が生じ、こnだけの測定誤差の発生を防止できた。
(発明の効i1 以上述べた如く本発明によnは、分囲気脣度の11ヒに
よる測定誤差を排除でき、高イ#度な測定を可11目と
する大なる効果を有する。
【図面の簡単な説明】 ・441図は本発明方法を夾扁するための放射線厚さ針
の嵐略構成図、第2図および43図は本発明方法を反曲
するフローチャートであり、第2図をよム′G1のし1
1第3図は第2の・列である。 (1)ハ放射線a=X、+21Fi被測定試料、(3)
は放射線検出器、(4)は温度計。 %許出願人 住友金1・4工業株式会社代理人 c4上
(員姓■i (ほか1名゛)−′

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)、放射線透過型の板厚測定方法において、被測定
    試料が放射線源と放射線検出器間を通過中、および通過
    前における上記放射線源と被測定試料の間および被測定
    試料と放射線検出器の間の人々の雰囲気密度をめ、こn
    ら密度の変化が測定値に及ぼす、A差を補正することを
    特徴とする放射線板厚測定方法。
JP18757283A 1983-10-06 1983-10-06 放射線板厚測定方法 Pending JPS6079207A (ja)

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