JPS6135955Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 この考案は材料試験機に用いられる伸び計を校
正するための校正器に関するものである。

この種伸び計校正器は従来から種々のものがあ
るが、マイクロメータヘツドで標準変位を与えて
校正する方式（マイクロメータ方式）が一般的で
ある。その概略を第１図の原理図に沿つて説明す
る。１は先端部にボツクス２を有するフレームで
フレーム支柱３を介して機台４に保持されてい
る。５はマイクロメータＭのヘツドで、このマイ
クロメータＭはボツクス２内でそのスピンドル６
の先端を支持台７の上面の半円球状の凸部８に接
触して支持されている。上記支持台７の下部には
可動ロツド９がボツクス２から一部突出して保持
され、一方これと対向して固定ロツド１０が機台
４に固設されている。１１は支持台７とボツクス
下端部２′間に設けられスピンドル６のバツクラ
ツシユを除去するためのばね、１２はボツクス２
の上端に保持されるとともにマイクロメータヘツ
ド５の円環部に伸びる零指標である。校正ははマ
イクロメータヘツド５の変位による可動ロツド９
の固定ロツド１０に対する変位量が可動ロツド９
と固定ロツド間に取付けられた伸び計１３に検出
され、この時のマイクロメータヘツド５の指標１
２に対する変位量（可動ロツド９の変位量）と伸
び計の出力値との間で校正が行なわれる。しかし
この場合、マイクロメータヘツド５の変位量と可
動ロツド９の変位量との間の誤差等のため十分な
校正ができなかつたのが実情であつた。この考案
は測定具として最も精度が高いブロツクゲージを
用いて校正することにより、上記欠点を解決した
伸び計校正器を提供しようとするものである。

以下図面に示された一実施例に沿つてこの考案
による伸び計校正器を詳述する。第２図はこの考
案による伸び計校正器の一部断面の概略図、第３
図は第２図の−′視図である。なお第１図と
同じものは同一番号が付してある。図において、
１４は先端部に伸び計取付軸（基準取付部）１５
を保持するアーム、１６は前記アーム１４の上部
に固設されている支持台、１８は下方の一端側に
伸び計取付軸１９が固定されるとともに上方は伸
び計取付軸１５を貫通し、かつ上下方向にスライ
ド可能に枠体１７に一体的に保持されている移動
スピンドル、１３は伸び計取付軸１５，１９の両
側に各測寸子１３ａ，１３ｂが係止されている伸
び計である。伸び計取付軸１５の他端側に設けら
れた前記支持台１６と移動スピンドル１８の他端
側に設けられた枠体１７は第４図に図示される如
く、両者の内部が互いに貫通し交差する形で組み
合わされている。６は前記移動スピンドル１８と
軸方向に同心的に対向して設けられたマイクロメ
ータＭのスピンドル、５はアーム１４′に保持さ
れたマイクロメータヘツド、２０は前記伸び計取
付軸１９とスピンドル６との間に介在され、かつ
スピンドル６の回転と移動スピンドル１８のスラ
イドを滑らかにするための鋼球、２１は枠体１７
と伸び計取付軸１５との間に介在されたばねであ
る。又枠体１７は前記ばね２１の張力によりほぼ
一定の押圧力を保ちながら鋼球２０を介してスピ
ンドル６と接触している。したがつてマイクロメ
ータヘツド５を回転させると移動スピンドル１８
がスピンドルされ、枠体１７の内方に付設された
半円球状のピン２２と支持台１６の上面との間隔
が変化するように構成されている。またピン２２
と支持台１６との間隔はブロツクゲージ２３が順
次挿脱されるもので、同時に伸び計取付軸１５，
１９にそれぞれ係止されている測寸子１３ａ，１
３ｂ間の寸法も変化するよう構成されている。ブ
ロツクゲージ支持機構の主要部はピン２２および
移動スピンドル１８を保持する枠体１７とアーム
１４、伸び計取付軸１５に一体的に固設された支
持台１６で、これらによりブロツクゲージ２３が
移動スピンドル１８のスライド方向に挾持され
る。２４はアーム１４，１４′を保持する機台で
ある。

以上のような構成において次に校正する手順を
説明する。

マイクロメータヘツド５を矢印の方向に回転
させ枠体１７と支持台１６との間に適当な空隙
を設け、校正せんとする厚さのブロツクゲージ
２３を挾む。

マイクロメータヘツド５を矢印と反対方向に
回転させてブロツクゲージ２３の上面とピン２
２が接触するまで移動スピンドル１８を下降さ
せる。

このピン２２がブロツクゲージ２３の上面に
接触した時点で、伸び計１３の測寸子１３ａ，
１３ｂ間の寸法が検出され、この検出値とブロ
ツクゲージ２３の厚みの数値との間で校正が行
なわれる。

伸びを引続き増加させる場合は、より薄いブ
ロツクゲージ２３を挿入して手順の調整を行
なう。このように適宜数種の厚みのブロツクゲ
ージ２３を順次取替えて校正が行なわれる。

以上の手順は伸び計１３の測寸子１３ａ，１３
ｂ間の変位量が伸びる方向での校正手順を示した
が、逆の方向（伸び計１３の測寸子１３ａ，１３
ｂ間の変位量が減少する方向）においても、ブロ
ツクゲージ２３の厚みを薄いものから厚いものへ
取替えて上記手順を行なうことによつて校正が可
能である。なお上記説明では、マイクロメータヘ
ツド５はスピンドル６を回転させる単なるねじ送
り機構として説明したが、ブロツクゲージ２３で
マイクロメータヘツド５を一度校正しておけば、
次からはブロツクゲージ２３なしでマイクロメー
タヘツド５と伸び計１３との間で校正することも
可能である。

この考案の特徴は以上詳述したとおりであるか
ら、ブロツクゲージの高い精度によつて高精度の
伸び計校正器を提供するものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の伸び計校正器の原理を示す概略
図、第２図はこの考案による伸び計校正器の一部
断面の概略図、第３図は第２図の−′視図、
第４図は校正と支持台の組合せ斜視図である。 ５……マイクロメータヘツド、１３……伸び
計、１８……移動スピンドル、１５，１９……伸
び計取付軸、１６……支持台、１７……校正、２
３……ブロツクゲージ。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 伸び計の測寸子の一方が一端側に取り付けられ
   る基準側取付部と、この取付部に対して相対的に
   スライド可能に保持されかつ一端側に伸び計の測
   寸子の他方が固定されるスピンドルと、この基準
   側取付部とスピンドルの両他端側で構成されブロ
   ツクゲージをスピンドルのスライド方向に挿脱支
   持するブロツクゲージ支持機構とを有し、挿入支
   持したブロツクゲージの両面にそれぞれスピンド
   ルと基準側取付部を接触させることによつて伸び
   計を校正し得るようにした伸び計校正器。