JP2513581Y2 - 伸び計校正装置の検査装置 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本考案は、伸び計校正装置を校正
する検査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】図４に伸び計校正装置の一例を示す。図
４において、基台１１に立設された一対の支柱１２には
上部にブラケット１３が固着され、ブラケット１３の下
面には固定軸２１が連結されている。２２は固定軸２１
に対して離接可能な可動軸であり、これらの各軸２１，
２２に校正すべき伸び計７１の一対の７１ａ，７１ｂが
それぞれ固定される。マイクロメータヘッド３０の回転
操作部３１を所定目盛分だけ所定方向に回転すると、そ
の目盛分に相応する基準量だけマイクロメータスピンド
ル３２が下降し、ブロック２４内に設けられた連結用ス
ピンドル２３を介して可動軸２２がスピンドル３２と一
体に下降する。これにより伸び計７１の一対の７１ａ，
７１ｂが上記基準量だけ相対変位し、その基準量と伸び
計７１の出力とから校正値が求められる。

【０００３】ところで、この種の伸び計校正装置の校正
は、従来、次のよう行われていた。まず、可動軸２２が
固定軸２１と当接した状態でマイクロメータヘッド３０
の回転操作部３１の目盛を読み取り、次に所定厚さ（例
えば、１ｍｍ）のブロックゲージを固定軸２１と可動軸
２２との間に挾み込み、この状態で回転操作部３１の目
盛を読み取る。そして、上記両読取り値の差をブロック
ゲージの厚さに対応させて校正データを得る。

【０００４】

【考案が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の校正方法では、以下に示す各理由により校正時
の精度が低いという問題がある。 （１）マイクロメータヘッド３０のゼロ点調節ができな
いから、可動軸２２を固定軸２１に当接させたときにマ
イクロメータヘッド３０の指示値がゼロ以外の点、例え
ば目盛と目盛の間部分を指示する可能性があり、この場
合には指示値を正確に読み取れず、上記差を正確に求め
ることができない。 （２）可動軸を固定軸に押しつける力によって指示値が
異なる。 （３）マイクロメータヘッドは、その構成上、操作部を
スピンドル下降方向に回転させたときに正確な値を指示
するよう構成されており、スピンドル上昇方向に回転さ
せた場合にはバックラッシュにより正確な値を指示しな
いおそれがある。しかし、上述したように固定軸と可動
軸との間にブロックゲージを挾み込む場合には、必ず固
定軸を上昇させて、すなわち操作部をスピンドル上昇方
向に回転させて挾み込むことになるから、そのときの上
記読み取り値にはバックラッシュによる誤差が含まれて
いるおそれがある。

【０００５】本考案の目的は、上記問題を解決して精度
の高い校正データを得るようにした伸び計校正装置の検
査装置を提供することにある。

【０００６】

【課題を解決するための手段】本考案は、固定軸と、回
転操作部の回転量に相応する量だけ軸方向に直線移動す
るスピンドルを備えたマイクロメータヘッドと、スピン
ドルに連結され、このスピンドルの移動に伴って固定軸
に対して離接する可動軸とを備えた伸び計校正装置を校
正する検査装置に適用される。そして、上記回転操作部
とは別の操作部材の操作により軸方向に移動可能なよう
にダイアルゲージを保持するステージを固定軸側に一体
に設け、可動軸に代えてスピンドルにブロックゲージ保
持台を取付け、この保持台上のブロックゲージの表面に
対してダイアルゲージのスピンドルを押圧させ、操作部
材によりダイアルゲージのゼロ点調節を可能に構成し、
これにより上記問題点を解決する。特に請求項２は、ダ
イアルゲージのスピンドルをその突出方向に付勢し、そ
のスピンドルの移動方向と直交する方向に突出するよう
にほぼＵ字状に形成された板ばねを設け、この板ばねを
撓ませてダイアルゲージのスピンドルを収縮操作するよ
うにしたものである。

【０００７】

【作用】回転操作部の回転によりマイクロメータヘッド
をゼロ点調節するとともに、操作部材の操作によりダイ
アルゲージをゼロ点調節する。その後に保持台にブロッ
クゲージを保持させると、ブロックゲージの厚さ分だけ
ダイアルゲージのスピンドルが収縮し、その収縮量を表
示部が表示する。この状態でマイクロメータヘッドの回
転操作部を所定方向に操作して載置台をダイアルゲージ
から離れる方向に移動させると、マイクロメータヘッド
のスピンドルが伸長して表示部がゼロ表示状態に近づ
く。表示部がゼロを表示したときのマイクロメータヘッ
ドの指示値と、ブロックゲージの厚さとから校正データ
が得られる。

【０００８】

【実施例】図１〜図３により本考案の一実施例を説明す
る。図１は、図４の伸び計校正装置に装着された検査装
置を示す正面図、図２はその側面図、図３は図２のIII
−III線から見た図である。４１は、校正装置のブラケ
ット１３とブロック２４との間での一対の支柱１２に取
付けられるブロックであり、このブロック４１の前面に
は下ステージ４２が固着されている。下ステージ４２の
前面には上ステージ４３がベアリングを介して昇降可能
に保持され、この上ステージ４３の下部に突設された取
付部４３ａにダイアルゲージ５０が保持される。

【０００９】ダイアルゲージ５０は、前面に表示部５１
ａを有するゲージ本体５１と、ゲージ本体５１の下部に
突設された下取付軸５２と、この下取付軸５２を貫通し
てゲージ本体５１に対して上下に伸縮し、常時は伸長方
向に付勢されているスピンドル５３と、ゲージ本体５１
の上部に突設された上取付軸５４とを有し、スピンドル
５３の伸縮量に相応する量だけ表示部５１ａの指針５１
ｂが回転してその伸縮量を表示する。詳しくは、スピン
ドル５３が所定量以上収縮すると、指針５１ｂが時計回
り方向に回転してその収縮量を表示し、一方、スピンド
ル５３が所定量以上伸長すると、指針５１ｂが反時計回
り方向に回転してその伸長量を表示する。

【００１０】本実施例では、上記ブラケット１３の下面
に設けられた固定軸取付部１３ａにダイアルゲージ５０
の上取付軸５４が軸方向に移動可能に係合されるととも
に、下取付軸５２が上ステージ４３の取付部４３ａに固
定され、これによりダイアルゲージ５０が上ステージ４
３と一体に昇降可能に保持される。また図１に示すよう
に、スピンドル５３および取付部４３ａには板ばね５５
の両端がそれぞれ固定され、この板ばね５５の付勢力に
よりスピンドル５３は常に下方、すなわち伸長方向に付
勢されている。

【００１１】下ステージ４２の一側面に突設された突出
部４２ａにはマイクロメータヘッド６０が保持されてい
る。このマイクロメータヘッド６０は、回転操作部６１
と、この操作部６１から上方に突設されたスピンドル６
２とを備え、スピンドル６２の先端部が上ステージ４３
の側面に突設された当接部４３ｂの下面に当接してい
る。回転操作部６１を右方に回転すると、その回転操作
量に応じた量だけスピンドル６２が上昇し、これに伴っ
て当接部４３ｂを介して上ステージ４３およびダイアル
ゲージ５０が一体に上昇する。また、回転操作部６１を
左方に回転すると、その回転操作量に応じた量だけスピ
ンドル６２が下降し、これに伴って上ステージ４３およ
びダイアルゲージ５０が自重により一体に下降する。

【００１２】また、校正装置側のマイクロメータスピン
ドル３２（図４）に連結された連結用スピンドル２３に
は、上記可動軸２２に代えてブロックゲージ載置台８１
が連結され、その上部には、後述するように所定厚さの
ブロックゲージ９１が載置されて検査が行われる。載置
台８１は、連結用スピンドル２３を介して上記回転操作
部３１の操作量に相応する量だけ昇降し、その上面が上
記ダイアルゲージ５０のスピンドル５３の先端と当接し
ている。

【００１３】上述した検査装置による校正装置の精度検
査手順を説明する。検査に先立って、まず図４の校正装
置から固定軸２１および可動軸２２を取外し、図１〜図
３に示したようにダイアルゲージ５０，マイクロメータ
ヘッド６０，ブロックゲージ載置台８１を取付ける。

【００１４】校正装置のマイクロメータヘッド３０（図
４）がゼロを指示するように回転操作部３１を回転させ
る。その際上記バックラッシュによる誤差を避けるた
め、スピンドル３２を下降させつつゼロ点を合わせるよ
うにする。次いでダイアルゲージ５０の表示部５１ａが
ゼロを指示すよう検査装置のマイクロメータヘッド６０
の回転操作部６１を回転させる。

【００１５】マイクロメータヘッド３０の指標が例えば
０．９ｍｍを指示する位置まで操作部３１を回転し、ス
ピンドル３２および連結用スピンドル２３を介してブロ
ックゲージ載置台８１を０．９ｍｍ分下降させる。この
状態で載置台８１に例えば厚さ１ｍｍのブロックゲージ
９１を載置する。その際、板ばね５５を上方に撓ませな
がらダイアルゲージ５０のスピンドル５３を上昇させ、
ブロックゲージ９１を載置させた後、板ばね５５の撓み
を徐々に小さくしてスピンドル５３の先端を静かにブロ
ックゲージ９１に接触させる。これにより、ブロックゲ
ージ９１に大きな押圧力が加わることが防止でき、後述
する校正データを精度よく求めることができる。また、
ブロックゲージ９１を載置する前に載置台８１を０．９
ｍｍ分下降させたことにより、ダイアルゲージ５０のス
ピンドル５３がブロックゲージ９１に当接したときの板
ばね５５の撓み量は、上記ゼロ点調節時と比べて僅か
０．１ｍｍ分だけ大きいことになる。このように板ばね
５５の撓み量変化を最小限に抑えることにより、ブロッ
クゲージ９１にかかる押圧力をほぼ一定に保持すること
ができ、これによっても精度の向上が図れる。

【００１６】ブロックゲージ９１をセットした後、ダイ
アルゲージ５０の指針５１ｂがゼロを指示するようにマ
イクロメータヘッド３０の操作部３１をスピンドル下降
方向に回転させる。これによりブロックゲージ載置台８
１が下降し、ダイアルゲージ５０のスピンドル５３は載
置台８１に追従して伸長する。そして、指針５１ｂがゼ
ロを指示位置まで回動したら操作部３１の回転を停止す
る。

【００１７】このときのマイクロメータヘッド３０の指
示値により校正装置の校正が行える。すなわち上記載置
台８１は、マイクロメータヘッド３０がゼロ点調節され
た時点からブロックゲージ９１の厚さ１ｍｍ分だけ下降
したことになるから、マイクロメータヘッド３０の指示
値を１ｍｍに対応付けて校正データとする。そして、こ
のような手順を各種厚さのブロックゲージに対して行
い、校正データを採取する。

【００１８】なお以上では、可動軸を垂直方向に昇降す
る校正装置を示したが、例えば可動軸水平方向に移動さ
る校正装置の場合には、検査装置のダイアルゲージやブ
ロックゲージの保持部材も水平方向に移動可能に構成す
る必要がある。また、ダイアルゲージを移動させる手段
としてマイクロメータヘッド６０を用いたが、その他の
駆動手段でもよい。

【００１９】

【考案の効果】以上説明したように本考案によれば、マ
イクロメータヘッドをゼロ点調節してから検査が行える
とともに、マイクロメータヘッドの操作部を常にバック
ラッシュの影響が生じない方向に回転させて検査を行え
るので、従来と比べて検査精度の向上が図れる。特に請
求項２の考案によれば、板ばねの作用により、大きな押
圧力が加えずにダイアルゲージのスピンドルをブロック
ゲージに当接させることができるとともに、ブロックゲ
ージへの押圧力を略一定に保持して検査できるので、更
なる検査精度の向上が図れる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案に係る検査装置の一実施例を示す正面図
である。

【図２】上記検査装置の側面図である。

【図３】図２のIII−III線矢視図である。

【図４】伸び計校正装置を示す側面図である。

【符号の説明】

２１ 固定軸 ２２ 可動軸 ２３ 連結用スピンドル ３０ マイクロメータヘッド ３１ 回転操作部 ３２ スピンドル（第１のスピンドル） ４３ 上ステージ ５０ ダイアルゲージ ５１ ゲージ本体 ５３ スピンドル（第２のスピンドル） ５１ａ 表示部 ６０ マイクロメータヘッド ６１ 回転操作部 ６２ スピンドル ７１ 伸び計 ８１ ブロックゲージ載置台 ９１ ブロックゲージ

Claims (2)

(57)【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 固定軸と、回転操作部の回転量に相応す
   る量だけ軸方向に直線移動するスピンドルを備えたマイ
   クロメータヘッドと、前記スピンドルに連結され、この
   スピンドルの移動に伴って前記固定軸に対して離接する
   可動軸とを備えた伸び計校正装置を校正する検査装置に
   おいて、前記回転操作部とは別の操作部材の操作により
   前記軸方向に移動可能なようにダイアルゲージを保持す
   るステージが前記固定軸側に一体に設けられ、前記可動
   軸に代えて前記スピンドルにブロックゲージ保持台が取
   付けられ、この保持台上のブロックゲージの表面に対し
   て前記ダイアルゲージのスピンドルを押圧させ、前記操
   作部材により前記ダイアルゲージのゼロ点調節を可能に
   構成したことを特長とする伸び計校正装置の検査装置。
2. 【請求項２】 請求項１の検査装置において、前記ダイ
   アルゲージのスピンドルをその突出方向に付勢し、その
   スピンドルの移動方向と直交する方向に突出するように
   ほぼＵ字状に形成された板ばねが設けられ、この板ばね
   を撓ませてダイアルゲージのスピンドルを収縮操作する
   ようにしたことを特徴とする伸び計校正装置の検査装
   置。