JPH0616806U - 伸び計校正装置の検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 精度の高い校正データを得るようにした伸び
計校正装置の検査装置を提供する。 【構成】 固定軸と、回転操作部の回転量に相応する量
だけ軸方向に直線移動するスピンドルを備えたマイクロ
メータヘッドと、上記スピンドルに連結され、このスピ
ンドルの移動に伴って固定軸に対して離接する可動軸と
を備えた伸び計校正装置を校正する検査装置において、
上記回転操作部とは別の操作部材６１の操作により軸方
向に移動可能なようにダイアルゲージ５０を保持するス
テージ４３を固定軸側に一体に設け、可動軸に代えてス
ピンドルにブロックゲージ保持台８１を取付け、この保
持台８１上のブロックゲージ９１の表面に対してダイア
ルゲージ５０のスピンドル５３を押圧させ、操作部材６
１によりダイアルゲージ５０のゼロ点調節を可能に構成
する。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は、伸び計校正装置を校正する検査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】

図４に伸び計校正装置の一例を示す。 図４において、基台１１に立設された一対の支柱１２には上部にブラケット１ ３が固着され、ブラケット１３の下面には固定軸２１が連結されている。２２は 固定軸２１に対して離接可能な可動軸であり、これらの各軸２１，２２に校正す べき伸び計７１の一対の７１ａ，７１ｂがそれぞれ固定される。マイクロメータ ヘッド３０の回転操作部３１を所定目盛分だけ所定方向に回転すると、その目盛 分に相応する基準量だけマイクロメータスピンドル３２が下降し、ブロック２４ 内に設けられた連結用スピンドル２３を介して可動軸２２がスピンドル３２と一 体に下降する。これにより伸び計７１の一対の７１ａ，７１ｂが上記基準量だけ 相対変位し、その基準量と伸び計７１の出力とから校正値が求められる。

【０００３】 ところで、この種の伸び計校正装置の校正は、従来、次のよう行われていた。 まず、可動軸２２が固定軸２１と当接した状態でマイクロメータヘッド３０の 回転操作部３１の目盛を読み取り、次に所定厚さ（例えば、１ｍｍ）のブロック ゲージを固定軸２１と可動軸２２との間に挾み込み、この状態で回転操作部３１ の目盛を読み取る。そして、上記両読取り値の差をブロックゲージの厚さに対応 させて校正データを得る。

【０００４】

【考案が解決しようとする課題】

しかしながら、上述した従来の校正方法では、以下に示す各理由により校正時 の精度が低いという問題がある。 （１）マイクロメータヘッド３０のゼロ点調節ができないから、可動軸２２を 固定軸２１に当接させたときにマイクロメータヘッド３０の指示値がゼロ以外の 点、例えば目盛と目盛の間部分を指示する可能性があり、この場合には指示値を 正確に読み取れず、上記差を正確に求めることができない。 （２）可動軸を固定軸に押しつける力によって指示値が異なる。 （３）マイクロメータヘッドは、その構成上、操作部をスピンドル下降方向に 回転させたときに正確な値を指示するよう構成されており、スピンドル上昇方向 に回転させた場合にはバックラッシュにより正確な値を指示しないおそれがある 。しかし、上述したように固定軸と可動軸との間にブロックゲージを挾み込む場 合には、必ず固定軸を上昇させて、すなわち操作部をスピンドル上昇方向に回転 させて挾み込むことになるから、そのときの上記読み取り値にはバックラッシュ による誤差が含まれているおそれがある。

【０００５】 本考案の目的は、上記問題を解決して精度の高い校正データを得るようにした 伸び計校正装置の検査装置を提供することにある。

【０００６】

【課題を解決するための手段】

本考案は、固定軸と、回転操作部の回転量に相応する量だけ軸方向に直線移動 するスピンドルを備えたマイクロメータヘッドと、スピンドルに連結され、この スピンドルの移動に伴って固定軸に対して離接する可動軸とを備えた伸び計校正 装置を校正する検査装置に適用される。 そして、上記回転操作部とは別の操作部材の操作により軸方向に移動可能なよ うにダイアルゲージを保持するステージを固定軸側に一体に設け、可動軸に代え てスピンドルにブロックゲージ保持台を取付け、この保持台上のブロックゲージ の表面に対してダイアルゲージのスピンドルを押圧させ、操作部材によりダイア ルゲージのゼロ点調節を可能に構成し、これにより上記問題点を解決する。 特に請求項２は、ダイアルゲージのスピンドルをその突出方向に付勢し、その スピンドルの移動方向と直交する方向に突出するようにほぼＵ字状に形成された 板ばねを設け、この板ばねを撓ませてダイアルゲージのスピンドルを収縮操作す るようにしたものである。

【０００７】

【作用】

回転操作部の回転によりマイクロメータヘッドをゼロ点調節するとともに、操 作部材の操作によりダイアルゲージをゼロ点調節する。その後に保持台にブロッ クゲージを保持させると、ブロックゲージの厚さ分だけダイアルゲージのスピン ドルが収縮し、その収縮量を表示部が表示する。この状態でマイクロメータヘッ ドの回転操作部を所定方向に操作して載置台をダイアルゲージから離れる方向に 移動させると、マイクロメータヘッドのスピンドルが伸長して表示部がゼロ表示 状態に近づく。表示部がゼロを表示したときのマイクロメータヘッドの指示値と 、ブロックゲージの厚さとから校正データが得られる。

【０００８】

【実施例】

図１〜図３により本考案の一実施例を説明する。 図１は、図４の伸び計校正装置に装着された検査装置を示す正面図、図２はそ の側面図、図３は図２のIII−III線から見た図である。 ４１は、校正装置のブラケット１３とブロック２４との間での一対の支柱１２ に取付けられるブロックであり、このブロック４１の前面には下ステージ４２が 固着されている。下ステージ４２の前面には上ステージ４３がベアリングを介し て昇降可能に保持され、この上ステージ４３の下部に突設された取付部４３ａに ダイアルゲージ５０が保持される。

【０００９】 ダイアルゲージ５０は、前面に表示部５１ａを有するゲージ本体５１と、ゲー ジ本体５１の下部に突設された下取付軸５２と、この下取付軸５２を貫通してゲ ージ本体５１に対して上下に伸縮し、常時は伸長方向に付勢されているスピンド ル５３と、ゲージ本体５１の上部に突設された上取付軸５４とを有し、スピンド ル５３の伸縮量に相応する量だけ表示部５１ａの指針５１ｂが回転してその伸縮 量を表示する。詳しくは、スピンドル５３が所定量以上収縮すると、指針５１ｂ が時計回り方向に回転してその収縮量を表示し、一方、スピンドル５３が所定量 以上伸長すると、指針５１ｂが反時計回り方向に回転してその伸長量を表示する 。

【００１０】 本実施例では、上記ブラケット１３の下面に設けられた固定軸取付部１３ａに ダイアルゲージ５０の上取付軸５４が軸方向に移動可能に係合されるとともに、 下取付軸５２が上ステージ４３の取付部４３ａに固定され、これによりダイアル ゲージ５０が上ステージ４３と一体に昇降可能に保持される。 また図１に示すように、スピンドル５３および取付部４３ａには板ばね５５の 両端がそれぞれ固定され、この板ばね５５の付勢力によりスピンドル５３は常に 下方、すなわち伸長方向に付勢されている。

【００１１】 下ステージ４２の一側面に突設された突出部４２ａにはマイクロメータヘッド ６０が保持されている。このマイクロメータヘッド６０は、回転操作部６１と、 この操作部６１から上方に突設されたスピンドル６２とを備え、スピンドル６２ の先端部が上ステージ４３の側面に突設された当接部４３ｂの下面に当接してい る。回転操作部６１を右方に回転すると、その回転操作量に応じた量だけスピン ドル６２が上昇し、これに伴って当接部４３ｂを介して上ステージ４３およびダ イアルゲージ５０が一体に上昇する。また、回転操作部６１を左方に回転すると 、その回転操作量に応じた量だけスピンドル６２が下降し、これに伴って上ステ ージ４３およびダイアルゲージ５０が自重により一体に下降する。

【００１２】 また、校正装置側のマイクロメータスピンドル３２（図４）に連結された連結 用スピンドル２３には、上記可動軸２２に代えてブロックゲージ載置台８１が連 結され、その上部には、後述するように所定厚さのブロックゲージ９１が載置さ れて検査が行われる。載置台８１は、連結用スピンドル２３を介して上記回転操 作部３１の操作量に相応する量だけ昇降し、その上面が上記ダイアルゲージ５０ のスピンドル５３の先端と当接している。

【００１３】 上述した検査装置による校正装置の精度検査手順を説明する。 検査に先立って、まず図４の校正装置から固定軸２１および可動軸２２を取外 し、図１〜図３に示したようにダイアルゲージ５０，マイクロメータヘッド６０ ，ブロックゲージ載置台８１を取付ける。

【００１４】 校正装置のマイクロメータヘッド３０（図４）がゼロを指示するように回転操 作部３１を回転させる。その際上記バックラッシュによる誤差を避けるため、ス ピンドル３２を下降させつつゼロ点を合わせるようにする。次いでダイアルゲー ジ５０の表示部５１ａがゼロを指示すよう検査装置のマイクロメータヘッド６０ の回転操作部６１を回転させる。

【００１５】 マイクロメータヘッド３０の指標が例えば０．９ｍｍを指示する位置まで操作 部３１を回転し、スピンドル３２および連結用スピンドル２３を介してブロック ゲージ載置台８１を０．９ｍｍ分下降させる。この状態で載置台８１に例えば厚 さ１ｍｍのブロックゲージ９１を載置する。その際、板ばね５５を上方に撓ませ ながらダイアルゲージ５０のスピンドル５３を上昇させ、ブロックゲージ９１を 載置させた後、板ばね５５の撓みを徐々に小さくしてスピンドル５３の先端を静 かにブロックゲージ９１に接触させる。これにより、ブロックゲージ９１に大き な押圧力が加わることが防止でき、後述する校正データを精度よく求めることが できる。 また、ブロックゲージ９１を載置する前に載置台８１を０．９ｍｍ分下降させ たことにより、ダイアルゲージ５０のスピンドル５３がブロックゲージ９１に当 接したときの板ばね５５の撓み量は、上記ゼロ点調節時と比べて僅か０．１ｍｍ 分だけ大きいことになる。このように板ばね５５の撓み量変化を最小限に抑える ことにより、ブロックゲージ９１にかかる押圧力をほぼ一定に保持することがで き、これによっても精度の向上が図れる。

【００１６】 ブロックゲージ９１をセットした後、ダイアルゲージ５０の指針５１ｂがゼロ を指示するようにマイクロメータヘッド３０の操作部３１をスピンドル下降方向 に回転させる。これによりブロックゲージ載置台８１が下降し、ダイアルゲージ ５０のスピンドル５３は載置台８１に追従して伸長する。そして、指針５１ｂが ゼロを指示位置まで回動したら操作部３１の回転を停止する。

【００１７】 このときのマイクロメータヘッド３０の指示値により校正装置の校正が行える 。すなわち上記載置台８１は、マイクロメータヘッド３０がゼロ点調節された時 点からブロックゲージ９１の厚さ１ｍｍ分だけ下降したことになるから、マイク ロメータヘッド３０の指示値を１ｍｍに対応付けて校正データとする。そして、 このような手順を各種厚さのブロックゲージに対して行い、校正データを採取す る。

【００１８】 なお以上では、可動軸を垂直方向に昇降する校正装置を示したが、例えば可動 軸水平方向に移動さる校正装置の場合には、検査装置のダイアルゲージやブロッ クゲージの保持部材も水平方向に移動可能に構成する必要がある。また、ダイア ルゲージを移動させる手段としてマイクロメータヘッド６０を用いたが、その他 の駆動手段でもよい。

【００１９】

【考案の効果】

以上説明したように本考案によれば、マイクロメータヘッドをゼロ点調節して から検査が行えるとともに、マイクロメータヘッドの操作部を常にバックラッシ ュの影響が生じない方向に回転させて検査を行えるので、従来と比べて検査精度 の向上が図れる。 特に請求項２の考案によれば、板ばねの作用により、大きな押圧力が加えずに ダイアルゲージのスピンドルをブロックゲージに当接させることができるととも に、ブロックゲージへの押圧力を略一定に保持して検査できるので、更なる検査 精度の向上が図れる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案に係る検査装置の一実施例を示す正面図
である。

【図２】上記検査装置の側面図である。

【図３】図２のIII−III線矢視図である。

【図４】伸び計校正装置を示す側面図である。

【符号の説明】

２１ 固定軸 ２２ 可動軸 ２３ 連結用スピンドル ３０ マイクロメータヘッド ３１ 回転操作部 ３２ スピンドル（第１のスピンドル） ４３ 上ステージ ５０ ダイアルゲージ ５１ ゲージ本体 ５３ スピンドル（第２のスピンドル） ５１ａ 表示部 ６０ マイクロメータヘッド ６１ 回転操作部 ６２ スピンドル ７１ 伸び計 ８１ ブロックゲージ載置台 ９１ ブロックゲージ

Claims (2)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 固定軸と、回転操作部の回転量に相応す
   る量だけ軸方向に直線移動するスピンドルを備えたマイ
   クロメータヘッドと、前記スピンドルに連結され、この
   スピンドルの移動に伴って前記固定軸に対して離接する
   可動軸とを備えた伸び計校正装置を校正する検査装置に
   おいて、前記回転操作部とは別の操作部材の操作により
   前記軸方向に移動可能なようにダイアルゲージを保持す
   るステージが前記固定軸側に一体に設けられ、前記可動
   軸に代えて前記スピンドルにブロックゲージ保持台が取
   付けられ、この保持台上のブロックゲージの表面に対し
   て前記ダイアルゲージのスピンドルを押圧させ、前記操
   作部材により前記ダイアルゲージのゼロ点調節を可能に
   構成したことを特長とする伸び計校正装置の検査装置。
2. 【請求項２】 請求項１の検査装置において、前記ダイ
   アルゲージのスピンドルをその突出方向に付勢し、その
   スピンドルの移動方向と直交する方向に突出するように
   ほぼＵ字状に形成された板ばねが設けられ、この板ばね
   を撓ませてダイアルゲージのスピンドルを収縮操作する
   ようにしたことを特徴とする伸び計校正装置の検査装
   置。