KR200330004Y1 - 반원형 가공부의 반경 측정 장치 - Google Patents
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Abstract
본 고안은 반원형 가공부의 반경을 측정하기 위한 반원형 가공부의 반경 측정 장치에 관한 것이다.
본 고안에 따른 반원형 가공부의 반경 측정 장치는, 제품의 반원형 가공부(2)의 반경을 측정하기 위한 장치에 있어서, 상기 반원형 가공부(2)의 양측 상면에 거치되는 스트레이트 바(100); 상기 스트레이트 바(100)의 길이 방향으로 미끄럼이동 가능하게 상기 스트레이트 바(100)에 결합되는 이동블록(120); 상기 이동블록(120)의 하면으로 수직하게 연장되는 서포트 로드(140); 및 상기 서포트 로드(140)의 단부에 장착되는 다이얼 게이지(160)를 포함하는 것을 특징으로 한다.
이와 같은 본 고안은, 다이얼 게이지가 서포트 로드 및 이동블록을 통하여 스트레이트 바에 결합되어 있으므로, 상기 이동블록을 스트레이트 바에서 안정적으로 이동시키면서 상기 다이얼 게이지로써 최대 반경을 읽을 수 있으므로, 측정이 안정적이고 정확해지며, 미숙련자라도 쉽고 신속하게 측정할 수 있다.
Description
본 고안은 반원형 가공부의 반경 측정 장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 반원형 가공부의 반경을 쉽고 정확하게 측정할 수 있도록 하는 반원형 가공부의 반경 측정 장치에 관한 것이다.
증기 또는 가스터빈의 인너케이싱에 형성되는 베어링 지지부와 같이 대형 반원으로 가공된 제품의 반경을 측정하는 경우에는, 반경이 너무 커서 통상적인 게이지로는 측정이 불가능하므로 별도의 수단을 동원하여 측정한다.
종래에, 상기와 같은 대형 반원 가공부를 측정하는 방법은, 첨부된 도면 도 1에 도시된 바와 같이 반원형 가공부(2)가 형성된 제품의 상면에 스트레이트 바(10)를 올려놓고, 내측 마이크로미터(20)의 일단부를 상기 스트레이트 바(10) 하면에 밀착시킨 다음, 마이크로미터(20)의 타단부를 대략 반원 가공부(2)의 최대 반경 지점에 위치시킨 상태에서 전,후,좌,우로 조금씩 움직여가며 최대 반경을 측정함으로써 대형 반원 가공부(20)의 반경을 측정하였다.
상기와 같은 종래의 측정 방법에 있어서는, 내측 마이크로미터(20)의 양단이 모두 고정되지 않기 때문에, 내측 마이크로미터(20)를 수직하게 세우기도 어려운 등, 정밀한 측정이 불가능 하였다.
상기와 같은 문제는, 측정시간이 많이 걸리는 문제 뿐만 아니라, 작업자 숙련도에 따라 측정값의 변동폭이 커질 수 밖에 없는 또 다른 문제를 일으키는 원인이 되었다.
또한, 내측 마이크로미터를 작업자가 손으로 파지하고 측정하기 때문에, 측정 시간이 길어짐에 따라 게이지의 온도가 상승하여 열팽창을 일으킴으로써 측정값을 더욱 신뢰할 수 없는 폐단이 있었다.
본 고안은 상기와 같은 종래의 문제를 해소하기 위하여 개발된 것으로서, 정밀한 측정이 가능하고, 측정자에 따른 측정오차가 적으며, 미숙련자도 쉽고 신속하게 측정할 수 있는 반원형 가공부의 반경 측정 장치를 제공하는 것에 그 목적이 있다.
도 1은 종래의 반원형 가공부의 반경 측정 장치를 나타내는 정면도
도 2는 본 고안에 의한 반원형 가공부의 반경 측정 장치를 나타내는 사시도
도 3은 본 고안에 의한 반원형 가공부의 반경 측정 장치를 나타내는 정면도
도 4는 본 고안에 의한 반원형 가공부의 반경 측정 장치를 측정블록을 사용하여 영점을 셋팅하는 상태를 나타내는 정면도
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
2 : 반원형 가공부 100 : 반원형 가공부
120 : 이동블록 140 : 서포트 로드
160 : 다이얼 게이지 200 : 셋팅 블록
상술한 목적을 달성하기 위하여 본 고안에 따른 반원형 가공부의 반경 측정 장치는, 반원형 가공부의 양측 상면에 거치되는 스트레이트 바; 상기 스트레이트 바의 길이 방향으로 미끄럼이동 가능하게 상기 스트레이트 바에 결합되는 이동블록; 상기 이동블록의 하면으로 수직하게 연장되는 서포트 로드; 및 상기 서포트 로드의 단부에 장착되는 다이얼 게이지를 포함하는 것을 특징으로 한다.
이와 같은 구성에 의하면, 상기 다이얼 게이지가 상기 서포트 로드 및 이동블록을 통하여 상기 스트레이트 바에 결합되어 있으므로, 상기 이동블록을 스트레이트 바에서 이동시키면서 상기 다이얼 게이지로써 최대 반경을 읽을 수 있으므로, 측정이 안정적이고 정확해지며, 미숙련자라도 쉽고 신속하게 측정할 수 있게 된다.
여기서, 상기 측정 장치는, 상기 다이얼 게이지의 영점을 셋팅하기 위하여 상기 반원형 가공부의 기준 반경에 대응하는 높이를 가져 상기 스트레이트 바를 거치시킬 수 있는 두 개의 셋팅 블록을 더 구비하는 것이 바람직하다.
이하, 첨부된 예시도면을 참조하여 본 고안의 바람직한 실시예를 더욱 상세하게 설명한다.
도 2 내지 도 4는 본 고안에 따른 반원형 가공부의 반경 측정 장치를 나타내는 것으로서, 도 2에는 반경 측정 장치를 반원형 가공부에 설치한 상태의 사시도가 도시되어 있고, 도 3에는 정면도가 도시되어 있으며, 도 4에는 반경 측정 장치와 셋팅 블록에 대한 정면도가 도시되어 있다.
도 2 및 도 3에 도시된 바와 같이, 본 고안에 의한 반원형 가공부의 반경 측정 장치는, 대분하여, 스트레이트 바(100)와, 이동블록(120)과, 서포트 로드(140) 및 다이얼 게이지(160)를 포함하여 구성된다.
상기 스트레이트 바(100)는, 반원형 가공부의 양측 상면에 거치되는 블록형 게이지이다.
상기 이동블록(120)은, 상기 스트레이트 바(100)에 길이 방향으로 미끄럼이동 가능하게 결합된다. 상기 이동블록(120)은 상기 스트레이트 바(100)의 상,하면 및 양측면에 매우 정밀하게 끼워맞춤된다.
상기 서포트 로드(140)는, 상기 이동블록(120)의 하면으로 수직하게 연장된다.
상기한 이동블록(120)은 상기 서포트 로드(140)와 일체형으로 제조될 수도 있고, 그렇지 않으면 별도로 제조하여 예를들어 나사결합 등으로 조립할 수도 있다.
상기 다이얼 게이지(160)는 통상의 다이얼 게이지(160)와 다를 바 없으며, 상기 서포트 로드(140)의 단부측에 조립된다.
한편, 도 4에 도시된 바와 같이, 본 고안에 따른 측정 장치에 있어서는, 상기 다이얼 게이지(160)의 영점을 셋팅하기 위한 두 개의 셋팅 블록(200)을 더 포함한다.
상기 셋팅 블록(200)은 상기 반원형 가공부(2)의 기준 반경에 대응하는 높이를 가짐으로써, 이 셋팅 블록(200) 위에 상기 스트레이트 바(100)를 거치시킨 다음 상기 다이얼 게이지(160)를 반원형 가공부(2)의 기준치에 맞춰 영점 조절할 수 있다.
상기와 같이 이루어진 본 고안의 반원형 가공부의 반경 측정 장치를 이용하여 실제 제품에 형성된 반원형 가공부(2)의 반경을 측정하기 위하여는 먼저 다이얼 게이지(160)의 영점을 맞춘다.
다이얼 게이지의 영점을 맞추는 방법은, 도 4에 도시된 바와 같이, 정반(300) 위에 두 개의 셋팅 블록(200)을 일정 거리 떨어뜨려 세워놓고, 이동블록(120), 서포트 로드(140) 및 다이얼 게이지(160)가 조립된 스트레이트 바(100)를 상기 셋팅 블록(200) 위에 안착시킨다.
다음, 다이얼 게이지(160)를 정반(300) 바닥에 접촉시켜 영점을 셋팅한다. 다이얼 게이지(160)의 영점은 상기 반원형 가공부(2)의 반경이 기준 반경(설계 반경)에 대응하는 반경과 일치하는 경우 지침이 움직이지 않으며, 기준 반경 작거나 크면 지침이 서로 반대방향으로 움직이게 된다.
다이얼 게이지(160)의 지침 변화량은 반원형 가공부(2)의 오차 범위를 나타내므로, 지침의 변화량이 설계 공차를 벗어나지 않으면 양품이고 벗어나면 불량품이 된다.
상기와 같이 다이얼 게이지(160)의 영점을 조절한 상태에서 스트레이트 바(100)를 제품의 반원형 가공부(2) 양측에 안착시키고, 이동블록(120)을 움직여 가면서 반원형 가공부(2)의 최대 반경부분을 찾고, 그 위치에서 지침의 변화량을 읽음으로써 반원형 가공부(2)의 반경이 가지는 오차 범위(다시말하면 반경 치수)를 측정할 수 있게 된다.
이상 설명한 바와 같이, 본 고안에 따른 반원형 가공부의 반경 측정 장치에 의하면, 다이얼 게이지가 서포트 로드 및 이동블록을 통하여 스트레이트 바에 결합되어 있으므로, 상기 이동블록을 스트레이트 바에서 안정적으로 이동시키면서 상기 다이얼 게이지로써 최대 반경을 읽을 수 있으므로, 측정이 안정적이고 정확해지며, 미숙련자라도 쉽고 신속하게 측정할 수 있다.
Claims (2)
- 제품의 반원형 가공부(2)의 반경을 측정하기 위한 장치에 있어서,상기 반원형 가공부(2)의 양측 상면에 거치되는 스트레이트 바(100);상기 스트레이트 바(100)의 길이 방향으로 미끄럼이동 가능하게 상기 스트레이트 바(100)에 결합되는 이동블록(120);상기 이동블록(120)의 하면으로 수직하게 연장되는 서포트 로드(140); 및상기 서포트 로드(140)의 단부에 장착되는 다이얼 게이지(160)를 포함하는 것을 특징으로 하는 반원형 가공부의 반경 측정 장치.
- 제1항에 있어서,상기 측정 장치는, 상기 다이얼 게이지(160)의 영점을 셋팅하기 위하여 상기 반원형 가공부(2)의 기준 반경에 대응하는 높이를 가져 상기 스트레이트 바(100)를 거치시킬 수 있는 두 개의 셋팅 블록(200)을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 반원형 가공부의 반경 측정 장치.
Priority Applications (1)
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KR20-2003-0022681U KR200330004Y1 (ko) | 2003-07-14 | 2003-07-14 | 반원형 가공부의 반경 측정 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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KR20-2003-0022681U KR200330004Y1 (ko) | 2003-07-14 | 2003-07-14 | 반원형 가공부의 반경 측정 장치 |
Publications (1)
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KR200330004Y1 true KR200330004Y1 (ko) | 2003-10-17 |
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ID=49417233
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KR20-2003-0022681U KR200330004Y1 (ko) | 2003-07-14 | 2003-07-14 | 반원형 가공부의 반경 측정 장치 |
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KR (1) | KR200330004Y1 (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101825002B1 (ko) | 2016-05-20 | 2018-02-02 | 두산중공업 주식회사 | 위치변경부를 포함하는 측정장치 고정 지그 및 이를 운용하는 방법 |
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2003
- 2003-07-14 KR KR20-2003-0022681U patent/KR200330004Y1/ko not_active IP Right Cessation
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KR101825002B1 (ko) | 2016-05-20 | 2018-02-02 | 두산중공업 주식회사 | 위치변경부를 포함하는 측정장치 고정 지그 및 이를 운용하는 방법 |
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