JP3259806B2 - コネクタ検査具 - Google Patents
コネクタ検査具Info
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- JP3259806B2 JP3259806B2 JP06918795A JP6918795A JP3259806B2 JP 3259806 B2 JP3259806 B2 JP 3259806B2 JP 06918795 A JP06918795 A JP 06918795A JP 6918795 A JP6918795 A JP 6918795A JP 3259806 B2 JP3259806 B2 JP 3259806B2
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- Details Of Connecting Devices For Male And Female Coupling (AREA)
- Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、グリスを注入した端子
から成る端子付き電線が、コネタクタハウジングに正し
く挿入されているか否かを検査するコネクタ検査具に関
するものである。
から成る端子付き電線が、コネタクタハウジングに正し
く挿入されているか否かを検査するコネクタ検査具に関
するものである。
【０００２】
【従来の技術】図５〜７は、従来のコネクタ検査具を示
すものである。コネクタ検査具２０は、フレーム２１の
一端側に取り付け板２２によって固定された、コネクタ
に対する受部２３と、他端側にフレーム２１に対して回
動自在に固定された操作部２４と、操作部２４の回動に
よって前進及び後退する検査器本体２５とで構成されて
いる。
すものである。コネクタ検査具２０は、フレーム２１の
一端側に取り付け板２２によって固定された、コネクタ
に対する受部２３と、他端側にフレーム２１に対して回
動自在に固定された操作部２４と、操作部２４の回動に
よって前進及び後退する検査器本体２５とで構成されて
いる。
【０００３】検査器本体２５は、受部２３側にコネクタ
に対する嵌合部２６と、嵌合部２６内にコネクタの端子
に対する検査ピン２７とを有し、操作部２４側に検査ピ
ン２７と電線（図示しない）との接続を保護する保護カ
バー２８とから成る。なお、電線が図示しない回路に接
続して導通検査の結果を知らせる。検査器本体２５の両
側壁２５′が、操作部２４のレバー支持部２４′に連結
部材２９を介して、両側壁２５′に設けられた支軸３０
に軸支され、操作部２４の回動に対応して、検査器本体
２５が前進及び後退する。
に対する嵌合部２６と、嵌合部２６内にコネクタの端子
に対する検査ピン２７とを有し、操作部２４側に検査ピ
ン２７と電線（図示しない）との接続を保護する保護カ
バー２８とから成る。なお、電線が図示しない回路に接
続して導通検査の結果を知らせる。検査器本体２５の両
側壁２５′が、操作部２４のレバー支持部２４′に連結
部材２９を介して、両側壁２５′に設けられた支軸３０
に軸支され、操作部２４の回動に対応して、検査器本体
２５が前進及び後退する。
【０００４】検査ピン２７は、端子に対する検査部３１
と、検査器本体２５に挿着する固定部３２と、検査部３
１と固定部３２とを内部で連結する円筒状の連結カバー
３３とから成る。連結カバー３３の一方には固定部３２
が固定され、他方には検査部３１が、コイルバネ３４を
介して固定部３２に連結され、バネ付勢されて伸縮自在
に設けられている。検査部３１の先端部３１′は球面状
を形成している。
と、検査器本体２５に挿着する固定部３２と、検査部３
１と固定部３２とを内部で連結する円筒状の連結カバー
３３とから成る。連結カバー３３の一方には固定部３２
が固定され、他方には検査部３１が、コイルバネ３４を
介して固定部３２に連結され、バネ付勢されて伸縮自在
に設けられている。検査部３１の先端部３１′は球面状
を形成している。
【０００５】また、取り付け板２２からフレーム２１の
固定板（図示しない）へ向けて、一対の案内シャフト３
６，３６が取り付け板２２の下端側にコイルスプリング
３７を介して架設されている。すなわち、図７（ａ）及
び（ｂ）に示す如く、コネクタ３８を受部２３に挿着さ
せ、操作部２４を回動させて検査器本体２５を前進させ
ることで、コネクタ３８内の端子３９と、嵌合部２６内
の検査ピン２７とを接触させ、コネクタ３８に対する端
子３９の導通状態を検査する。
固定板（図示しない）へ向けて、一対の案内シャフト３
６，３６が取り付け板２２の下端側にコイルスプリング
３７を介して架設されている。すなわち、図７（ａ）及
び（ｂ）に示す如く、コネクタ３８を受部２３に挿着さ
せ、操作部２４を回動させて検査器本体２５を前進させ
ることで、コネクタ３８内の端子３９と、嵌合部２６内
の検査ピン２７とを接触させ、コネクタ３８に対する端
子３９の導通状態を検査する。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、検査ピ
ンの検査部が端子内部に挿入されて端子の導通検査を行
うために、端子の開口内にグリスが注入されている場
合、検査部によってグリスが開口内からコネクタハウジ
ングの端子収容室等へ流出してしまう、という問題点が
あった。
ンの検査部が端子内部に挿入されて端子の導通検査を行
うために、端子の開口内にグリスが注入されている場
合、検査部によってグリスが開口内からコネクタハウジ
ングの端子収容室等へ流出してしまう、という問題点が
あった。
【０００７】本発明は、上記した点に鑑み、グリスが検
査ピンによって端子の開口内から流出するのを防いで、
コネクタハウジングに挿入された端子の導通検査を行う
コネクタ検査具を提供する。
査ピンによって端子の開口内から流出するのを防いで、
コネクタハウジングに挿入された端子の導通検査を行う
コネクタ検査具を提供する。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項１記載の発明は、フレームの一端側に検査す
べきコネクタの受部を設け、他端側に該受部と対向する
検査器本体を配置し、開口内に注入されたグリスを有す
る端子と導通状態を得る複数の検査ピンを該検査器本体
に並設し、検査時に該検査ピンが該コネクタの端子と接
触して回路を導通するようにして成るコネクタ検査具に
おいて、前記検査ピンの先端部には、放射状に刻設され
た溝を有する円錐頭部が設けられ、該円錐頭部が前記端
子の開口端に接触して導通状態を検査することを特徴と
する。
に、請求項１記載の発明は、フレームの一端側に検査す
べきコネクタの受部を設け、他端側に該受部と対向する
検査器本体を配置し、開口内に注入されたグリスを有す
る端子と導通状態を得る複数の検査ピンを該検査器本体
に並設し、検査時に該検査ピンが該コネクタの端子と接
触して回路を導通するようにして成るコネクタ検査具に
おいて、前記検査ピンの先端部には、放射状に刻設され
た溝を有する円錐頭部が設けられ、該円錐頭部が前記端
子の開口端に接触して導通状態を検査することを特徴と
する。
【０００９】また、請求項２の発明は、請求項１記載の
コネクタ検査具において、前記溝がＶ字状に形成される
ことにより、前記円錐頭部の側面に放射状の接触用曲面
部が構成されたことを特徴とする。また、請求項３の発
明は、請求項１または請求項２記載のコネクタ検査具に
おいて、前記溝がＶ字状に形成されることにより、前記
円錐頭部の側面には、隣合う前記溝の稜線部に接触用エ
ッジ部が構成されたことを特徴とする。
コネクタ検査具において、前記溝がＶ字状に形成される
ことにより、前記円錐頭部の側面に放射状の接触用曲面
部が構成されたことを特徴とする。また、請求項３の発
明は、請求項１または請求項２記載のコネクタ検査具に
おいて、前記溝がＶ字状に形成されることにより、前記
円錐頭部の側面には、隣合う前記溝の稜線部に接触用エ
ッジ部が構成されたことを特徴とする。
【００１０】
【作用】円錐頭部が端子の開口端と接触するので、接触
用曲面部（接触用エッジ部）の全体が端子の内部に進入
しない。これにより、グリスが端子の内部から流出せ
ず、端子内に残る。また、円錐頭部の先端部がグリス内
に進入しても、グリスが放射状の溝を通って外へ逃げる
ので、接触用曲面部（接触用エッジ部）にはグリスが付
着しない。更に、円錐頭部の側面に接触用曲面部が形成
されたことにより、接触用曲面部が確実に端子の開口端
に接触する。その上、円錐頭部の側面に接触用エッジ部
が形成されたことにより、接触用エッジ部がより確実か
つ鋭利に端子の開口端に接触する。
用曲面部（接触用エッジ部）の全体が端子の内部に進入
しない。これにより、グリスが端子の内部から流出せ
ず、端子内に残る。また、円錐頭部の先端部がグリス内
に進入しても、グリスが放射状の溝を通って外へ逃げる
ので、接触用曲面部（接触用エッジ部）にはグリスが付
着しない。更に、円錐頭部の側面に接触用曲面部が形成
されたことにより、接触用曲面部が確実に端子の開口端
に接触する。その上、円錐頭部の側面に接触用エッジ部
が形成されたことにより、接触用エッジ部がより確実か
つ鋭利に端子の開口端に接触する。
【００１１】
【実施例】図１〜３は、本発明に係るコネクタ検査具の
第一実施例を示すものである。このコネクタ検査具は、
検査ピンを除いて全て従来例と同じであるので、検査ピ
ンについて記述し、検査ピン以外についての説明を省略
する。
第一実施例を示すものである。このコネクタ検査具は、
検査ピンを除いて全て従来例と同じであるので、検査ピ
ンについて記述し、検査ピン以外についての説明を省略
する。
【００１２】検査ピン１は、端子（図示しない）に対す
る検査部２と、検査器本体２５（図５）に挿着する固定
部３と、検査部２と固定部３とを内部で連結する円筒状
の連結カバー４とから成る。連結カバー４の一方には固
定部３が固定され、他方には検査部２の後端部２ａが、
コイルバネ５を介して固定部３に連結され、バネ付勢に
より伸縮自在に設けられている。
る検査部２と、検査器本体２５（図５）に挿着する固定
部３と、検査部２と固定部３とを内部で連結する円筒状
の連結カバー４とから成る。連結カバー４の一方には固
定部３が固定され、他方には検査部２の後端部２ａが、
コイルバネ５を介して固定部３に連結され、バネ付勢に
より伸縮自在に設けられている。
【００１３】そして、検査部２の先端部２ｂには、コネ
クタ１３内の端子１２の開口１４（図３）に対する接触
用の円錐頭部６が形成されている。接触用の円錐頭部６
は、その頂点６ａから放射状に、端子１２の開口１４内
のグリス１０（図３）を端子１２の外へ流す（逃がす）
ための溝９を有している。
クタ１３内の端子１２の開口１４（図３）に対する接触
用の円錐頭部６が形成されている。接触用の円錐頭部６
は、その頂点６ａから放射状に、端子１２の開口１４内
のグリス１０（図３）を端子１２の外へ流す（逃がす）
ための溝９を有している。
【００１４】図２（ａ）及び（ｂ）に示す如く、溝９
は、円錐頭部６の頂点６ａから放射状に八つ刻設されて
成り、各々の溝９は大きさと形状とを同じにし、溝９と
溝９との間隔は等しいので，一つの溝９について説明す
る。溝９が、その中心線９′に対して左右対称で、円錐
頭部６の接触用曲面部（接触部）７′から中心線９′に
向けて刻設され、上方から眺めると菱形に形成されてい
る。なお、円錐頭部６の溝９について、溝の本数、溝の
大きさ又は溝の間隔等を自由に変更させることが可能で
ある。
は、円錐頭部６の頂点６ａから放射状に八つ刻設されて
成り、各々の溝９は大きさと形状とを同じにし、溝９と
溝９との間隔は等しいので，一つの溝９について説明す
る。溝９が、その中心線９′に対して左右対称で、円錐
頭部６の接触用曲面部（接触部）７′から中心線９′に
向けて刻設され、上方から眺めると菱形に形成されてい
る。なお、円錐頭部６の溝９について、溝の本数、溝の
大きさ又は溝の間隔等を自由に変更させることが可能で
ある。
【００１５】次に、図３（ａ）及び（ｂ）に示す如く、
開口１４内にグリス１０が注入された端子付き電線１１
を有するコネクタ１３に対して、コネクタ検査具２０
（図４）で導通状態を検査する時の検査ピン１の作動に
ついて以下記述する。
開口１４内にグリス１０が注入された端子付き電線１１
を有するコネクタ１３に対して、コネクタ検査具２０
（図４）で導通状態を検査する時の検査ピン１の作動に
ついて以下記述する。
【００１６】図３（ａ）に示す如く、検査ピン１を前進
させ、コネクタハウジング１３に挿入された端子１２の
開口端１４′と、円錐頭部６の接触用曲面部７′とを接
触させる。その時、円錐頭部６がグリス１０に接触しな
いとき、開口１４内に注入されたグリス１０が開口１４
内から（例えば、端子収容室１３′へ）流れ出ることが
なく、開口１４内にとどまり、コネクタハウジング１３
に対する端子１２の導通状態が検査される。
させ、コネクタハウジング１３に挿入された端子１２の
開口端１４′と、円錐頭部６の接触用曲面部７′とを接
触させる。その時、円錐頭部６がグリス１０に接触しな
いとき、開口１４内に注入されたグリス１０が開口１４
内から（例えば、端子収容室１３′へ）流れ出ることが
なく、開口１４内にとどまり、コネクタハウジング１３
に対する端子１２の導通状態が検査される。
【００１７】円錐頭部６がグリス１０に接触するとき、
円錐頭部６には溝９が形成されているために、グリス１
０が流れ出るとすれば、溝９に沿って円錐頭部６からコ
ネクタ１３の外へ流れ出る。また、グリス１０が流れ出
て接触用曲面部７′に付着しても、溝９が形成されてい
るために、溝９内に付着物が残るだけで、接触用曲面部
７′自体にはグリス１０が付着しない。そして、たとえ
グリス１０が溝９に沿って流れ出たとしても、開口１４
内に残っているグリス１０の量が、端子１２内に存在し
なければならない規定量を満たしているので、何の不具
合も起こらない。
円錐頭部６には溝９が形成されているために、グリス１
０が流れ出るとすれば、溝９に沿って円錐頭部６からコ
ネクタ１３の外へ流れ出る。また、グリス１０が流れ出
て接触用曲面部７′に付着しても、溝９が形成されてい
るために、溝９内に付着物が残るだけで、接触用曲面部
７′自体にはグリス１０が付着しない。そして、たとえ
グリス１０が溝９に沿って流れ出たとしても、開口１４
内に残っているグリス１０の量が、端子１２内に存在し
なければならない規定量を満たしているので、何の不具
合も起こらない。
【００１８】図４は、コネクタ検査具の第二実施例を示
すものである。円錐頭部６が、その頂点６ａから放射状
に、複数かつ同サイズに連続して刻設された溝１５と、
隣合った溝１５と溝１５′とにより形成された接触用エ
ッジ部１６とを有する。この接触用エッジ部１６が端子
１２の開口端１４に接触することで、端子の導通状態が
検査される。コネクタ端子検査具で端子の導通状態を検
査する時の検査ピンの作動については、第一の実施例と
殆ど同じであるが、円錐頭部６に形成された接触用エッ
ジ部１６が、接触用曲面部（第一実施例）７′より鋭利
に端子１２の開口端１４′に接触する。
すものである。円錐頭部６が、その頂点６ａから放射状
に、複数かつ同サイズに連続して刻設された溝１５と、
隣合った溝１５と溝１５′とにより形成された接触用エ
ッジ部１６とを有する。この接触用エッジ部１６が端子
１２の開口端１４に接触することで、端子の導通状態が
検査される。コネクタ端子検査具で端子の導通状態を検
査する時の検査ピンの作動については、第一の実施例と
殆ど同じであるが、円錐頭部６に形成された接触用エッ
ジ部１６が、接触用曲面部（第一実施例）７′より鋭利
に端子１２の開口端１４′に接触する。
【００１９】
【発明の効果】以上の如くに、本発明によれば、円錐頭
部の側面に接触用曲面部（接触用エッジ部）が形成され
たことにより、接触用曲面部（接触用エッジ部）が端子
の開口内に進入せず、確実に端子の開口端に接触するこ
とができる。円錐頭部がグリス内に進入しない時、グリ
スが端子の開口内から流出せずに残るので、導通検査後
における開口内のグリスの有無をいちいち調べる必要が
なくなる。
部の側面に接触用曲面部（接触用エッジ部）が形成され
たことにより、接触用曲面部（接触用エッジ部）が端子
の開口内に進入せず、確実に端子の開口端に接触するこ
とができる。円錐頭部がグリス内に進入しない時、グリ
スが端子の開口内から流出せずに残るので、導通検査後
における開口内のグリスの有無をいちいち調べる必要が
なくなる。
【００２０】また、円錐頭部がグリス内に進入する時、
グリスが溝を通って流れ、接触用曲面部（接触用エッジ
部）に付着しないので、他の端子に対する導通検査の際
に、検査ピンに悪影響を及ぼすとがなくなり、導通検査
に対する信頼性が増す。従って、作業者が導通検査ごと
に検査ピンに対して注意を払う必要がなくなるので、作
業を楽に行うことができる。さらに、接触用エッジ部が
接触用曲面部より確実かつ鋭利に端子の開口端に接触す
るので、導通検査に対する検査精度が向上する。
グリスが溝を通って流れ、接触用曲面部（接触用エッジ
部）に付着しないので、他の端子に対する導通検査の際
に、検査ピンに悪影響を及ぼすとがなくなり、導通検査
に対する信頼性が増す。従って、作業者が導通検査ごと
に検査ピンに対して注意を払う必要がなくなるので、作
業を楽に行うことができる。さらに、接触用エッジ部が
接触用曲面部より確実かつ鋭利に端子の開口端に接触す
るので、導通検査に対する検査精度が向上する。
【図１】本発明に係るコネクタ検査具の検査ピンの第一
実施例を示す縦断面図である。
実施例を示す縦断面図である。
【図２】同じく（ａ）は検査ピンの円錐頭部を拡大した
縦断面図であり、（ｂ）はＸ方向の図である。
縦断面図であり、（ｂ）はＸ方向の図である。
【図３】同じく端子に対して検査ピンを、（ａ）は挿入
前の状態を示す縦断面図であり、（ｂ）は挿入後の状態
を示す縦断面図である。
前の状態を示す縦断面図であり、（ｂ）は挿入後の状態
を示す縦断面図である。
【図４】本発明に係るコネクタ検査具の検査ピンの第二
実施例を示す縦断面図である。
実施例を示す縦断面図である。
【図５】従来のコネクタ検査具を示す斜視図である。
【図６】同じく検査ピンを示す縦断面図である。
【図７】同じく端子に対して検査ピンを、（ａ）は挿入
前の状態を示す縦断面図であり、（ｂ）は挿入後の状態
を示す縦断面図である。
前の状態を示す縦断面図であり、（ｂ）は挿入後の状態
を示す縦断面図である。
１ 検査ピン ６ 円錐頭部 ７′ 接触用曲面部 ９ 溝 １５ 接触用エッジ部
Claims (3)
- 【請求項１】 フレームの一端側に検査すべきコネクタ
の受部を設け、他端側に該受部と対向する検査器本体を
配置し、開口内に注入されたグリスを有する端子と導通
状態を得る複数の検査ピンを該検査器本体に並設し、検
査時に該検査ピンが該コネクタの端子と接触して回路を
導通するようにして成るコネクタ検査具において、 前記検査ピンの先端部には、放射状に刻設された溝を有
する円錐頭部が設けられ、該円錐頭部が前記端子の開口
端に接触して導通状態を検査することを特徴とするコネ
クタ検査具。 - 【請求項２】 前記溝がＶ字状に形成されることによ
り、前記円錐頭部の側面に放射状の接触用曲面部が構成
されたことを特徴とする請求項１記載のコネクタ検査
具。 - 【請求項３】 前記溝がＶ字状に形成されることによ
り、前記円錐頭部の側面には、隣合う前記溝の稜線部に
接触用エッジ部が構成されたことを特徴とする請求項１
または請求項２記載のコネクタ検査具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06918795A JP3259806B2 (ja) | 1995-03-28 | 1995-03-28 | コネクタ検査具 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06918795A JP3259806B2 (ja) | 1995-03-28 | 1995-03-28 | コネクタ検査具 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08264255A JPH08264255A (ja) | 1996-10-11 |
| JP3259806B2 true JP3259806B2 (ja) | 2002-02-25 |
Family
ID=13395482
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP06918795A Expired - Fee Related JP3259806B2 (ja) | 1995-03-28 | 1995-03-28 | コネクタ検査具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3259806B2 (ja) |
-
1995
- 1995-03-28 JP JP06918795A patent/JP3259806B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH08264255A (ja) | 1996-10-11 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20011030 |
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