JP3250015B2 - 保護継電器および試験器ならびに試験システム - Google Patents
保護継電器および試験器ならびに試験システムInfo
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- JP3250015B2 JP3250015B2 JP14744492A JP14744492A JP3250015B2 JP 3250015 B2 JP3250015 B2 JP 3250015B2 JP 14744492 A JP14744492 A JP 14744492A JP 14744492 A JP14744492 A JP 14744492A JP 3250015 B2 JP3250015 B2 JP 3250015B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、保護継電器の動作時間
の試験を行うための保護継電器、試験器およびそれらか
ら構成される試験システムに関する。
の試験を行うための保護継電器、試験器およびそれらか
ら構成される試験システムに関する。
【０００２】
【従来の技術】保護継電器の試験は、試験器から試験の
ための電圧、電流などの電気量を保護継電器の入力端子
に印加し、保護継電器の接点出力を検出用端子から取り
込んで、保護継電器の動作時間、動作電流値を計測し、
保護継電器が正常であるか否かを評価するようにしてい
る。
ための電圧、電流などの電気量を保護継電器の入力端子
に印加し、保護継電器の接点出力を検出用端子から取り
込んで、保護継電器の動作時間、動作電流値を計測し、
保護継電器が正常であるか否かを評価するようにしてい
る。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】このように試験器から
は、通常時と同様に実際の電気量を保護継電器に与えて
動作させているが、一般に、保護継電器は、異常値が入
力されたときに動作するものであり、動作時間整定が長
く、したがって、測定に時間がかかるという難点があ
る。
は、通常時と同様に実際の電気量を保護継電器に与えて
動作させているが、一般に、保護継電器は、異常値が入
力されたときに動作するものであり、動作時間整定が長
く、したがって、測定に時間がかかるという難点があ
る。
【０００４】本発明は、上述の点に鑑みて為されたもの
であって、測定時間を短縮することを目的とする。
であって、測定時間を短縮することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明では、上述の目的
を達成するために、次のように構成している。
を達成するために、次のように構成している。
【０００６】すなわち、試験モードにおいて、保護継電
器は、時間整定値を所定数で割った値を試験用の時間整
定値とし、一方、試験器側は、計測された動作時間を所
定数倍して評価するように構成している。
器は、時間整定値を所定数で割った値を試験用の時間整
定値とし、一方、試験器側は、計測された動作時間を所
定数倍して評価するように構成している。
【０００７】
【作用】上記構成によれば、試験モードにおける時間整
定値が短縮されて測定時間が短くなる。
定値が短縮されて測定時間が短くなる。
【０００８】
【実施例】以下、図面によって本発明の実施例につい
て、詳細に説明する。
て、詳細に説明する。
【０００９】図１は、本発明の一実施例のブロック図で
ある。
ある。
【００１０】この実施例の保護継電器の試験システム
は、保護継電器１と、試験器２とから構成されており、
図２に示されるように、試験器２を保護継電器１が設置
されている受変電盤３の前面に配置して試験器２を保護
継電器１に接続する。この実施例では、試験器２と保護
継電器１との間の通信用および保護継電器１からの接点
出力が試験器２に与えられる出力用のラインは、ケーブ
ル５で接続され、試験器２から保護継電器１へ電気量を
供給する入力用のラインは、ケーブル６で接続されてい
る。
は、保護継電器１と、試験器２とから構成されており、
図２に示されるように、試験器２を保護継電器１が設置
されている受変電盤３の前面に配置して試験器２を保護
継電器１に接続する。この実施例では、試験器２と保護
継電器１との間の通信用および保護継電器１からの接点
出力が試験器２に与えられる出力用のラインは、ケーブ
ル５で接続され、試験器２から保護継電器１へ電気量を
供給する入力用のラインは、ケーブル６で接続されてい
る。
【００１１】保護継電器１は、試験器２からの試験用の
電気量、この実施例では、交流信号が入力される入力部
７と、試験器２との間で情報を送受信する送受信部８
と、入力に応じて動作する出力部９と、各部を制御する
ＣＰＵ１０と、整定値が設定される整定部１１とから構
成されている。
電気量、この実施例では、交流信号が入力される入力部
７と、試験器２との間で情報を送受信する送受信部８
と、入力に応じて動作する出力部９と、各部を制御する
ＣＰＵ１０と、整定値が設定される整定部１１とから構
成されている。
【００１２】試験器２は、各部を制御する制御部１２
と、保護継電器１に供給する試験用の交流信号を発生す
る交流信号発生部１３と、保護継電器１との間で情報の
送受信を行う送受信部１４と、保護継電器１の出力に基
づいて動作時間や動作値などを計測する計測部１５とか
ら構成されている。
と、保護継電器１に供給する試験用の交流信号を発生す
る交流信号発生部１３と、保護継電器１との間で情報の
送受信を行う送受信部１４と、保護継電器１の出力に基
づいて動作時間や動作値などを計測する計測部１５とか
ら構成されている。
【００１３】図３は、本発明の実施例のフローチャート
であり、同図（Ａ）は試験器２の動作を、同図（Ｂ）は
保護継電器１の動作をそれぞれ示している。
であり、同図（Ａ）は試験器２の動作を、同図（Ｂ）は
保護継電器１の動作をそれぞれ示している。
【００１４】この実施例では、試験の際の測定時間を短
縮するために、次のように構成している。
縮するために、次のように構成している。
【００１５】すなわち、保護継電器１の試験モードで
は、予め整定部１１に設定されている時間整定値を所定
数（Ｎ）で割った値を、試験用の時間整定値として動作
するものであり、一方、試験器２は、保護継電器１の出
力に基づいて、計測された動作時間を前記所定数（Ｎ）
倍して評価するものである。
は、予め整定部１１に設定されている時間整定値を所定
数（Ｎ）で割った値を、試験用の時間整定値として動作
するものであり、一方、試験器２は、保護継電器１の出
力に基づいて、計測された動作時間を前記所定数（Ｎ）
倍して評価するものである。
【００１６】このように保護継電器１では、実際の時間
整定値の１／Ｎの時間整定値で動作するので、従来の測
定時間の１／Ｎの時間で測定できることになる。
整定値の１／Ｎの時間整定値で動作するので、従来の測
定時間の１／Ｎの時間で測定できることになる。
【００１７】図３に基づいて、動作を説明する。
【００１８】先ず、試験の準備が次のようにして行われ
る。すなわち、試験器２から保護継電器１に対して試験
モードに入ることを要求する要求信号が送信され、保護
継電器１がそれを認識し、試験器２は、保護継電器１の
整定値を読み取り、試験を開始する。
る。すなわち、試験器２から保護継電器１に対して試験
モードに入ることを要求する要求信号が送信され、保護
継電器１がそれを認識し、試験器２は、保護継電器１の
整定値を読み取り、試験を開始する。
【００１９】試験器２は、試験用の電圧を印加するとと
もに（ステップ１）、計測部１５のタイマをスタートさ
せ（ステップ２）、保護継電器１から出力があったか否
かを判断し（ステップ３）、出力があったと判断したと
きには、タイマを停止させ（ステップ４）、計測された
時間をＮ倍、この実施例では、１０倍し（ステップ
５）、その値が時間整定値±１０％であるか否かを判定
して評価を行う（ステップ６）。
もに（ステップ１）、計測部１５のタイマをスタートさ
せ（ステップ２）、保護継電器１から出力があったか否
かを判断し（ステップ３）、出力があったと判断したと
きには、タイマを停止させ（ステップ４）、計測された
時間をＮ倍、この実施例では、１０倍し（ステップ
５）、その値が時間整定値±１０％であるか否かを判定
して評価を行う（ステップ６）。
【００２０】一方、保護継電器１は、試験モードである
か否かを判断し（ステップ１）、試験モードであること
を認識すると、整定部１１の時間整定値を読み込み（ス
テップ２）、その値を１／Ｎ、この実施例では、１／１
０して（ステップ３）タイマ値としてセットし（ステッ
プ４）、試験器２からの入力を読み込み（ステップ
５）、その入力値が整定値より大きいか否かを判断し
（ステップ６）、大きいと判断したときには、タイマを
スタートし（ステップ７）、タイムアップしたか否かを
判断し（ステップ８）、タイムアップしたときに、出力
を与える（ステップ９）。なお、ステップ１において、
試験モードでないと判断したときには、ステップ１０に
移り、時間整定値を読み込み、所定数で割ることなく、
ステップ４に移る。
か否かを判断し（ステップ１）、試験モードであること
を認識すると、整定部１１の時間整定値を読み込み（ス
テップ２）、その値を１／Ｎ、この実施例では、１／１
０して（ステップ３）タイマ値としてセットし（ステッ
プ４）、試験器２からの入力を読み込み（ステップ
５）、その入力値が整定値より大きいか否かを判断し
（ステップ６）、大きいと判断したときには、タイマを
スタートし（ステップ７）、タイムアップしたか否かを
判断し（ステップ８）、タイムアップしたときに、出力
を与える（ステップ９）。なお、ステップ１において、
試験モードでないと判断したときには、ステップ１０に
移り、時間整定値を読み込み、所定数で割ることなく、
ステップ４に移る。
【００２１】このように保護継電器１側では、実際の時
間整定値の１／１０の時間整定値で動作し、試験器２で
は、保護継電器１の出力に基づく動作時間を１０倍して
評価するので、測定に要する時間が、従来の１／１０で
済むことになる。
間整定値の１／１０の時間整定値で動作し、試験器２で
は、保護継電器１の出力に基づく動作時間を１０倍して
評価するので、測定に要する時間が、従来の１／１０で
済むことになる。
【００２２】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、試験モー
ドにおいて保護継電器は、時間整定値を所定数で割った
値を試験用の時間整定値として動作し、一方、試験器側
は、計測された動作時間を所定数倍して評価するように
構成しているので、動作時間が短くなって測定時間が短
縮されることになる。
ドにおいて保護継電器は、時間整定値を所定数で割った
値を試験用の時間整定値として動作し、一方、試験器側
は、計測された動作時間を所定数倍して評価するように
構成しているので、動作時間が短くなって測定時間が短
縮されることになる。
【図１】本発明の一実施例のブロック図である。
【図２】試験器と保護継電器との接続状態を示す図であ
る。
る。
【図３】動作説明に供するフローチャートである。
１ 保護継電器 ２ 試験器 １１ 整定部 １５ 計測部
フロントページの続き (72)発明者 藤枝 俊盛 埼玉県入間市大字中神字南狭山918−１ 株式会社ムサシ電機計器製作所内 (72)発明者 福井 治 埼玉県入間市大字中神字南狭山918−１ 株式会社ムサシ電機計器製作所内 (56)参考文献 特開 昭61−46112（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−215114（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) H02H 3/05 G01R 31/00
Claims (3)
- 【請求項１】保護継電器と、この保護継電器に接続され
て試験用の電気量を供給するとともに、前記保護継電器
の出力が与えられる試験器とを備える保護継電器の試験
システムにおいて、 前記保護継電器は、前記試験器が接続された試験モード
では、予め設定されている時間整定値を所定数で割った
値を、試験用の時間整定値として動作するものであり、 前記試験器は、前記保護継電器の出力に基づいて、計測
された動作時間値を前記所定数倍して評価するものであ
ることを特徴とする保護継電器の試験システム。 - 【請求項２】請求項１に記載の保護継電器の試験システ
ムで試験される保護継電器であって、 試験用の電気量を供給する前記試験器が接続された試験
モードでは、予め設定されている時間整定値を所定数で
割った値を、試験用の時間整定値として動作することを
特徴とする保護継電器。 - 【請求項３】請求項１に記載の保護継電器の試験システ
ムで試験を行う試験器であって、 予め設定されている時間整定値を所定数で割った値を、
試験用の時間整定値として前記保護継電器を動作させる
試験モードでは、前記保護継電器の出力に基づいて、計
測された動作時間値を所定数倍して評価するものである
ことを特徴とする試験器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14744492A JP3250015B2 (ja) | 1992-06-08 | 1992-06-08 | 保護継電器および試験器ならびに試験システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14744492A JP3250015B2 (ja) | 1992-06-08 | 1992-06-08 | 保護継電器および試験器ならびに試験システム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05344639A JPH05344639A (ja) | 1993-12-24 |
| JP3250015B2 true JP3250015B2 (ja) | 2002-01-28 |
Family
ID=15430485
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14744492A Expired - Fee Related JP3250015B2 (ja) | 1992-06-08 | 1992-06-08 | 保護継電器および試験器ならびに試験システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3250015B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015225035A (ja) * | 2014-05-29 | 2015-12-14 | 三菱電機エンジニアリング株式会社 | 可搬型メンテナンスツール |
-
1992
- 1992-06-08 JP JP14744492A patent/JP3250015B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05344639A (ja) | 1993-12-24 |
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