JP3265337B2 - 保護継電器および試験器ならびに試験システム - Google Patents
保護継電器および試験器ならびに試験システムInfo
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- JP3265337B2 JP3265337B2 JP14744592A JP14744592A JP3265337B2 JP 3265337 B2 JP3265337 B2 JP 3265337B2 JP 14744592 A JP14744592 A JP 14744592A JP 14744592 A JP14744592 A JP 14744592A JP 3265337 B2 JP3265337 B2 JP 3265337B2
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- Japan
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- test
- protection relay
- tester
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、保護継電器の動作時間
や動作電流値などの試験を行うための保護継電器、試験
器およびそれらから構成される試験システムに関する。
や動作電流値などの試験を行うための保護継電器、試験
器およびそれらから構成される試験システムに関する。
【０００２】
【従来の技術】保護継電器の試験は、試験器から試験の
ための電圧、電流などの電気量を保護継電器の入力端子
に印加し、保護継電器の接点出力を検出用端子から取り
込んで、保護継電器の動作時間、動作電流値を計測し、
保護継電器が正常であるか否かを評価するようにしてい
る。
ための電圧、電流などの電気量を保護継電器の入力端子
に印加し、保護継電器の接点出力を検出用端子から取り
込んで、保護継電器の動作時間、動作電流値を計測し、
保護継電器が正常であるか否かを評価するようにしてい
る。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】この試験においては、
計測された動作時間や動作電流値を規格値と比較して評
価することになるが、この規格値には、ＪＩＳ規格やメ
ーカ毎の規格などもあって試験者がマニュアルなどを参
照しながら評価を行っており、煩わしいものであった。
さらに、試験の手順、例えば、最初に試験条件３.０Ａ
で動作値試験を行い、次に、試験条件３.５Ａで動作値
試験を行うといった、一連の試験項目および試験条件と
いった試験手順も試験者がマニュアルなどを参照しなが
ら進めており、手間のかかるものであった。
計測された動作時間や動作電流値を規格値と比較して評
価することになるが、この規格値には、ＪＩＳ規格やメ
ーカ毎の規格などもあって試験者がマニュアルなどを参
照しながら評価を行っており、煩わしいものであった。
さらに、試験の手順、例えば、最初に試験条件３.０Ａ
で動作値試験を行い、次に、試験条件３.５Ａで動作値
試験を行うといった、一連の試験項目および試験条件と
いった試験手順も試験者がマニュアルなどを参照しなが
ら進めており、手間のかかるものであった。
【０００４】本発明は、上述の点に鑑みて為されたもの
であって、試験者が、マニュアルなどを参照することな
く、効率的に試験を行えるようにすることを目的とす
る。
であって、試験者が、マニュアルなどを参照することな
く、効率的に試験を行えるようにすることを目的とす
る。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明では、上述の目的
を達成するために、次のように構成している。
を達成するために、次のように構成している。
【０００６】すなわち、本発明は、動作時間や動作値の
規格値を保護継電器に格納し、あるいは、試験手順を保
護継電器または試験器の一方に格納しており、試験器で
は、前記規格値あるいは試験手順に従って試験を行うよ
うにしている。
規格値を保護継電器に格納し、あるいは、試験手順を保
護継電器または試験器の一方に格納しており、試験器で
は、前記規格値あるいは試験手順に従って試験を行うよ
うにしている。
【０００７】
【作用】上記構成によれば、規格値や試験手順が保護継
電器あるいは試験器に格納されているので、試験者は、
規格値や試験手順をマニュアルなどで参照することな
く、試験を進めることが可能となる。
電器あるいは試験器に格納されているので、試験者は、
規格値や試験手順をマニュアルなどで参照することな
く、試験を進めることが可能となる。
【０００８】
【実施例】以下、図面によって本発明の実施例につい
て、詳細に説明する。
て、詳細に説明する。
【０００９】図１は、本発明の一実施例のブロック図で
ある。
ある。
【００１０】この実施例の保護継電器の試験システム
は、保護継電器１と、試験器２とから構成されており、
図２に示されるように、試験器２を保護継電器１が設置
されている受変電盤３の前面に配置して試験器２を保護
継電器１に接続する。この実施例では、試験器２と保護
継電器１との間の通信用および保護継電器１からの出力
が試験器２に与えられる出力用のラインは、ケーブル５
で接続され、試験器１から保護継電器１に試験用の電気
量を与える入力用のラインは、ケーブル６で接続されて
いる。
は、保護継電器１と、試験器２とから構成されており、
図２に示されるように、試験器２を保護継電器１が設置
されている受変電盤３の前面に配置して試験器２を保護
継電器１に接続する。この実施例では、試験器２と保護
継電器１との間の通信用および保護継電器１からの出力
が試験器２に与えられる出力用のラインは、ケーブル５
で接続され、試験器１から保護継電器１に試験用の電気
量を与える入力用のラインは、ケーブル６で接続されて
いる。
【００１１】保護継電器１は、試験器２からの試験用の
電気量、この実施例では、交流信号が入力される入力部
７と、試験器２との間で情報を送受信する送受信部８
と、入力に応じて動作する出力部９と、各部を制御する
ＣＰＵ１０と、整定値が設定される整定部１１と、動作
時間や動作値の規格値が格納された記憶部１２とから構
成されている。
電気量、この実施例では、交流信号が入力される入力部
７と、試験器２との間で情報を送受信する送受信部８
と、入力に応じて動作する出力部９と、各部を制御する
ＣＰＵ１０と、整定値が設定される整定部１１と、動作
時間や動作値の規格値が格納された記憶部１２とから構
成されている。
【００１２】試験器２は、各部を制御する制御部１３
と、保護継電器１に供給する試験用の交流信号を発生す
る交流信号発生部１４と、保護継電器１との間で情報の
送受信を行う送受信部１５と、保護継電器１の出力に基
づいて動作時間や動作値などを計測する計測部１６と、
試験手順が格納された記憶部１７とから構成されてい
る。
と、保護継電器１に供給する試験用の交流信号を発生す
る交流信号発生部１４と、保護継電器１との間で情報の
送受信を行う送受信部１５と、保護継電器１の出力に基
づいて動作時間や動作値などを計測する計測部１６と、
試験手順が格納された記憶部１７とから構成されてい
る。
【００１３】この実施例では、試験の際に、試験者が規
格値や試験手順を知るために、マニュアルなどを参照し
ながら試験を進める必要がないようにするために、次の
ように構成している。
格値や試験手順を知るために、マニュアルなどを参照し
ながら試験を進める必要がないようにするために、次の
ように構成している。
【００１４】すなわち、この実施例では、保護継電器１
の記憶部１２には、動作時間や動作値の規格値が格納さ
れており、試験器２は、これら規格値を通信によって保
護継電器１から受け取り、記憶部１７には、試験条件や
試験手順が格納され、制御部１３に信号を送り、試験を
進めるとともに、計測された動作時間や動作値の評価を
行うようにしている。
の記憶部１２には、動作時間や動作値の規格値が格納さ
れており、試験器２は、これら規格値を通信によって保
護継電器１から受け取り、記憶部１７には、試験条件や
試験手順が格納され、制御部１３に信号を送り、試験を
進めるとともに、計測された動作時間や動作値の評価を
行うようにしている。
【００１５】試験器２の記憶部１７には、図３に示され
るように、試験の手順、例えば、最初に試験条件３.０
Ａで動作値試験（限時）を行い、次に、試験用条件３.
５Ａで動作値試験（限時）を行うといった、一連の試験
項目および試験条件を含む試験手順が格納される。保護
継電器１の記憶部１２には、図４（Ａ）〜（Ｃ）に示さ
れるように、限時電流の下限および上限の規格値（１０
％）、瞬時電流の下限および上限の規格値（２０％）あ
るいは限時動作時間（３００％，７００％）の規格値な
どが格納されている。これらの図３および図４に示され
るように、各試験および各規格値には、保護継電器１か
ら試験器２に送信する際のコマンド、例えば、動作値試
験（限時）はＩＧ、限時電流の下限の規格値はＩＴＬな
どが割り当てられおり、このコマンドに引き続いて規格
値などが送信されるようになっている。
るように、試験の手順、例えば、最初に試験条件３.０
Ａで動作値試験（限時）を行い、次に、試験用条件３.
５Ａで動作値試験（限時）を行うといった、一連の試験
項目および試験条件を含む試験手順が格納される。保護
継電器１の記憶部１２には、図４（Ａ）〜（Ｃ）に示さ
れるように、限時電流の下限および上限の規格値（１０
％）、瞬時電流の下限および上限の規格値（２０％）あ
るいは限時動作時間（３００％，７００％）の規格値な
どが格納されている。これらの図３および図４に示され
るように、各試験および各規格値には、保護継電器１か
ら試験器２に送信する際のコマンド、例えば、動作値試
験（限時）はＩＧ、限時電流の下限の規格値はＩＴＬな
どが割り当てられおり、このコマンドに引き続いて規格
値などが送信されるようになっている。
【００１６】この実施例では、例えば、図５に示される
ようにして順次試験が進められる。すなわち、試験器２
は、保護継電器１に対して、最初の行うべき整定値、規
格値のデータを送信することを要求し、保護継電器１
は、これに応答して記憶部１２から設定値および規格値
などのデータを読み出して試験器２に送信する。試験器
２は、この試験条件に従って試験の準備を行い、記憶部
１７から試験手順および試験条件を読み出し、試験を開
始する。
ようにして順次試験が進められる。すなわち、試験器２
は、保護継電器１に対して、最初の行うべき整定値、規
格値のデータを送信することを要求し、保護継電器１
は、これに応答して記憶部１２から設定値および規格値
などのデータを読み出して試験器２に送信する。試験器
２は、この試験条件に従って試験の準備を行い、記憶部
１７から試験手順および試験条件を読み出し、試験を開
始する。
【００１７】例えば、動作時間試験（限時）の場合に
は、図６のフローチャートに示されるようにして試験が
行われる。
は、図６のフローチャートに示されるようにして試験が
行われる。
【００１８】すなわち、試験器２は、保護継電器１の記
憶部１２から読み出されて送信されてきた整定値、例え
ば、１０秒、５Ａを読み込み（ステップ１）、さらに、
保護継電器１の記憶部１２から読み出されて送信されて
きた規格値、例えば、±１０％を読み込む（ステップ
２）。次に、試験電流値、例えば、５Ａの３００％であ
る１５Ａを計算し（ステップ３）、さらに、規格値およ
び整定値から判定値、例えば、９〜１１秒を計算し（ス
テップ４）、試験電流を流し（ステップ５）、タイマを
スタートさせる（ステップ６）。そして、保護継電器１
から出力があったか否かを判断し（ステップ７）、出力
があったと判断したときには、タイマを停止し（ステッ
プ８）、計測時間が判定値９〜１１秒内であるか否かを
判断して合格、不合格を評価する（ステップ９）。
憶部１２から読み出されて送信されてきた整定値、例え
ば、１０秒、５Ａを読み込み（ステップ１）、さらに、
保護継電器１の記憶部１２から読み出されて送信されて
きた規格値、例えば、±１０％を読み込む（ステップ
２）。次に、試験電流値、例えば、５Ａの３００％であ
る１５Ａを計算し（ステップ３）、さらに、規格値およ
び整定値から判定値、例えば、９〜１１秒を計算し（ス
テップ４）、試験電流を流し（ステップ５）、タイマを
スタートさせる（ステップ６）。そして、保護継電器１
から出力があったか否かを判断し（ステップ７）、出力
があったと判断したときには、タイマを停止し（ステッ
プ８）、計測時間が判定値９〜１１秒内であるか否かを
判断して合格、不合格を評価する（ステップ９）。
【００１９】このようして動作時間試験を完了する。
【００２０】再び、図５を参照して、保護継電器１が動
作して試験が完了すると、試験器２は、保護継電器１に
対して、次の設定値および規格値などデータを送信する
ことを要求し、保護継電器は、これに応答して記憶部１
２から次の設定値および規格値などを読み出して試験器
２に送信する。試験器２は、この試験条件に従って次の
試験の準備を行い、記憶部１７から試験手順および試験
条件を読み出し、試験を開始する。
作して試験が完了すると、試験器２は、保護継電器１に
対して、次の設定値および規格値などデータを送信する
ことを要求し、保護継電器は、これに応答して記憶部１
２から次の設定値および規格値などを読み出して試験器
２に送信する。試験器２は、この試験条件に従って次の
試験の準備を行い、記憶部１７から試験手順および試験
条件を読み出し、試験を開始する。
【００２１】以下、同様にして順次試験を進めるもので
ある。
ある。
【００２２】このように、保護継電器１に予め格納され
ている設定値および規格値を、試験器２に送信して試験
を進め、各試験の評価を行うので、従来例のように、試
験者が、マニュアルなどを参照することなく、効率的に
試験を進めることが可能となる。
ている設定値および規格値を、試験器２に送信して試験
を進め、各試験の評価を行うので、従来例のように、試
験者が、マニュアルなどを参照することなく、効率的に
試験を進めることが可能となる。
【００２３】本発明の他の実施例として、図７に示され
るように、試験手順を保護継電器１側に格納しておき、
最初に試験手順を読み込み、試験器２がこの試験手順に
従って試験を進めるようにしてもよい。
るように、試験手順を保護継電器１側に格納しておき、
最初に試験手順を読み込み、試験器２がこの試験手順に
従って試験を進めるようにしてもよい。
【００２４】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、動作時間
や動作値の規格値を保護継電器に格納し、あるいは、試
験手順を試験器または保護継電器の一方に格納してお
り、試験器では、前記規格値あるいは試験手順に従って
試験を行うようにしているので、試験者は、規格値や試
験手順をマニュアルなどで参照することなく、試験を進
めることが可能となり、効率的に試験が行えることにな
る。
や動作値の規格値を保護継電器に格納し、あるいは、試
験手順を試験器または保護継電器の一方に格納してお
り、試験器では、前記規格値あるいは試験手順に従って
試験を行うようにしているので、試験者は、規格値や試
験手順をマニュアルなどで参照することなく、試験を進
めることが可能となり、効率的に試験が行えることにな
る。
【図１】本発明の一実施例のブロック図である。
【図２】試験器と保護継電器との接続状態を示す図であ
る。
る。
【図３】試験手順の一例を示す図である。
【図４】規格値の一例を示す図である。
【図５】試験の際の保護継電器および試験器の動作を順
次的に示す図である。
次的に示す図である。
【図６】動作説明の供するフローチャートである。
【図７】本発明の他の実施例の試験の際の保護継電器お
よび試験器の動作を順次的に示す図である。
よび試験器の動作を順次的に示す図である。
１ 保護継電器 ２ 試験器 １１ 整定部 １２ 記憶部 １６ 計測部
フロントページの続き (72)発明者 藤枝 俊盛 埼玉県入間市大字中神字南狭山918−１ 株式会社ムサシ電機計器製作所内 (72)発明者 福井 治 埼玉県入間市大字中神字南狭山918−１ 株式会社ムサシ電機計器製作所内 (56)参考文献 特開 平１−264524（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−241318（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−46112（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) H02H 3/05 G01R 31/00
Claims (3)
- 【請求項１】 保護継電器と、この保護継電器に接続さ
れて試験用の電気量を供給するとともに、前記保護継電
器の出力が与えられる試験器とを備える保護継電器の試
験システムにおいて、 前記保護継電器は、動作時間や動作値の規格値が格納さ
れた第1の記憶部を有し、前記保護継電器または前記試験器の一方は、複数の試験
項目および各試験項目に対応する試験条件を含む試験手
順が格納された第２の記憶部を有し、 前記試験器は、前記試験手順に従う前記保護継電器の試
験での該保護継電器の出力により計測された動作時間や
動作値を、該保護継電器から送出される前記規格値に基
づいて評価するものであることを特徴とする保護継電器
の試験システム。 - 【請求項２】 試験用の電気量を供給する試験器が接続
される保護継電器であって、動作時間や動作値の規格値が格納された第１の記憶部
と、 複数の試験項目および各試験項目に対応する試験条件を
含む試験手順が格納された第２の記憶部を有する ことを
特徴とする保護継電器。 - 【請求項３】 保護継電器に接続されて試験用の電気量
を供給するとともに、前記保護継電器の出力に基づいて
計測された動作時間や動作値を、前記保護継電器に配置
される記憶部から送出される規格値に基づいて評価する
試験器であって、複数の試験項目および各試験項目を含む試験手順が格納
された記憶部を有することを特徴とする試験器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14744592A JP3265337B2 (ja) | 1992-06-08 | 1992-06-08 | 保護継電器および試験器ならびに試験システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14744592A JP3265337B2 (ja) | 1992-06-08 | 1992-06-08 | 保護継電器および試験器ならびに試験システム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05344640A JPH05344640A (ja) | 1993-12-24 |
| JP3265337B2 true JP3265337B2 (ja) | 2002-03-11 |
Family
ID=15430509
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14744592A Expired - Fee Related JP3265337B2 (ja) | 1992-06-08 | 1992-06-08 | 保護継電器および試験器ならびに試験システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3265337B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4794499B2 (ja) * | 2007-04-18 | 2011-10-19 | 中国電力株式会社 | 過電流試験器 |
| JP5091270B2 (ja) * | 2010-04-05 | 2012-12-05 | 中部電力株式会社 | 継電器の検査方法 |
| KR101276919B1 (ko) * | 2011-08-19 | 2013-06-19 | 엘에스산전 주식회사 | 계전기의 테스트 방법 및 그를 위한 계전기 |
| JP7000485B2 (ja) * | 2020-03-19 | 2022-02-10 | 一般財団法人中部電気保安協会 | 継電器試験装置アタッチメント |
| KR102689374B1 (ko) * | 2020-11-30 | 2024-07-29 | 포항공과대학교 산학협력단 | 디지털 보호 계전기들의 동적 성능 비교평가 방법 |
-
1992
- 1992-06-08 JP JP14744592A patent/JP3265337B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05344640A (ja) | 1993-12-24 |
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