JP3235004B2 - 保護継電器、試験器およびこれらを用いた試験システム - Google Patents
保護継電器、試験器およびこれらを用いた試験システムInfo
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、発電所から需要家に電
源供給を行う電源供給ルートを構成する送電線、配電線
において、過負荷や短絡事故が発生した際に電源の供給
を遮断するように用いられる保護継電器およびこの保護
継電器を試験する試験器ならびにこれらで構成される試
験システムに関する。
源供給を行う電源供給ルートを構成する送電線、配電線
において、過負荷や短絡事故が発生した際に電源の供給
を遮断するように用いられる保護継電器およびこの保護
継電器を試験する試験器ならびにこれらで構成される試
験システムに関する。
【０００２】
【従来の技術】各事業所の工場では、例えば、年に一度
送電線や配電線の遮断用に用いられる保護継電器の試験
を行っている。仮に工場内で機械の短絡事故等があっ
て、過大な電流が機械側に与えられると危険であるの
で、その電流量を検知して過大となった場合には保護継
電器の出力により送電線や配電線に設けられる遮断器を
作動して電流の遮断を行うものである。
送電線や配電線の遮断用に用いられる保護継電器の試験
を行っている。仮に工場内で機械の短絡事故等があっ
て、過大な電流が機械側に与えられると危険であるの
で、その電流量を検知して過大となった場合には保護継
電器の出力により送電線や配電線に設けられる遮断器を
作動して電流の遮断を行うものである。
【０００３】そして、上記保護継電器の試験は、試験器
を保護継電器に接続し、試験器側から例えば試験用電流
を与え、その試験用電流に対する保護継電器の出力動作
および時限をチェックしている。
を保護継電器に接続し、試験器側から例えば試験用電流
を与え、その試験用電流に対する保護継電器の出力動作
および時限をチェックしている。
【０００４】かかる定期試験においては、試験器で計測
された試験データを、以前の試験で計測された試験デー
タ、例えば竣工試験時の試験データと比較し、定期試験
における試験値が竣工試験時の試験値に対して、一定の
変化率の範囲にないときには、劣化有りと判定して保護
継電器を交換したり、メンテナンスを行っている。
された試験データを、以前の試験で計測された試験デー
タ、例えば竣工試験時の試験データと比較し、定期試験
における試験値が竣工試験時の試験値に対して、一定の
変化率の範囲にないときには、劣化有りと判定して保護
継電器を交換したり、メンテナンスを行っている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、以前の
試験データ、例えば、竣工試験時の試験データは、その
データ量も多く、このため、現場ではなく、事務所に保
存されているのが一般的であり、したがって、定期試験
で計測された試験データを記録して事務所に持ち帰って
以前の試験データと比較して保護継電器の劣化を判定す
るようにしている。
試験データ、例えば、竣工試験時の試験データは、その
データ量も多く、このため、現場ではなく、事務所に保
存されているのが一般的であり、したがって、定期試験
で計測された試験データを記録して事務所に持ち帰って
以前の試験データと比較して保護継電器の劣化を判定す
るようにしている。
【０００６】このように従来では、計測された多数の試
験値を一々記録して事務所に持ち帰って、それぞれ比較
して判定を行わねばならず、試験結果の判定のための作
業に時間がかかるという難点がある。
験値を一々記録して事務所に持ち帰って、それぞれ比較
して判定を行わねばならず、試験結果の判定のための作
業に時間がかかるという難点がある。
【０００７】本発明は、上述の点に鑑みて為されたもの
であって、定期試験などの試験結果の判定を現場で簡単
に行えるようにして作業の効率を高めることを目的とす
る。
であって、定期試験などの試験結果の判定を現場で簡単
に行えるようにして作業の効率を高めることを目的とす
る。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明では、上述の目的
を達成するために、次のように構成している。
を達成するために、次のように構成している。
【０００９】すなわち、本発明の試験システムは、試験
用電流を入力する入力用端子が受変電盤の前面パネルの
試験端子に接続された状態で受変電盤の前面パネルに組
み込まれて用いられかつ前面パネルに試験用コネクタが
配備されかつ試験用電流と整定値との比較により内部リ
レーを作動して前記試験用コネクタに対して作動信号を
出力する保護継電器と、試験時に前記受変電盤の前記試
験端子に電流供給ケーブルを介して接続されて試験用電
流を供給するとともに、前記保護継電器の試験用コネク
タに接点確認用ケーブルを介して接続されて用いられ、
かつ、前記試験用コネクタから接点確認用ケーブルを介
して入力される保護継電器からの前記作動信号を取り込
み、この作動信号から保護継電器の試験を行う試験器と
を有し、前記保護継電器および前記試験器は、接点確認
用ケーブルを介して互いの間で試験データの通信のため
の送受信部を備えるとともに、それらの少なくとも一方
には、前記互いの送受信部による通信により、試験器で
計測された試験データを履歴データとして保存して試験
の履歴を残す記憶部と、以前の試験に対応する前記履歴
データと試験データとを比較して保護継電器の劣化を判
定する判定部とを有することを特徴としている。
用電流を入力する入力用端子が受変電盤の前面パネルの
試験端子に接続された状態で受変電盤の前面パネルに組
み込まれて用いられかつ前面パネルに試験用コネクタが
配備されかつ試験用電流と整定値との比較により内部リ
レーを作動して前記試験用コネクタに対して作動信号を
出力する保護継電器と、試験時に前記受変電盤の前記試
験端子に電流供給ケーブルを介して接続されて試験用電
流を供給するとともに、前記保護継電器の試験用コネク
タに接点確認用ケーブルを介して接続されて用いられ、
かつ、前記試験用コネクタから接点確認用ケーブルを介
して入力される保護継電器からの前記作動信号を取り込
み、この作動信号から保護継電器の試験を行う試験器と
を有し、前記保護継電器および前記試験器は、接点確認
用ケーブルを介して互いの間で試験データの通信のため
の送受信部を備えるとともに、それらの少なくとも一方
には、前記互いの送受信部による通信により、試験器で
計測された試験データを履歴データとして保存して試験
の履歴を残す記憶部と、以前の試験に対応する前記履歴
データと試験データとを比較して保護継電器の劣化を判
定する判定部とを有することを特徴としている。
【００１０】
【作用】上記構成によれば、以前の試験データ、例え
ば、竣工試験時の試験データは、保護継電器あるいは試
験器に履歴データとして保存されており、定期試験で新
たに計測された試験データは、前記履歴データと比較さ
れて保護継電器の劣化が判定されることになる。
ば、竣工試験時の試験データは、保護継電器あるいは試
験器に履歴データとして保存されており、定期試験で新
たに計測された試験データは、前記履歴データと比較さ
れて保護継電器の劣化が判定されることになる。
【００１１】
【実施例】以下、図面によって本発明の実施例につい
て、詳細に説明する。
て、詳細に説明する。
【００１２】図１は本発明の一実施例のブロック図であ
る。
る。
【００１３】この実施例の試験システムは、保護継電器
１と、その保護継電器１の試験を行う試験器２とから構
成されている。
１と、その保護継電器１の試験を行う試験器２とから構
成されている。
【００１４】保護継電器１は、試験器２からの試験用の
電気量、この実施例では、交流電流が入力される入力部
４と、試験器２との間で情報を送受する送受信部６と、
各部を制御し、かつ、演算動作等を行うとともに、後述
の判定部としての機能を有するＣＰＵ８と、ＣＰＵ８か
らの指令動作に基づいてリレー２６の作動により出力を
行う出力部１０と、各種整定値が設定される整定部１２
と、ＣＰＵ８の動作プログラムや各種試験用データ等が
格納されるとともに、後述の履歴データが格納される記
憶部１４と、出力部１０に対応して設けられる試験用回
路部１６とから構成されている。
電気量、この実施例では、交流電流が入力される入力部
４と、試験器２との間で情報を送受する送受信部６と、
各部を制御し、かつ、演算動作等を行うとともに、後述
の判定部としての機能を有するＣＰＵ８と、ＣＰＵ８か
らの指令動作に基づいてリレー２６の作動により出力を
行う出力部１０と、各種整定値が設定される整定部１２
と、ＣＰＵ８の動作プログラムや各種試験用データ等が
格納されるとともに、後述の履歴データが格納される記
憶部１４と、出力部１０に対応して設けられる試験用回
路部１６とから構成されている。
【００１５】上記出力部１０は、ＣＰＵ８からの出力指
令信号により駆動信号を所定の遅延時間の後に出力する
出力駆動回路１８と、出力駆動回路１８からの駆動信号
により導通するトランジスタ２０と、トランジスタ２０
の導通により励磁される駆動コイル２２と、駆動コイル
２２の励磁によりＯＮする出力用接点部２４とから構成
されている。上記駆動コイル２２と出力用接点部２４と
によりリレー２６が構成される。試験用回路部１６は、
上記出力部１０の駆動コイル２２により同様に作動され
る試験用接点部２８が設けられて構成されている。
令信号により駆動信号を所定の遅延時間の後に出力する
出力駆動回路１８と、出力駆動回路１８からの駆動信号
により導通するトランジスタ２０と、トランジスタ２０
の導通により励磁される駆動コイル２２と、駆動コイル
２２の励磁によりＯＮする出力用接点部２４とから構成
されている。上記駆動コイル２２と出力用接点部２４と
によりリレー２６が構成される。試験用回路部１６は、
上記出力部１０の駆動コイル２２により同様に作動され
る試験用接点部２８が設けられて構成されている。
【００１６】図２は保護継電器１の前面の一部を示す部
分前面図であり、保護継電器１の前面下部には試験器２
との接続用の試験用コネクタ３０が設けられている。こ
の試験用コネクタ３０には、上記送受信部６に接続され
る通信用端子３２、試験用回路部１６からの試験用端子
３４が集合的に配置されている。入力部４に接続される
入力用端子３６は、図３に示すように、外部に引き出さ
れて保護継電器１が取り付けられる受変電盤３８の保護
継電器１の設けられた部分の下方に試験用端子４０とし
て配置されている。出力用接点部２４に接続される出力
用端子４２は、保護継電器１の背面に設けられる。
分前面図であり、保護継電器１の前面下部には試験器２
との接続用の試験用コネクタ３０が設けられている。こ
の試験用コネクタ３０には、上記送受信部６に接続され
る通信用端子３２、試験用回路部１６からの試験用端子
３４が集合的に配置されている。入力部４に接続される
入力用端子３６は、図３に示すように、外部に引き出さ
れて保護継電器１が取り付けられる受変電盤３８の保護
継電器１の設けられた部分の下方に試験用端子４０とし
て配置されている。出力用接点部２４に接続される出力
用端子４２は、保護継電器１の背面に設けられる。
【００１７】上記保護継電器１は、通常は入力用端子３
６に、送電線や配電線に設けられる、例えば、電流検出
器から検出電流が与えられ、その電流値が整定部１２で
設定された整定値に達した場合にＣＰＵ８から出力指令
信号が出力駆動回路１８に与えられることにより、駆動
コイル２２が駆動されて出力接点部２４がＯＮし、これ
により出力用端子４２から送電線や配電線に設けられる
遮断器に遮断指令信号を与えるようになっている。
６に、送電線や配電線に設けられる、例えば、電流検出
器から検出電流が与えられ、その電流値が整定部１２で
設定された整定値に達した場合にＣＰＵ８から出力指令
信号が出力駆動回路１８に与えられることにより、駆動
コイル２２が駆動されて出力接点部２４がＯＮし、これ
により出力用端子４２から送電線や配電線に設けられる
遮断器に遮断指令信号を与えるようになっている。
【００１８】試験器２は、各部を制御するＣＰＵ５０
と、ＣＰＵ５０の動作プログラムや各種データを記憶す
る記憶部５１と、保護継電器１に供給する試験用の交流
電流を発生する電流発生部５２と、保護継電器１との間
で情報の送受を行う送受信部５４と、保護継電器１から
の出力信号が入力される入力部５６と、試験結果内容等
を表示する表示部５８と、操作部６０とから構成されて
いる。
と、ＣＰＵ５０の動作プログラムや各種データを記憶す
る記憶部５１と、保護継電器１に供給する試験用の交流
電流を発生する電流発生部５２と、保護継電器１との間
で情報の送受を行う送受信部５４と、保護継電器１から
の出力信号が入力される入力部５６と、試験結果内容等
を表示する表示部５８と、操作部６０とから構成されて
いる。
【００１９】次に、試験時の動作を説明する。
【００２０】図３は試験器２による保護継電器１の試験
状態を示す図であり、試験時には受変電盤３８の試験用
端子４０に試験器２からの電流供給ケーブル６２を接続
し、保護継電器１の試験用コネクタ３０に試験器２から
の接点確認用ケーブル６４を接続する。
状態を示す図であり、試験時には受変電盤３８の試験用
端子４０に試験器２からの電流供給ケーブル６２を接続
し、保護継電器１の試験用コネクタ３０に試験器２から
の接点確認用ケーブル６４を接続する。
【００２１】試験時に試験器２から試験用電流を試験用
端子４０に与えると、保護継電器１は上記における通常
の動作時と同様に動作を行い、電流値が整定値を越える
リレー２６が作動し、これによって試験用接点部２８が
ＯＮすることにより試験用コネクタ３０、接点確認用ケ
ーブル６４を介して試験器２に作動信号が与えられるよ
うになっている。
端子４０に与えると、保護継電器１は上記における通常
の動作時と同様に動作を行い、電流値が整定値を越える
リレー２６が作動し、これによって試験用接点部２８が
ＯＮすることにより試験用コネクタ３０、接点確認用ケ
ーブル６４を介して試験器２に作動信号が与えられるよ
うになっている。
【００２２】この実施例では、保護継電器１の定期試験
において、保護継電器１の劣化の判定を効率的に行える
ように、次のように構成している。
において、保護継電器１の劣化の判定を効率的に行える
ように、次のように構成している。
【００２３】すなわち、この実施例では、定期試験で計
測される試験データを、以前の試験データである竣工試
験時の試験データと比較して保護継電器１の劣化を判定
するのであるが、竣工試験時の試験データは、試験の履
歴を示す履歴データとして、保護継電器１の記憶部１４
に格納されており、一方、試験器２は、定期試験で計測
される試験データを、保護継電器１に送信し、保護継電
器１では、この試験データと記憶部１４の履歴データと
を判定部で比較して劣化を判定し、その結果を試験器２
に送信するようにしている。
測される試験データを、以前の試験データである竣工試
験時の試験データと比較して保護継電器１の劣化を判定
するのであるが、竣工試験時の試験データは、試験の履
歴を示す履歴データとして、保護継電器１の記憶部１４
に格納されており、一方、試験器２は、定期試験で計測
される試験データを、保護継電器１に送信し、保護継電
器１では、この試験データと記憶部１４の履歴データと
を判定部で比較して劣化を判定し、その結果を試験器２
に送信するようにしている。
【００２４】この実施例では、例えば、図４に示される
ようにして定期試験が行われる。先ず、試験器２は、保
護継電器１に対して試験電流を流して、例えば、限時動
作電流試験を開始し、保護継電器１が動作して試験が完
了すると、試験器２は、試験データ、すなわち、計測値
を保護継電器１に送信し、保護継電器１は、竣工試験時
の試験データである履歴データの内の限時動作電流試験
の履歴データを検索し、試験器から送信されてきた計測
値と履歴データとを比較し、計測値の変化率が、例え
ば、±１０％以内であるか否かを判定し、±１０％以内
でないときには、劣化有りと判定してその判定結果を試
験器２に送信し、また、±１０％以内であるときには、
劣化無しと判定してその判定結果を試験器２に送信して
次の試験項目に移る。
ようにして定期試験が行われる。先ず、試験器２は、保
護継電器１に対して試験電流を流して、例えば、限時動
作電流試験を開始し、保護継電器１が動作して試験が完
了すると、試験器２は、試験データ、すなわち、計測値
を保護継電器１に送信し、保護継電器１は、竣工試験時
の試験データである履歴データの内の限時動作電流試験
の履歴データを検索し、試験器から送信されてきた計測
値と履歴データとを比較し、計測値の変化率が、例え
ば、±１０％以内であるか否かを判定し、±１０％以内
でないときには、劣化有りと判定してその判定結果を試
験器２に送信し、また、±１０％以内であるときには、
劣化無しと判定してその判定結果を試験器２に送信して
次の試験項目に移る。
【００２５】このように、保護継電器１には、以前の試
験データである竣工試験時の試験データが、履歴データ
として保存されており、定期試験で計測される試験デー
タは、試験器２から保護継電器１に送信されて保護継電
器１で前記履歴データと比較されて劣化が判定されるの
で、従来例のように、試験データを一々記録して事務所
に持ち帰り、竣工試験時の試験データと一々比較して判
定する必要がなくなり、定期試験の判定作業が効率的に
行えることになり、また、従来例に比べて、データの整
理や管理が容易となる。
験データである竣工試験時の試験データが、履歴データ
として保存されており、定期試験で計測される試験デー
タは、試験器２から保護継電器１に送信されて保護継電
器１で前記履歴データと比較されて劣化が判定されるの
で、従来例のように、試験データを一々記録して事務所
に持ち帰り、竣工試験時の試験データと一々比較して判
定する必要がなくなり、定期試験の判定作業が効率的に
行えることになり、また、従来例に比べて、データの整
理や管理が容易となる。
【００２６】なお、図４においては、計測値と履歴デー
タとの比較判定のみについて説明したけれども、計測値
は、従来と同様に規格値とも比較されて良否が判定され
る。
タとの比較判定のみについて説明したけれども、計測値
は、従来と同様に規格値とも比較されて良否が判定され
る。
【００２７】また、従来例においては、本発明のように
保護継電器１に試験用回路部１６、接点確認用ケーブル
６４を接続する試験用コネクタ３０がともに設けられて
おらず、試験時には接点確認用ケーブル６４を受変電盤
３８内に入り保護継電器１を開いてその出力用接点部４
２近傍に接続していたが、この実施例によれば接点確認
用ケーブル６４を保護継電器１前面から試験用コネクタ
３０に接続するだけて簡単に試験が行えるようになって
いる。
保護継電器１に試験用回路部１６、接点確認用ケーブル
６４を接続する試験用コネクタ３０がともに設けられて
おらず、試験時には接点確認用ケーブル６４を受変電盤
３８内に入り保護継電器１を開いてその出力用接点部４
２近傍に接続していたが、この実施例によれば接点確認
用ケーブル６４を保護継電器１前面から試験用コネクタ
３０に接続するだけて簡単に試験が行えるようになって
いる。
【００２８】図５は、本発明の他の実施例の図４に対応
するフローチャートである。上述の実施例では、竣工試
験時の試験データである履歴データを、各保護継電器１
に保存するととも、保護継電器１で劣化を判定したけれ
ども、この実施例では、各保護継電器１の履歴データを
試験器２に保存し、試験器２で劣化を判定するものであ
る。
するフローチャートである。上述の実施例では、竣工試
験時の試験データである履歴データを、各保護継電器１
に保存するととも、保護継電器１で劣化を判定したけれ
ども、この実施例では、各保護継電器１の履歴データを
試験器２に保存し、試験器２で劣化を判定するものであ
る。
【００２９】すなわち、試験器２には、試験を行う複数
の保護継電器１についての竣工試験時の試験データが、
履歴データとして、各保護継電器１の固有のシリアル番
号に対応づけて保存されている。
の保護継電器１についての竣工試験時の試験データが、
履歴データとして、各保護継電器１の固有のシリアル番
号に対応づけて保存されている。
【００３０】そして、先ず、試験器２は、保護継電器１
に対して試験電流を流して、例えば限時動作電流試験を
開始し、保護継電器１が動作して試験が完了すると、保
護継電器１の固有のシリアル番号を要求し、保護継電器
１は、これに応答して前記番号を送信し、試験器２は、
その番号に対応する竣工試験時の試験データである履歴
データの内から対応する履歴データを検索し、計測値と
履歴データとを比較し、計測値の変化率が、例えば、±
１０％以内であるか否かを判定し、±１０％以内でない
ときには、劣化有りと判定し、また、±１０％以内であ
るときには、劣化無しと判定して次の試験項目に移るも
のである。その他の構成は、上述の実施例と同様であ
る。
に対して試験電流を流して、例えば限時動作電流試験を
開始し、保護継電器１が動作して試験が完了すると、保
護継電器１の固有のシリアル番号を要求し、保護継電器
１は、これに応答して前記番号を送信し、試験器２は、
その番号に対応する竣工試験時の試験データである履歴
データの内から対応する履歴データを検索し、計測値と
履歴データとを比較し、計測値の変化率が、例えば、±
１０％以内であるか否かを判定し、±１０％以内でない
ときには、劣化有りと判定し、また、±１０％以内であ
るときには、劣化無しと判定して次の試験項目に移るも
のである。その他の構成は、上述の実施例と同様であ
る。
【００３１】図６は、さらに本発明の他の実施例の図４
に対応するフローチャートである。
に対応するフローチャートである。
【００３２】この実施例では、竣工試験時の試験データ
である履歴データを、図４の実施例と同様に各保護継電
器１に保存する一方、保護継電器１の劣化の判定を、図
５の実施例と同様に、試験器２で行うものである。
である履歴データを、図４の実施例と同様に各保護継電
器１に保存する一方、保護継電器１の劣化の判定を、図
５の実施例と同様に、試験器２で行うものである。
【００３３】先ず、試験器２は、保護継電器１に対して
試験電流を流して、例えば限時動作電流試験を開始し、
保護継電器１が動作して試験が完了すると、試験器２
は、保護継電器１に対して、該保護継電器１に保存され
ている竣工試験時の試験データである履歴データの内の
限時動作電流試験の履歴データを要求し、保護継電器１
は、対応する履歴データを試験器２に送信し、試験器２
は、計測値と保護継電器１から送信された履歴データと
を比較し、計測値の変化率が、例えば、±１０％以内で
あるか否かを判定し、±１０％以内でないときには、劣
化有りと判定し、また、±１０％以内であるときには、
劣化無しと判定して次の試験項目に移るものである。そ
の他の構成は、上述の実施例と同様である。
試験電流を流して、例えば限時動作電流試験を開始し、
保護継電器１が動作して試験が完了すると、試験器２
は、保護継電器１に対して、該保護継電器１に保存され
ている竣工試験時の試験データである履歴データの内の
限時動作電流試験の履歴データを要求し、保護継電器１
は、対応する履歴データを試験器２に送信し、試験器２
は、計測値と保護継電器１から送信された履歴データと
を比較し、計測値の変化率が、例えば、±１０％以内で
あるか否かを判定し、±１０％以内でないときには、劣
化有りと判定し、また、±１０％以内であるときには、
劣化無しと判定して次の試験項目に移るものである。そ
の他の構成は、上述の実施例と同様である。
【００３４】以上の各実施例においては、竣工試験時の
試験データを履歴データとして保存し、この履歴データ
と比較するように構成したけれども、本発明の他の実施
例として、定期試験毎に得られる試験データを、新たな
履歴データとして更新して保存し、この更新された履歴
データと新たな試験データとを比較するようにしてもよ
い。
試験データを履歴データとして保存し、この履歴データ
と比較するように構成したけれども、本発明の他の実施
例として、定期試験毎に得られる試験データを、新たな
履歴データとして更新して保存し、この更新された履歴
データと新たな試験データとを比較するようにしてもよ
い。
【００３５】図７は、かかる実施例の図４に対応するフ
ローチャートであり、この実施例では、保護継電器１
に、定期試験毎の試験データを、新たな履歴データとし
て更新記憶し、保護継電器１において、この履歴データ
と試験データとを比較して劣化の判定を行うものであ
る。
ローチャートであり、この実施例では、保護継電器１
に、定期試験毎の試験データを、新たな履歴データとし
て更新記憶し、保護継電器１において、この履歴データ
と試験データとを比較して劣化の判定を行うものであ
る。
【００３６】すなわち、先ず、試験器２は、保護継電器
１に対して試験電流を流して限時動作電流試験などの試
験を開始し、保護継電器１が動作して試験が完了する
と、試験器２は、試験データ、すなわち、計測値を保護
継電器１に送信し、保護継電器１は、定期試験毎に順次
更新記憶されている履歴データと試験器２から送信され
てきた計測値とを比較し、計測値の変化率が規定内、例
えば、±１０％以内であるか否かを判定し、±１０％以
内でないときには、劣化有りと判定してその判定結果を
試験器２に送信し、また、±１０％以内であるときに
は、劣化無しと判定し、その計測値を新たな履歴データ
として更新記憶し、判定結果を試験器２に送信して次の
試験項目に移る。
１に対して試験電流を流して限時動作電流試験などの試
験を開始し、保護継電器１が動作して試験が完了する
と、試験器２は、試験データ、すなわち、計測値を保護
継電器１に送信し、保護継電器１は、定期試験毎に順次
更新記憶されている履歴データと試験器２から送信され
てきた計測値とを比較し、計測値の変化率が規定内、例
えば、±１０％以内であるか否かを判定し、±１０％以
内でないときには、劣化有りと判定してその判定結果を
試験器２に送信し、また、±１０％以内であるときに
は、劣化無しと判定し、その計測値を新たな履歴データ
として更新記憶し、判定結果を試験器２に送信して次の
試験項目に移る。
【００３７】図８は、本発明のさらに他の実施例の図４
に対応するフローチャートである。この実施例では、試
験器２に、定期試験毎の試験データを、新たな履歴デー
タとして更新記憶し、試験器２において、この履歴デー
タと試験データとを比較して劣化の判定を行うものであ
る。
に対応するフローチャートである。この実施例では、試
験器２に、定期試験毎の試験データを、新たな履歴デー
タとして更新記憶し、試験器２において、この履歴デー
タと試験データとを比較して劣化の判定を行うものであ
る。
【００３８】すなわち、先ず、試験器２は、保護継電器
１に対して試験電流を流して限時動作電流試験などの試
験を開始し、保護継電器１が動作して試験が完了する
と、保護継電器の固有のシリアル番号を要求し、保護継
電器１は、これに応答して前記番号を送信し、試験器２
は、その番号に対応する試験データである履歴データの
内から対応する履歴データを検索し、計測値と検索され
た履歴データとを比較し、計測値の変化率が規定内、例
えば、±１０％以内であるか否かを判定し、±１０％以
内でないときには、劣化有りと判定し、また、±１０％
以内であるときには、劣化無しと判定してその計測値を
新たな履歴データとして更新記憶して判定を完了し、次
の試験項目に移るものである。
１に対して試験電流を流して限時動作電流試験などの試
験を開始し、保護継電器１が動作して試験が完了する
と、保護継電器の固有のシリアル番号を要求し、保護継
電器１は、これに応答して前記番号を送信し、試験器２
は、その番号に対応する試験データである履歴データの
内から対応する履歴データを検索し、計測値と検索され
た履歴データとを比較し、計測値の変化率が規定内、例
えば、±１０％以内であるか否かを判定し、±１０％以
内でないときには、劣化有りと判定し、また、±１０％
以内であるときには、劣化無しと判定してその計測値を
新たな履歴データとして更新記憶して判定を完了し、次
の試験項目に移るものである。
【００３９】図９は、本発明のさらに他の実施例の図４
に対応するフローチャートである。この実施例では、定
期試験毎に順次更新される履歴データを、図７の実施例
と同様に各保護継電器１に保存する一方、保護継電器１
の劣化の判定を、図８の実施例と同様に、試験器２で行
うものである。
に対応するフローチャートである。この実施例では、定
期試験毎に順次更新される履歴データを、図７の実施例
と同様に各保護継電器１に保存する一方、保護継電器１
の劣化の判定を、図８の実施例と同様に、試験器２で行
うものである。
【００４０】すなわち、先ず、試験器２は、保護継電器
１に対して試験電流を流して限時動作電流試験などの試
験を開始し、保護継電器１が動作して試験が完了する
と、試験器２は、保護継電器１に対して、該保護継電器
１に順次更新記憶されている履歴データの内の対応する
履歴データを要求し、保護継電器１は、対応する履歴デ
ータを試験器２に送信し、試験器２は、計測値と保護継
電器１から送信された履歴データとを比較し、計測値の
変化率が規定内、例えば、±１０％以内であるか否かを
判定し、±１０％以内でないときには、劣化有りと判定
し、また、±１０％以内であるときには、劣化無しと判
定してその計測値を、保護継電器１に送信し、保護継電
器１は、その計測値を、新たな履歴データとして更新記
憶し、次の試験項目に移るものである。
１に対して試験電流を流して限時動作電流試験などの試
験を開始し、保護継電器１が動作して試験が完了する
と、試験器２は、保護継電器１に対して、該保護継電器
１に順次更新記憶されている履歴データの内の対応する
履歴データを要求し、保護継電器１は、対応する履歴デ
ータを試験器２に送信し、試験器２は、計測値と保護継
電器１から送信された履歴データとを比較し、計測値の
変化率が規定内、例えば、±１０％以内であるか否かを
判定し、±１０％以内でないときには、劣化有りと判定
し、また、±１０％以内であるときには、劣化無しと判
定してその計測値を、保護継電器１に送信し、保護継電
器１は、その計測値を、新たな履歴データとして更新記
憶し、次の試験項目に移るものである。
【００４１】なお、図７〜図９の各実施例のその他の構
成は、図１の実施例と同様である。
成は、図１の実施例と同様である。
【００４２】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、以前の試
験データを履歴データとして保護継電器あるいは試験器
の記憶部に保存し、新たな試験データが計測されたとき
には、そのデータと前記記憶部の履歴データとを、保護
継電器あるいは試験器の判定部において、比較して保護
継電器の劣化を判定するようにしているので、従来例の
ように、試験データを記録して事務所に持ち帰って以前
の試験データと一々比較して判定する必要がなくなり、
判定作業が効率的に行えるとともに、データの管理や整
理が容易となる。
験データを履歴データとして保護継電器あるいは試験器
の記憶部に保存し、新たな試験データが計測されたとき
には、そのデータと前記記憶部の履歴データとを、保護
継電器あるいは試験器の判定部において、比較して保護
継電器の劣化を判定するようにしているので、従来例の
ように、試験データを記録して事務所に持ち帰って以前
の試験データと一々比較して判定する必要がなくなり、
判定作業が効率的に行えるとともに、データの管理や整
理が容易となる。
【図１】本発明の一実施例のブロック図である。
【図２】図１の保護継電器の部分前面図である。
【図３】図１の実施例の試験時の状態説明図である。
【図４】図１の実施例の動作説明のためのフローチャー
トである。
トである。
【図５】本発明の他の実施例のフローチャートである。
【図６】本発明の他の実施例のフローチャートである。
【図７】本発明の他の実施例のフローチャートである。
【図８】本発明の他の実施例のフローチャートである。
【図９】本発明の他の実施例のフローチャート。
１ 保護継電器 ２ 試験器 １４ 記憶部 １６ 試験用回路部 ２６ リレー
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 藤枝 俊盛 埼玉県入間市大字中神字南狭山918−１ 株式会社ムサシ電機計器製作所内 (72)発明者 福井 治 埼玉県入間市大字中神字南狭山918−１ 株式会社ムサシ電機計器製作所内 (56)参考文献 特開 平４−185222（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) H02H 3/05 G01R 31/00 H02H 3/02
Claims (3)
- 【請求項１】 試験用電流を入力する入力用端子が受変
電盤の前面パネルの試験端子に接続された状態で受変電
盤の前面パネルに組み込まれて用いられかつ前面パネル
に試験用コネクタが配備されかつ試験用電流と整定値と
の比較により内部リレーを作動して前記試験用コネクタ
に対して作動信号を出力する保護継電器と、 試験時に前記受変電盤の前記試験端子に電流供給ケーブ
ルを介して接続されて試験用電流を供給するとともに、
前記保護継電器の試験用コネクタに接点確認用ケーブル
を介して接続されて用いられ、かつ、前記試験用コネク
タから接点確認用ケーブルを介して入力される保護継電
器からの前記作動信号を取り込み、この作動信号から保
護継電器の試験を行う試験器とを有し、 前記保護継電器および前記試験器は、前記接点確認用ケ
ーブルを介して互いの間で試験データの通信のための送
受信部を備えるとともに、それらの少なくとも一方に
は、互いの送受信部による通信により、試験器で計測さ
れた試験データを履歴データとして保存して試験の履歴
を残す記憶部と、以前の試験に対応する前記履歴データ
と試験データとを比較して保護継電器の劣化を判定する
判定部とを有する、 ことを特徴とする試験システム。 - 【請求項２】 受変電盤の前面パネルに組み込まれた状
態でその前面パネルの試験端子に接続される試験用電流
入力用端子と、試験用コネクタが配備された前面パネル
とを有し、かつ、試験器との間で試験に関する情報の通
信を行う送受信部と、試験用電流と整定値との比較によ
り内部リレーを作動し、かつ前記試験用コネクタに対し
てその作動信号と前記情報とを出力制御するＣＰＵと、
試験器から与えられる試験データを履歴データとして保
存して試験の履歴を残す記憶部と、を有することを特徴
とする保護継電器。 - 【請求項３】 受変電盤の前面パネルに組み込まれ、か
つ、試験用コネクタが配備された前面パネルとを有し、
試験用電流と整定値との比較により内部リレーを作動し
て前記試験用コネクタに対して作動信号を出力するよう
に構成された保護継電器に対して試験を行うための試験
器であって、 試験時に受変電盤の試験端子に電流供給ケーブルを介し
て接続されて試験用電流を供給する出力用端子と、前記
保護継電器の試験用コネクタに接点確認用ケーブルを介
して接続される入力用端子とを有し、かつ、前記保護継
電器との間で前記試験に関する情報の通信を行う送受信
部と、前記接点確認用ケーブルを介して前記保護継電器
からの作動信号を取り込み、この取り込んだ作動信号に
基づいて当該保護継電器の試験を行うと共に、接点確認
用ケーブルを介して前記情報の通信制御を行うＣＰＵ
と、前記保護継電器から与えられる試験データを履歴デ
ータとして保存して試験の履歴を残す記憶部とを有す
る 、ことを特徴とする試験器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22718193A JP3235004B2 (ja) | 1993-09-13 | 1993-09-13 | 保護継電器、試験器およびこれらを用いた試験システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22718193A JP3235004B2 (ja) | 1993-09-13 | 1993-09-13 | 保護継電器、試験器およびこれらを用いた試験システム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0787661A JPH0787661A (ja) | 1995-03-31 |
| JP3235004B2 true JP3235004B2 (ja) | 2001-12-04 |
Family
ID=16856763
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22718193A Expired - Fee Related JP3235004B2 (ja) | 1993-09-13 | 1993-09-13 | 保護継電器、試験器およびこれらを用いた試験システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3235004B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5295538B2 (ja) * | 2007-09-26 | 2013-09-18 | テンパール工業株式会社 | トラッキング電流検出装置 |
| JP2009079956A (ja) * | 2007-09-26 | 2009-04-16 | Tempearl Ind Co Ltd | トラッキング電流検出装置 |
| JP2015225035A (ja) * | 2014-05-29 | 2015-12-14 | 三菱電機エンジニアリング株式会社 | 可搬型メンテナンスツール |
| KR102469366B1 (ko) * | 2020-08-04 | 2022-11-23 | 한국전력공사 | 보호 계전기 시험 시스템 및 방법 |
-
1993
- 1993-09-13 JP JP22718193A patent/JP3235004B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0787661A (ja) | 1995-03-31 |
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