JP3240571B2 - 異物検査装置 - Google Patents
異物検査装置Info
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、異物検査装置に関する
もので、より具体的には、搬送物体に対する画像処理系
の各種パラメータを自動設定するための装置、つまりパ
ラメータ決定装置及び搬送物体の2値化用のしきい値設
定装置を備えた異物検査装置に関する。
もので、より具体的には、搬送物体に対する画像処理系
の各種パラメータを自動設定するための装置、つまりパ
ラメータ決定装置及び搬送物体の2値化用のしきい値設
定装置を備えた異物検査装置に関する。
【0002】
【発明の背景】搬送装置上を移動する物体を撮像し、そ
の撮像データに対して所定の画像処理を行うことによ
り、その物体表面の状態、すなわち、異物が載置されて
いないか、表面の一部に欠損等がないか等の検査を行
い、不良品が検出された場合にはその物体を排除し良品
の物体のみを搬出し、次段の各種装置に送ることが行わ
れている。
の撮像データに対して所定の画像処理を行うことによ
り、その物体表面の状態、すなわち、異物が載置されて
いないか、表面の一部に欠損等がないか等の検査を行
い、不良品が検出された場合にはその物体を排除し良品
の物体のみを搬出し、次段の各種装置に送ることが行わ
れている。
【0003】ところで、上記異物の有無の検査等を行う
ためには、通常物体に対して光を照射し、その照射した
光が物体において反射或いは透過した光の濃度等に基づ
き、それと異なる濃度の光が撮像装置に入射された場合
に異物等が存在すると判別するようになっている。そし
て、係る判別処理を簡単に行うためには、パラメータと
して予め明るさに対する所定のしきい値を設定し、その
しきい値より大きいか小さいかにより異物の有無の判断
を行う。
ためには、通常物体に対して光を照射し、その照射した
光が物体において反射或いは透過した光の濃度等に基づ
き、それと異なる濃度の光が撮像装置に入射された場合
に異物等が存在すると判別するようになっている。そし
て、係る判別処理を簡単に行うためには、パラメータと
して予め明るさに対する所定のしきい値を設定し、その
しきい値より大きいか小さいかにより異物の有無の判断
を行う。
【0004】しかし、係るしきい値の設定を行うに際
し、CCDカメラ等の撮像装置の受光信号をシンクロス
コープ等を利用して見ながらしきい値の調整を行うた
め、専門の担当者の設置が必要となり、また、目視によ
る調整のため一旦物品を撮像装置でとらえた位置で静止
させる必要があり、その処理が煩雑かつ時間を要すると
いう問題を有し、自動的にしきい値を設定できる装置の
開発が望まれていた。
し、CCDカメラ等の撮像装置の受光信号をシンクロス
コープ等を利用して見ながらしきい値の調整を行うた
め、専門の担当者の設置が必要となり、また、目視によ
る調整のため一旦物品を撮像装置でとらえた位置で静止
させる必要があり、その処理が煩雑かつ時間を要すると
いう問題を有し、自動的にしきい値を設定できる装置の
開発が望まれていた。
【0005】また、撮像装置で異物を検出した場合に
は、係る異物を有する物体の排除を行う必要があるが、
物体は逐次移動しているため正確に排除対象となる物体
を特定し排除するためには、各装置間で同期を取る必要
がある。また、常時撮像装置で搬送面上を撮像し(物体
の有無に関係なく)て画像処理を行うことは、不経済で
あるばかりでなく誤作動の原因ともなる。よって、通常
は物体が撮像装置の撮像エリア内にきた時に撮像し、取
り込んだデータに対して画像処理を行うことになるが、
係る場合には、何時撮像処理を行うかのタイミングを図
るため、物体を検出するためのセンサを前置きし、その
センサからの検出信号に基づいて一定時間経過後撮像装
置で画像の取り込みを行うことになる。したがって、こ
のセンサと撮像装置との間での同期もとる必要が生じ
る。
は、係る異物を有する物体の排除を行う必要があるが、
物体は逐次移動しているため正確に排除対象となる物体
を特定し排除するためには、各装置間で同期を取る必要
がある。また、常時撮像装置で搬送面上を撮像し(物体
の有無に関係なく)て画像処理を行うことは、不経済で
あるばかりでなく誤作動の原因ともなる。よって、通常
は物体が撮像装置の撮像エリア内にきた時に撮像し、取
り込んだデータに対して画像処理を行うことになるが、
係る場合には、何時撮像処理を行うかのタイミングを図
るため、物体を検出するためのセンサを前置きし、その
センサからの検出信号に基づいて一定時間経過後撮像装
置で画像の取り込みを行うことになる。したがって、こ
のセンサと撮像装置との間での同期もとる必要が生じ
る。
【0006】そして、上記した同期をとる作業は、予め
デモ用の物体を搬送装置上を流し、その状態でシンクロ
スコープで検出タイミングや時間等を計測しつつ定規等
により各装置間の距離を測定し、その様にして求められ
たデータから各装置の作動タイミングを算出し、各装置
の同期を図るようにしている。
デモ用の物体を搬送装置上を流し、その状態でシンクロ
スコープで検出タイミングや時間等を計測しつつ定規等
により各装置間の距離を測定し、その様にして求められ
たデータから各装置の作動タイミングを算出し、各装置
の同期を図るようにしている。
【0007】しかし、この同期を取るための作業は、複
数の装置から送られてくる信号を見る必要があり、非常
に煩雑で時間を要するばかりでなく、正確に同期設定を
行うことが困難であった。そこで、上記したしきい値の
自動設定と共に、同期をとるための各種パラメータを自
動的に設定することのできる装置の開発が望まれてい
た。
数の装置から送られてくる信号を見る必要があり、非常
に煩雑で時間を要するばかりでなく、正確に同期設定を
行うことが困難であった。そこで、上記したしきい値の
自動設定と共に、同期をとるための各種パラメータを自
動的に設定することのできる装置の開発が望まれてい
た。
【0008】本発明は、上記した背景に鑑みてなされた
もので、その目的とするところは、所定の物体を搬送装
置上を移動させるだけで搬送装置周辺に設置された各種
装置間の同期をとるためのパラメータを自動的に設定で
きるパラメータ決定装置及び、搬送物体上の異物を検出
するためのしきい値を自動的に設定することのできる搬
送物体の2値化用のしきい値設定装置を備えた異物検査
装置を提供することにある。
もので、その目的とするところは、所定の物体を搬送装
置上を移動させるだけで搬送装置周辺に設置された各種
装置間の同期をとるためのパラメータを自動的に設定で
きるパラメータ決定装置及び、搬送物体上の異物を検出
するためのしきい値を自動的に設定することのできる搬
送物体の2値化用のしきい値設定装置を備えた異物検査
装置を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記した目的を達成する
ために、本発明に係る異物検査装置は、少なくとも搬送
装置と、その搬送装置上の所定位置に配置され、少なく
とも前記搬送装置上を移送される搬送物体上の異物を検
出可能な撮像装置と、その撮像装置の上流側或いは下流
側の所定位置に配置された同期センサとを備えている。
そして、前記搬送装置上を移送中の長さの既知のダミー
ワークを前記撮像装置で撮像した画像データに対し所定
の画像処理を行う手段と、その画像処理の出力を受けて
前記ダミーワークの前端が前記撮像装置の撮像エリア中
の所定位置を通過した第1時刻、並びに前記ダミーワー
クの後端が前記撮像エリア中の所定位置を通過した第2
時刻を検出する第1時刻検出手段と、前記同期センサが
前記ダミーワークを検知した時刻を検出する第2時刻検
出手段と、前記第1時刻検出手段で検出した前記第1,
第2時刻と前記ダミーワークの長さからそのダミーワー
クの移送速度を求める手段と、前記第1,第2時刻検出
手段で検出した時刻のうち所望の複数の時刻と、前記算
出した移動速度とから、前記撮像装置と前記同期センサ
間等の各装置間の距離を算出する手段とを備えたパラメ
ータ決定装置を有し、前記パラメータ決定装置で求めた
パラメータに基づいて同期をとって撮像した画像データ
に基づいて異物の有無を判断するようにした。
ために、本発明に係る異物検査装置は、少なくとも搬送
装置と、その搬送装置上の所定位置に配置され、少なく
とも前記搬送装置上を移送される搬送物体上の異物を検
出可能な撮像装置と、その撮像装置の上流側或いは下流
側の所定位置に配置された同期センサとを備えている。
そして、前記搬送装置上を移送中の長さの既知のダミー
ワークを前記撮像装置で撮像した画像データに対し所定
の画像処理を行う手段と、その画像処理の出力を受けて
前記ダミーワークの前端が前記撮像装置の撮像エリア中
の所定位置を通過した第1時刻、並びに前記ダミーワー
クの後端が前記撮像エリア中の所定位置を通過した第2
時刻を検出する第1時刻検出手段と、前記同期センサが
前記ダミーワークを検知した時刻を検出する第2時刻検
出手段と、前記第1時刻検出手段で検出した前記第1,
第2時刻と前記ダミーワークの長さからそのダミーワー
クの移送速度を求める手段と、前記第1,第2時刻検出
手段で検出した時刻のうち所望の複数の時刻と、前記算
出した移動速度とから、前記撮像装置と前記同期センサ
間等の各装置間の距離を算出する手段とを備えたパラメ
ータ決定装置を有し、前記パラメータ決定装置で求めた
パラメータに基づいて同期をとって撮像した画像データ
に基づいて異物の有無を判断するようにした。
【0010】また、上記と同様の前提並びにパラメータ
決定装置を備え、さらに前記撮像装置で撮像した画像デ
ータを2値化する2値化回路と、前記撮像装置で撮像し
た画像データのうち前記搬送物体に相当する部位のアナ
ログレベルを検出し、少なくともそのアナログレベルに
基づいて所定の演算を行い、前記アナログレベルに対し
て充分マージンをとったしきい値を求め、そのしきい値
を前記2値化回路のしきい値を設定する2値化用しきい
値設定装置とを備え、前記パラメータ決定装置で求めた
パラメータに基づいて同期をとって撮像した画像データ
を前記2値化回路で2値化して得られたデータに基づい
て異物の有無を判断するように構成できる。
決定装置を備え、さらに前記撮像装置で撮像した画像デ
ータを2値化する2値化回路と、前記撮像装置で撮像し
た画像データのうち前記搬送物体に相当する部位のアナ
ログレベルを検出し、少なくともそのアナログレベルに
基づいて所定の演算を行い、前記アナログレベルに対し
て充分マージンをとったしきい値を求め、そのしきい値
を前記2値化回路のしきい値を設定する2値化用しきい
値設定装置とを備え、前記パラメータ決定装置で求めた
パラメータに基づいて同期をとって撮像した画像データ
を前記2値化回路で2値化して得られたデータに基づい
て異物の有無を判断するように構成できる。
【0011】
【作用】まず、第1の特徴のパラメータ決定装置では、
ダミーワークを搬送装置に供給し、その上を移送させ
る。そして、その移動にともないダミーワークが所定位
置にくると同期センサがそのダミーワークを検知するた
め、その検知した時刻を検出する。また、撮像装置の撮
像エリア内の基準位置(撮像エリアの入り口側,出口側
など)にダミーワークの前端が通過した第1時刻と後端
が通過した第2時刻も検出する。すると、ダミーワーク
の長さがわかっているため、第1時刻と第2時刻との差
がダミーワークの長さ分だけ移動するのに要する時間で
あるので、その時刻の差を長さで割ることにより速度が
求まる。
ダミーワークを搬送装置に供給し、その上を移送させ
る。そして、その移動にともないダミーワークが所定位
置にくると同期センサがそのダミーワークを検知するた
め、その検知した時刻を検出する。また、撮像装置の撮
像エリア内の基準位置(撮像エリアの入り口側,出口側
など)にダミーワークの前端が通過した第1時刻と後端
が通過した第2時刻も検出する。すると、ダミーワーク
の長さがわかっているため、第1時刻と第2時刻との差
がダミーワークの長さ分だけ移動するのに要する時間で
あるので、その時刻の差を長さで割ることにより速度が
求まる。
【0012】また、このように速度が算出されたなら、
上記各検出した複数の時刻と速度から装置間の距離が検
出できる。すなわち、ある同期センサで検知した時刻と
第1時刻との差を求め、その値に上記速度をかけること
により、その同期センサと撮像エリアの入り口(或いは
出口)側端までの距離を算出することができる。これに
より所望の装置間の距離が簡単に求められる。
上記各検出した複数の時刻と速度から装置間の距離が検
出できる。すなわち、ある同期センサで検知した時刻と
第1時刻との差を求め、その値に上記速度をかけること
により、その同期センサと撮像エリアの入り口(或いは
出口)側端までの距離を算出することができる。これに
より所望の装置間の距離が簡単に求められる。
【0013】また、第2の特徴であるしきい値設定で
は、見本となる搬送物品を撮像装置で撮像して得られる
アナログレベルのうち、その搬送物品に相当する部分を
検出する。そして、そのアナログレベルよりも充分に大
きな(或いは小さな値)をしきい値として2値化回路に
設定する。これにより、実際の使用に際しては見本と同
一の搬送物品を撮像した時にはしきい値以下(或いは以
上)となるため引っ掛からないが、例えば搬送物品の上
面に異物などがあり撮像装置で撮像した時の濃度が異な
り、しきい値以上(或いは以下)となり、見本と異なる
ものであることが容易に検出される。
は、見本となる搬送物品を撮像装置で撮像して得られる
アナログレベルのうち、その搬送物品に相当する部分を
検出する。そして、そのアナログレベルよりも充分に大
きな(或いは小さな値)をしきい値として2値化回路に
設定する。これにより、実際の使用に際しては見本と同
一の搬送物品を撮像した時にはしきい値以下(或いは以
上)となるため引っ掛からないが、例えば搬送物品の上
面に異物などがあり撮像装置で撮像した時の濃度が異な
り、しきい値以上(或いは以下)となり、見本と異なる
ものであることが容易に検出される。
【0014】
【実施例】以下、本発明に係る異物検査装置の好適な実
施例を添付図面を参照にして詳述する。図1は本発明に
係る異物検査装置における第1の特徴であるパラメータ
決定装置が適用される異物検査装置の一例を示してい
る。本例では、検査対象の物体が半透明フィルムで、そ
の半透明フィルムの上に完全不透明体の異物が載置され
ているか否かを検査するものである。したがって、搬送
装置1は、透明なベルトコンベアで構成し、その搬送装
置1のベルト面の下方所定位置に赤外線光源2を配置
し、斜め上方に向けて赤外線を出射するようになってい
る。そして、その赤外線光源2から出射された赤外線を
受光するCCDカメラからなる撮像装置3を搬送装置1
の上方所定位置に配置している。これにより、撮像装置
3の撮像エリア内に物体(半透明フィルム)が存在しな
い場合には赤外線光源2から出射された赤外線は、透明
なベルトを透過してそのほぼ全部が撮像装置3に入射す
るため、明るさは最大となり、半透明フィルムが位置す
ると明るさは中間となり、さらに半透明フィルム上に異
物があるとその部分は光が透過しないため明るさは零と
なる。なお、通常は異物に対して感度調整がされている
ため、透明のベルト並びに正常な物体(半透明フィル
ム)は撮像装置3で検出されないようになっている。
施例を添付図面を参照にして詳述する。図1は本発明に
係る異物検査装置における第1の特徴であるパラメータ
決定装置が適用される異物検査装置の一例を示してい
る。本例では、検査対象の物体が半透明フィルムで、そ
の半透明フィルムの上に完全不透明体の異物が載置され
ているか否かを検査するものである。したがって、搬送
装置1は、透明なベルトコンベアで構成し、その搬送装
置1のベルト面の下方所定位置に赤外線光源2を配置
し、斜め上方に向けて赤外線を出射するようになってい
る。そして、その赤外線光源2から出射された赤外線を
受光するCCDカメラからなる撮像装置3を搬送装置1
の上方所定位置に配置している。これにより、撮像装置
3の撮像エリア内に物体(半透明フィルム)が存在しな
い場合には赤外線光源2から出射された赤外線は、透明
なベルトを透過してそのほぼ全部が撮像装置3に入射す
るため、明るさは最大となり、半透明フィルムが位置す
ると明るさは中間となり、さらに半透明フィルム上に異
物があるとその部分は光が透過しないため明るさは零と
なる。なお、通常は異物に対して感度調整がされている
ため、透明のベルト並びに正常な物体(半透明フィル
ム)は撮像装置3で検出されないようになっている。
【0015】また、上記撮像装置3の上流側には第1の
同期センサ5が配置されている。この第1の同期センサ
5の感度は正常な物体にあわされており、物体がきたこ
とを検知し、その検知信号に基づいて撮像装置3におけ
る動作タイミングを制御できるようになっている。
同期センサ5が配置されている。この第1の同期センサ
5の感度は正常な物体にあわされており、物体がきたこ
とを検知し、その検知信号に基づいて撮像装置3におけ
る動作タイミングを制御できるようになっている。
【0016】さらに、撮像装置3の下流側には第2の同
期センサ6が配置されている。この第2の同期センサ6
は、上記第1の同期センサ5と同様に正常な物体を検知
可能なもので、撮像装置3の撮像エリアを通過後の物体
を検出するようになっている。 一方、搬送装置1の下
流側(上記第2の同期センサ6よりさらに下流側)の所
定位置には、異物が載置された物体(不良品)を搬送装
置1から排除するための排出用揺動アーム7が配置され
ている。すなわち、撮像装置3にて不良品を検出した時
に、排出用揺動アーム7を揺動させて搬送装置1のベル
ト面上に斜めに交差するように位置させ、そのアーム7
に沿って不良品を移動させることにより搬送装置1から
排出するようになる。なお、撮像装置3で検出できない
(正常な物品)時にはアーム7は搬送装置1ベルト面上
には位置せず、そのまま物体が搬送装置1上を移送され
ることになる。そして、本例では、係る排出用揺動アー
ム7の上方にも第3の同期センサ8が配置されている。
期センサ6が配置されている。この第2の同期センサ6
は、上記第1の同期センサ5と同様に正常な物体を検知
可能なもので、撮像装置3の撮像エリアを通過後の物体
を検出するようになっている。 一方、搬送装置1の下
流側(上記第2の同期センサ6よりさらに下流側)の所
定位置には、異物が載置された物体(不良品)を搬送装
置1から排除するための排出用揺動アーム7が配置され
ている。すなわち、撮像装置3にて不良品を検出した時
に、排出用揺動アーム7を揺動させて搬送装置1のベル
ト面上に斜めに交差するように位置させ、そのアーム7
に沿って不良品を移動させることにより搬送装置1から
排出するようになる。なお、撮像装置3で検出できない
(正常な物品)時にはアーム7は搬送装置1ベルト面上
には位置せず、そのまま物体が搬送装置1上を移送され
ることになる。そして、本例では、係る排出用揺動アー
ム7の上方にも第3の同期センサ8が配置されている。
【0017】そして、上記各同期センサ5,6,8から
の物体検出信号は、それぞれコントローラ9内の時刻検
出部10に送られ、その時刻検出部10はコントローラ
9に内蔵されたタイマ11から物体検出信号を受けとっ
た時刻を検出し、それをメモリ12に格納するようにな
っている。
の物体検出信号は、それぞれコントローラ9内の時刻検
出部10に送られ、その時刻検出部10はコントローラ
9に内蔵されたタイマ11から物体検出信号を受けとっ
た時刻を検出し、それをメモリ12に格納するようにな
っている。
【0018】さらにまた、コントローラ9には、ダミー
ワーク搬送指令信号発生部13を備えている。すなわ
ち、実際の物体(半透明フィルム)では撮像装置3で検
出できないため、本例では搬送装置1上に白紙のダミー
ワーク14を流すことにより、各同期センサ並びに撮像
装置3での検出を可能としている。そして、このダミー
ワーク14は、撮像装置3の撮像エリアよりも大きな形
状からなっている。しかも、各パラメータ設定の正確性
を確保するため、ダミーワーク14を所定枚数(n枚)
流し、各ダミーワークに基づいて得られたデータの平均
をとることにより最終的なパラメータを決定するように
している。したがって、上記信号発生部13は、ダウン
カウンタ(nにプリセットされる)を基本構成とし、そ
のカウンタが1ずつダウンする都度、ダミーワーク搬送
指令信号を発生し、その信号に基づき自動或いは手動に
よりダミーワーク14を搬送装置1の上流側に供給し、
搬送するようになっている。なお、この信号発生部13
の出力は、表示器15にも接続されており、送るべきダ
ミーワーク14の残り枚数が表示されるようになってい
る。なおまた、このダウンカウンタは、第3の同期セン
サ8の検出信号に基づいて1つずつダウンするようにな
っている。
ワーク搬送指令信号発生部13を備えている。すなわ
ち、実際の物体(半透明フィルム)では撮像装置3で検
出できないため、本例では搬送装置1上に白紙のダミー
ワーク14を流すことにより、各同期センサ並びに撮像
装置3での検出を可能としている。そして、このダミー
ワーク14は、撮像装置3の撮像エリアよりも大きな形
状からなっている。しかも、各パラメータ設定の正確性
を確保するため、ダミーワーク14を所定枚数(n枚)
流し、各ダミーワークに基づいて得られたデータの平均
をとることにより最終的なパラメータを決定するように
している。したがって、上記信号発生部13は、ダウン
カウンタ(nにプリセットされる)を基本構成とし、そ
のカウンタが1ずつダウンする都度、ダミーワーク搬送
指令信号を発生し、その信号に基づき自動或いは手動に
よりダミーワーク14を搬送装置1の上流側に供給し、
搬送するようになっている。なお、この信号発生部13
の出力は、表示器15にも接続されており、送るべきダ
ミーワーク14の残り枚数が表示されるようになってい
る。なおまた、このダウンカウンタは、第3の同期セン
サ8の検出信号に基づいて1つずつダウンするようにな
っている。
【0019】さらにまた、撮像装置3にて撮像した画像
データに対して所定の画像処理を行う手段が上記コント
ローラ9に内蔵されている。具体的には、上記画像デー
タ内のエッジ強度の総和を算出するエッジ強度算出部1
7と、画像データの明るさの総和を算出する明るさ算出
部18と、それらエッジ強度算出部17と明るさ算出部
18との出力を受け、現在のダミーワーク14の位置を
判断する判定部19とを備えている。すなわち、撮像エ
リア内にダミーワーク14が存在していないか、或いは
撮像エリア全面に亘ってダミーワーク14が存在してい
る時には、撮像エリア内にエッジ部分が存在しないため
エッジ強度算出部17からの出力はほぼ零となる。そし
て、前者の場合には明るさ算出部18の出力もほぼ零と
なるが、後者の場合には明るさ算出部の出力は大とな
る。一方、撮像エリア内にダミーワーク14の一部が存
在する場合にはエッジ強度算出部17からの出力は所定
値となり、この時の明るさ算出部18から与えられる明
るさの総和、並びにその総和の変化(増加基調にあるか
減少基調にあるか)により、ダミーワーク14の前端或
いは後端が撮像エリア内のどのあたりに位置しているか
を判断することができる。
データに対して所定の画像処理を行う手段が上記コント
ローラ9に内蔵されている。具体的には、上記画像デー
タ内のエッジ強度の総和を算出するエッジ強度算出部1
7と、画像データの明るさの総和を算出する明るさ算出
部18と、それらエッジ強度算出部17と明るさ算出部
18との出力を受け、現在のダミーワーク14の位置を
判断する判定部19とを備えている。すなわち、撮像エ
リア内にダミーワーク14が存在していないか、或いは
撮像エリア全面に亘ってダミーワーク14が存在してい
る時には、撮像エリア内にエッジ部分が存在しないため
エッジ強度算出部17からの出力はほぼ零となる。そし
て、前者の場合には明るさ算出部18の出力もほぼ零と
なるが、後者の場合には明るさ算出部の出力は大とな
る。一方、撮像エリア内にダミーワーク14の一部が存
在する場合にはエッジ強度算出部17からの出力は所定
値となり、この時の明るさ算出部18から与えられる明
るさの総和、並びにその総和の変化(増加基調にあるか
減少基調にあるか)により、ダミーワーク14の前端或
いは後端が撮像エリア内のどのあたりに位置しているか
を判断することができる。
【0020】そして、上記判定部19の出力も上記時刻
検出部10に入力され、判定部19から出力される信号
に基づいてその時の時刻をタイマ11から読み込むと共
にメモリ12に格納できるようになっている。すなわ
ち、本例では時刻検出部10が第1,第2の時刻検出手
段を兼ねているが、別途形成しても良いのはもちろんで
ある。
検出部10に入力され、判定部19から出力される信号
に基づいてその時の時刻をタイマ11から読み込むと共
にメモリ12に格納できるようになっている。すなわ
ち、本例では時刻検出部10が第1,第2の時刻検出手
段を兼ねているが、別途形成しても良いのはもちろんで
ある。
【0021】さらに、上記メモリ12には、パラメータ
決定部20が接続されており、メモリ12内に格納され
た各検出された時刻等のデータに基づいて異物検査装置
の運転に必要な各種パラメータを算出し、決定したパラ
メータを制御装置21に設定するようになる。なお、こ
の制御装置21は、実際の検査装置の運転時に上記各同
期センサ5,6,8並びに撮像装置3からの信号に基づ
いて各装置の運転を制御するものである。
決定部20が接続されており、メモリ12内に格納され
た各検出された時刻等のデータに基づいて異物検査装置
の運転に必要な各種パラメータを算出し、決定したパラ
メータを制御装置21に設定するようになる。なお、こ
の制御装置21は、実際の検査装置の運転時に上記各同
期センサ5,6,8並びに撮像装置3からの信号に基づ
いて各装置の運転を制御するものである。
【0022】なお、図1に示すように第1の同期センサ
5と撮像装置3の撮像エリアまでの距離をL1とし、そ
の撮像エリアから第2の同期センサ6までの距離をL2
とし、さらに第2,第3の同期センサ6,8間の距離を
L3とする。
5と撮像装置3の撮像エリアまでの距離をL1とし、そ
の撮像エリアから第2の同期センサ6までの距離をL2
とし、さらに第2,第3の同期センサ6,8間の距離を
L3とする。
【0023】次に、上記した実施例の作用について説明
する。まずダミーワーク14を搬送した時の時間経過に
ともなう各装置の出力信号の変化について説明すると、
図2に示すタイムチャートのようになっている。すなわ
ち、まずダミーワーク14が第1の同期センサ5の下を
通過すると、第1の同期センサ5がオンする。次いでダ
ミーワーク14の前端(図中右端)14aが撮像エリア
内に入る(図中)と、エッジ強度算出部17の出力が
あるしきい値をこえるためオンになり、ダミーワーク1
4が撮像エリア内に完全に入る(図中)と前端14a
および後端14bは撮像エリア外となるのでエッジ部分
がなくなるためエッジ強度算出部17の出力はオフとな
る。そして、さらにダミーワーク14が進みその後端1
4bが撮像エリア内に入ると(図中)再度エッジがあ
らわれるため上記と同様にエッジ強度算出部17の出力
がオンとなる。そして、図中に示すようにダミーワー
ク14の後端14bが撮像エリアからでる瞬間まで上記
オン状態が続き、その後オフとなる。
する。まずダミーワーク14を搬送した時の時間経過に
ともなう各装置の出力信号の変化について説明すると、
図2に示すタイムチャートのようになっている。すなわ
ち、まずダミーワーク14が第1の同期センサ5の下を
通過すると、第1の同期センサ5がオンする。次いでダ
ミーワーク14の前端(図中右端)14aが撮像エリア
内に入る(図中)と、エッジ強度算出部17の出力が
あるしきい値をこえるためオンになり、ダミーワーク1
4が撮像エリア内に完全に入る(図中)と前端14a
および後端14bは撮像エリア外となるのでエッジ部分
がなくなるためエッジ強度算出部17の出力はオフとな
る。そして、さらにダミーワーク14が進みその後端1
4bが撮像エリア内に入ると(図中)再度エッジがあ
らわれるため上記と同様にエッジ強度算出部17の出力
がオンとなる。そして、図中に示すようにダミーワー
ク14の後端14bが撮像エリアからでる瞬間まで上記
オン状態が続き、その後オフとなる。
【0024】さらに、ダミーワーク14が搬送されると
第2の同期センサ6がそれを検知してオン信号を発し、
その後一定時間経過後第3の同期センサ8からオン信号
が発する。
第2の同期センサ6がそれを検知してオン信号を発し、
その後一定時間経過後第3の同期センサ8からオン信号
が発する。
【0025】次に、具体的な各パラメータ(上記した各
装置間の距離L1〜L3並びに搬送速度v)を求める手
順、すなわち、コントローラ9内における処理につい
て、図3に示すフローチャート図に基づいて説明する。
搬送装置1にダミーワーク14を供給し、このダミーワ
ーク14が搬送装置1の駆動にしたがって前進移送され
る。この状態でまずタイマー11をリセットすると共に
始動させる(S101)。そして、第1の同期センサ5
でダミーワーク14を検出した時の時刻t0 を読み込む
とともにメモリ12に格納する。具体的には、第1の同
期センサ5の検出信号を時刻検出部10に送り、時刻検
出部10ではその時のタイマ11の値を読み込むと共に
メモリ12に格納するようになっている(S102,1
03)。
装置間の距離L1〜L3並びに搬送速度v)を求める手
順、すなわち、コントローラ9内における処理につい
て、図3に示すフローチャート図に基づいて説明する。
搬送装置1にダミーワーク14を供給し、このダミーワ
ーク14が搬送装置1の駆動にしたがって前進移送され
る。この状態でまずタイマー11をリセットすると共に
始動させる(S101)。そして、第1の同期センサ5
でダミーワーク14を検出した時の時刻t0 を読み込む
とともにメモリ12に格納する。具体的には、第1の同
期センサ5の検出信号を時刻検出部10に送り、時刻検
出部10ではその時のタイマ11の値を読み込むと共に
メモリ12に格納するようになっている(S102,1
03)。
【0026】次いで、撮像装置3を作動させ撮像した画
像データをエッジ強度算出部17に入力し、画像の左端
列上でのエッジ強度の総和Eを算出する。なお、左端列
部分のみに処理を行うのは、処理の簡略化・高速化並び
に正確化を図るためである。また、上記画像データは明
るさ算出部18にも送り、そこにおいて明るさの総和I
s も算出する。そして、判定部19にて上記算出したE
並びにIs をそれぞれ所定のしきい値TH1 ,TH2 と
を比較し、所定の条件に合致したか否かを判断し、合致
するまで上記処理を繰り返し行う(S104〜S10
7)。なお、ステップ107に示した所定の条件は、エ
ッジ強度がある値TH1 以上有し(ダミーワークが撮像
エリア内に入り込んだことを意味する)、しかも明るさ
も大きい(撮像エリア内でのダミーワークの存在領域が
少ないことを意味する)場合であり、これは、図2に示
すの状態である。一方、上記ステップ107に示す所
定の条件に合致したなら判定部19が出力信号を時刻検
出部10に送り、上記と同様の手順によりその時の時刻
t10を読み取り、メモリ12に格納する(S108)。
像データをエッジ強度算出部17に入力し、画像の左端
列上でのエッジ強度の総和Eを算出する。なお、左端列
部分のみに処理を行うのは、処理の簡略化・高速化並び
に正確化を図るためである。また、上記画像データは明
るさ算出部18にも送り、そこにおいて明るさの総和I
s も算出する。そして、判定部19にて上記算出したE
並びにIs をそれぞれ所定のしきい値TH1 ,TH2 と
を比較し、所定の条件に合致したか否かを判断し、合致
するまで上記処理を繰り返し行う(S104〜S10
7)。なお、ステップ107に示した所定の条件は、エ
ッジ強度がある値TH1 以上有し(ダミーワークが撮像
エリア内に入り込んだことを意味する)、しかも明るさ
も大きい(撮像エリア内でのダミーワークの存在領域が
少ないことを意味する)場合であり、これは、図2に示
すの状態である。一方、上記ステップ107に示す所
定の条件に合致したなら判定部19が出力信号を時刻検
出部10に送り、上記と同様の手順によりその時の時刻
t10を読み取り、メモリ12に格納する(S108)。
【0027】次いで、上記と同様に撮像装置3で撮像し
た画像データを読み込み、画像の左端列上でのエッジ強
度の総和Eを算出すると共にその時の明るさの総和IS
を算出し、判定部19にて上記算出したE並びにIs を
それぞれ所定のしきい値TH1 ,TH3 (TH2 >TH
3 )とを比較し、所定の条件に合致したか否かを判断
し、合致するまで上記処理を繰り返し行う(S109〜
S112)。なお、ステップ112での条件に合致する
と、ダミーワーク14は図2に示すの状態となってい
る。そして、合致したなら判定部19の出力信号に基づ
きその時の時刻t20を読み取り、メモリ12に格納する
(S113)。
た画像データを読み込み、画像の左端列上でのエッジ強
度の総和Eを算出すると共にその時の明るさの総和IS
を算出し、判定部19にて上記算出したE並びにIs を
それぞれ所定のしきい値TH1 ,TH3 (TH2 >TH
3 )とを比較し、所定の条件に合致したか否かを判断
し、合致するまで上記処理を繰り返し行う(S109〜
S112)。なお、ステップ112での条件に合致する
と、ダミーワーク14は図2に示すの状態となってい
る。そして、合致したなら判定部19の出力信号に基づ
きその時の時刻t20を読み取り、メモリ12に格納する
(S113)。
【0028】次いで、第2の同期センサ6でダミーワー
ク14を検出した時の時刻t30を読み取ると共にメモリ
12に格納し、さらに第3の同期センサ8でダミーワー
ク14を検出した時の時刻t40を読み取ると共にメモリ
12に格納する(S114〜S117)。
ク14を検出した時の時刻t30を読み取ると共にメモリ
12に格納し、さらに第3の同期センサ8でダミーワー
ク14を検出した時の時刻t40を読み取ると共にメモリ
12に格納する(S114〜S117)。
【0029】そして、ダミーワーク14の長さL(予め
測定しておく)と、上記時刻t10,t20から次式に基づ
いてダミーワーク14、すなわち搬送装置1のコンベア
速度vを算出する(S118)。
測定しておく)と、上記時刻t10,t20から次式に基づ
いてダミーワーク14、すなわち搬送装置1のコンベア
速度vを算出する(S118)。
【0030】v=L/(t20−t10) なお、上記速度を求める演算処理は、パラメータ決定部
20にて行われる。
20にて行われる。
【0031】次いで、このようにして速度vが求められ
たなら、その速度vと上記各ステップで求めた同期セン
サ5,6,8撮像装置3でダミーワーク14を検知した
時の時刻から、各装置間の距離L1,L2,L3を次式
に基づいて算出する(S119)そして、この演算処理
もパラメータ決定部20にて行われる。
たなら、その速度vと上記各ステップで求めた同期セン
サ5,6,8撮像装置3でダミーワーク14を検知した
時の時刻から、各装置間の距離L1,L2,L3を次式
に基づいて算出する(S119)そして、この演算処理
もパラメータ決定部20にて行われる。
【0032】L1=v・(t10−t0 ) L2=v・(t30−t10) L3=v・(t40−t30) これにより、1つのダミーワークに基づくパラメータ決
定が終了する。そして、この求められた各パラメータ
v,L1〜L3は、メモリ12に一旦格納するようにし
ている。
定が終了する。そして、この求められた各パラメータ
v,L1〜L3は、メモリ12に一旦格納するようにし
ている。
【0033】そして、ダミーワーク14をn回搬送装置
1上を移送させ、その都度上記処理を行い各パラメータ
を求める。そして、求めた各パラメータの平均値をそれ
ぞれ求めることにより最終的なパラメータを決定し、そ
のパラメータ値を制御装置21に設定する。そして、そ
れら平均値を求めると共に制御装置21にパラメータ設
定を行う処理も上記したパラメータ決定部20で行うよ
うになっている。
1上を移送させ、その都度上記処理を行い各パラメータ
を求める。そして、求めた各パラメータの平均値をそれ
ぞれ求めることにより最終的なパラメータを決定し、そ
のパラメータ値を制御装置21に設定する。そして、そ
れら平均値を求めると共に制御装置21にパラメータ設
定を行う処理も上記したパラメータ決定部20で行うよ
うになっている。
【0034】そして、実際の異物検査時には、搬送装置
1上を所定の搬送物品を逐次移送させ、それに対して各
センサ並びに撮像装置にてその搬送物品の検知が行われ
る。この時、制御装置21では、第1の同期センサ5か
らオン信号が与えられた後L1/vの時間経過後に撮像
装置3からの画像取り込みを開始する(一定期間(搬送
物品(半透明フィルム)が通過するまで)の取り込みを
続ける)。そして、画像データに対する画像処理を行っ
た結果異物が検出された場合には、撮像装置3からの画
像取り込み後、L2/vの時間経過頃に第2の同期セン
サ6がオンしたことを確認し、その時刻からさらにL3
/vの時間経過後排出用揺動アーム7を作動させてその
搬送物品を排除する。
1上を所定の搬送物品を逐次移送させ、それに対して各
センサ並びに撮像装置にてその搬送物品の検知が行われ
る。この時、制御装置21では、第1の同期センサ5か
らオン信号が与えられた後L1/vの時間経過後に撮像
装置3からの画像取り込みを開始する(一定期間(搬送
物品(半透明フィルム)が通過するまで)の取り込みを
続ける)。そして、画像データに対する画像処理を行っ
た結果異物が検出された場合には、撮像装置3からの画
像取り込み後、L2/vの時間経過頃に第2の同期セン
サ6がオンしたことを確認し、その時刻からさらにL3
/vの時間経過後排出用揺動アーム7を作動させてその
搬送物品を排除する。
【0035】なお、上記した実施例では、速度vを求め
るために、撮像エリアの左端を基準としてその位置にダ
ミーワーク14の前端および後端が通過する時刻t10,
t20を求め、それに基づいて算出したが、本発明はこれ
に限ることなく、例えば撮像エリアの右端を基準とし、
その位置を通過する時(図2中t11,t21)を検出し、
それに基づいて速度vを求めるようにしてもよく、さら
には、それら4つの時刻に基づいて演算処理した後、平
均をとるなど種々変更実施が可能である。但し、右端に
位置したことを検知するためには、ステップ107,1
12における判断式のしきい値等を必要に応じて変更す
ることである。
るために、撮像エリアの左端を基準としてその位置にダ
ミーワーク14の前端および後端が通過する時刻t10,
t20を求め、それに基づいて算出したが、本発明はこれ
に限ることなく、例えば撮像エリアの右端を基準とし、
その位置を通過する時(図2中t11,t21)を検出し、
それに基づいて速度vを求めるようにしてもよく、さら
には、それら4つの時刻に基づいて演算処理した後、平
均をとるなど種々変更実施が可能である。但し、右端に
位置したことを検知するためには、ステップ107,1
12における判断式のしきい値等を必要に応じて変更す
ることである。
【0036】また、上記した実施例では、L1,L2を
求める際に時刻t10を用い、撮像エリアの左端(進行方
向後側)を距離の基準位置としたが、例えば撮像エリア
の中心を基準位置とする場合には、t10とt20との平均
を求めその値を用いるなど、基準位置の取り方により適
宜演算式を変更することにより対応すればよい。
求める際に時刻t10を用い、撮像エリアの左端(進行方
向後側)を距離の基準位置としたが、例えば撮像エリア
の中心を基準位置とする場合には、t10とt20との平均
を求めその値を用いるなど、基準位置の取り方により適
宜演算式を変更することにより対応すればよい。
【0037】図4は本発明の第2の特徴である搬送物体
の2値化用のしきい値設定装置の好適な一実施例を示し
ている。同図に示すように、本例でも上記した実施例と
同様に透明のベルトコンベアからなる搬送装置1上を移
動する半透明フィルムからなる搬送物体30上に載置さ
れた完全不透明体の異物を撮像装置3で検出する異物検
査装置に用いられるもので、撮像装置3における感度の
自動設定を行うものである。すなわち、撮像装置3で撮
像した画像データは、後段のビデオ復調回路31で1ビ
ット毎のビデオ信号が2値化回路32に送られ、そこに
おいて2値化された後、異物検出回路33に送られ異物
の有無が判断され、異物が検出された場合には、上記し
た第1実施例で説明したように所定の処理を経てその異
物のある物体を排除するようになっている。
の2値化用のしきい値設定装置の好適な一実施例を示し
ている。同図に示すように、本例でも上記した実施例と
同様に透明のベルトコンベアからなる搬送装置1上を移
動する半透明フィルムからなる搬送物体30上に載置さ
れた完全不透明体の異物を撮像装置3で検出する異物検
査装置に用いられるもので、撮像装置3における感度の
自動設定を行うものである。すなわち、撮像装置3で撮
像した画像データは、後段のビデオ復調回路31で1ビ
ット毎のビデオ信号が2値化回路32に送られ、そこに
おいて2値化された後、異物検出回路33に送られ異物
の有無が判断され、異物が検出された場合には、上記し
た第1実施例で説明したように所定の処理を経てその異
物のある物体を排除するようになっている。
【0038】そして、本発明は上記の2値化回路32に
おけるしきい値を自動的に設定するための装置である。
すなわち、上記ビデオ復調回路31の出力(1ビットご
とのビデオ信号)を高速のA/D変換回路35を介して
記憶手段たるS−RAM36に記憶させる。そして、こ
のS−RAM36に記憶させた波形データをCPU37
に送り、このCPU37にて所定の演算処理を行い上記
しきい値を算出し、2値化回路32にそのしきい値を設
定するようになっている。
おけるしきい値を自動的に設定するための装置である。
すなわち、上記ビデオ復調回路31の出力(1ビットご
とのビデオ信号)を高速のA/D変換回路35を介して
記憶手段たるS−RAM36に記憶させる。そして、こ
のS−RAM36に記憶させた波形データをCPU37
に送り、このCPU37にて所定の演算処理を行い上記
しきい値を算出し、2値化回路32にそのしきい値を設
定するようになっている。
【0039】そして、具体的な算出の手法について説明
すると、まず図4に示すように正常な搬送物体30(半
透明シートで異物がないもの)を、搬送装置1上を移動
させ、その時の状況を撮像装置3で撮像する。すると、
図5に示すように搬送物体30がないところ、すなわち
背景たる搬送装置1のベルト面に相当する部位はその明
るさがmaxとなり、搬送物体30に相当する部位の明
るさはminとなる。なお、仮に搬送物体30上に異物
があった場合には、下方に配置された赤外線光源2から
出射された光の透過量が低下するため、上記minのレ
ベルよりもさらに小さくなり、その異物が完全不透明体
の場合にはゼロとなる。したがって、CPU37では、
ビデオ信号のmin値を読み取り、0とminとの中間
(例えばmin/2)を算出し、それをしきい値とす
る。このようにして簡単かつ自動的に2値化回路32の
しきい値を設定することができる。
すると、まず図4に示すように正常な搬送物体30(半
透明シートで異物がないもの)を、搬送装置1上を移動
させ、その時の状況を撮像装置3で撮像する。すると、
図5に示すように搬送物体30がないところ、すなわち
背景たる搬送装置1のベルト面に相当する部位はその明
るさがmaxとなり、搬送物体30に相当する部位の明
るさはminとなる。なお、仮に搬送物体30上に異物
があった場合には、下方に配置された赤外線光源2から
出射された光の透過量が低下するため、上記minのレ
ベルよりもさらに小さくなり、その異物が完全不透明体
の場合にはゼロとなる。したがって、CPU37では、
ビデオ信号のmin値を読み取り、0とminとの中間
(例えばmin/2)を算出し、それをしきい値とす
る。このようにして簡単かつ自動的に2値化回路32の
しきい値を設定することができる。
【0040】なお、上記した実施例では撮像装置3とし
て透過型のものを用いた例について説明したが、本発明
はこれに限ることなく反射型のものでもよく、さらには
対象物も半透明のものに限ることなく不透明な物体(穴
の有無等を検出する)その他種々のものに適用すること
ができる。但し、反射型にしたりさらには対象物の種類
が変わることにより撮像する波形が異なるためそれに応
じてしきい値の算出方法(CPU内における算出部の機
能)を適宜変更する必要がある。
て透過型のものを用いた例について説明したが、本発明
はこれに限ることなく反射型のものでもよく、さらには
対象物も半透明のものに限ることなく不透明な物体(穴
の有無等を検出する)その他種々のものに適用すること
ができる。但し、反射型にしたりさらには対象物の種類
が変わることにより撮像する波形が異なるためそれに応
じてしきい値の算出方法(CPU内における算出部の機
能)を適宜変更する必要がある。
【0041】すなわち、例えば上記実施例で光源の設置
位置を上方にして反射型にすると背景(搬送装置のベル
ト面)部位が0となりワーク部位はminとなり、異物
があるとmaxとなる。したがって、ワーク部位に相当
するアナログレベルより所定量だけ大きな値に設定した
り、或いは、予め異物を載置した状態でワークを搬送・
撮像し、異物に相当するアナログレベルmaxとワーク
に相当するminとを求め、次式に基づいて演算処理す
ることによりしきい値THを算出することができる。
位置を上方にして反射型にすると背景(搬送装置のベル
ト面)部位が0となりワーク部位はminとなり、異物
があるとmaxとなる。したがって、ワーク部位に相当
するアナログレベルより所定量だけ大きな値に設定した
り、或いは、予め異物を載置した状態でワークを搬送・
撮像し、異物に相当するアナログレベルmaxとワーク
に相当するminとを求め、次式に基づいて演算処理す
ることによりしきい値THを算出することができる。
【0042】 TH=(max+min)/2 (1) さらにまた、装置構成は上記した実施例と同様(透過
型)で対象物が不透明の時の穴の検査の場合、仮に穴が
開いている箇所は背景と同様に明るさがmaxとなるの
で、図5に示すmaxとminを求めると共に、上記式
(1)によりしきい値を求めることができるなどであ
る。
型)で対象物が不透明の時の穴の検査の場合、仮に穴が
開いている箇所は背景と同様に明るさがmaxとなるの
で、図5に示すmaxとminを求めると共に、上記式
(1)によりしきい値を求めることができるなどであ
る。
【0043】
【発明の効果】以上のように、本発明では、撮像装置の
撮像エリア内を通過するダミーワークの時刻、すなわ
ち、或る位置を通過するに要する時間に基づいてそのダ
ミーワークの移動時間を算出することができ、しかも、
その様に移動時間が求められたなら、同期センサなどで
検知した通過時刻から、各装置間を移動するに要する時
間は差をとることにより容易に求まり、時間が求まった
なら上記移動速度を掛けることによりその装置間の距離
を求めることができる。このようにダミーワークを流す
だけで各装置の同期をとるために必要なパラメータを自
動的に決定することができる。
撮像エリア内を通過するダミーワークの時刻、すなわ
ち、或る位置を通過するに要する時間に基づいてそのダ
ミーワークの移動時間を算出することができ、しかも、
その様に移動時間が求められたなら、同期センサなどで
検知した通過時刻から、各装置間を移動するに要する時
間は差をとることにより容易に求まり、時間が求まった
なら上記移動速度を掛けることによりその装置間の距離
を求めることができる。このようにダミーワークを流す
だけで各装置の同期をとるために必要なパラメータを自
動的に決定することができる。
【0044】同様に、搬送物体の2値化用のしきい値設
定装置を設けたことにより、実際に検査等を行う搬送物
体と同一の見本品を撮像し、得られたアナログレベルに
基づいて自動的に2値化回路に設定するしきい値を求め
ることができる。
定装置を設けたことにより、実際に検査等を行う搬送物
体と同一の見本品を撮像し、得られたアナログレベルに
基づいて自動的に2値化回路に設定するしきい値を求め
ることができる。
【0045】このように本発明では、従来人手により行
っていた搬送物体に対する画像処理系の各種パラメータ
の設定を自動的に行うことができ、高速処理はもちろん
簡単かつ正確に設定することが可能となる。
っていた搬送物体に対する画像処理系の各種パラメータ
の設定を自動的に行うことができ、高速処理はもちろん
簡単かつ正確に設定することが可能となる。
【図1】本発明に係る異物検査装置におけるパラメータ
決定装置並びにそれが実装される異物検査装置の一例を
示すブロック構成図である。
決定装置並びにそれが実装される異物検査装置の一例を
示すブロック構成図である。
【図2】(A)は作用を説明するためのタイムチャート
図である。(B)は撮像エリア内におけるダミーワーク
の状態を説明する図である。
図である。(B)は撮像エリア内におけるダミーワーク
の状態を説明する図である。
【図3】作用を説明するための図である。
【図4】搬送物体の2値化用のしきい値設定装置の一実
施例を示す図である。
施例を示す図である。
【図5】作用を説明するための図である。
1 搬送装置 3 撮像装置 5 第1の同期センサ 6 第2の同期センサ 8 第3の同期センサ 10 時刻検出部(第1,第2時刻検出手段) 11 タイマ 12 メモリ 14 ダミーワーク 17 エッジ強度算出部(画像処理を行う手段) 18 明るさ算出部(画像処理を行う手段) 19 判定部 20 パラメータ決定部(移送速度を求める手段,各装
置間の距離を算出する手段) 30 搬送物体 31 ビデオ復調回路 32 2値化回路 37 CPU(制御手段)
置間の距離を算出する手段) 30 搬送物体 31 ビデオ復調回路 32 2値化回路 37 CPU(制御手段)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI // B65G 43/08 B65G 43/08 F (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G06T 1/00 G06T 7/00 - 7/60 G01B 11/30 B65G 43/08
Claims (2)
- 【請求項1】 少なくとも搬送装置と、 その搬送装置上の所定位置に配置され、少なくとも前記
搬送装置上を移送される搬送物体上の異物を検出可能な
撮像装置と、 その撮像装置の上流側或いは下流側の所定位置に配置さ
れた同期センサとを備えた異物検査装置であって、 前記搬送装置上を移送中の長さの既知のダミーワークを
前記撮像装置で撮像した画像データに対し所定の画像処
理を行う手段と、 その画像処理の出力を受けて前記ダミーワークの前端が
前記撮像装置の撮像エリア中の所定位置を通過した第1
時刻、並びに前記ダミーワークの後端が前記撮像エリア
中の所定位置を通過した第2時刻を検出する第1時刻検
出手段と、 前記同期センサが前記ダミーワークを検知した時刻を検
出する第2時刻検出手段と、 前記第1時刻検出手段で検出した前記第1,第2時刻と
前記ダミーワークの長さからそのダミーワークの移送速
度を求める手段と、 前記第1,第2時刻検出手段で検出した時刻のうち所望
の複数の時刻と、前記算出した移動速度とから、前記撮
像装置と前記同期センサ間等の各装置間の距離を算出す
る手段とを有するパラメータ決定装置を備え、 前記パラメータ決定装置で求めたパラメータに基づいて
同期をとって撮像した画像データに基づいて異物の有無
を判断するようにした異物検査装置。 - 【請求項2】 少なくとも搬送装置と、 その搬送装置上の所定位置に配置され、少なくとも前記
搬送装置上を移送される搬送物体上の異物を検出可能な
撮像装置と、 その撮像装置の上流側或いは下流側の所定位置に配置さ
れた同期センサとを備えた異物検査装置であって、 前記搬送装置上を移送中の長さの既知のダミーワークを
前記撮像装置で撮像した画像データに対し所定の画像処
理を行う手段と、 その画像処理の出力を受けて前記ダミーワークの前端が
前記撮像装置の撮像エリア中の所定位置を通過した第1
時刻、並びに前記ダミーワークの後端が前記撮像エリア
中の所定位置を通過した第2時刻を検出する第1時刻検
出手段と、 前記同期センサが前記ダミーワークを検知した時刻を検
出する第2時刻検出手段と、 前記第1時刻検出手段で検出した前記第1,第2時刻と
前記ダミーワークの長さからそのダミーワークの移送速
度を求める手段と、 前記第1,第2時刻検出手段で検出した時刻のうち所望
の複数の時刻と、前記算出した移動速度とから、前記撮
像装置と前記同期センサ間等の各装置間の距離を算出す
る手段とを有するパラメータ決定装置と、 前記撮像装置で撮像した画像データを2値化する2値化
回路と、 前記撮像装置で撮像した画像データのうち前記搬送物体
に相当する部位のアナログレベルを検出し、少なくとも
そのアナログレベルに基づいて所定の演算を行い、前記
アナログレベルに対して充分マージンをとったしきい値
を求め、そのしきい値を前記2値化回路のしきい値を設
定する2値化用しきい値設定装置とを備え、 前記パラメータ決定装置で求めたパラメータに基づいて
同期をとって撮像した画像データを前記2値化回路で2
値化して得られたデータに基づいて異物の有無を判断す
るようにした異物検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19144292A JP3240571B2 (ja) | 1992-06-26 | 1992-06-26 | 異物検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19144292A JP3240571B2 (ja) | 1992-06-26 | 1992-06-26 | 異物検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0612484A JPH0612484A (ja) | 1994-01-21 |
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ID=16274695
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19144292A Expired - Fee Related JP3240571B2 (ja) | 1992-06-26 | 1992-06-26 | 異物検査装置 |
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Country | Link |
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-
1992
- 1992-06-26 JP JP19144292A patent/JP3240571B2/ja not_active Expired - Fee Related
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