JP3227593U - プローブコネクタ構造及びテストモジュール - Google Patents

Abstract

【課題】放射される不要輻射を低減するシールド構造を備えたプローブコネクタ構造及びテストモジュールを提供する。
【解決手段】プローブコネクタ構造１は、ホルダ１０と、プローブユニット２０と、金属製シールドカバー３０と、を含み、金属製シールドカバー３０が当接片３１と、シールドシート３２と、を含み、当接片３１が備える開口部３３を介してホルダ１０内の突き合わせ部１１を露出させ、かつ金属製シールドカバー３０がプローブユニット２０の側端の対向両側を遮蔽することで、プローブユニット２０の側端部から放射される不要輻射を低減し、不要輻射を遮蔽する効果を奏し、プローブコネクタ構造１を使用するテストモジュールが放射妨害波試験を行う時、各周波数の不要輻射がさらに効果的に抑制されて設定した規格基準に達することができる。
【選択図】図１

Description

本考案は、プローブコネクタ構造及びテストモジュールに関し、特に、不要輻射の放射を低減できるプローブコネクタ構造及びテストモジュールに関する。

従来技術において、システムチップのテストに使用されるテスターは、特定の要件（例：信号の種類、チャネル数、平行テスト可能なテスト対象物の数など）に基づいて抜き差しすることができる回路基板モジュールの設計を備え、テストの目的に応じて必要な回路基板モジュールを交換することで、様々なテストニーズに応えることができる。

従来技術のテスターは、複数の回路基板モジュールと、プローブコネクタと、を含み、テスト対象サブストレートをテストするために用いられ、テスト信号を提供する各前記回路基板モジュールが対応するプローブコネクタを通じて前記テスト対象サブストレートに電気的に接続される。しかしながら、前記プローブコネクタは、導通動作時、電流が流れるため、不要輻射が放射され、従来のテスターにおいて放射妨害波試験の検証に不利である。

従来技術の欠点を克服するために、本考案の目的は、放射される不要輻射を低減するためのシールド構造を備えたプローブコネクタ構造を提供することである。

上記目的又は他の目的を達成するため、本考案は、テスト対象サブストレートとテスト信号生成用回路基板間との電気的な接続を提供するためのプローブコネクタ構造を開示する。前記プローブコネクタ構造は、ホルダと、プローブユニットと、金属製シールドカバーと、を含み、前記ホルダが突き合わせ部と、２つの固定アームと、を含み、前記２つの固定アームが前記突き合わせ部の両端に配置され、前記突き合わせ部に対して長さ方向に垂直に延び；前記プローブユニットは、前記突き合わせ部内に固定され、アレイ状に配置された複数のプローブを含み、各前記プローブの一部が前記突き合わせ部の下方に露出し；前記金属製シールドカバーは、前記ホルダ上で取り外し可能に覆設され、当接片と、シールドシートと、を含み、前記当接片が前記突き合わせ部を露出するための開口部を有し、前記シールドシートが前記当接片に対して垂直に延びると共に前記プローブユニットの一側を遮蔽し、前記金属製シールドカバーが前記突き合わせ部の下方にある各前記プローブの露出部分を遮蔽する。

本考案の一実施例において、前記金属製シールドカバーの当接片上には、複数の当接弾性片を有する。

本考案の一実施例において、前記金属製シールドカバーは、ハーフシールドシートを備え、前記ハーフシールドシートが前記当接片に対して垂直に延び、前記シールドシートの対向側に配置され、前記ハーフシールドシートの垂直に延びる長さが前記シールドシートよりも短く、前記シールドシート及び前記ハーフシールドシートが前記突き合わせ部の下方にある各前記プローブの露出部分を遮蔽する。

本考案の一実施例において、前記金属製シールドカバーの前記シールドシートが垂直に延びる長さは、各前記固定アームの長さと同じである。

本考案の一実施例において、前記プローブユニット内のこれらプローブは、複数のオフセット針先を含み、各前記オフセット針先が針先端子と、曲がった端子と、を備え、前記曲がった端子が前記針先端子の軸線からオフセットする方法で曲がるように延在される。

上記目的又は他の目的を達成するため、本考案は、上記プローブコネクタ構造と、テスト信号生成用回路基板と、を含むテストモジュールを更に開示する。前記テスト信号生成用回路基板は、汎用コネクタと、前記汎用コネクタに電気的に接続された回路基板と、を含み、前記プローブコネクタ構造が前記汎用コネクタ内に挿着され、前記プローブコネクタ構造のプローブユニットの一端が前記汎用コネクタに電気的に接続され、前記プローブコネクタ構造のプローブユニットの他端がテスト対象サブストレートの電気的な接続用である。

本考案の一実施例において、前記テスト信号生成用回路基板は、補強材構造をさらに含み、前記回路基板及び前記プローブコネクタ構造のホルダが前記補強材構造に固定される。

本考案の一実施例において、前記ホルダは、２つの固定アームを介して前記補強材構造に固定される。

本考案の一実施例において、前記金属製シールドカバーは、シールドシートと、ハーフシールドシートと、を備え、前記ハーフシールドシートが前記シールドシートよりも前記補強材構造に近く、前記シールドシート及び前記ハーフシールドシートが前記プローブユニット及び前記ホルダの側端の対向両側を遮蔽する。

したがって、本考案の実施例に係る前記プローブコネクタ構造及び前記プローブコネクタ構造を備えたテストモジュールにおいて、前記金属製シールドカバーは、前記プローブユニットの側端の対向両側を遮蔽することで、前記プローブユニットの側端部から放射される不要輻射を低減し、不要輻射を減少又は遮蔽する効果を奏し、本考案の実施例に係るプローブコネクタ構造を使用するテストモジュールが放射妨害波試験を行う時、各周波数の不要輻射をさらに効果的に抑制して設定された規格基準に達することができる。

本考案の実施例に係るプローブコネクタ構造の分解図である。 本考案の実施例に係るプローブコネクタ構造の組み立ての様子を示す図である。 本考案の実施例に係るプローブコネクタ構造の別の視点から見た分解図である。 本考案の実施例に係るプローブコネクタ構造の別の視点から見た組み立ての様子を示す図である。 本考案の実施例に係るプローブの構造を示す模式図である。 本実施例内の突き合わせ部頂面を示す模式図である。 本考案の別の実施例に係るテストモジュールの構造を示す模式図である。 本考案の別の実施例に係るテストモジュールがテスター内に設けられた様子を示す図である。

以下に本考案の目的、特徴及び効果を十分に理解してもらうため、下記具体的実施例及び添付図面を参照しつつ本考案を詳細に説明する。

本明細書において用いられるところ、用語「含有する」、「含む」、「有する」又はこれらのいずれかの他の変形は、本明細書で記載されているこれらの要素にのみ限定されることはなく、明示的に列挙されていないが部材、ユニットあるいは装置の中にある他の要素が包含されていてもよい。

本明細書では、矛盾がないという前提の下で、描写された各実施例間又は各技術的特徴間を任意に組み合わせて、新しい実施例を形成することができる。

同時に図１及び図２を参照すると、本考案の実施例に係るプローブコネクタ構造の分解図及び組み立ての様子を示す図である。本実施例のプローブコネクタ構造は、テスト対象サブストレート（図示せず）とテスト信号生成用回路基板（図示せず）との間の電気的な接続を提供するために用いられる。例えば前記プローブコネクタ構造の一端は前記テスト対象サブストレートに当接又は挿着され、他端が前記テスト信号生成用回路基板に当接又は挿着されることで、前記テスト対象サブストレートと前記テスト信号生成用回路基板との間を電気的に連接させ、したがって二者が電気信号を互いに受信或いは送信するために供される。

前記プローブコネクタ構造１は、ホルダ１０と、プローブユニット２０と、金属製シールドカバー３０と、を含み、前記ホルダ１０が突き合わせ部１１と、２つの固定アーム１２と、を含み、前記２つの固定アーム１２が前記突き合わせ部１１の両端に配置され、前記突き合わせ部１１に対して長さ方向に垂直に延び；前記プローブユニット２０は、前記突き合わせ部１１内に固定され、アレイ状に配置された複数のプローブ２１を含み、各前記プローブ２１の一部が前記突き合わせ部１１の下方に露出し；前記金属製シールドカバー３０は、前記ホルダ１０上で取り外し可能に覆設され、当接片３１と、シールドシート３２と、を含み、前記当接片３１が前記突き合わせ部１１を露出するための開口部３３を有し、前記シールドシート３２が前記当接片３１に対して垂直に延びると共に前記プローブユニット２０の一側を遮蔽し、前記金属製シールドカバー３０が前記突き合わせ部１１の下方にある各前記プローブ２１の露出部分を遮蔽する。

前記金属製シールドカバー３０は、前記ホルダ１０を覆うために用いられ、前記金属製シールドカバー３０の前記当接片３１が前記ホルダ１０上の前記突き合わせ部１１を有する側に対応し、かつ前記当接片３１が前記突き合わせ部１１を露出（図２）させるための前記開口部３３を備えることで、前記突き合わせ部１１内に設けられたこれらプローブ２１の上端を露出させることができる。

例として、前記金属製シールドカバー３０の材料は、例えば銅、アルミニウム、鋼或いはその他の金属で製造できることが好ましい。

前記金属製シールドカバー３０の前記シールドシート３２は、前記当接片３１に連結され、前記当接片３１に対して略垂直に延び、すなわち、前記シールドシート３２は前記当接片３１に対して略垂直であり、前記金属製シールドカバー３０が前記ホルダ１０を覆設した後、前記シールドシート３２が前記２つの固定アーム１２の間の領域を跨ぐことで前記プローブユニット２０の一側に隣接して、前記２つの固定アーム１２の間の前記プローブユニット２０の一側を遮蔽でき、したがって前記プローブユニット２０の側端部から放射される不要輻射を低減して不要輻射低減効果を奏する。

前記金属製シールドカバー３０の前記シールドシート３２の垂直に延びる長さは、各前記固定アーム１２の長さと同じあり得ることで、前記２つの固定アーム１２の間の領域の一側を遮蔽できる。

図３及び図４を一緒に参照すると、本考案の実施例に係るプローブコネクタ構造の別の視点から見た分解図及び組み立ての様子を示す図である。

さらに、図３及び図４に示すように、前記金属製シールドカバー３０は、ハーフシールドシート３５を備えていてもよく、前記ハーフシールドシート３５が前記当接片３１に対して垂直に延びると共に前記シールドシート３２の対向側に配置されることで、前記プローブユニット２０の側端部から放射される不要輻射をさらに低減することができる。前記ハーフシールドシート３５の垂直に延びる長さは、前記シールドシート３２よりも短いため、前記金属製シールドカバー３０が前記ハーフシールドシート３５の一側に窪んだ切欠きが形成され、前記シールドシート３２及び前記ハーフシールドシート３５が前記突き合わせ部１１下方にある各前記プローブ２１の露出部分を遮蔽するためのものであり、前記窪んだ切欠きが電気接続部材の配置又は配線を容易にするため、前記テスト信号生成用回路基板の一部を露出させるためものである。

本実施例において、前記金属製シールドカバー３０の当接片３１上には、複数の当接弾性片３４を有し、各前記当接弾性片３４の一端が前記当接片３１に連結され、他端が上方に反り上がり、前記テスト対象サブストレートの底部表面に弾性接触することで、接地の役目を果たせる。

前記プローブユニット２０において、各前記プローブ２１は、ｐｏｇｏ ｐｉｎ（スプリングプローブ）であってもよく、各前記プローブ２１が前記突き合わせ部１１の上端及び下端に露出することによって前記テスト対象サブストレート及び前記テスト信号生成用回路基板に当接又は挿着され、前記テスト対象サブストレートと前記テスト信号生成用回路基板を電気的に接続させる。

図５を参照すると、本考案の実施例に係るプローブの構造を示す模式図である。

前記プローブユニット２０内のこれらプローブ２１は、複数のオフセット針先２１１を含み、各前記オフセット針先２１１が針先端子２１Ａと、曲がった端子２１Ｂと、を備え、前記曲がった端子２１Ｂが前記針先端子２１Ａの軸線からオフセットする方法で曲がるように延在され、各前記オフセット針先２１１の前記針先端子２１Ａ及び前記曲がった端子２１Ｂを同じ位置接点、及び位置が前記同位接点からずれたオフセット接点に接続させる。これにより、本考案の実施例に係るプローブコネクタ構造は、オフセット接点を有するテスト対象サブストレートに適用でき、オフセット接点を有するテスト対象サブストレートを同位接点のあるコネクタのテスト信号生成用回路基板と電気的に接続させることができる。

例えば、前記テスト対象サブストレートのテスト接点の位置に対応して、前記突き合わせ部１１上のこれらスルーホール１１１は、すべて同じ位置に配列されてもよく、または部分的にオフセットされ、部分的に同じ位置に配列されてもよい。図６を一緒に参照すると、本実施例内の突き合わせ部１１の頂面を示す模式図であり、部分的にオフセットして配列されたオフセットスルーホール１１１Ａがある場合、前記プローブユニット２０内では対応数量のオフセット針先２１１を使用でき、前記針先端子２１Ａの軸線からの前記曲がった端子２１Ｂのオフセット距離ｄ（図５）は、前記突き合わせ部１１上のオフセットスルーホール１１１Ａの１つの中心点と最も隣接する列（或いは最も隣接する行）の同じ位置にあるスルーホール１１１Ｂ中心点延長線Ｌの距離Ｄ（図６）に等しい。

図７を参考すると、本考案の別の実施例に係るテストモジュールの構造を示す模式図である。

前記テストモジュール１００は、前記プローブコネクタ構造１と、テスト信号生成用回路基板４０と、を含み、前記テスト信号生成用回路基板４０が汎用コネクタ４１と、前記汎用コネクタ４１に電気的に接続された回路基板４２と、を含み、前記プローブコネクタ構造１が前記汎用コネクタ４１内に挿着され、前記プローブコネクタ構造１のプローブユニット２０の一端が前記汎用コネクタ４１に電気的に接続され、前記プローブコネクタ構造１のプローブユニット２０の他端がテスト対象サブストレートの電気的な接続用である。

図８を一緒に参照すると、本考案の別の実施例に係るテストモジュールがテスター内に設けられた様子を示す図であり、前記テストモジュール１００は、テスター２００内に挿着することで前記テスト信号生成用回路基板４０から生成されたテスト信号を前記テスト対象サブストレート５０に提供するために用いられる。

本実施例において、前記テスト信号生成用回路基板４０は、補強材構造４３をさらに含み、前記補強材構造４３がネジを介して前記回路基板４２上に締め付けられることができ、前記補強材構造４３の形状が主に前記回路基板４２の縁の帯状輪郭に対応することで、前記テスト信号生成用回路基板４０の機械的強度を高め；前記回路基板４２及び前記プローブコネクタ構造１のホルダ１０は、前記補強材構造４３に固定され、例えば前記ホルダ１０が２つの固定アーム１２を通じて前記補強材構造４３に固定される。

図１乃至図４、図７、図８を一緒に参照すると、本実施例の前記金属製シールドカバー３０内の前記ハーフシールドシート３５が前記シールドシート３２よりも前記補強材構造４３に近く、前記シールドシート３２及び前記ハーフシールドシート３５が前記プローブユニット２０及び前記ホルダ１０の側端の対向両側を遮蔽し、前記金属製シールドカバー３０が前記ハーフシールドシート３５の一側を前記補強材構造４３に固定する。

したがって、本考案の実施例に係る前記プローブコネクタ構造及び前記プローブコネクタ構造を備えたテストモジュールにおいて、前記金属製シールドカバーは、前記プローブユニットの側端の対向両側を遮蔽することで、前記プローブユニットの側端部から放射される不要輻射を低減し、不要輻射を減少又は遮蔽する効果を奏し、本考案の実施例に係るプローブコネクタ構造を使用するテストモジュールが放射妨害波試験を行う時、各周波数の不要輻射をさらに効果的に抑制して設定された規格基準に達することができる。

本考案は、好ましい実施形態を用いて上に開示されたが、当業者は前記実施例が本考案を説明するためだけに使用され、本考案の範囲を限定するものとして解釈されるべきではないことを理解すべきである。前記実施例と均等範囲内の変更及び置換は、本考案の範囲に網羅されるべきであることに留意されたい。したがって、本考案の保護範囲は、実用新案登録請求の範囲で画定するものを基準とする。

１ プローブコネクタ構造
１０ ホルダ
１１ 突き合わせ部
１１１ スルーホール
１１１Ａ オフセットスルーホール
１１１Ｂ 同じ位置スルーホール
１２ 固定アーム
２０ プローブユニット
２１ プローブ
２１１ オフセット針先
２１Ａ 針先端子
２１Ｂ 曲がった端子
３０ 金属製シールドカバー
３１ 当接片
３２ シールドシート
３３ 開口部
３４ 当接弾性片
３５ ハーフシールドシート
４０ テスト信号生成用回路基板
４１ 汎用コネクタ
４２ 回路基板
４３ 補強材構造
５０ テスト対象サブストレート
１００ テストモジュール
２００ テスト設備
ｄ オフセット距離
Ｄ 距離
Ｌ 延長線

Claims (9)

1. テスト対象サブストレートとテスト信号生成用回路基板間との電気的な接続を提供するために用いられ、
   突き合わせ部と、２つの固定アームと、を含み、前記２つの固定アームが前記突き合わせ部の両端に配置され、前記突き合わせ部に対して長さ方向に垂直に延びるホルダと、
   前記突き合わせ部内に固定され、アレイ状に配置された複数のプローブを含み、各前記プローブの一部が前記突き合わせ部の下方に露出するプローブユニットと、
   前記ホルダ上で取り外し可能に覆設され、当接片と、シールドシートと、を含み、前記当接片が前記突き合わせ部を露出するための開口部を有し、前記シールドシートが前記当接片に対して垂直に延びると共に前記プローブユニットの一側を遮蔽し、金属製シールドカバーが前記突き合わせ部の下方にある各前記プローブの露出部分を遮蔽する金属製シールドカバーと、
   を含む、プローブコネクタ構造。
2. 前記金属製シールドカバーの当接片上には、複数の当接弾性片を有する、請求項１に記載のプローブコネクタ構造。
3. 前記金属製シールドカバーは、ハーフシールドシートを備え、前記ハーフシールドシートが前記当接片に対して垂直に延び、前記シールドシートの対向側に配置され、前記ハーフシールドシートの垂直に延びる長さが前記シールドシートよりも短く、前記シールドシート及び前記ハーフシールドシートが前記突き合わせ部の下方にある各前記プローブの露出部分を遮蔽する、請求項１又は２に記載のプローブコネクタ構造。
4. 前記金属製シールドカバーの前記シールドシートが垂直に延びる長さは、各前記固定アームの長さと同じである、請求項３に記載のプローブコネクタ構造。
5. 前記プローブユニット内のプローブは、複数のオフセット針先を含み、各前記オフセット針先が針先端子と、曲がった端子と、を備え、前記曲がった端子が前記針先端子の軸線からオフセットする方法で曲がるように延在される、請求項３に記載のプローブコネクタ構造。
6. 請求項１〜５のいずれか一項に記載のプローブコネクタ構造と、
   汎用コネクタと、前記汎用コネクタに電気的に接続された回路基板と、を含み、前記プローブコネクタ構造が前記汎用コネクタ内に挿着され、前記プローブコネクタ構造のプローブユニットの一端が前記汎用コネクタに電気的に接続され、前記プローブコネクタ構造のプローブユニットの他端がテスト対象サブストレートの電気的な接続用であるテスト信号生成用回路基板と、
   を含む、テストモジュール。
7. 前記テスト信号生成用回路基板は、補強材構造をさらに含み、前記回路基板及び前記プローブコネクタ構造のホルダが前記補強材構造に固定される、請求項６に記載のテストモジュール。
8. 前記ホルダは、２つの固定アームを介して前記補強材構造に固定される、請求項７に記載のテストモジュール。
9. 前記金属製シールドカバーは、シールドシートと、ハーフシールドシートと、を備え、前記ハーフシールドシートが前記シールドシートよりも前記補強材構造に近く、前記シールドシート及び前記ハーフシールドシートが前記プローブユニット及び前記ホルダの側端の対向両側を遮蔽する、請求項７に記載のテストモジュール。