CN212646747U - 探针连接器结构及测试模块 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种探针连接器结构及测试模块，探针连接器结构包含：固定座、探针单元及金属遮蔽盖，金属遮蔽盖包括抵接片及遮蔽片，藉由抵接片具有的开口供所述固定座内的对接部露出，且所述金属遮蔽盖并可将所述探针单元的侧缘的相对两侧进行遮蔽，降低所述探针单元的侧缘区域的辐射散发，达到遮蔽辐射的效果，让使用本实用新型的探针连接器结构的测试模块在进行辐射放射测试时，各频率的辐射量能够被进一步有效抑制而达到设定的规范标准。

Description

探针连接器结构及测试模块

【技术领域】

本实用新型是关于一种探针连接器结构及测试模块，特别是关于一种可降低辐射散发的探针连接器结构及测试模块。

【背景技术】

现有技术中，用于测试系统芯片的测试设备基于特定需求(例如讯号种类、通道数量、可平行测试的待测物数量等)、而具有可插拔的电路板模块设计，以便于可依测试目的来更换需要的电路板模块，进而满足多样性的测试需求。

现有技术的测试设备包含多个电路板模块及多个探针连接器，用以对一待测载板进行测试，提供测试讯号的所述各个电路板模块透过对应的探针连接器与所述待测载板电性连接。然而，所述探针连接器于导通运作时因电流流通而会散发出辐射，而不利于现有的测试设备进行辐射放射测试的验证。

【发明内容】

为了克服现有技术的不足，本实用新型的一目的在于提供一种探针连接器结构，其具有遮蔽结构，以减少散发出的辐射。

为了实现上述目的或其它目的，本实用新型提供了一种探针连接器结构，用于提供待测载板与测试讯号产生电路板间的电性连接，所述探针连接器结构包含一固定座、一探针单元及一金属遮蔽盖，所述固定座包括一对接部及二固定臂，所述二固定臂配置于所述对接部的二端并以相对于所述对接部的长度方向上垂直延伸；所述探针单元包括被固定于所述对接部中并以阵列排列的多个探针，所述各个探针部分露出于所述对接部下方；所述金属遮蔽盖可拆卸地罩设于所述固定座上，所述金属遮蔽盖包括一抵接片及一遮蔽片，所述抵接片具有供所述对接部露出的一开口，所述遮蔽片相对于所述抵接片垂直延伸并遮蔽所述探针单元的一侧，所述金属遮蔽盖遮蔽所述各个探针于所述对接部下方所露出的部分。

在本实用新型的一实施例中，所述金属遮蔽盖的抵接片上具有多个抵接弹片。

在本实用新型的一实施例中，所述金属遮蔽盖具有一半遮片，所述半遮片相对于所述抵接片垂直延伸并配置在相对于所述遮蔽片的一侧，所述半遮片垂直延伸的长度短于所述遮蔽片，所述遮蔽片及所述半遮片遮蔽所述各个探针于所述对接部下方所露出的部分。

在本实用新型的一实施例中，所述金属遮蔽盖的所述遮蔽片所垂直延伸的长度相同于所述各个固定臂的长度。

在本实用新型的一实施例中，所述探针单元中，所述多个探针包括多个偏位顶针，所述各个偏位顶针具有一顶针端子及一弯折端子，所述弯折端子是以偏离所述顶针端子的轴线的方式延伸弯折。

为了实现上述目的或其它目的，本实用新型还提供了一种测试模块，其包含上述的探针连接器结构及一测试讯号产生电路板，所述测试讯号产生电路板包括一通用连接器及与所述通用连接器电性连接的一电路板，所述探针连接器结构插接于所述通用连接器中，所述探针连接器结构的探针单元的一端电性连接所述通用连接器，所述探针连接器结构的探针单元的另一端供待测载板的电性连接。

在本实用新型的一实施例中，所述测试讯号产生电路板更包括一补强条结构，所述电路板及所述探针连接器结构的固定座固定至所述补强条结构。

在本实用新型的一实施例中，所述固定座通过二固定臂固定至所述补强条结构。

在本实用新型的一实施例中，所述金属遮蔽盖具有一遮蔽片及一半遮片，所述半遮片较所述遮蔽片靠近所述补强条结构，所述遮蔽片与所述半遮片遮蔽在所述探针单元及所述固定座的侧缘的相对两侧。

借此，本实用新型实施例的所述探针连接器结构及具有所述探针连接器结构的测试模块中，所述金属遮蔽盖可将所述探针单元的侧缘的相对两侧进行遮蔽，而可降低所述探针单元的侧缘区域散发的辐射量，达到减少或遮蔽辐射的效果，让使用本实用新型实施例的探针连接器结构的测试模块在进行辐射放射测试时，各频率的辐射量能够被进一步有效抑制而达到设定的规范标准。

【附图说明】

图1为本实用新型一实施例的探针连接器结构的分解示意图；

图2为本实用新型一实施例的探针连接器结构的结合示意图；

图3为本实用新型一实施例的探针连接器结构另一视角的分解示意图；

图4为本实用新型一实施例的探针连接器结构另一视角的结合示意图；

图5为本实用新型一实施例中的探针的结构示意图；

图6为本实用新型一实施例中的对接部顶面的示意图；

图7为本实用新型另一实施例中的测试模块的结构示意图；以及

图8为本实用新型另一实施例的测试模块设置于测试设备中的示意图。

【具体实施方式】

为充分了解本实用新型的目的、特征及功效，现通过下述具体的实施例，并配合所附的图式，对本实用新型做一详细说明，说明如下：

在本实用新型中，所描述的用语“包含、包括、具有”或其它任何类似用语意非仅限于本实用新型所列出的此等要件而已，而是可包括未明确列出但却是部件、单元或装置中通常固有的其它要件。

在本实用新型中，在不相冲突的前提下，所描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例。

请同时参阅图1及图2，为本实用新型一实施例的探针连接器结构的分解示意图与结合示意图。本实施例的探针连接器结构，用于提供待测载板(图未示)与测试讯号产生电路板(图未示)间的电性连接，举例而言，所述探针连接器结构为一端抵接或插接于所述待测载板，另一端为抵接或插接于所述测试讯号产生电路板，以使所述待测载板与所述测试讯号产生电路板之间达成电性连接，藉此供二者彼此接收或传送电讯号。

所述探针连接器结构1包含一固定座10、一探针单元20及一金属遮蔽盖30，所述固定座10包括一对接部11及二固定臂12，所述二固定臂12配置于所述对接部11的二端并以相对于所述对接部11的长度方向上垂直延伸；所述探针单元20包括被固定于所述对接部11中并以阵列排列的多个探针21，所述各个探针21部分露出于所述对接部11下方；所述金属遮蔽盖30可拆地罩设于所述固定座10上，所述金属遮蔽盖30包括一抵接片31及一遮蔽片32，所述抵接片31具有供所述对接部11露出的一开口33，所述遮蔽片32相对于所述抵接片31垂直延伸并遮蔽所述探针单元20的一侧，所述金属遮蔽盖30遮蔽所述各个探针21于所述对接部11下方所露出的部分。

如图1中的示例，所述固定座10的所述对接部11与所述二固定臂12可概呈“ㄇ”字型；所述对接部11可具有多个通孔111，所述多个通孔111阵列排列并供所述多个探针21插置；所述对接部11可包括但不限于概呈矩形立方体的凸台，以供插置到所述待测载板上相对应的插接孔。

所述金属遮蔽盖30供罩设住所述固定座10，所述金属遮蔽盖30的所述抵接片31对应于所述固定座10上具有所述对接部11的一侧，并且，所述抵接片31具有所述开口33以供所述对接部11露出(图2)，而使被设置于所述对接部11中的所述多个探针21的上端可被露出。

作为一示例，优选地，所述金属遮蔽盖30的材料可由例如铜、铝、钢或其它金属所制成。

所述金属遮蔽盖30的所述遮蔽片32连接于所述抵接片31，并大致垂直于所述抵接片31延伸，即所述遮蔽片32大致垂直所述抵接片31，当所述金属遮蔽盖30罩设于所述固定座10之后，所述遮蔽片32可横跨于所述二固定臂12之间的区域而邻近所述探针单元20的一侧，而对应遮蔽了所述二固定臂12之间的所述探针单元20的一侧，借以降低所述探针单元20的侧缘区域所散发的辐射量，达到降低辐射的效果。

其中，所述金属遮蔽盖30的所述遮蔽片32所垂直延伸的长度可相同于所述各个固定臂12的长度，进而可以遮蔽住所述二固定臂12之间的区域的一侧。

请一并参阅图3及图4，为本实用新型一实施例的探针连接器结构另一视角的分解示意图与结合示意图。

进一步地，配合图3及图4所示，所述金属遮蔽盖30可具有一半遮片35，所述半遮片35相对于所述抵接片31垂直延伸并配置在相对于所述遮蔽片32的一侧，借此，可更进一步降低所述探针单元20的侧缘区域所散发的辐射量。其中，所述半遮片35垂直延伸的长度短于所述遮蔽片32，使所述金属遮蔽盖30于所述半遮片35的一侧形成有一凹口，所述遮蔽片32及所述半遮片35遮蔽所述各个探针21于所述对接部11下方所露出的部分，而所述凹口供露出所述测试讯号产生电路板的一部分，以便于电连接构件的安排或配线。

本实施例中，所述金属遮蔽盖30的抵接片31上具有多个抵接弹片34，所述各个抵接弹片34一端连接所述抵接片31，另一端向上翘起，以用于弹性接触所述待测载板的底面表面，借以达到接地的作用。

所述探针单元20中，所述各个探针21可为一种pogo pin(弹簧探针)，所述各个探针21通过露出于所述对接部11的上端跟下端对应地抵接或插接至所述待测载板及所述测试讯号产生电路板，以使所述待测载板与所述测试讯号产生电路板电性连接。

请参照图5，其为本实用新型一实施例中的探针的结构示意图。

所述探针单元20中，所述多个探针21可包括多个偏位顶针211，所述各个偏位顶针211具有一顶针端子21A及一弯折端子21B，所述弯折端子21B以偏离所述顶针端子21A的轴线的方式延伸弯折，以使所述各个偏位顶针211的所述顶针端子21A及所述弯折端子21B可连接一同位接点及位置偏离所述同位接点的一偏位接点。借此，本实用新型实施例的探针连接器结构，可适用具有偏位接点的待测载板，使具有偏位接点的待测载板能与具有同位接点的连接器的测试讯号产生电路板电性连接。

举例来说，对应于所述待测载板的测试接点的位置，所述对接部11上的所述多个通孔111可全部为同位排列的阵列，或亦可为一部分为偏位而一部分为同位的阵列，请一并参考图6，其为本实施例中的对接部11顶面的示意图，若存在部分偏位排列的偏位通孔111A时，所述探针单元20中可采用对应数量的偏位顶针211，所述弯折端子21B偏离所述顶针端子21A的轴线的偏位间距d(图5)，等于所述对接部11上其中一个偏位通孔111A的中心点与最相邻的一列(或最相邻的一行)的同位通孔111B中心点延伸线L的间距D(图6)。

请参考图7，其为本实用新型另一实施例中的测试模块的结构示意图。

所述测试模块100包含所述探针连接器结构1及一测试讯号产生电路板40，其中所述测试讯号产生电路板40包括一通用连接器41及与所述通用连接器41电性连接的一电路板42，所述探针连接器结构1插接于所述通用连接器41中，所述探针连接器结构1的探针单元20的一端电性连接所述通用连接器41，所述探针连接器结构1的探针单元20的另一端供待测载板的电性连接。

请一并参考图8，其为本实用新型另一实施例的测试模块设置于测试设备中的示意图，所述测试模块100用于插接至测试设备200中，以将所述测试讯号产生电路板40所产生的测试讯号提供予所述待测载板50。

本实施例中，所述测试讯号产生电路板40更包括一补强条结构43，所述补强条结构43可藉由螺丝锁附于所述电路板42上，且所述补强条结构43的形状主要对应于所述电路板42边缘的条状轮廓，借以增加所述测试讯号产生电路板40的机械强度；所述电路板42及所述探针连接器结构1的固定座10固定至所述补强条结构43，举例来说，所述固定座10藉由二固定臂12固定至所述补强条结构43。

另请一并参考图1至4、7、8，本实施例的所述金属遮蔽盖30中，所述半遮片35较所述遮蔽片32靠近所述补强条结构43，所述遮蔽片32与所述半遮片35遮蔽在所述探针单元20及所述固定座10的侧缘的相对两侧，所述金属遮蔽盖30是以所述半遮片35的一侧锁固至所述补强结构条43上。

据此，本实用新型实施例的所述探针连接器结构及具有所述探针连接器结构的测试模块中，所述金属遮蔽盖可将所述探针单元的侧缘的相对两侧进行遮蔽，而可降低所述探针单元的侧缘区域散发的辐射量，达到减少或遮蔽辐射的效果，让使用本实用新型实施例的探针连接器结构的测试模块在进行辐射放射测试时，各频率的辐射量能够被进一步有效抑制而达到设定的规范标准。

本实用新型在上文中已以优选实施例公开，然本领域技术人员应理解的是，所述实施例仅用于描绘本实用新型，而不应解读为限制本实用新型的范围。应注意的是，只要与所述实施例等效的变化与置换，均应设为涵盖于本实用新型的范畴内。因此，本实用新型的保护范围当以申请专利范围所界定者为准。

【附图标记】

1 探针连接器结构

10 固定座

11 对接部

111 通孔

111A 偏位通孔

111B 同位通孔

12 固定臂

20 探针单元

21 探针

211 偏位顶针

21A 顶针端子

21B 弯折端子

30 金属遮蔽盖

31 抵接片

32 遮蔽片

33 开口

34 抵接弹片

35 半遮片

40 测试讯号产生电路板

41 通用连接器

42 电路板

43 补强条结构

50 待测载板

100 测试模块

200 测试设备

d 偏位间距

D 间距

L 延伸线

Claims (9)

1.一种探针连接器结构，用于提供待测载板与测试讯号产生电路板间的电性连接，其特征在于，所述探针连接器结构包含：

一固定座，包括一对接部及二固定臂，所述二固定臂配置于所述对接部的二端并以相对于所述对接部的长度方向上垂直延伸；

一探针单元，包括被固定于所述对接部中并以阵列排列的多个探针，所述各个探针部分露出于所述对接部下方；及

一金属遮蔽盖，可拆地罩设于所述固定座上，所述金属遮蔽盖包括一抵接片及一遮蔽片，所述抵接片具有供所述对接部露出的一开口，所述遮蔽片相对于所述抵接片垂直延伸并遮蔽所述探针单元的一侧，所述金属遮蔽盖遮蔽所述各个探针于所述对接部下方所露出的部分。

2.如权利要求1所述的探针连接器结构，其特征在于，所述金属遮蔽盖的抵接片上具有多个抵接弹片。

3.如权利要求1或2所述的探针连接器结构，其特征在于，所述金属遮蔽盖具有一半遮片，所述半遮片相对于所述抵接片垂直延伸并配置在相对于所述遮蔽片的一侧，所述半遮片垂直延伸的长度短于所述遮蔽片，所述遮蔽片及所述半遮片遮蔽所述各个探针于所述对接部下方所露出的部分。

4.如权利要求3所述的探针连接器结构，其特征在于，所述金属遮蔽盖的所述遮蔽片所垂直延伸的长度相同于所述各个固定臂的长度。

5.如权利要求3所述的探针连接器结构，其特征在于，所述探针单元中，所述多个探针包括多个偏位顶针，所述各个偏位顶针具有一顶针端子及一弯折端子，所述弯折端子是以偏离所述顶针端子的轴线的方式延伸弯折。

6.一种测试模块，其特征在于，该测试模块包含：

如权利要求1至5中任一项所述的探针连接器结构；及

一测试讯号产生电路板，包括一通用连接器及与所述通用连接器电性连接的一电路板，所述探针连接器结构插接于所述通用连接器中，所述探针连接器结构的探针单元的一端电性连接所述通用连接器，所述探针连接器结构的探针单元的另一端供待测载板的电性连接。

7.如权利要求6所述的测试模块，其特征在于，所述测试讯号产生电路板更包括一补强条结构，所述电路板及所述探针连接器结构的固定座固定至所述补强条结构。

8.如权利要求7所述的测试模块，其特征在于，所述固定座藉由二固定臂固定至所述补强条结构。

9.如权利要求7所述的测试模块，其特征在于，所述金属遮蔽盖具有一遮蔽片及一半遮片，所述半遮片较所述遮蔽片靠近所述补强条结构，所述遮蔽片与所述半遮片遮蔽在所述探针单元及所述固定座的侧缘的相对两侧。

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