JP3218189B2 - 測距装置 - Google Patents

測距装置

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JP3218189B2
JP3218189B2 JP25107396A JP25107396A JP3218189B2 JP 3218189 B2 JP3218189 B2 JP 3218189B2 JP 25107396 A JP25107396 A JP 25107396A JP 25107396 A JP25107396 A JP 25107396A JP 3218189 B2 JP3218189 B2 JP 3218189B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、測距対象に向けて
光線を投射し、測距対象からの反射光を検出して、測距
対象までの距離を検出する測距装置に関する。
【0002】
【従来の技術】かかる測距装置としては、従来、測距対
象に向けて光線を投射してから、その光線が測距対象で
反射して戻ってくるまでの時間を測定し、その時間と光
の速さとから測距対象までの距離を求める方式(以下、
「TOF方式」と略記する)と、測距対象に向けて一定
周波数の信号で変調した光線を投射して、測距対象で反
射して戻ってきた光線を検出し、その検出信号と上記一
定周波数の信号との位相差から測距対象までの距離を求
める方式(以下、「位相比較方式」と略記する)とが考
えられている。
【0003】位相比較方式の場合では、位相差が0〜2
π(1周期)の範囲でしか検出できないことから、原則
として測定対象までの往復距離が上記変調周波数の1周
期に対応する距離以内に制限される。つまり、測距対象
までの距離Dは、第2測距用光源での変調信号の波長を
λとすると、 D=(n×λ+φ)/2 (nは0以上の整数) と表されるが、位相比較方式で求まるのは、上式のうち
の位相差に対応する距離φのみであるので、原則として
n=0すなわち最大でλ/2の範囲に制限される。この
範囲を超えて測距を行う場合は、従来、λを複数に変化
させて、夫々φを測定し、その測定結果から整数nを特
定して、距離Dを求めていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来構成では、TOF方式の場合では、時間の測定精度の
わりに光の速さが速いことから、測距精度が低くなって
しまう不都合があり、位相比較方式の場合では、測定精
度は高いものの、原則として測距範囲に制限を受け、そ
の制限を超えて測距するときは、測定条件を複数に変化
させて必要があり、測定時間が長くなる不都合があっ
た。本発明は、上記実情に鑑みてなされたものであっ
て、その目的は、可及的に測距精度の向上と測定時間の
短縮を図る点にある。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記請求項1記載の構成
を備えることにより、第1測距用光源から投射されたパ
ルス状の光線は、測距対象にて反射されて受光手段に入
射する。上記パルス状の光線が第1測距用光源から投射
されてから、受光手段に入射して検出されるまでの時間
は、計時手段にて計測されている。一方、第2測距用光
源からは、設定周期の基準信号にて変調された光線が測
距対象に向けて照射され、測距対象で反射して受光手段
に入射する。この受光手段の検出信号は、位相差検出手
段によって、上記基準信号との位相差が検出される。
【0006】計時手段の計測情報と光の速さとからは、
測距対象までの絶対的な距離情報が求まり、位相差検出
手段の検出情報からは、基準信号の1周期に対応する距
離内での距離情報(厳密には往復距離情報)が求まる。
距離演算手段は、これらの距離情報から測距対象までの
距離を演算式に基づいて演算する。つまり、測距対象ま
での距離Dは、位相差検出手段が検出する位相差に対応
する距離をφ1 、投射された光線における基準信号の繰
り返し信号間の距離(波長に対応)をλ1 とすると、 D=(n1 ×λ1 +φ1 )/2 (1) 式(演算式) と表されるが、この(1) 式のDに、計時手段の計測情報
(t)と光の速さ(c)とから求めた測距対象までの絶
対的な距離情報D' (=t×c/2)を代入することで
整数としての1 を特定でき、このn 1 の値と、前記φ
1 の値と、演算式とに基づいて測距対象までの距離Dが
求まる。
【0007】従って、計時手段の計測情報から求めた絶
対的な距離情報に多少の誤差があっても、n1 の特定に
影響するほどの誤差とならないように設定しておけば、
位相差に基づいて求める距離φ1 の測定精度が良いこと
から、距離Dを精度良く求めることができる。もって、
計時手段の計測情報から求めた絶対的な距離情報及び位
相差検出手段の検出情報から求めた距離情報夫々の特質
を生かしながら結合することによって、可及的に測距精
度の向上と測定時間の短縮を図れる測距装置を提供する
に至った。
【0008】又、上記請求項2記載の構成を備えること
により、位相差検出手段は、ヘテロダイン検波により、
受光手段の検出信号と上記基準信号との位相差を検出す
る。測距分解能を向上するには、基準信号の周波数を高
くすれば良いが、一般に、周波数を高くするほど位相差
検出手段による位相差の検出が困難となるので、ヘテロ
ダイン検波によって位相差の検出の対象となる信号の周
波数を下げることで、位相差検出手段による位相差の検
出を容易に行える。
【0009】又、上記請求項3記載の構成を備えること
により、第1測距用光源と第2測距用光源とが、強度変
調可能な単一の発光装置を備えて兼用構成されているの
で、装置構成の小型化及び簡素化を図れると共に、第1
測距用光源及び第2測距用光源の光路が単一となるの
で、測距装置の取り付け調整等も容易となる。尚、第1
測距用光源の機能に対応するパルス信号は、変調装置に
よって、第2測距用光源の機能に対応する基準信号より
も変調強度が大となる状態で強度変調されるので、単一
の発光装置にて第1測距用光源及び第2測距用光源の機
能を兼ね備えさせても、的確に計時手段による計時及び
位相差検出手段により位相差の検出を行える。
【0010】又、上記請求項4記載の構成を備えること
により、変調装置は、第1測距用光源の機能に対応する
パルス信号を、予定する最大測定距離離れて位置する測
距対象までの光の往復時間よりも長い時間幅で繰り返す
周期信号としているので、絶対的な距離情報を繰り返し
求めることができ、多数のデータを利用して精度向上を
図れる。
【0011】又、上記請求項5記載の構成を備えること
により、第1測距用光源の機能に対応するパルス信号
と、第2測距用光源の機能に対応する基準信号とが同期
しが状態で、発光装置に変調がかけられるので、測距対
象からの反射光を検出した受光手段の検出信号におい
て、上記のパルス信号に対応する成分と基準信号に対応
する成分とを分離したときに、非同期で混合されている
ものに較べて分離後の信号を滑らかなものにし易く、測
定精度の向上に寄与する。又、上記請求項6記載の構成
を備えることにより、発光装置として半導体レーザ素子
が備えられる。半導体レーザ素子は、注入電流により容
易に強度変調をかけることができるので取扱いが容易で
あり、又、出射光に指向性があるので、測距用光源に好
適である。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を、耕
耘装置6を取り付けた農用トラクターV(以後、作業車
Vという)が、圃場F内に設けた複数個の作業行程Lに
沿って自動走行しながら、耕耘作業等を行うときの、作
業車Vの測位に適用した場合について説明する。
【0013】圃場Fの外側には、図2及び図5に示すよ
うに、レーザ測位装置40が、水平面内における位置が
判っている地上側の設定基準位置に設置されている。レ
ーザ測位装置40は、作業車Vまでの距離を測定すると
共に、レーザ測位装置40に対する作業車Vの存在方位
を測定して、作業車Vの存在位置を測定するものであ
り、このため、ビーム光を水平方向に回転走査自在に構
成され、そのビーム光が作業車Vに備えられた回帰反射
体53にて反射されて戻ってきた光を検出して、作業車
Vまでの距離とビーム光が反射してきたときのビーム光
の走査角とから、作業車Vの位置測定を行う。
【0014】回帰反射体53は、いわゆるコーナーキュ
ーブの反射面に相当するものを円筒の周面に多数配列し
たものであり、ビーム光が飛来して来た方向にそのビー
ム光を反射する。回帰反射体53は、後述する受光器5
4と共に二股状の支持アーム51に取り付けられ、支持
アーム51は、図2等に示すように、耕耘装置6側に取
り付けられている支持筒37aに内嵌状態で支持されネ
ジ止め固定される。
【0015】レーザ測位装置40には、図4(イ)に示
すように、半導体レーザ素子LDにて構成される発光装
置60と、発光装置60の出射光を平行光にするコリメ
ートレンズ61と、作業車Vからの反射光を検出する受
光手段としての受光素子62と、作業車Vからの反射光
を受光素子62に導くビームスプリッタ63と、発光装
置60の出射光の向きを90度偏向して水平方向に投射
させ且つ図示しないモータによって縦軸芯周りに回動駆
動される反射鏡64と、その反射鏡64の回転角を検出
するロータリエンコーダ65とが設けられており、反射
鏡64を回転駆動することによって、発光装置60の出
射光を水平方向に回転走査自在としている。
【0016】この他、レーザ測位装置40には、図4
(イ)に示す発光装置60の駆動回路及び受光素子62
の検出信号の信号処理回路等が備えられている。以下、
これらの回路の作動について説明する。発光装置60
は、図4(ロ)に示すように、第1発振器66による数
百MHz程度の正弦波信号(同図(ロ)において「A」
で示す)と、パルス発振器67による数μs〜十数μs
程度の繰り返し周期のパルス信号(同図(ロ)において
「B」で示す)とが足し合わされた信号で駆動され、こ
の結果、発光装置60の出射光は図4(ロ)に示す信号
で強度変調されることになる。この第1発振器66の正
弦波信号は、発光装置60を変調するための設定周期に
基準信号となる。従って、第1発振器66及びパルス発
振器67は、発光装置60を強度変調する変調装置AM
として機能する。
【0017】尚、パルス発振器67のパルス信号のピー
ク値は、第1発振器66の正弦波信号の振幅より十分大
きく、パルス信号による変調強度が正弦波信号による変
調強度より大としてある。又、パルス発振器67は、第
1発振器66からの同期信号によってパルス発振するの
で、図4(ロ)に示すようにパルス信号と正弦波信号の
同期がとれており、パルス信号の信号幅を正弦波の周期
に一致させてあるので、両信号が滑らかにつながってい
る。
【0018】受光素子62の検出信号は、図4(ロ)に
示す信号に対して作業車Vまでの距離に応じて位相が異
なる信号となっており、以下に説明する2系統で処理さ
れる。一方の処理系統は、比較信号レベルが正弦波信号
のレベルより高い値に設定してあるコンパレータ68に
入力されて、パルス信号のみが検出され、計時手段とし
てのタイマ69に入力される。このタイマ69には、パ
ルス発振器67の出力信号も入力され、タイマ69は、
パルス発振器67からパルス信号が入力されると共に計
時を開始し、コンパレータ68からパルス信号が入力さ
れるまでの計時時間tを演算装置70へ出力する。上記
パルス信号の繰り返し周期は、作業車Vまでの距離とし
て想定している最大距離を光が往復する時間より長くな
るように設定してあるので、演算装置70は、上記の計
時時間から、上述の如く絶対的な距離情報D' (=t×
c/2)を求める(cは光の速さ)。
【0019】他方の処理系統は、正弦波信号のレベルよ
りわずかに高い信号レベルを最大信号範囲とするアンプ
71に入力され、パルス信号がクランプされた状態で出
力される。アンプ71の出力信号は、第1発振器66
数MHz〜十数MHz程度発振周波数が異なる正弦波信
号を発振する第2発振器72の出力信号と混合され、そ
の結果生じたビート信号がコンパレータ73にて矩形波
に変換されて、タイマ74に入力される。タイマ74に
は、第1発振器66の出力信号と第2発振器72の出力
信号を混合して生じたビート信号をコンパレータ75に
て矩形波に変換した信号も入力されており、タイマ74
は、コンパレータ75からパルス信号が入力されると共
に計時を開始し、コンパレータ73からパルス信号が入
力されるまでの計時時間Tを演算装置70へ出力する。
すなわち、第2発振器72、コンパレータ73,75及
びタイマ74を主要部として、受光素子62の検出信号
と第1発振器66の出力信号(基準信号)との位相差
を、ヘテロダイン検波により検出する位相差検出手段F
Dが構成されている。
【0020】演算装置70は、この計時時間Tから、第
1発振器66の正弦波と、受光素子62の検出信号に含
まれる正弦波信号との位相差を求め、その位相差に対応
する距離φ1 に換算し、上記の絶対的な距離情報D' と
から、測距対象である作業車V(厳密には回帰反射体5
3)までの距離を求める。従って、演算装置70は、測
距対象までの距離を演算する距離演算手段DDとして機
能する。つまり、第1発振器66の正弦波の波長をλ1
として、D' /(λ1 /2)+1/2の整数部分として
上記(1) 式のn1 を求め、(1)式によって移動車Vまで
の距離を求める。
【0021】従って、レーザ測位装置40は、測距対象
(作業車V)に向けてパルス状の光線を投射する第1測
距用光源FLとしての機能と、測距対象に向けて設定周
期の基準信号にて変調された光線を投射する第2測距用
光源SLとしての機能とを、単一の発光装置60にて兼
用構成される状態で、兼ね備えて構成されている。演算
装置70は、上記のようにして求めた作業車Vまでの距
離と、反射鏡64の回転角を検出するロータリエンコー
ダ65の出力信号によって求めたビーム光の投射方位
(図5におけるα)とから、作業車Vの圃場Fにおける
水平面内の位置情報を求めて、SS無線装置52にて作
業車Vに送信する。
【0022】次に、作業車Vの構成について説明する。
図2及び図6に示すように、車体5の後部側のミッショ
ンケース25に、3点リンク機構を構成する上下揺動自
在なトップリンク26と左右一対のロアリンク27とが
支持され、それらのリンク26,27を介して、ロータ
リー式の耕耘装置6が着脱自在に、且つ昇降及び傾斜自
在に連結されている。耕耘装置6には、機体後部の駆動
軸28から動力が伝達されて内部の耕耘爪が回転するよ
うになっている。
【0023】ミッションケース25の上部に、昇降用油
圧シリンダ13により上下に揺動駆動される左右一対の
リフトアーム29が備えられ、この一対のリフトアーム
29とロアリンク27とが、リフトロッド36及び複動
型の傾斜用油圧シリンダ23を介して連結されている。
ここで、昇降用油圧シリンダ13を作動させて耕耘装置
6の車体5に対する昇降位置を変更することができ、傾
斜用油圧シリンダ23を作動させて耕耘装置6の車体5
に対する傾き(リフトロッド36との連結点周りでの機
体横幅方向への傾き)を変更することができる。一方の
ロアリンク27の基端部に、耕耘装置6の車体5に対す
る昇降位置をロアリンク27の揺動角度として検出する
ポテンショメータ利用の昇降位置検出センサS1が設け
られ、又、耕耘装置6の車体5に対する機体横幅方向で
の傾きを傾斜用油圧シリンダ23の伸縮量として検出す
るストロークセンサS2が設けられている。
【0024】図7及び図8にも示すように、前記3点リ
ンク機構の後端側に背面視略A字形の連結フレーム37
が連結され、この連結フレーム37の上部にフック38
を取り付けるとともに、耕耘装置6の上部に設けた連結
アーム39に、上記フック38に係合する係合ピン39
aを固設してある。連結フレーム37の上端には、支持
アーム51を支持する支持筒37aの下端部が固定され
ている。又、連結フレーム37の下部に、横向きに架設
固定した連結ピン46aを備えた連結部46を取り付け
るとともに、連結アーム39の下方側に上記連結ピン4
6aに係合する凹部47aを備えた左右一対の板状係合
部材47を固設してある。これにより、連結アーム39
側の係合ピン39aを連結フレーム37側のフック38
に係合させた状態で、リフトアーム29を上方に揺動さ
せて耕耘装置6を吊り上げると、連結アーム39側の凹
部47aが連結フレーム37側の連結ピン46aに係合
し、ロック部材48にて上記連結ピン46aの凹部47
aへの係合状態の外れを阻止するようになっている。つ
まり、耕耘装置6に代えて他の作業部を作業車Vに付設
することができる。
【0025】図1に示すように、車体5に備えた左右一
対の前輪3及び後輪4は、左右を一対として各別に操向
操作自在に構成され、ステアリング用の油圧シリンダ
7,8と、電磁操作式の制御弁9,10とが設けられて
いる。つまり、前輪3のみを操向する2輪ステアリング
形式、前後輪3,4を逆位相で且つ同角度に操向する4
輪ステアリング形式の2種類のステアリング形式を選択
使用できる。尚、各作業行程Lに沿っての直進走行時に
は、前輪3のみを操向する2輪ステアリング形式で行
う。
【0026】図1中、Eはエンジン、11はエンジンE
からの出力を変速して前後輪3,4の夫々を同時に駆動
する油圧式無段変速装置、12はその変速操作用の電動
モータ、13は前記昇降用油圧シリンダ、14はその制
御弁、23は前記傾斜用油圧シリンダ、24はその制御
弁、15はエンジンEから耕耘装置6への駆動を断続す
る電磁操作式の耕耘用クラッチである。16は、作業車
Vの走行並びに耕耘装置6の作動等を制御するマイクロ
コンピュータ利用の制御装置であって、前記昇降位置検
出センサS1、前記ストロークセンサS2及び後述の各
種センサによる検出情報や予め記憶された作業データに
基づいて、変速用モータ12、各制御弁9,10,1
4,24、耕耘用クラッチ15等を作動させる。
【0027】作業車Vに装備されるセンサ類として、図
1に示すように、前後輪3,4夫々の操向角を検出する
ポテンショメータ利用の操向角検出センサR1,R2
と、変速装置11の変速状態に基づいて間接的に前後進
状態及び車速を検出するポテンショメータ利用の車速セ
ンサR3と、変速装置11の出力軸の回転数を計数して
走行距離を検出するためのエンコーダS3と、車体方位
を検出する地磁気方位センサS4とが設けられている。
【0028】作業車Vの制御装置16には、上記各種の
センサ類の他に、スペクトラム拡散方式の無線装置であ
るSS無線装置50と受光器54とが接続され、SS無
線装置50との通信相手として、レーザ測位装置40に
接続されたSS無線装置52が設置されている。受光器
54は、図3に示すように、受光パネル54aが支持部
54bの表裏両面に取り付けられて構成されている。受
光パネル54aは、多数の受光素子が上下方向に配列さ
れて構成され、高さ方向で受光位置が検出可能となって
おり、レーザ測位装置40のビーム光の投射高さが一定
であるので、そのビーム光が受光パネル54aのどの位
置に当たるかによって耕耘装置6の絶対的な高さを検出
できる。
【0029】上記のようにして作業車Vに送信された作
業車Vの水平面内における位置情報は、図5に示すよう
に、作業車Vが圃場Fの作業行程Lに沿って走行するの
に利用され、具体的には、水平面内の位置情報として記
憶されている作業行程Lと、実際に検出した水平面内に
おける位置情報との偏差が、設定範囲内に収まるよう
に、ステアリング制御のための制御弁9,10が制御さ
れる。
【0030】このような操向制御によって、作業車V
は、図5で最右端側に位置する最初の作業行程Lのスタ
ート地点Stから走行開始して、2輪ステアリングで各
行程に沿って直進走行するとともに、各作業行程Lの終
端部から隣接する作業行程Lの始端部に向けて、終端地
点eから所定距離直進走行してから180度の旋回動作
を開始し、所定の旋回区間gを経て旋回動作の終点fに
至る経路e〜fを所望の回向軌跡とする回向パターン
で、4輪ステアリングにて回向動作し、回向後は、逆方
向に走行する往復走行を繰り返して、圃場Fの全範囲を
走行する。そして、各作業行程Lにおける適正作業箇所
において、耕耘装置6の絶対的な高さが設定高さを維持
するように、耕耘装置6の高さ情報に基づいて、昇降用
油圧シリンダ13の制御弁14が制御される。
【0031】〔別実施形態〕 以下、本発明の別実施形態を列記する。 上記実施の
形態では、位相差検出手段FDは、第2発振器72を用
いてヘテロダイン検波する構成を採っているが、受光素
子62の検出信号と、第1発振器66の出力信号とを位
相計にて直接比較する構成としても良い。 上記実施
の形態では、第1測距用光源FLと第2測距用光源SL
とを単一の発光装置60を備えて兼用構成されている
が、光源及び受光手段等を完全に独立に備えても良い。
上記実施の形態では、発光装置60として半導体レ
ーザ素子LDを採用しているが、発光ダイオード等の他
の光源を採用しても良い。 上記実施の形態では、測
距のための光線を回転走査する構成としているが、測定
の都度、作業者等が、測距対象に向けて測距のための光
線を投射する構成としても良い。
【0032】 上記実施の形態では、回帰反射体53
等を支持する支持筒37aは、作業車Vの本体に対して
揺動する連結フレーム37に固定されているが、支持筒
37aの下端部を連結フレーム37に対して車体前後方
向に揺動調節可能に取り付けて、支持アーム51等の傾
き調節できる構成としても良い。又、連結フレーム37
の車体前後方向での傾きを検出する傾斜センサと支持筒
37aを揺動駆動するアクチュエータとを備えて、傾斜
センサの検出情報に基づいて、上記支持アーム51等が
直立姿勢を維持するように、アクチュエータを制御して
傾き調節するように構成しても良い。
【0033】 上記実施の形態では、発光装置60か
ら出射されたビーム光を回転走査して測距対象に投射し
ているが、作業者が手動調節により、測距対象(静止し
ているものでも良い)に向けてビーム光を投射する構成
としても良い。この場合は、得られる測距情報が極めて
多数となり、統計的処理を施すことにより、更に測距精
度を向上させることができる。
【0034】 上記実施の形態では、本発明を、農用
トラクターVが圃場F内で耕耘作業を行うときの農用ト
ラクターVの測位に適用する場合を例示しているが、田
植え機等の他の農機やバックホー等の建機の測位にも適
用できる。又、作業車の測位ではなく、単純に作業車ま
での距離の測定に用いることができるのはもちろんのこ
とである。尚、特許請求の範囲の項に図面との対照を便
利にするために符号を記すが、該記入により本発明は添
付図面の構造に限定されるものではない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態にかかる作業車のブロック
構成図
【図2】本発明の実施の形態にかかる測距装置の側面図
【図3】本発明の実施の形態にかかる要部斜視図
【図4】本発明の実施の形態にかかる測距装置のブロッ
ク構成図
【図5】本発明の実施の形態にかかる作業車の作業行程
を示す平面図
【図6】本発明の実施の形態にかかる作業車の要部を示
す斜視図
【図7】本発明の実施の形態にかかる作業車の要部を示
す側面図
【図8】本発明の実施の形態にかかる作業車の要部を示
す展開図
【符号の説明】
60 発光装置 62 受光手段 69 計時手段 AM 変調装置 DD 距離演算手段 FD 位相差検出手段 FL 第1測距用光源 LD 半導体レーザ素子 SL 第2測距用光源
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01S 7/48 - 7/51 G01S 17/00 - 17/95 G01B 11/00

Claims (6)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 測距対象に向けてパルス状の光線を投射
    する第1測距用光源(FL)と、 測距対象に向けて設定周期の基準信号にて変調された光
    線を投射する第2測距用光源(SL)と、 前記測距対象からの反射光を検出する受光手段(62)
    と、 前記第1測距用光源(FL)から前記パルス状の光線を
    投射した後、前記測距対象にて反射された反射光を前記
    受光手段(62)が検出するまでの時間を計測する計時
    手段(69)と、 前記第2測距用光源(SL)から出射して、前記測距対
    象にて反射された反射光による前記受光手段(62)の
    検出信号と、前記基準信号との位相差を検出する位相差
    検出手段(FD)と、前記測距対象までの距離を演算する距離演算手段(D
    D)とを備え、 この距離演算手段(DD)は、前記基準信号の波長に整
    数を乗じた値と、前記基準信号の波長における前記位相
    差に対応した値とから前記測距対象までの距離を求める
    演算式が設定され、かつ、この演算式の整数を前記計時
    手段(69)で計測された計時時間と光速とに基づく演
    算で求め、この演算式の位相差を前記位相差検出手段
    (FD)から求め、このように求めた整数と位相差と前
    記演算式とから前記測距対象までの距離を求める処理を
    行うよう構成してある 測距装置。
  2. 【請求項2】 前記位相差検出手段(FD)は、ヘテロ
    ダイン検波により前記位相差を検出するように構成され
    ている請求項1記載の測距装置。
  3. 【請求項3】 前記第1測距用光源(FL)と前記第2
    測距用光源(SL)とが、強度変調可能な単一の発光装
    置(60)を備えて兼用構成され、前記発光装置(6
    0)に対して、パルス信号と前記基準信号とによって、
    前記パルス信号による変調強度が大となる状態で強度変
    調をかける変調装置(AM)が備えられている請求項1
    又は2記載の測距装置。
  4. 【請求項4】 前記変調装置(AM)は、前記パルス信
    を、予定する最大測定距離離れて位置する前記測距対
    象までの光の往復時間よりも長い時間幅で繰り返す周期
    信号としている請求項3記載の測距装置。
  5. 【請求項5】 前記変調装置(AM)は、前記パルス信
    と前記基準信号とを同期させた状態で、前記発光装置
    (60)に変調をかけるように構成されている請求項3
    又は4記載の測距装置。
  6. 【請求項6】 前記発光装置(60)は、半導体レーザ
    素子(LD)にて構成されている請求項3〜5のいずれ
    か1項に記載の測距装置。
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