JP3211338B2 - 欠品検査装置 - Google Patents

欠品検査装置

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JP3211338B2 JP06769692A JP6769692A JP3211338B2 JP 3211338 B2 JP3211338 B2 JP 3211338B2 JP 06769692 A JP06769692 A JP 06769692A JP 6769692 A JP6769692 A JP 6769692A JP 3211338 B2 JP3211338 B2 JP 3211338B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、欠品検査装置に関
し、更に詳しくは、実装基板へ取付けられる電子部品の
欠品状態を検出する技術に係わる。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の欠品検査技術としては、
図6に示すようなものが知られている。裏面に配線パタ
ーン2が形成された実装基板1の挿通孔1aに複数の電
子部品A,B…のリードa,bを挿入し、該基板1の裏
面側に突出したリード端を折り曲げた状態で、実装基板
1の表面上方より検査杆3〜3を下降させて電子部品
A,B…の有無を検出という技術である。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の装置では、実装した電子部品が傾いていた
り、電子部品の形状が適していないなどの問題点があっ
た。また、図6に示すように、電子部品Bのリードb
が、実装基板1の挿通孔1aに入っていなかったり、電
子部品が抜けかかっている場合は、その不具合を検出で
きないという問題があった。さらに、近年、実装密度が
高くなり、実装基板表面側から観察しても、その不具合
が発見しにくいなどの問題点も発生している。
【0004】本発明は、このような従来の問題点に着目
して創案されたものであって、実装部品の抜け、破損、
欠品等を確実に検出でき、しかも検査の手間,作業人員
を削減できる欠品検査装置を得んとするものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】そこで、本発明は、リー
ドを挿通孔に挿通して複数の電子部品を取付けた実装基
板を反転させて基板裏面を上向きにする基板反転手段
と、前記基板反転手段により反転された実装基板の夫々
挿通孔に挿通可能な検査針を上方より下降させ、該検査
針が前記挿通孔に挿入されたか否かを検出する検出手段
と、を備えたことを、その解決手段としている。
【0006】
【作用】基板反転装置は、実装基板の裏面、即ち配線パ
ターン面側を上に向ける。このため、検査手段の検査針
が、基板の挿通孔に直接対向することが可能となり、電
子部品本体が検査を妨害することがない。検査針は下降
することにより、挿入孔内の電子部品のリードの有無を
検出することが可能となる。
【0007】
【実施例】以下、本発明に係る欠品検査装置の詳細を図
面に示す実施例に基づいて説明する。
【0008】図1は、本実施例の欠品検査装置の正面図
であり、図2は側面図である。図中10は、欠品検査装
置であって、基板反転部11と、検査部12と、実装基
板の搬送を行なう搬送レール13,13とから大略構成
されている。
【0009】搬送レール13は、基板反転部11と検査
部12に亘って架設され、図に示すように、実装基板1
4を載せて図示しない搬送手段にて搬送が可能となって
いる。また、搬送レール13,13上を運ばれる実装基
板14を検査部12の所定位置で停止させるため、搬送
レール13,13の間に上下動可能なストッパ37が設
けられている。
【0010】基板反転部11は、昇降動作が2段階とな
るように、エアーシリンダ15,16を備えている。エ
アーシリンダ15は、取付板17に固定され、エアーシ
リンダ15のピストンロッド18の先端は反転基枠19
の中央に取付けられている。また、エアーシリンダ16
の下端は、取付板20に固設され、エアーシリンダ16
のピストンロッド21の先端は上記取付板17に取付け
られている。また、反転基枠19下面には、下方に向け
て2本のガイド杆21,21が固設され、これらガイド
杆21,21は取付板17,20の両端部を夫々貫通し
て摺動自在に嵌合されている。
【0011】上記反転基枠19の両端には、立上板19
A,19Bが一体に設けられている。立上板19Aの上
端部内側面には、回転挾持車輪22が設けられ、この車
輪22は傘形歯車23,24を介して、反転基枠19の
一端部に固設されたモータ25の回転駆動力が伝達され
るようになっている。また、立上板19Bの上部には、
上記回転挾持車輪22と対向する挾持車輪26が回転自
在に設けられ、しかもこの車輪26は、エアーシリンダ
27のピストンロッド28の端部に軸装されている。こ
のため、エアーシリンダ27の作動により、挾持車輪2
6は、図4中矢示する方向に往復動作が可能となってい
る。
【0012】検査部12は、レール13の脇に立設され
た支柱29,29に対して上下方向に摺動自在な昇降体
30を設け、この昇降体30は、装置本体31に設けら
れたエアーシリンダ32によって昇降駆動されるように
なっている。そして、昇降体30には、水平方向に検査
板取付枠33が設けられ、この検査板取付枠33には、
クランプ34A,34Bが設けられており、これらクラ
ンプ34A,34Bに検査板35が挾持され得るように
なっている。また、検査板35が保持される位置は、搬
送レール13,13上に被検査板である実装基板14が
位置する真上である。検査板35には、上から下に向け
て挿通された検査針36が多数備えられ、この検査針3
6は、図3に示すように、基板反転部11で裏返されて
搬送された実装基板14のリード挿入孔14Bの夫々に
対応する位置に配置されている。検査針36上部には、
落下防止及び検査の際の識別用端子である円柱体36A
が形成されている。
【0013】以下、本装置の作用・動作を説明する。
【0014】先ず、実装組立て(半田付け前)が終了し
た実装基板14を搬送レール13,13で基板反転部1
1の所定位置に搬送し、エアーシリンダ15を作動させ
て、反転基枠19を上昇させ、次に、搬送レール13に
載置されている実装基板14の両端を回転挾持車輪22
と挾持車輪26とで挾持する。なお、このとき、エアー
シリンダ27は、挾持車輪26を内側に向けて押し出す
ようにする。
【0015】次に、エアーシリンダ16を作動させて挾
持した実装基板14を上昇させた後、モータ25を回転
させて反転挾持車輪22を回転駆動し、実装基板14を
裏返しにする。次に、エアーシリンダ16,15を順次
作動させて実装基板14を搬送レール13,13に再度
載置する。
【0016】その後、実装基板14は、搬送レール1
3,13上を搬送され、検査部12でストッパ37によ
って停止させる。次に、エアーシリンダ32を作動させ
て検査板35を下降させる。これにより、図3(A)の
状態から同図(B)の状態となり、図に示すように欠品
がある場合は、検査針36が実装基板14のリード挿入
孔14Bに入り、その円柱体36Aは移動せず、実装部
品のリードがリードa挿入孔14Bに通されている場合
は、検査針36が入らず、円柱体36Aは浮き上がる。
このような円柱体36Aの状態を検出することにより、
欠品状態やリードaの挿入状態が検出できる。なお、こ
の検出手段は、例えば円柱体36Aの頭部の動きによっ
て警告灯が点燈するようにスイッチを配置するなど各種
の検出手段を採用することが可能である。
【0017】このような検査部12において検査が施さ
れた実装基板14は、搬送レール13,13で搬送さ
れ、欠品等のある実装基板14と欠品等のない実装基板
14とに分別される。
【0018】以上、本発明の実施例について説明した
が、本発明はこれに限定されるものではなく、構成の要
旨に付随する各種の設計変更が可能である。
【0019】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、実装基板への電子部品の取付け状態の検査を
容易且つ迅速に行なえ得るものとなし、検査人員を削減
できる効果がある。また、実装基板における欠品状態の
検査の他、電子部品のリードが基板のリード挿入孔に適
切に挿入されているか否かの検出も行える効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例に係る欠品検査装置の正面図。
【図2】本発明の実施例に係る欠品検査装置の側面図。
【図3】(A)及び(B)は実施例の検査状態を示す説
明図。
【図4】基板反転部の説明図。
【図5】検査部の説明図。
【図6】従来例の説明図。
【符号の説明】
10…欠品検査装置 11…基板反転部 12…検査部 13…搬送レール 14…実装基板 14B…リード挿通孔 36…検査針
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H05K 13/08

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 リードを挿通孔に挿通して複数の電子部
    品を取付けた実装基板を反転させて基板裏面を上向きに
    する基板反転手段と、 前記基板反転手段により反転された実装基板の夫々挿通
    孔に挿通可能な検査針を上方より下降させ、該検査針が
    前記挿通孔に挿入されたか否かを検出する検出手段と、
    を備えたことを特徴とする欠品検査装置。
JP06769692A 1992-03-26 1992-03-26 欠品検査装置 Expired - Fee Related JP3211338B2 (ja)

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