JP3204464B2 - 半導体レーザ装置 - Google Patents

半導体レーザ装置

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JP3204464B2 JP19971192A JP19971192A JP3204464B2 JP 3204464 B2 JP3204464 B2 JP 3204464B2 JP 19971192 A JP19971192 A JP 19971192A JP 19971192 A JP19971192 A JP 19971192A JP 3204464 B2 JP3204464 B2 JP 3204464B2
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慶夫 野一色
裕文 米山
公秀 水口
靖之 別所
慶一 吉年
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Tottori Sanyo Electric Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は安定した光出力モニタ電
流を確保し易い半導体レーザ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体レーザ装置の改良が数多く
なされているが、その中で例えば本出願人が特願平4−
138696号にて出願した半導体レーザ装置を図4に
示す。この図に於て、リード41上に受光素子42が載
置され、その上に半導体レーザ素子43が載置されてい
る。半導体レーザ素子43の後面と受光素子42のP型
拡散領域44を透光性樹脂45が覆っている。P型拡散
領域44とオーミック接触して電極46が設けられてい
る。他のリード47がリード41と離れて設けられてい
る。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかして上述の半導体
レーザ装置に於ては、P型拡散領域44への受光量がば
らつくという欠点がある。本発明者がその原因を究明し
たところ、受光素子42がリード41の打ち抜きバリ方
向に載置されているため、半導体レーザ素子43の主出
射光が前方のバリ部48に干渉し、その散乱光が部分的
にP型拡散領域44に入っていることが判った。従っ
て、本発明はかかる従来の欠点に鑑みてなされたもの
で、半導体レーザ素子の前面からの出射光がP型拡散領
域に入ることを防止して、受光量のばらつきの少ない半
導体レーザ装置を提供するものである。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明は上述の課題を解
決するために、打ち抜き形成されたリードと、そのリー
ド上に載置された受光素子とその受光素子上またはその
受光素子の前方に位置する前記リード上に直接にまたは
サブマウントを介して載置されかつ前方に主出射面を有
する半導体レーザ素子からなる素子群とを具備し、前記
素子群が前記リードの打ち抜きバリの内、前記主出射面
の前方に位置する打ち抜きバリの方向と反対側に載置さ
れている事を特徴とする。
【0005】
【作用】本発明は上述の様に、半導体レーザ素子等から
なる素子群をリードの打ち抜きバリの内、主出射面の前
方に位置する打ち抜きバリの方向と反対側に載置するの
で、半導体レーザ素子の前方からの出射光がリードの前
方のバリに干渉されない。故に受光面への受光は半導体
レーザ素子の後面からの出射光のみとなり、受光量が安
定する。
【0006】
【実施例】以下、本発明の実施例を図1と図2に従い説
明する。図1は本実施例に係る半導体レーザ装置の断面
図であり、図2は図1のAA断面図である。これらの図
に於て、リード1は厚みが0.2乃至1.0mmの銅等
の金属材料からなり矩形部2と切欠部3と端子部4から
できている。リード1は端面5に形成されたV字状溝の
様な位置決め手段6を有している。その他に、位置決め
手段6はU字状溝でも、断面略コ字状の凹部に形成して
も良く、またはV字状、U字状、断面略コ字状の凸部に
形成しても良い。リード1はプレス加工で打ち抜かれた
ものであり、例えば前方のバリ部7や後方のバリ部8の
様に、外形線は打ち抜きによるバリが生じる。
【0007】受光素子9は例えばP−I−N構造からな
るシリコン系結晶に表面電極10、と裏面電極11を設
けられたものである。表面電極10はP型拡散領域から
なる受光面12とオーミック接触して形成されている。
受光素子9は銀ペースト等の導電性接着剤を介してリー
ド1上に固着されている。
【0008】半導体レーザ素子13は例えば、活性層と
それを挟むクラッド層からなるGaAlAsの発光層か
らできている。半導体レーザ素子13の両端は劈開され
その上に反射膜が形成されている。半導体レーザ素子1
3は前方に主出射面が位置する様に、半導体レーザ素子
13の裏面電極が受光素子9上に銀ペースト又は半田を
介して固着されている。半導体レーザ素子13は後方に
モニター用の副出射が行われる様に、後面の反射膜の反
射率が前面のそれよりも高い様に形成されている。上述
の様に、受光素子9とその上に載置された半導体レーザ
素子13により素子群14が構成されている。
【0009】素子群14はリード1の打ち抜きバリ方向
と反対方向に載置され、素子群14の前面15、すなわ
ち受光素子9の前面はリード1の前方のバリ部7よりも
後方に配置されている。素子群14の後面16はリード
1の後方のバリ部8よりも前方に配置されている。
【0010】他のリード17、18は銅等の金属材料か
らなり、リード1の切欠き部3に位置し、半導体レーザ
素子13の主出射方向と逆に延びている。第1、第2の
金属細線19、20は共に金等からなり、それぞれ半導
体レーザ素子13と他のリード17との間、および受光
素子9の表面電極10と他のリード18との間を結ぶ様
に配線されている。光軸中心線21は半導体レーザ素子
13の前面と後面を結ぶ線であり、出射ビームの進行方
向を示している。第1、第2の金属細線19、20は半
導体レーザ素子13の光軸中心線21に対して、略ハ字
状に左右に振分けて配置されている。
【0011】透光性樹脂22は例えばエポキシ樹脂から
なり、半導体レーザ素子13の後面近傍から受光素子9
の受光面12を一体に覆う様に形成されている。絶縁枠
23は例えば、ポリカーボネート樹脂又はエポキシ樹脂
等からなり、半導体レーザ素子13の出射面を露出する
様に平面略コ字状に、かつリード1と他のリード17と
18の各表面と裏面を挟む様にトランスファーモールド
によって形成されている。これらの部品により半導体レ
ーザ装置24は構成されている。
【0012】そして支持具25に形成された凸部又は凹
部とリード1の端面5に形成された位置決め手段6、す
なわち凹部又は凸部をはめ合う様に、半導体レーザ装置
24が支持具25に固定されている。回折格子やハーフ
ミラーや対物レンズ等の光学部品26が半導体レーザ素
子13の主出射方向に設けられている。
【0013】次に、上述の第1実施例よりも受光素子の
温度上昇の少ない第2実施例を図3に従い説明する。図
3は本実施例に係る半導体レーザ装置の断面図である。
この図に於て、受光素子27は例えばP−I−N構造か
らなるシリコン系結晶に表面電極28と裏面電極29を
設けられたものである。表面電極28はP型拡散領域か
らなる受光面30とオーミック接触して形成されてい
る。受光素子27は銀ペースト等の導電性接着剤を介し
てリード1上に固着されている。
【0014】サブマウント31は例えばシリコン等から
なり表面電極32と裏面電極33を設けられたものであ
り、銀ペースト等によりリード1上に固着されている。
またサブマウント31として導電性の良い材料を選択し
ても良い。
【0015】半導体レーザ素子13は前方に主出射面が
位置する様に、サブマウント31の表面電極32と半導
体レーザ素子13の裏面電極33を合金化することによ
って固定されている。上述の様に、受光素子27とその
前方のリード1上に載置されたサブマウント31とその
上に載置された半導体レーザ素子13により素子群34
が構成されている。
【0016】素子群34はリード1の打ち抜きバリ方向
と反対方向に載置され、素子群34の前面35、すなわ
ちサブマウント31の前面はリード1の前方のバリ部7
よりも後方に配置されている。素子群34の後面36、
すなわち受光素子27の後面はリード1の後方のバリ部
8よりも前方に配置されている。
【0017】図3の番号と図1、図2の番号と同じもの
は同一部品である事を示す。これらの部品により、半導
体レーザ装置37が構成されている。本半導体レーザ装
置37では、半導体レーザ素子と受光素子を離して配置
しているので、半導体レーザ素子の温度上昇による受光
素子の温度上昇が少ない。
【0018】更に、上述の第2実施例では、半導体レー
ザ素子13をサブマウント31を介して載置している
が、その他に半導体レーザ素子13を直接にリード1上
に載置しても良い。直接に載置すれば半導体レーザ素子
13の放熱が良くなり、温度上昇が抑えられるので、寿
命が長くなる。
【0019】上記実施例のように、半導体レーザ素子等
からなる素子群をリードのバリ方向と反対側に載置する
ので、半導体レーザ素子の前方からの出射光がリードの
前方のバリに干渉されない。故に受光面への受光は半導
体レーザ素子の後面からの出射光のみとなり、受光量が
安定する。従って、モニタ電流も安定するので、半導体
素子への出力制御が正確になる。
【0020】更に、素子群の前面と後面をそれぞれリー
ドのバリ部から遠ざけることにより、素子群をリード上
に隙間なく密接して載置することができる。故に素子群
の放熱性が良いので、半導体レーザ素子の温度上昇が抑
えられ、半導体レーザ素子の寿命が長くなる。また受光
素子の温度上昇も抑えられるので、受光素子の受光特性
(受光量に対するモニタ電流値)が安定し、モニタ電流
がさらに安定する。
【0021】そして、半導体レーザ装置のリードに設け
られた位置決め手段と支持具の凸部又は凹部をはめ合わ
す事により、半導体レーザ装置の位置ずれを防止し出射
ビームと光学部品の関係位置を正確に保持することがで
きる。
【0022】
【発明の効果】本発明によれば、半導体レーザ素子等か
らなる素子群をリードの打ち抜きバリの内、主出射面の
前方に位置する打ち抜きバリの方向と反対側に載置する
ので、半導体レーザ素子の前方からの出射光がリードの
前方のバリに干渉されない。故に受光面への受光は半導
体レーザ素子の後面からの出射光のみとなり、受光量が
安定する。従って、モニタ電流も安定するので、半導体
素子への出力制御が正確になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例に係る半導体レーザ装置の
断面図である。
【図2】図1のAA断面図である。
【図3】本発明の第2実施例に係る半導体レーザ装置の
断面図である。
【図4】従来の半導体レーザの断面図である。
【符号の説明】
1 リード 6 位置決め手段 7 前方のバリ部 8 後方のバリ部 9、27 受光素子 12、30 受光面 13 半導体レーザ素子 14、34 素子群 15、35 素子群の前面 16、36 素子群の後面 22 透光性樹脂 31 サブマウント
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 水口 公秀 大阪府守口市京阪本通2丁目18番地 三 洋電機株式会社内 (72)発明者 別所 靖之 大阪府守口市京阪本通2丁目18番地 三 洋電機株式会社内 (72)発明者 吉年 慶一 大阪府守口市京阪本通2丁目18番地 三 洋電機株式会社内 (56)参考文献 特開 昭63−226051(JP,A) 特開 昭55−4985(JP,A) 特開 平3−274781(JP,A) 特開 平4−23381(JP,A) 特開 平4−278593(JP,A) 特開 平6−45709(JP,A) 特開 平6−37221(JP,A) 実開 昭63−167766(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01S 5/00 - 5/50 H01L 33/00 H01L 23/28

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 打ち抜き形成されたリードと、そのリー
    ド上に載置された受光素子とその受光素子上またはその
    受光素子の前方に位置する前記リード上に直接にまたは
    サブマウントを介して載置されかつ前方に主出射面を有
    する半導体レーザ素子からなる素子群とを具備し、前記
    素子群が前記リードの打ち抜きバリの内、前記主出射面
    の前方に位置する打ち抜きバリの方向と反対側に載置さ
    れている事を特徴とする半導体レーザ装置。
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CN103498377A (zh) * 2013-10-16 2014-01-08 陕西科技大学 一种多核聚合羟基铝绿液除硅的方法

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