JP3199842U - 蛍光x線分析用試料保持具 - Google Patents
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Abstract
【課題】薄膜状試料を容易に保持できるとともに測定の障害となる不純線を発生させないで、高精度分析ができる蛍光X線分析用試料保持具を提供する。【解決手段】本考案の蛍光X線分析用試料保持具は、薄膜状試料Sの周縁部を下方から支持する支持部11を有して薄膜状試料Sを内部に収容する金属からなる筒状の保持部材10と、保持部材10の内部に収容される入れ子に形成されて、支持部11に支持された薄膜状試料Sの周縁部を上方から押さえるフッ素樹脂からなる筒状の押さえ部材20と、を備える。【選択図】図1
Description
本考案は、蛍光X線分析に用いられる試料保持具に関する。
従来、大気粉塵捕集フィルタ、液体試料を透過させて液中の微量成分を採取したフィルタ、液体試料が滴下されて乾燥された滴下ろ紙、液体試料が滴下されて乾燥されたフィルムプレート、輪状の台座に保持された疏水性フィルムに貼付されたシート状の液体吸収材に液体試料が滴下されて乾燥されたシート状の試料保持具(特許文献1)などの薄膜状物に保持された試料、いわゆる薄膜状試料を蛍光X線分析するために、図6に示す蛍光X線分析用試料保持具5が用いられている。この蛍光X線分析用試料保持具5では、ステンレス鋼製の保持部材50が有する、薄膜状試料Sの周縁部を下方から支持する支持部51とアルミニウム製の押さえ部材60とで薄膜状試料Sの周縁部が挟持されて測定される。この蛍光X線分析用試料保持具5から発生する連続X線のバックグラウンドは低く、SN比のよい測定ができる。
しかし、従来の蛍光X線分析用試料保持具5では、薄膜状試料Sに照射される1次X線が、ステンレス鋼製の保持部材50およびアルミニウム製の押さえ部材60に含有される元素を励起して、測定の障害となる不純線を発生させる。特に、保持部材50の上部内壁52の一部が押さえ部材60によって覆われていないために、保持部材50の覆われていない部分から不純線が発生するという問題がある。
本考案は前記従来の問題に鑑みてなされたもので、薄膜状試料を容易に保持できるとともに測定の障害となる不純線を発生させないで、高精度分析ができる蛍光X線分析用試料保持具を提供することを目的とする。
前記目的を達成するために、本考案の蛍光X線分析用試料保持具は、薄膜状試料の周縁部を下方から支持する支持部を有して薄膜状試料を内部に収容する金属からなる筒状の保持部材と、前記保持部材の内部に収容される入れ子に形成されて、前記支持部に支持された薄膜状試料の周縁部を上方から押さえるフッ素樹脂からなる筒状の押さえ部材と、を備える。
本考案の蛍光X線分析用試料保持具によれば、支持部とフッ素樹脂製の押さえ部材で薄膜状試料の周縁部を挟持するので、薄膜状試料を容易に保持できるとともに測定の障害となる不純線を発生させないで、高精度分析ができる。
本考案の蛍光X線分析用試料保持具においては、前記押さえ部材の厚さが0.5mm以上2mm以下であるのが好ましい。この場合には、不純線を充分に遮断するとともに、連続X線のバックグラウンドを充分に低減することができる。
本考案の蛍光X線分析用試料保持具においては、前記押さえ部材の高さが、前記支持部の上面から前記保持部材の上端までの寸法以上であるのが好ましい。この場合には、前記保持部材の内壁の全体を前記押さえ部材で遮蔽するので、前記保持部材からの不純線が発生することがない。
本考案の蛍光X線分析用試料保持具においては、前記保持部材がステンレス鋼からなるのが好ましい。この場合には、薄膜状試料に照射された1次X線が蛍光X線分析用試料保持具から漏洩しないとともに、安価に製作することができる。
以下、本考案の実施形態の蛍光X線分析用試料保持具1について説明する。この蛍光X線分析用試料保持具1の縦断面を図1に示す。この蛍光X線分析用試料保持具1は、薄膜状試料Sの周縁部を下方から支持する支持部11を有して薄膜状試料Sを内部に収容する金属(例えば、ステンレス鋼)からなる筒状(例えば、円筒状)の保持部材10と、保持部材10の内部に収容される入れ子に形成されて、支持部11に支持された薄膜状試料Sの周縁部を上方から押さえるフッ素樹脂からなる筒状(保持部材10と同様の、例えば、円筒状)の押さえ部材20と、を備える。
薄膜状試料Sは、大気粉塵捕集フィルタ、液体試料を透過させて液中の微量成分を採取したフィルタ、液体試料が滴下されて乾燥された滴下ろ紙、液体試料が滴下されて乾燥されたフィルムプレート、輪状の台座に保持された疏水性フィルムに貼付されたシート状の液体吸収材に液体試料が滴下されて乾燥されたシート状の試料保持具などの薄膜状物に保持された試料などである。薄膜状試料Sの周縁部は、支持部11と押さえ部材20で、押さえ部材20の自重により挟持される。この薄膜状試料Sの露出した下面に向けて、下方から1次X線が照射され、薄膜状試料Sから発生した蛍光X線が下方にて検出される。
押さえ部材20の高さHは、支持部11の上面から保持部材10の上端までの寸法L以上であり、保持部材10の内壁の全体が押さえ部材20によって覆われている。このように、保持部材10の内壁の全体を押さえ部材20で遮蔽するので、保持部材10からの不純線が発生することがない。さらに、薄膜状試料Sの周縁部が支持部11と押さえ部材20とで挟持されるので、薄膜状試料Sが歪むことなく平面状に保持される。
保持部材10を形成する金属はステンレス鋼に限ったものではなく、アルミニウム、チタニウムなど他の金属であってもよい。押さえ部材20を形成するフッ素樹脂は、例えば、PTFE(ポリテトラフルオロエチレン(4フッ化))、PFA(テトラフルオロエチレン・パーフルオロアルキルビニルエーテル共重合体)、FEP(テトラフルオロエチレン・ヘキサフルオロプロピレン共重合体(4.6フッ化))などである。押さえ部材20の筒としての厚さは、好ましくは0.5mm以上2mm以下であり、より好ましくは1mm程度である。
本考案に先だって、押さえ部材20(フッ素樹脂製)の厚さと、保持部材10(ステンレス鋼製)から発生する不純線Ni−Kα、Fe−Kα、Cr−Kαの透過率(%)との関係を求める実験を行った。結果を図2(縦軸は不純線の透過率、横軸は押さえ部材20の厚さ)に示す。図2によると、押さえ部材20の厚さが増加するにしたがって不純線の透過率が減少し、厚さが1mmでは、透過率は1%未満になり、不純線が充分に遮断されていることが分かる。
また、厚さがそれぞれ1.0mm、1.5mm、6.0mmの押さえ部材20の蛍光X線分析用試料保持具1にブランク薄膜状試料S(分析対象の元素を含んでいない薄膜状試料)を保持させ、そのブランク薄膜状試料Sに1次X線を照射して、それぞれの蛍光X線分析用試料保持具1についてのスペクトルを求める実験を行った。結果を図3(縦軸はX線強度、横軸は分光角度)に示す。図3において、Aは厚さ1.0mmの、Bは厚さ1.5mmの、Cは厚さ6.0mmの押さえ部材20のスペクトルを示す。図3によると、押さえ部材20の厚さが増加するにしたがって連続X線によるバックグラウンド強度が高くなり、押さえ部材20の厚さが1mm程度であると、連続X線によるバックグラウンドが充分に低減されている。
図2および図3から理解されるように、押さえ部材20の厚さは0.5mm以上2mm以下が好ましく、1mm程度がより好ましい。このような厚さの押さえ部材20であれば、不純線を充分に遮断するとともに、連続X線のバックグラウンドを充分に低減することができる。
従来の蛍光X線分析用試料保持具5で測定したスペクトルを図5に示す。図5に示すように、従来の蛍光X線分析用試料保持具5では、Fe−Kβ、Cr−Kα、Mn−Kαなどの不純線が高強度で検出されている。厚さが1mmの押さえ部材を備える本考案の実施形態の蛍光X線分析用試料保持具1で測定したスペクトルを図4に示す。図4に示すように、本考案の実施形態の蛍光X線分析用試料保持具1では、低強度のFe−Kαが検出されているが、他の不純線は検出されていない。この低強度のFe−Kαの不純線は蛍光X線分析用試料保持具1から発生しているのではなく、他の原因と考えられる。
以上のように、本考案の実施形態の蛍光X線分析用試料保持具1によれば、薄膜状試料Sを容易に保持できるとともに測定の障害となる不純線を発生させないで、高精度分析ができる。
1 蛍光X線分析用試料保持具
10 保持部材
11 支持部
20 押さえ部材
H 押さえ部材の高さ
L 支持部の上面から保持部材の上端までの寸法
S 薄膜状試料
10 保持部材
11 支持部
20 押さえ部材
H 押さえ部材の高さ
L 支持部の上面から保持部材の上端までの寸法
S 薄膜状試料
Claims (4)
- 薄膜状試料の周縁部を下方から支持する支持部を有して薄膜状試料を内部に収容する金属からなる筒状の保持部材と、
前記保持部材の内部に収容される入れ子に形成されて、前記支持部に支持された薄膜状試料の周縁部を上方から押さえるフッ素樹脂からなる筒状の押さえ部材と、
を備えた蛍光X線分析用試料保持具。 - 請求項1に記載の蛍光X線分析用試料保持具において、
前記押さえ部材の厚さが0.5mm以上2mm以下である蛍光X線分析用試料保持具。 - 請求項1または2に記載の蛍光X線分析用試料保持具において、
前記押さえ部材の高さが、前記支持部の上面から前記保持部材の上端までの寸法以上である蛍光X線分析用試料保持具。 - 請求項1から3のいずれか一項に記載の蛍光X線分析用試料保持具において、
前記保持部材がステンレス鋼からなる蛍光X線分析用試料保持具。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015003346U JP3199842U (ja) | 2015-07-01 | 2015-07-01 | 蛍光x線分析用試料保持具 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2015003346U JP3199842U (ja) | 2015-07-01 | 2015-07-01 | 蛍光x線分析用試料保持具 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JP3199842U true JP3199842U (ja) | 2015-09-10 |
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JP2015003346U Expired - Fee Related JP3199842U (ja) | 2015-07-01 | 2015-07-01 | 蛍光x線分析用試料保持具 |
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JP (1) | JP3199842U (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019095417A (ja) * | 2017-01-30 | 2019-06-20 | 住友金属鉱山株式会社 | 液体試料の蛍光x線分析法 |
-
2015
- 2015-07-01 JP JP2015003346U patent/JP3199842U/ja not_active Expired - Fee Related
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