JP3180143U - Coating nozzle cleaning device - Google Patents

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Abstract

【課題】拭き取りパッドの汚れを低減して、スリットノズルの洗浄能力を維持するための塗布ノズル洗浄装置を提供すること。
【解決手段】基板に処理液を塗布する長尺状の塗布ノズルの吐出口周辺に沿って塗布ノズルの長手方向と平行に水平な走査方向に移動するキャリッジ64と、キャリッジに設置され、前記走査方向に移動しながら塗布ノズルの吐出口周辺部に摺接して該吐出口周辺部に付着した処理液を拭き取り除去する拭き取りパッド72,76と、を具備する塗布ノズル洗浄装置において、キャリッジを収容する容器44の上部に配置され、拭き取りパッドの拭き取り面72d、76dに向かって洗浄流体を吐出して拭き取り面を洗浄する拭き取りパッド洗浄ノズル100を具備する。
【選択図】図7
Disclosed is a coating nozzle cleaning device for reducing dirt on a wiping pad and maintaining the cleaning ability of a slit nozzle.
A carriage 64 that moves in a horizontal scanning direction parallel to the longitudinal direction of the coating nozzle along the periphery of a discharge port of a long coating nozzle that applies a processing liquid to a substrate, and the scanning is installed on the carriage. In a coating nozzle cleaning device comprising wiping pads 72 and 76 for slidably contacting a discharge nozzle peripheral portion of the coating nozzle while moving in the direction and wiping and removing the processing liquid adhering to the peripheral portion of the discharge nozzle, the carriage is accommodated A wiping pad cleaning nozzle 100 is disposed on the container 44 and discharges cleaning fluid toward the wiping surfaces 72d and 76d of the wiping pad to clean the wiping surface.
[Selection] Figure 7

Description

本考案は、塗布ノズル洗浄装置に係わり、特に塗布処理に用いる長尺状の塗布ノズルの吐出口周辺部に付着した処理液を拭き取る拭き取りパッドを洗浄するための塗布ノズル洗浄装置に関する。   The present invention relates to a coating nozzle cleaning device, and more particularly to a coating nozzle cleaning device for cleaning a wiping pad for wiping off a processing liquid adhering to a discharge port peripheral portion of a long coating nozzle used for coating processing.

LCD等のフラットパネルディスプレイ(FPD)の製造プロセスにおけるフォトリソグラフィー工程には、ガラス基板等の被処理基板に対してスリット形状の吐出口を有する長尺型のスリットノズルを相対的に移動させて、基板上に処理液又は薬液等の塗布液例えばレジスト液を塗布する非回転の塗布法がよく用いられている。   In a photolithography process in a manufacturing process of a flat panel display (FPD) such as an LCD, a long slit nozzle having a slit-shaped discharge port is moved relative to a target substrate such as a glass substrate, A non-rotating coating method in which a coating solution such as a processing solution or a chemical solution such as a resist solution is applied on a substrate is often used.

例えば、ステージ上に固定して載置される基板に対してスリットノズルよりレジスト液を帯状に吐出させながら、スリットノズルをノズル長手方向と直交する水平な一方向に移動させる。そうすると、スリットノズルの吐出口から基板上に溢れたレジスト液がノズル後方に平坦に延びて、基板一面にレジスト塗布膜が形成される(例えば特許文献1参照)。   For example, the slit nozzle is moved in one horizontal direction perpendicular to the longitudinal direction of the nozzle while discharging the resist solution from the slit nozzle to the substrate fixedly placed on the stage. Then, the resist liquid overflowing on the substrate from the discharge port of the slit nozzle extends flat behind the nozzle, and a resist coating film is formed on the entire surface of the substrate (see, for example, Patent Document 1).

また、他の手法として、ステージ上で基板を空中に浮かせたまま水平な一方向(ステージ長手方向)に搬送する浮上搬送方式も多く用いられている。この方式では、浮上ステージの上方に設置された長尺型のスリットノズルがその直下を通過する基板に向けてレジスト液を帯状に吐出することにより、基板搬送方向において基板の前端部から後端部に向かって基板上一面にレジスト塗布膜が形成される(例えば特許文献2参照)。   In addition, as another method, a levitation conveyance method in which a substrate is conveyed in one horizontal direction (longitudinal direction of the stage) while being floated on the stage is often used. In this method, a long slit nozzle installed above the levitation stage discharges a resist solution in a strip shape toward the substrate passing directly below it, so that the substrate from the front end to the rear end in the substrate transport direction. A resist coating film is formed on the entire surface of the substrate (see, for example, Patent Document 2).

スリットノズルにおいては、吐出動作を止めた際に、吐出口付近にレジスト液が付着又は残留しやすい。これがそのまま放置されて乾燥凝固すると、次回の塗布処理の際にレジスト吐出流を妨げ、又は乱して、レジスト膜厚の変動を招く虞がある。そこで、塗布処理部に隣接して設置されるノズル待機部に、次回の塗布処理に備えてスリットノズルの吐出口周辺部を洗浄するためのスリットノズル洗浄装置が設けられる。スリットノズル洗浄装置は、スリットノズルの吐出口周辺に付着したレジスト液を拭き取るワイパー部材である拭き取りパッドを有している(例えば特許文献3参照)。   In the slit nozzle, when the discharge operation is stopped, the resist liquid tends to adhere or remain near the discharge port. If this is left as it is and dried and solidified, the resist discharge flow may be hindered or disturbed during the next coating process, and the resist film thickness may vary. Accordingly, a slit nozzle cleaning device for cleaning the peripheral portion of the discharge port of the slit nozzle in preparation for the next coating process is provided in the nozzle standby section installed adjacent to the coating processing section. The slit nozzle cleaning device has a wiping pad that is a wiper member that wipes off the resist solution adhering to the periphery of the discharge port of the slit nozzle (see, for example, Patent Document 3).

特開平10−156255号公報Japanese Patent Laid-Open No. 10-156255 特開2005−236092号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2005-236092 特開2011−167607号公報JP 2011-167607 A

上記特許文献3に記載のスリットノズルの洗浄装置においては、拭き取りパッドにより、スリットノズルの吐出口周辺は洗浄される。しかし、洗浄回数を重ねるうちに、拭き取りパッドにレジスト液が付着し、スリットノズルの洗浄能力が低減する虞があった。   In the slit nozzle cleaning device described in Patent Document 3, the periphery of the discharge port of the slit nozzle is cleaned by the wiping pad. However, as the number of times of cleaning is increased, the resist liquid may adhere to the wiping pad, which may reduce the cleaning ability of the slit nozzle.

本考案は、上記の従来技術の問題点を解決するものであり、拭き取りパッドの汚れを低減して、スリットノズルの洗浄能力を維持するための塗布ノズル洗浄装置を提供する。   The present invention solves the above-mentioned problems of the prior art, and provides a coating nozzle cleaning device for reducing the contamination of the wiping pad and maintaining the cleaning ability of the slit nozzle.

上記課題を解決するために、請求項1記載の塗布ノズル洗浄装置は、基板に処理液を塗布する長尺状の塗布ノズルの吐出口周辺に沿って前記塗布ノズルの長手方向と平行に水平な走査方向に移動するキャリッジと、前記キャリッジに設置され、前記走査方向に移動しながら前記塗布ノズルの吐出口周辺部に摺接して該吐出口周辺部に付着した処理液を拭き取り除去する拭き取りパッドと、を具備する塗布ノズル洗浄装置において、前記キャリッジを収容する容器の上部に配置され、前記拭き取りパッドの拭き取り面に向かって洗浄流体を吐出して前記拭き取り面を洗浄する拭き取りパッド洗浄ノズルを具備することを特徴とする。   In order to solve the above-mentioned problem, the coating nozzle cleaning device according to claim 1 is horizontally parallel to the longitudinal direction of the coating nozzle along the periphery of the discharge port of the elongated coating nozzle that coats the processing liquid onto the substrate. A carriage that moves in the scanning direction, and a wiping pad that is installed on the carriage and that slides in contact with the periphery of the discharge port of the coating nozzle while moving in the scanning direction to wipe off the processing liquid adhering to the periphery of the discharge port And a wiping pad cleaning nozzle that is disposed on an upper part of a container that houses the carriage and that discharges a cleaning fluid toward the wiping surface of the wiping pad to clean the wiping surface. It is characterized by that.

請求項2記載の考案は、前記洗浄流体をスプレー状に吐出することを特徴とする。   The invention described in claim 2 is characterized in that the cleaning fluid is discharged in a spray form.

請求項3記載の考案は、前記拭き取りパッド洗浄ノズルは前記拭き取りパッドに対して相対的に移動自在に形成されていることを特徴とする。   The invention described in claim 3 is characterized in that the wiping pad cleaning nozzle is formed to be movable relative to the wiping pad.

本考案において、前記洗浄流体として、洗浄液を用いるか(請求項4)、あるいは、気体を用いる(請求項5)ことができる。   In the present invention, a cleaning liquid can be used as the cleaning fluid (Claim 4), or a gas can be used (Claim 5).

また、請求項6記載の考案は、請求項1ないし5のいずれかに記載の塗布ノズル洗浄装置において、前記拭き取りパッド洗浄ノズルの上方に配置され、前記容器と協同して前記拭き取りパッド及び拭き取りパッド洗浄ノズルの周辺に閉空間を形成するノズルカバーを具備することを特徴とする。   Further, the invention according to claim 6 is the coating nozzle cleaning device according to any one of claims 1 to 5, wherein the device is disposed above the wiping pad cleaning nozzle and cooperates with the container to wipe the wiping pad and the wiping pad. A nozzle cover that forms a closed space around the cleaning nozzle is provided.

請求項7記載の考案は、請求項6に記載の塗布ノズル洗浄装置において、前記閉空間内を排気するための排気ポートを有することを特徴とする。   The device according to claim 7 is the coating nozzle cleaning device according to claim 6, further comprising an exhaust port for exhausting the inside of the closed space.

請求項8記載の考案は、請求項6又は7に記載の塗布ノズル洗浄装置において、前記ノズルカバーは、前記塗布ノズルが前記閉空間に入退出するための開口と、この開口を前記閉空間の外部と遮断するためのエアーカーテンノズルと、を具備することを特徴とする。   The invention according to claim 8 is the coating nozzle cleaning device according to claim 6 or 7, wherein the nozzle cover includes an opening through which the coating nozzle enters and leaves the closed space, and the opening is formed in the closed space. An air curtain nozzle for shutting off from the outside.

本考案の塗布ノズル洗浄装置によれば、拭き取りパッドが汚れたときに、拭き取りパッドを洗浄することができる。そして、拭き取りパッドをきれいな状態に保てるので、スリットノズルの洗浄能力の低減を防止できる。また、本考案の塗布ノズル洗浄装置によれば、洗浄ノズルから吐出された洗浄流体のミストが基板の塗布処理面に付着することを防止できるので、製品の歩留まりの低下を防止できる。   According to the coating nozzle cleaning device of the present invention, the wiping pad can be cleaned when the wiping pad becomes dirty. Since the wiping pad can be kept clean, it is possible to prevent the cleaning ability of the slit nozzle from being reduced. In addition, according to the coating nozzle cleaning device of the present invention, it is possible to prevent the mist of the cleaning fluid discharged from the cleaning nozzle from adhering to the coating processing surface of the substrate, and thus it is possible to prevent the product yield from being lowered.

本考案における洗浄ノズル及びノズルカバーの適用可能なレジスト塗布装置の一構成例を示す平面図である。It is a top view which shows one structural example of the resist coating device which can apply the washing nozzle and nozzle cover in this invention. 上記レジスト塗布装置におけるスリットノズル構造を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the slit nozzle structure in the said resist coating device. 上記レジスト塗布装置におけるスリットノズルの外観構造及び基板上にレジスト塗布液が形成される様子を示す正面図である。It is a front view which shows a mode that the resist coating liquid is formed on the external appearance structure of a slit nozzle in the said resist coating device, and a board | substrate. 上記レジスト塗布装置に備えられるノズルリフレッシュ部の構成を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the structure of the nozzle refresh part with which the said resist coating apparatus is equipped. 上記ノズルリフレッシュ部に組み込まれるスリットノズル洗浄部の構成を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the structure of the slit nozzle washing | cleaning part integrated in the said nozzle refresh part. 上記スリットノズル洗浄部の構成を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the structure of the said slit nozzle washing | cleaning part. 上記ノズルリフレッシュ部に組み込まれた、本考案における洗浄ノズル及びノズルカバーの構成を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the structure of the washing nozzle and nozzle cover in this invention incorporated in the said nozzle refresh part.

以下、添付図を参照して、本考案の好適な実施形態を説明する。   Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

このレジスト塗布装置は、図1に示すように、被処理基板例えばFPD用のガラス基板Gを気体の圧力によって空中に浮かす浮上ステージ10と、この浮上ステージ10上で空中に浮いている基板Gを浮上ステージ長手方向(X方向)に搬送する基板搬送機構20と、浮上ステージ10上を搬送される基板Gの上面にレジスト液を供給するY方向に長尺状の塗布ノズルであるスリットノズル32と、塗布処理の合間にスリットノズル32をリフレッシュするノズルリフレッシュ部42とを有している。   As shown in FIG. 1, the resist coating apparatus includes a floating stage 10 that floats a substrate to be processed, such as a glass substrate G for FPD, in the air by gas pressure, and a substrate G that floats in the air on the floating stage 10. A substrate transport mechanism 20 for transporting in the longitudinal direction (X direction) of the levitation stage; a slit nozzle 32 that is a coating nozzle elongated in the Y direction for supplying a resist solution to the upper surface of the substrate G transported on the levitation stage 10; The nozzle refreshing unit 42 refreshes the slit nozzle 32 between the coating processes.

浮上ステージ10の上面には所定のガス(例えばエア)を上方に噴射する多数のガス噴射孔12が設けられており、それらのガス噴射孔12から噴射されるガスの圧力によって基板Gがステージ上面から一定の高さに浮上するように構成されている。   A large number of gas injection holes 12 for injecting a predetermined gas (for example, air) upward are provided on the upper surface of the levitation stage 10, and the substrate G is placed on the upper surface of the stage by the pressure of the gas injected from the gas injection holes 12. It is configured to rise to a certain height.

基板搬送機構20は、浮上ステージ10を挟んでX方向に延びる一対のガイドレール22A,22Bと、これらのガイドレール22A,22Bに沿って往復移動可能な一対のスライダ24と、浮上ステージ10上で基板Gの両側端部を着脱可能に保持するようにスライダ24に設けられた吸着パッド等の基板保持部材(図示せず)とを備えており、直進移動機構(図示せず)によりスライダ24を搬送方向(X方向)に移動させることによって、浮上ステージ10上で基板Gの浮上搬送を行うように構成されている。   The substrate transport mechanism 20 includes a pair of guide rails 22A and 22B extending in the X direction across the levitation stage 10, a pair of sliders 24 that can reciprocate along the guide rails 22A and 22B, and the levitation stage 10. A substrate holding member (not shown) such as a suction pad provided on the slider 24 so as to detachably hold both side ends of the substrate G is provided. The slider 24 is moved by a linear movement mechanism (not shown). By moving in the transport direction (X direction), the substrate G is floated and transported on the floating stage 10.

スリットノズル32は、浮上ステージ10の上方を搬送方向(X方向)と直交する水平方向(Y方向)に横断し、その直下を通過する基板Gの上面(被処理面)に対してスリット状の吐出口よりレジスト液Rを帯状に吐出するようになっている。また、スリットノズル32は、例えばボールねじ機構やガイド部材等を含むノズル昇降機構26により、このノズルを支持するノズル支持部材28と一体に鉛直方向(Z方向)に移動可能に昇降可能に構成されている。   The slit nozzle 32 crosses the top of the levitation stage 10 in the horizontal direction (Y direction) perpendicular to the transport direction (X direction), and is slit-shaped with respect to the upper surface (surface to be processed) of the substrate G passing immediately below it. The resist solution R is discharged in a strip shape from the discharge port. The slit nozzle 32 is configured to be movable up and down so as to be movable in the vertical direction (Z direction) integrally with a nozzle support member 28 that supports the nozzle by a nozzle lifting mechanism 26 including, for example, a ball screw mechanism and a guide member. ing.

また、図2に示すように、スリットノズル32は、ノズル長手方向(Y方向)に平行に延びるフロントリップ33F及びリアリップ33Rからなり、これら一対のリップ33F,33Rを突き合わせてボルト(図示せず)で一体結合し、スリット状の吐出口32aを有している。スリットノズル32の吐出口32aと平行に延びる両側のノズル側面32f,32rが、吐出口32aに向かって上から下に次第に細くなるテーパ形状に形成されている。そして、スリットノズル32は、レジスト液容器や送液ポンプ等からなるレジスト供給部(図示せず)にレジスト供給管30を介して接続されている。   As shown in FIG. 2, the slit nozzle 32 includes a front lip 33F and a rear lip 33R extending in parallel with the nozzle longitudinal direction (Y direction), and a pair of lips 33F and 33R are abutted against each other to form a bolt (not shown). And have a slit-like discharge port 32a. The nozzle side surfaces 32f and 32r on both sides extending in parallel with the discharge port 32a of the slit nozzle 32 are formed in a tapered shape that gradually narrows from the top to the bottom toward the discharge port 32a. The slit nozzle 32 is connected via a resist supply pipe 30 to a resist supply unit (not shown) including a resist solution container and a liquid feed pump.

スリットノズル32に隣接して浮上ステージ10の上方にノズルリフレッシュ部42が設けられている。このノズルリフレッシュ部42の詳細は、図4〜図7を参照して後述する。   A nozzle refresh unit 42 is provided above the levitation stage 10 adjacent to the slit nozzle 32. Details of the nozzle refresh unit 42 will be described later with reference to FIGS.

次に、このレジスト塗布装置におけるレジスト塗布動作を説明する。先ず、前段のユニット例えば熱的処理ユニット(図示せず)より基板Gが基板搬入機構(図示せず)を介して浮上ステージ10の前端側に設定された搬入エリアに搬入され、そこで待機していたスライダ24が基板Gを保持して受け取る。浮上ステージ10上で基板Gはガス噴射孔12より噴射されるガス(例えば高圧エア)の圧力を受けて略水平な姿勢で浮上状態を保つ。   Next, a resist coating operation in this resist coating apparatus will be described. First, a substrate G is carried into a carry-in area set on the front end side of the floating stage 10 via a substrate carry-in mechanism (not shown) from a previous unit, for example, a thermal processing unit (not shown), and is waiting there. The slider 24 holds and receives the substrate G. On the levitation stage 10, the substrate G receives the pressure of gas (for example, high-pressure air) ejected from the gas ejection holes 12 and keeps the levitation state in a substantially horizontal posture.

こうして基板Gが水平姿勢で搬送方向(X方向)に一定速度で移動するのと同時に、スリットノズル32が直下の基板Gに向けてレジスト液を所定の圧力又は流量で帯状に吐出することにより、図2及び図3に示すように基板Gの前端側から後端側へ向かって膜厚の均一なレジスト液の塗布膜RMが形成されていく。   In this way, the substrate G moves in a horizontal posture at a constant speed in the transport direction (X direction), and at the same time, the slit nozzle 32 discharges the resist solution toward the substrate G directly below at a predetermined pressure or flow rate, As shown in FIGS. 2 and 3, a coating film RM of a resist solution having a uniform film thickness is formed from the front end side to the rear end side of the substrate G.

基板Gの後端がスリットノズル32の下を通過すると、基板一面にレジスト塗布膜RMが形成される。次いで、基板Gは、その後もスライダ24により浮上ステージ10上で浮上搬送され、浮上ステージ10の後端に設定された搬出エリアより基板搬出機構(図示せず)を介して後段のユニット(図示せず)へ送られる。   When the rear end of the substrate G passes under the slit nozzle 32, a resist coating film RM is formed on the entire surface of the substrate. Subsequently, the substrate G is then levitated and conveyed on the levitation stage 10 by the slider 24, and a subsequent unit (not illustrated) from the unloading area set at the rear end of the levitation stage 10 via a substrate unloading mechanism (not illustrated). Z)).

図4に、ノズルリフレッシュ部42内の構成を示す。ノズルリフレッシュ部42は、スリットノズル32の吐出口を乾燥防止の目的から溶剤蒸気の雰囲気中に保つためのノズルバス50と、スリットノズル32の吐出口周辺部(吐出口32a、ノズル側面32f,32r)を洗浄するためのスリットノズル洗浄部52とを併設している。なお、ノズルバス50及びスリットノズル洗浄部52は、容器44に収容されている。   FIG. 4 shows a configuration in the nozzle refresh unit 42. The nozzle refresh unit 42 has a nozzle bath 50 for keeping the discharge port of the slit nozzle 32 in an atmosphere of solvent vapor for the purpose of preventing drying, and the peripheral portion of the discharge port of the slit nozzle 32 (discharge port 32a, nozzle side surfaces 32f and 32r). A slit nozzle cleaning unit 52 is also provided. The nozzle bath 50 and the slit nozzle cleaning unit 52 are accommodated in the container 44.

レジスト塗布時には吐出口32aだけでなく両側のノズル側面32f,32rの下端部もレジスト液Rで濡れ、レジスト塗布処理が終了した後の吐出口32a及びノズル側面32f,32rの下端部にはレジスト液Rの汚れが残る。そこで、塗布処理を終えたスリットノズル32は、最初にスリットノズル洗浄部52により洗浄処理を受け、次いでノズルバス50内で待機する。   At the time of resist coating, not only the discharge port 32a but also the lower ends of the nozzle side surfaces 32f and 32r on both sides are wet with the resist solution R, and the resist solution is applied to the discharge port 32a and the lower ends of the nozzle side surfaces 32f and 32r after the resist coating process is completed. R dirt remains. Therefore, the slit nozzle 32 that has finished the coating process is first subjected to a cleaning process by the slit nozzle cleaning unit 52 and then waits in the nozzle bath 50.

スリットノズル32をノズルリフレッシュ部42内の各部(50,52)に着かせるには、図示しない制御部の制御の下で駆動する駆動部、例えばモータMを有するボールねじ機構等からなるX方向移動部54によりノズルリフレッシュ部42の全体つまり容器44を基板搬送方向(X方向)で移動させるとともに、ノズル昇降機構26(図1参照)によりスリットノズル32を鉛直方向(Z方向)で移動させる。   In order to place the slit nozzle 32 on each part (50, 52) in the nozzle refreshing part 42, the X-direction movement comprising a driving part driven by the control part (not shown), for example, a ball screw mechanism having a motor M, etc. The part 54 moves the entire nozzle refresh unit 42, that is, the container 44 in the substrate transport direction (X direction), and moves the slit nozzle 32 in the vertical direction (Z direction) by the nozzle lifting mechanism 26 (see FIG. 1).

図5に示すように、スリットノズル洗浄部52は、Y方向移動部60にジョイント部材62を介して結合され、スリットノズル32の吐出口周辺部に沿ってスリットノズル32の長手方向と平行に水平な洗浄走査方向(Y方向)で移動するキャリッジ64を有している。Y方向移動部60は、Y方向に延びるレール66と、このレール66上を移動する可動ユニット68とを有している。キャリッジ64は、スリットノズル32の吐出口周辺部に対して位置合わせをしてから、洗浄走査方向(Y方向)に移動するようになっている。   As shown in FIG. 5, the slit nozzle cleaning unit 52 is coupled to the Y-direction moving unit 60 via a joint member 62, and is parallel to the longitudinal direction of the slit nozzle 32 along the periphery of the discharge port of the slit nozzle 32. It has a carriage 64 that moves in the proper cleaning scanning direction (Y direction). The Y-direction moving unit 60 includes a rail 66 extending in the Y direction and a movable unit 68 that moves on the rail 66. The carriage 64 moves in the cleaning scanning direction (Y direction) after being aligned with the peripheral portion of the discharge port of the slit nozzle 32.

スリットノズル洗浄部52は、このキャリッジ64に、洗浄走査方向において第1洗浄ユニット70を先頭に以下第1拭き取りパッド72、第2洗浄ユニット74、第2拭き取りパッド76及び乾燥ユニット78をこの順序で一列に並べて載置している。これら第1,第2洗浄ユニット70,74、第1,第2拭き取りパッド72,76及び乾燥ユニット78の各々は、キャリッジ64にカセット式で着脱可能に装着されるようになっている。   The slit nozzle cleaning unit 52 includes a first wiping pad 72, a second cleaning unit 74, a second wiping pad 76, and a drying unit 78 in this order on the carriage 64, starting with the first cleaning unit 70 in the cleaning scanning direction. They are placed in a line. Each of the first and second cleaning units 70 and 74, the first and second wiping pads 72 and 76, and the drying unit 78 is detachably attached to the carriage 64 in a cassette manner.

図6に、洗浄走査の斜め前方から見たスリットノズル洗浄部52の要部の構成を示す。   FIG. 6 shows a configuration of a main part of the slit nozzle cleaning unit 52 as viewed obliquely from the front of the cleaning scan.

第1及び第2洗浄ユニット70,74は、上面に凹形の溝部を有するブロック状のノズル保持部70a,74aと、このノズル保持部70a,74aの両側の内壁から突き出ている複数対(又は一対)の洗浄ノズル70b,74bと、ノズル保持部70a,74a内の流路を介して洗浄ノズル70b,74bに接続されている接続部70c,74cをそれぞれ有している。接続部70c,74cは、洗浄液供給部(図示せず)からの洗浄液供給管(図示せず)にそれぞれ接続されている。   The first and second cleaning units 70 and 74 include block-like nozzle holding portions 70a and 74a each having a concave groove on the upper surface, and a plurality of pairs protruding from inner walls on both sides of the nozzle holding portions 70a and 74a (or A pair of cleaning nozzles 70b and 74b, and connection portions 70c and 74c connected to the cleaning nozzles 70b and 74b through flow paths in the nozzle holding portions 70a and 74a, respectively. The connection parts 70c and 74c are connected to a cleaning liquid supply pipe (not shown) from a cleaning liquid supply part (not shown), respectively.

乾燥ユニット78は、上面に凹形の溝部を有するブロック状のノズル保持部78aと、このノズル保持部78aの両側の内壁から突き出ている複数対(又は一対)の乾燥ノズル78bと、ノズル保持部78a内の流路を介して乾燥ノズル78bに接続されている接続部78cとをそれぞれ有している。接続部78cは、乾燥ガス供給部(図示せず)からのガス供給管(図示せず)に接続されている。   The drying unit 78 includes a block-shaped nozzle holding portion 78a having a concave groove on the upper surface, a plurality of pairs (or a pair) of drying nozzles 78b protruding from inner walls on both sides of the nozzle holding portion 78a, and a nozzle holding portion. And a connecting portion 78c connected to the drying nozzle 78b through a flow path in 78a. The connection part 78c is connected to a gas supply pipe (not shown) from a dry gas supply part (not shown).

第1及び第2拭き取りパッド72,76は、上面にV形溝状の拭き取り面72d、76dをそれぞれ有している。   The first and second wiping pads 72 and 76 have V-shaped groove-like wiping surfaces 72d and 76d on the upper surfaces, respectively.

スリットノズル32をスリットノズル洗浄部52に着かせるには、上述したように、X方向移動部54によりノズルリフレッシュ部42の全体を基板搬送方向(X方向)で移動させるとともに(図4参照)、ノズル昇降機構26(図1参照)によりスリットノズル32を鉛直方向(Z方向)で移動させる。そうすると、スリットノズル32の両ノズル側面32f,32r及び吐出口32aが第1及び第2拭き取りパッド72,76のV形溝状の拭き取り面72d、76dにそれぞれ適度かつ均一な圧力で接触するように、スリットノズル32とスリットノズル洗浄部52との間で位置合わせが自動的に行われる。   To put the slit nozzle 32 on the slit nozzle cleaning unit 52, as described above, the entire nozzle refresh unit 42 is moved in the substrate transport direction (X direction) by the X direction moving unit 54 (see FIG. 4). The slit nozzle 32 is moved in the vertical direction (Z direction) by the nozzle lifting mechanism 26 (see FIG. 1). Then, both the nozzle side surfaces 32f and 32r of the slit nozzle 32 and the discharge port 32a are in contact with the V-shaped groove-shaped wiping surfaces 72d and 76d of the first and second wiping pads 72 and 76, respectively, with an appropriate and uniform pressure. The alignment between the slit nozzle 32 and the slit nozzle cleaning unit 52 is automatically performed.

次に、スリットノズル洗浄部52における動作を説明する。   Next, the operation in the slit nozzle cleaning unit 52 will be described.

スリットノズル洗浄部52においては、上述したスリットノズル32との位置合わせが完了すると、その位置合わせ状態を維持しながら、図示しない制御部の制御の下で、Y方向移動部60(図4参照)が作動して、キャリッジ64が洗浄走査方向(Y方向)に一定速度で移動する。ここで、スリットノズル32はレジスト塗布処理を終えてきたばかりであり、その吐出口周辺部(吐出口32a、ノズル側面32f,32r)はレジスト液Rが付着して汚れている。   In the slit nozzle cleaning unit 52, when the alignment with the slit nozzle 32 is completed, the Y-direction moving unit 60 (see FIG. 4) is maintained under the control of a control unit (not shown) while maintaining the alignment state. The carriage 64 moves at a constant speed in the cleaning scanning direction (Y direction). Here, the slit nozzle 32 has just finished the resist coating process, and the periphery of the discharge port (discharge port 32a, nozzle side surfaces 32f and 32r) is contaminated with the resist solution R.

キャリッジ64が走査移動を開始するのとほぼ同時に、キャリッジ64に載置されている全てのユニットすなわち第1,第2洗浄ユニット70,74、第1,第2拭き取りパッド72,76及び乾燥ユニット78がそれぞれの動作を開始する。より詳細には、第1洗浄ユニット70は、キャリッジ64上の先頭位置で、洗浄ノズル70bより洗浄液例えばシンナー液を吐出し、スリットノズル32の吐出口周辺部(吐出口32a、ノズル側面32f,32r)にシンナー液を吹き掛けながら、洗浄走査方向(Y方向)に移動する。   Almost simultaneously with the start of the scanning movement of the carriage 64, all the units placed on the carriage 64, that is, the first and second cleaning units 70 and 74, the first and second wiping pads 72 and 76, and the drying unit 78 are displayed. Starts each operation. More specifically, the first cleaning unit 70 discharges a cleaning liquid such as a thinner liquid from the cleaning nozzle 70b at the head position on the carriage 64, and discharge nozzle peripheral portions (discharge ports 32a, nozzle side surfaces 32f and 32r). ) In the cleaning scanning direction (Y direction).

第1拭き取りパッド72は、第1洗浄ユニット70のすぐ後に続いて、スリットノズル32の吐出口周辺部(吐出口32a、ノズル側面32f,32r)にV形の溝部72dを摺接させて、洗浄走査方向(Y方向)に移動する。   The first wiping pad 72 is cleaned immediately after the first cleaning unit 70 by sliding the V-shaped groove 72d in the periphery of the discharge port of the slit nozzle 32 (discharge port 32a, nozzle side surfaces 32f, 32r). Move in the scanning direction (Y direction).

第2洗浄ユニット74は、第1拭き取りパッド72のすぐ後に続いて、洗浄ノズル74bより洗浄液例えばシンナー液を吐出し、スリットノズル32の吐出口周辺部(吐出口32a、ノズル側面32f,32r)にシンナー液を吹き掛けながら、洗浄走査方向(Y方向)に移動する。   The second cleaning unit 74 immediately follows the first wiping pad 72 and discharges a cleaning liquid, for example, a thinner liquid from the cleaning nozzle 74b, to the discharge port peripheral portion (discharge port 32a, nozzle side surfaces 32f, 32r) of the slit nozzle 32. It moves in the cleaning scanning direction (Y direction) while spraying the thinner.

第2拭き取りパッド76は、第2洗浄ユニット74のすぐ後に続いて、スリットノズル32の吐出口周辺部(吐出口32a、ノズル側面32f,32r)にV形の溝部76dを摺接させて、洗浄走査方向(Y方向)に移動する。   The second wiping pad 76 is cleaned immediately after the second cleaning unit 74 by bringing the V-shaped groove 76d into sliding contact with the discharge port peripheral portion (discharge port 32a, nozzle side surfaces 32f, 32r) of the slit nozzle 32. Move in the scanning direction (Y direction).

乾燥ユニット78は、第2拭き取りパッド76のすぐ後に続いて、乾燥ノズル78bより乾燥用ガス例えばN2ガスを吐出し、スリットノズル32の吐出口周辺部(吐出口32a、ノズル側面32f,32r)にN2ガスを吹き掛けながら、洗浄走査方向(Y方向)に移動する。   Immediately following the second wiping pad 76, the drying unit 78 discharges a drying gas such as N2 gas from the drying nozzle 78b, and discharges it to the periphery of the discharge port of the slit nozzle 32 (discharge port 32a, nozzle side surfaces 32f and 32r). It moves in the cleaning scanning direction (Y direction) while spraying N2 gas.

スリットノズル32の一端から他端まで全長に亘って、スリットノズル32の洗浄走査方向(Y方向)における各位置の吐出口周辺部で上記のような一連の処理(1回目の洗浄→1回目の拭き取り→2回目の洗浄→2回目の拭き取り→乾燥)が行われる。   A series of processes (first cleaning → first cleaning) at the discharge port peripheral portion of each position in the cleaning scanning direction (Y direction) of the slit nozzle 32 over the entire length from one end to the other end of the slit nozzle 32. Wiping → second cleaning → second wiping → drying).

こうして、1回(一往路)の洗浄走査により、スリットノズル32の全長に亘り各位置で吐出口周辺部(吐出口32a、ノズル側面32f,32r)のレジスト汚れが十全に除去される。したがって、キャリッジ64がスリットノズル32の他端付近に設定された終点に着くと、そこでノズル洗浄処理が終了する。その直後に、図示しない制御部の制御の下で、ノズル昇降機構38(図1参照)及びX方向移動部54(図4参照)が作動して、スリットノズル32をスリットノズル洗浄部52から隣のノズルバス50へ移動させる。   In this way, the resist contamination around the discharge port (discharge port 32a and nozzle side surfaces 32f and 32r) is completely removed at each position over the entire length of the slit nozzle 32 by one (one-way) cleaning scan. Therefore, when the carriage 64 arrives at the end point set near the other end of the slit nozzle 32, the nozzle cleaning process ends there. Immediately after that, under the control of a control unit (not shown), the nozzle lifting mechanism 38 (see FIG. 1) and the X-direction moving unit 54 (see FIG. 4) are operated, and the slit nozzle 32 is next to the slit nozzle cleaning unit 52. To the nozzle bath 50.

次に、本考案に係わる塗布ノズル洗浄装置における洗浄ノズル及びノズルカバーに関して説明する。   Next, the cleaning nozzle and nozzle cover in the coating nozzle cleaning apparatus according to the present invention will be described.

図7に示すように、ノズルリフレッシュ部42は、第1拭き取りパッド72、第2拭き取りパッド76を洗浄するための拭き取りパッド洗浄ノズル100を有する。拭き取りパッド洗浄ノズル100は、第1拭き取りパッド72、第2拭き取りパッド76の上方に配置され、V形溝状の拭き取り面72d、76dに向けて洗浄流体、例えば洗浄液、具体的には溶剤であるシンナーを吐出する。拭き取りパッド洗浄ノズル100は、スプレー状に洗浄液を吐出可能となっている。   As shown in FIG. 7, the nozzle refresh unit 42 includes a wiping pad cleaning nozzle 100 for cleaning the first wiping pad 72 and the second wiping pad 76. The wiping pad cleaning nozzle 100 is disposed above the first wiping pad 72 and the second wiping pad 76, and is a cleaning fluid such as a cleaning liquid, specifically a solvent, toward the V-shaped groove-shaped wiping surfaces 72d and 76d. Discharge the thinner. The wiping pad cleaning nozzle 100 can discharge the cleaning liquid in a spray form.

拭き取りパッド洗浄ノズル100の上部には、ノズルカバー101が配置される。また、ノズルカバー101は、容器44の上部に位置する。そして、ノズルカバー101と容器44とが協同して、ノズルリフレッシュ部42は、閉じた空間(閉空間)102に保たれる。また、閉空間102の雰囲気を排気するために、ノズルカバー101には、排気ポート103が設けられる。そして、図示しない排気手段が排気ポート103に接続され、排気ポート103から閉空間102の雰囲気を排気可能となっている。   A nozzle cover 101 is disposed above the wiping pad cleaning nozzle 100. Further, the nozzle cover 101 is located at the upper part of the container 44. The nozzle cover 101 and the container 44 cooperate to keep the nozzle refreshing section 42 in a closed space (closed space) 102. Further, in order to exhaust the atmosphere of the closed space 102, the nozzle cover 101 is provided with an exhaust port 103. An exhaust means (not shown) is connected to the exhaust port 103 so that the atmosphere of the closed space 102 can be exhausted from the exhaust port 103.

ノズルカバー101は、スリットノズル32が空間102に入退出するための開口104を有する。開口104の周辺、例えば上部に、エアーカーテンノズル105が配置される。エアーカーテンノズル105は、空気又はN2ガス等の気体を吐出することによりエアーカーテンを形成可能である。そして開口104は、エアーカーテンノズル105により形成されたエアーカーテンで覆われて、遮断される。したがって、空間102の雰囲気が開口を通じて空間102の外部に漏れることを防止できる。   The nozzle cover 101 has an opening 104 through which the slit nozzle 32 enters and exits the space 102. An air curtain nozzle 105 is disposed around the opening 104, for example, at the top. The air curtain nozzle 105 can form an air curtain by discharging air or a gas such as N 2 gas. The opening 104 is covered and blocked by an air curtain formed by the air curtain nozzle 105. Therefore, it is possible to prevent the atmosphere in the space 102 from leaking outside the space 102 through the opening.

なお、ノズルカバー101の長手方向の両端部は図示しない端部壁によって塞がれているが、端部壁には開口104と連通するスリット(図示せず)が設けられており、このスリットを介してスリットノズル32が移動可能になっている。   Both end portions in the longitudinal direction of the nozzle cover 101 are closed by end walls (not shown), but slits (not shown) communicating with the openings 104 are provided on the end walls. The slit nozzle 32 can be moved through.

次に、本考案である拭き取りパッド洗浄ノズル100の、動作に関して説明する。スリットノズル32の洗浄動作の回数を重ねると、次第に第1拭き取りパッド72、第2拭き取りパッド76にレジスト液が付着、堆積し始める。そこで、スリットノズル32の洗浄動作(拭き取り動作)が所定の回数に達したら、拭き取りパッド洗浄ノズル100から洗浄液を吐出し、第1拭き取りパッド72、第2拭き取りパッド76の洗浄を行う。拭き取りパッド洗浄ノズル100は、V形溝状の拭き取り面72d、76dに向けて洗浄液を吐出する。   Next, the operation of the wiping pad cleaning nozzle 100 according to the present invention will be described. When the number of cleaning operations of the slit nozzle 32 is repeated, the resist solution gradually begins to adhere and accumulate on the first wiping pad 72 and the second wiping pad 76. Therefore, when the cleaning operation (wiping operation) of the slit nozzle 32 reaches a predetermined number of times, the cleaning liquid is discharged from the wiping pad cleaning nozzle 100 and the first wiping pad 72 and the second wiping pad 76 are cleaned. The wiping pad cleaning nozzle 100 discharges the cleaning liquid toward the V-shaped groove-shaped wiping surfaces 72d and 76d.

拭き取りパッド洗浄ノズル100から洗浄液を吐出させるときは、Y方向移動部60も動作させる。そして、第1拭き取りパッド72及び第2拭き取りパッド76を拭き取りパッド洗浄ノズル100に対して相対的に移動させつつ、拭き取りパッド洗浄ノズル100から洗浄液を吐出することにより、第1拭き取りパッド72及び第2拭き取りパッド76を洗浄する。   When the cleaning liquid is discharged from the wiping pad cleaning nozzle 100, the Y-direction moving unit 60 is also operated. Then, the first wiping pad 72 and the second wiping pad 76 are moved from the wiping pad cleaning nozzle 100 while the first wiping pad 72 and the second wiping pad 76 are moved relative to the wiping pad cleaning nozzle 100 to discharge the cleaning liquid. The wiping pad 76 is cleaned.

しかし、拭き取りパッド洗浄ノズル100から洗浄液を吐出する際に、洗浄液のミストが発生する。そして、発生したミストが基板Gの塗布処理面に付着すると、塗布不良の要因となる。   However, when the cleaning liquid is discharged from the wiping pad cleaning nozzle 100, mist of the cleaning liquid is generated. When the generated mist adheres to the coating surface of the substrate G, it causes a coating failure.

そこで、本考案では、ノズルカバー101と容器44とにより、ノズルリフレッシュ部42が閉じた空間102に保たれる。しかも、閉空間102の雰囲気を排気することも可能である。したがって、発生したミストが基板Gの塗布処理面に付着することを防止できるので、FPD等の製品の歩留まりの低下を防止できる。   Therefore, in the present invention, the nozzle refresh unit 42 is kept in the closed space 102 by the nozzle cover 101 and the container 44. In addition, the atmosphere of the closed space 102 can be exhausted. Therefore, since the generated mist can be prevented from adhering to the coating surface of the substrate G, the yield of products such as FPD can be prevented from being lowered.

以上、本考案の好適な実施形態を説明したが、本考案は上述した実施形態に限定されるものではなく、その技術的思想の範囲内で種種の変形又は変更が可能である。   The preferred embodiments of the present invention have been described above, but the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications or changes can be made within the scope of the technical idea.

本実施形態では、洗浄流体として洗浄液を用いて説明したが、洗浄液に限定されない。洗浄流体として、気体、例えば空気や、窒素ガス等の流体を用いてもよい。   In the present embodiment, the cleaning liquid is used as the cleaning fluid, but the present invention is not limited to the cleaning liquid. As the cleaning fluid, a fluid such as a gas such as air or nitrogen gas may be used.

また、複数の拭き取りパッド洗浄ノズル100を第1拭き取りパッド72、第2拭き取りパッド76の上部にそれぞれ配置し、Y方向移動部60を動作させることなく第1拭き取りパッド72、第2拭き取りパッド76の洗浄を行ってもよい。   In addition, a plurality of wiping pad cleaning nozzles 100 are disposed on the first wiping pad 72 and the second wiping pad 76, respectively, and the first wiping pad 72 and the second wiping pad 76 are operated without operating the Y-direction moving unit 60. Washing may be performed.

また、洗浄ノズル100は、スプレー状に洗浄液を吐出したが、例えばカーテン状とか、シャワー状とか、円柱状等に吐出する構成でもよい。   The cleaning nozzle 100 discharges the cleaning liquid in a spray form, but may be configured to discharge, for example, in a curtain form, a shower form, a columnar form, or the like.

また、第1拭き取りパッド72、第2拭き取りパッド76を設けたが、第2拭き取りパッド76を設けずに、第1拭き取りパッド72だけを設けてもよい。又は、第1拭き取りパッド72、第2拭き取りパッド76に加えて、さらに多くの拭き取りパッドを設けてもよい。   In addition, although the first wiping pad 72 and the second wiping pad 76 are provided, only the first wiping pad 72 may be provided without providing the second wiping pad 76. Alternatively, in addition to the first wiping pad 72 and the second wiping pad 76, more wiping pads may be provided.

また、開口104を設けなくてもよく、そのかわりに、拭き取りパッド洗浄ノズル100とノズルカバー101を昇降させるための昇降機構を設ける。そして、拭き取りパッド洗浄ノズル100とノズルカバー101を上昇させた状態で、スリットノズル32を空間102内に移動させる。その後、ノズルカバー101を下降させることにより、空間102を閉じた空間としてもよい。   Further, the opening 104 may not be provided, and instead, an elevating mechanism for elevating and lowering the wiping pad cleaning nozzle 100 and the nozzle cover 101 is provided. The slit nozzle 32 is moved into the space 102 with the wiping pad cleaning nozzle 100 and the nozzle cover 101 raised. Thereafter, the space 102 may be closed by lowering the nozzle cover 101.

また、閉空間102の排気は、常時行ってもよいし、排気用力の低減のために、所定のタイミングだけ排気を行ってもよい。   Further, the closed space 102 may be exhausted at all times, or may be exhausted only at a predetermined timing in order to reduce the exhaust force.

また、スリットノズル32のかわりに、複数の微細孔がY方向に列設された長尺状の他のノズルを用いてもよい。   Instead of the slit nozzle 32, another long nozzle having a plurality of fine holes arranged in the Y direction may be used.

さらに、拭き取りパッド洗浄ノズル100の側方に、図示しない拭き取りパッド乾燥ノズルを設けてもよい。図示しない拭き取りパッド乾燥ノズルから乾燥流体、例えば空気や、窒素ガス等が第1拭き取りパッド72、第2拭き取りパッド76に向けて供給される。なお、拭き取りパッド洗浄ノズル100が、上述した拭き取りパッド乾燥ノズルを兼ねてもよく、拭き取りパッド洗浄ノズル100から洗浄流体及び乾燥流体を切り換えて吐出できる構成にしてもよい。   Further, a wiping pad drying nozzle (not shown) may be provided on the side of the wiping pad cleaning nozzle 100. A drying fluid such as air or nitrogen gas is supplied from a wiping pad drying nozzle (not shown) toward the first wiping pad 72 and the second wiping pad 76. The wiping pad cleaning nozzle 100 may also serve as the wiping pad drying nozzle described above, or the cleaning fluid and the drying fluid may be switched and discharged from the wiping pad cleaning nozzle 100.

また、上記の実施の形態では、基板浮上方式のスリットコーターを一例として説明したが、本考案は、この方式のスリットコーターに限定されるものではない。例えば、ステージ上に固定して載置された基板に対してスリットノズルよりレジスト液を帯状に吐出させながら、スリットノズルをノズル長手方向と直交する水平な一方向に移動させるノズル移動方式のスリットコーターでもよい。また、ステージ上に固定して載置された基板に対してスリットノズルよりレジスト液を帯状に吐出させながら、ステージをノズル長手方向と直交する水平な一方向に移動させるステージ移動方式のスリットコーターにも適用可能である。   In the above embodiment, the substrate floating type slit coater has been described as an example. However, the present invention is not limited to this type of slit coater. For example, a nozzle coater type slit coater that moves the slit nozzle in one horizontal direction perpendicular to the longitudinal direction of the nozzle while discharging the resist solution from the slit nozzle to the substrate fixed on the stage. But you can. Also, a stage moving type slit coater that moves the stage in one horizontal direction perpendicular to the longitudinal direction of the nozzle while discharging the resist solution from the slit nozzle to the substrate fixedly placed on the stage. Is also applicable.

本考案における塗布液としては、レジスト液以外にも、例えば層間絶縁材料、誘電体材料、配線材料等の塗布液も可能であり、各種薬液、現像液やリンス液等も可能である。本考案における被処理基板はLCD基板に限らず、他のフラットパネルディスプレイ用基板、半導体ウエハ、CD基板、フォトマスク、プリント基板等も可能である。   As the coating solution in the present invention, in addition to the resist solution, for example, a coating solution such as an interlayer insulating material, a dielectric material, and a wiring material can be used, and various chemical solutions, developing solutions, rinse solutions, and the like are also possible. The substrate to be processed in the present invention is not limited to an LCD substrate, and other flat panel display substrates, semiconductor wafers, CD substrates, photomasks, printed substrates and the like are also possible.

G 被処理基板
32 スリットノズル
42 ノズルリフレッシュ部
44 容器
52 スリットノズル洗浄部
64 キャリッジ
72 第1拭き取りパッド
72d 拭き取り面
76 第2拭き取りパッド
76d 拭き取り面
100 拭き取りパッド洗浄ノズル
101 ノズルカバー
102 閉空間
103 排気ポート
104 開口
105 エアーカーテンノズル
G Substrate 32 Slit nozzle 42 Nozzle refresh unit 44 Container 52 Slit nozzle cleaning unit 64 Carriage 72 First wiping pad 72d Wiping surface 76 Second wiping pad 76d Wiping surface 100 Wiping pad cleaning nozzle 101 Nozzle cover 102 Closed space 103 Exhaust port 104 Opening 105 Air curtain nozzle

Claims (8)

基板に処理液を塗布する長尺状の塗布ノズルの吐出口周辺に沿って前記塗布ノズルの長手方向と平行に水平な走査方向に移動するキャリッジと、
前記キャリッジに設置され、前記走査方向に移動しながら前記塗布ノズルの吐出口周辺部に摺接して該吐出口周辺部に付着した処理液を拭き取り除去する拭き取りパッドと、を具備する塗布ノズル洗浄装置において、
前記キャリッジを収容する容器の上部に配置され、前記拭き取りパッドの拭き取り面に向かって洗浄流体を吐出して前記拭き取り面を洗浄する拭き取りパッド洗浄ノズルを具備することを特徴とする塗布ノズル洗浄装置。
A carriage that moves in a horizontal scanning direction parallel to the longitudinal direction of the coating nozzle along the periphery of the discharge port of the elongated coating nozzle that applies the processing liquid to the substrate;
A coating nozzle cleaning device comprising: a wiping pad installed on the carriage and slidably contacting the discharge nozzle peripheral portion of the coating nozzle while moving in the scanning direction to wipe off the processing liquid adhering to the discharge port peripheral portion In
A coating nozzle cleaning device, comprising: a wiping pad cleaning nozzle that is disposed on an upper part of a container that houses the carriage and that discharges a cleaning fluid toward a wiping surface of the wiping pad to clean the wiping surface.
前記洗浄流体をスプレー状に吐出することを特徴とする請求項1に記載の塗布ノズル洗浄装置。   The coating nozzle cleaning apparatus according to claim 1, wherein the cleaning fluid is discharged in a spray form. 前記拭き取りパッド洗浄ノズルは前記拭き取りパッドに対して相対的に移動自在に形成されていることを特徴とする請求項1又は2に記載の塗布ノズル洗浄装置。   The coating nozzle cleaning device according to claim 1 or 2, wherein the wiping pad cleaning nozzle is formed to be movable relative to the wiping pad. 前記洗浄流体として、洗浄液を用いることを特徴とする請求項1ないし3のいずれかに記載の塗布ノズル洗浄装置。   The coating nozzle cleaning apparatus according to claim 1, wherein a cleaning liquid is used as the cleaning fluid. 前記洗浄流体として、気体を用いることを特徴とする請求項1ないし3のいずれかに記載の塗布ノズル洗浄装置。   The coating nozzle cleaning apparatus according to claim 1, wherein a gas is used as the cleaning fluid. 前記拭き取りパッド洗浄ノズルの上方に配置され、前記容器と協同して前記拭き取りパッド及び拭き取りパッド洗浄ノズルの周辺に閉空間を形成するノズルカバーを具備することを特徴とする請求項1ないし5のいずれかに記載の塗布ノズル洗浄装置。   6. A nozzle cover that is disposed above the wiping pad cleaning nozzle and that forms a closed space around the wiping pad and the wiping pad cleaning nozzle in cooperation with the container. A coating nozzle cleaning device according to claim 1. 前記閉空間内を排気するための排気ポートを有することを特徴とする請求項6に記載の塗布ノズル洗浄装置。   The coating nozzle cleaning apparatus according to claim 6, further comprising an exhaust port for exhausting the inside of the closed space. 前記ノズルカバーは、前記塗布ノズルが前記閉空間に入退出するための開口と、この開口を前記閉空間の外部と遮断するためのエアーカーテンノズルと、を具備することを特徴とする請求項6又は7に記載の塗布ノズル洗浄装置。   The nozzle cover includes an opening for the application nozzle to enter and leave the closed space, and an air curtain nozzle for blocking the opening from the outside of the closed space. Or the coating nozzle cleaning device according to 7.
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