JP3127895B2 - Carrier for microwave semiconductor element, matching circuit board mounted on carrier, and microwave semiconductor device - Google Patents

Carrier for microwave semiconductor element, matching circuit board mounted on carrier, and microwave semiconductor device

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JP3127895B2
JP3127895B2 JP10228143A JP22814398A JP3127895B2 JP 3127895 B2 JP3127895 B2 JP 3127895B2 JP 10228143 A JP10228143 A JP 10228143A JP 22814398 A JP22814398 A JP 22814398A JP 3127895 B2 JP3127895 B2 JP 3127895B2
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    • H01L2924/16152Cap comprising a cavity for hosting the device, e.g. U-shaped cap

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、マイクロ波半導体
素子を搭載するキャリア、このキャリアにマイクロ波半
導体素子とともに搭載される整合回路基板、及びキャリ
ア上にマイクロ波半導体素子と整合回路基板とを搭載し
たマイクロ波半導体装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a carrier on which a microwave semiconductor element is mounted, a matching circuit board mounted on the carrier together with the microwave semiconductor element, and a microwave semiconductor element and a matching circuit board mounted on the carrier. To a microwave semiconductor device.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来のマイクロ波半導体装置について、
図10及び図11を用いて説明する。図10は従来のマ
イクロ波半導体装置の断面図、図11は図10に示した
マイクロ波半導体装置のキャップ取付け前の平面図であ
る。
2. Description of the Related Art Conventional microwave semiconductor devices include:
This will be described with reference to FIGS. FIG. 10 is a sectional view of a conventional microwave semiconductor device, and FIG. 11 is a plan view of the microwave semiconductor device shown in FIG. 10 before a cap is attached.

【0003】図10及び図11に示すように、キャリア
111の中央部には凸状の台座112が形成されてお
り、この台座112の上面にマイクロ波半導体素子11
5が搭載されている。台座112の両側には、入出力の
整合をとるための整合回路が形成された整合回路基板1
13が搭載され、これら整合回路基板113とマイクロ
波半導体素子115とがボンディングワイヤ116によ
って電気的に接続されている。そして、キャリア111
の外周縁上にキャップ116が接着されてマイクロ波半
導体素子115及び整合回路基板113が封止されてい
る。
As shown in FIGS. 10 and 11, a convex pedestal 112 is formed at the center of the carrier 111, and the microwave semiconductor element 11 is formed on the upper surface of the pedestal 112.
5 is mounted. On both sides of the pedestal 112, a matching circuit board 1 on which a matching circuit for matching input / output is formed.
The matching circuit board 113 and the microwave semiconductor element 115 are electrically connected by bonding wires 116. And the carrier 111
A cap 116 is adhered on the outer peripheral edge of the semiconductor device to seal the microwave semiconductor element 115 and the matching circuit board 113.

【0004】マイクロ波回路においては、その動作周波
数が高くなるとマイクロ波半導体素子115と整合回路
基板113とを接続するボンディングワイヤ114のイ
ンダクタンス成分が動作に悪影響を及ぼし高周波特性が
劣化するため、ボンディングワイヤ114の長さをでき
るだけ短くする必要がある。そこで、マイクロ波半導体
素子115の上面の高さと整合回路基板113の高さと
を合わせるために、上述のようにキャリア111に台座
112を設けている。通常、マイクロ波半導体素子11
5の厚さは50〜100μmであり、整合回路基板11
3の厚さは約250μmであるので、台座112の高さ
は150μm〜200μmとなる。また、キャリア11
1は金属材料で形成され、台座112は切削により加工
されるので、台座112の根元部には半径が50μm程
度の加工残り112aが生じる。ボンディングワイヤ1
14の長さをできるだけ短くするために整合回路基板1
13はできるだけ台座112に近い位置に搭載されるの
が好ましいが、上述のように台座112の根元部には加
工残り112aが生じているので、整合回路基板113
を台座112に近づけすぎると図12に示すように整合
回路基板113が加工残り112aの部分に乗り上げて
しまい、ボンディングワイヤ114の長さが均一にでき
なくなってしまう。一方、加工残り112aを避けて整
合回路基板113を搭載すると、結果的にはボンディン
グワイヤ114の長さが長くなり高周波特性が劣化して
しまう。
In a microwave circuit, when the operating frequency is increased, the inductance component of a bonding wire 114 connecting the microwave semiconductor element 115 and the matching circuit board 113 has an adverse effect on the operation and the high-frequency characteristics are deteriorated. 114 must be as short as possible. Therefore, in order to match the height of the upper surface of the microwave semiconductor element 115 with the height of the matching circuit board 113, the pedestal 112 is provided on the carrier 111 as described above. Usually, the microwave semiconductor element 11
5 is 50 to 100 μm, and the matching circuit board 11
Since the thickness of the base 3 is about 250 μm, the height of the base 112 is 150 μm to 200 μm. In addition, carrier 11
1 is formed of a metal material, and the pedestal 112 is processed by cutting. Therefore, a processing residue 112a having a radius of about 50 μm is generated at the base of the pedestal 112. Bonding wire 1
In order to make the length of the matching circuit board 14 as short as possible,
13 is preferably mounted as close to the pedestal 112 as possible. However, since the unprocessed portion 112a is formed at the base of the pedestal 112 as described above, the matching circuit board 113 is mounted.
If the wire is too close to the pedestal 112, as shown in FIG. 12, the matching circuit board 113 runs over the unprocessed portion 112a, and the length of the bonding wire 114 cannot be made uniform. On the other hand, if the matching circuit substrate 113 is mounted while avoiding the unprocessed portion 112a, the length of the bonding wires 114 will eventually increase, and the high-frequency characteristics will deteriorate.

【0005】そこで、この加工残りの影響をなくするた
めに、特開平3−185751号公報には、図13に示
すように、台座122の形状を逆台形としたマイクロ波
半導体装置が開示されている。これにより、台座122
の根元部の加工残りに影響されることなく整合回路基板
123を台座122に近づけることができ、ボンディン
グワイヤ124の長さを短くすることができる。
In order to eliminate the influence of the unprocessed portion, Japanese Unexamined Patent Publication No. Hei 3-185751 discloses a microwave semiconductor device in which the pedestal 122 has an inverted trapezoidal shape as shown in FIG. I have. Thereby, the pedestal 122
The matching circuit board 123 can be brought close to the pedestal 122 without being affected by the unprocessed portion of the base portion of the substrate, and the length of the bonding wire 124 can be shortened.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、特開平
3−185751号公報に開示されているように台座の
形状を逆台形とすると、加工残りの影響はなくなるもの
の、台座の形状自体及び整合回路基板と台座との間に大
きな隙間が生じることにより、マイクロ波半導体素子か
ら発生した熱がキャリアに伝わりにくくなる。その結
果、特に高出力のマイクロ波半導体素子では発熱量も大
きいため、動作の信頼性や寿命が低下するといった問題
点があった。
However, if the shape of the pedestal is inverted trapezoidal as disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 3-185751, the shape of the pedestal itself and the matching circuit board will not be affected by the remaining processing. When a large gap is formed between the microwave semiconductor device and the pedestal, heat generated from the microwave semiconductor element is not easily transmitted to the carrier. As a result, there is a problem in that the operation reliability and the service life are shortened particularly because the heat generation is large in the high-output microwave semiconductor element.

【0007】また、整合回路基板は台座の側方に搭載さ
れるためボンディングワイヤの長さを短くするのにも限
界があるが、高周波特性の更なる向上のためにボンディ
ングワイヤの長さをより短くできるような構造も望まれ
ている。
Further, since the matching circuit board is mounted on the side of the pedestal, there is a limit in shortening the length of the bonding wire. However, in order to further improve the high frequency characteristics, the length of the bonding wire is increased. A structure that can be shortened is also desired.

【0008】そこで本発明は、ボンディングワイヤの長
さを短くすることが可能な構造としつつも、マイクロ波
半導体素子から発生した熱を効果的に放熱することがで
きるマイクロ波半導体素子用キャリア、整合回路基板及
びマイクロ波半導体装置を提供することを目的とする。
Accordingly, the present invention provides a carrier for a microwave semiconductor device, which can effectively radiate heat generated from the microwave semiconductor device while having a structure capable of shortening the length of a bonding wire. It is an object to provide a circuit board and a microwave semiconductor device.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
本発明のマイクロ波半導体素子用キャリアは、マイクロ
波半導体素子が搭載される台座が上面に形成され、前記
台座に隣接して、前記マイクロ波半導体素子の入出力の
整合をとるための、前記台座に隣接する側面が下向きに
傾斜した整合回路基板が搭載されるマイクロ波半導体素
子用キャリアであって、前記台座は、前記整合回路基板
の前記側面と合致するように、前記整合回路基板と隣接
する面が傾斜して側方から見て裾広がり形状に形成され
ていることを特徴とする。
Means for Solving the Problems] Microwave semiconductor device carrier of the present invention for achieving the above object, a pedestal microwave semiconductor element is mounted is formed on an upper surface, the
Adjacent to the pedestal, the side surface adjacent to the pedestal faces downward for matching the input and output of the microwave semiconductor device.
A carrier for a microwave semiconductor element inclined matching circuit substrate is mounting tower, said pedestal, said matching circuit board
The surface adjacent to the matching circuit board is inclined and formed to have a flared shape when viewed from the side so as to match the side surface of (1).

【0010】上記のとおり構成された本発明のマイクロ
波半導体素子用キャリアでは、マイクロ波半導体素子が
搭載される台座の形状が裾広がり形状となっているの
で、マイクロ波半導体素子からの熱がキャリア内部に良
好に拡散される。このような形状の台座はプレス加工に
よって容易に形成可能であるので、プレス加工によって
台座を形成すれば、台座の根元部の加工残りも生じなく
なる。一方、このキャリアに搭載される整合回路基板
は、台座に隣接する側面が下向きに傾斜しており、台座
の側面が、この整合回路基板の側面と合致するように傾
斜しているので、整合回路基板を台座に接触させて搭載
することが可能となり、整合回路基板とマイクロ波半導
体素子とを接続するボンディングワイヤの長さも短くな
る。
In the microwave semiconductor device carrier of the present invention configured as described above, the base on which the microwave semiconductor device is mounted has a flared shape, so that the heat from the microwave semiconductor device transfers the carrier. Well diffused inside. The pedestal having such a shape can be easily formed by press working. Therefore, if the pedestal is formed by press working, there is no processing residue at the base of the pedestal. On the other hand, the matching circuit board mounted on this carrier
The side adjacent to the pedestal is inclined downward,
Side of the matching circuit board
Because of the slant , the matching circuit board can be mounted in contact with the pedestal, and the length of the bonding wire connecting the matching circuit board and the microwave semiconductor element is also reduced.

【0011】また、台座を切削加工で形成した場合に
は、台座の根元部には切削残りが生じるが、根元部に掘
り込み部を形成することで、整合回路基板を台座に接触
して搭載させることが可能となる。さらに、台座の高さ
を、整合基板の厚みからマイクロ波半導体素子の厚みを
差し引いた高さとすることで、マイクロ波半導体素子の
表面と整合回路基板の表面とが同じ高さとなるので、ボ
ンディングワイヤの長さはより短くなる。
[0011] When the pedestal is formed by cutting, the cutting residue remains at the base of the pedestal. However, by forming a dug portion at the base, the matching circuit board is mounted in contact with the pedestal. It is possible to do. Furthermore, by setting the height of the pedestal to the height obtained by subtracting the thickness of the microwave semiconductor element from the thickness of the matching substrate, the surface of the microwave semiconductor element and the surface of the matching circuit board become the same height, so that the bonding wire Will be shorter.

【0012】本発明の整合回路基板は、キャリアの上面
に側面が傾斜して側方から見て裾広がり形状に形成され
た台座に搭載されたマイクロ波半導体素子の入出力の整
合をとるために前記台座の傾斜した側面に隣接して前記
キャリア上に搭載される整合回路基板であって、前記台
座の傾斜した側面に隣接する面が、前記台座の傾斜した
側面と合致するように傾斜して形成されているものであ
る。
A matching circuit board according to the present invention is used for matching input and output of a microwave semiconductor element mounted on a pedestal having a side surface inclined to the upper surface of a carrier and formed in a flared shape when viewed from the side. A matching circuit board mounted on the carrier adjacent to the inclined side surface of the pedestal, the surface adjacent to the inclined side surface of the pedestal being inclined so as to coincide with the inclined side surface of the pedestal. It has been formed.

【0013】上記のとおり構成された本発明の整合回路
基板では、台座の傾斜した側面に隣接して搭載される
が、その側面に隣接した面が、その側面と合致するよう
に傾斜して形成されているので、台座の側面に接触させ
てキャリア上に搭載することが可能である。一般に、台
座はマイクロ波半導体素子と整合回路基板との高さを合
わせるためにキャリアに形成されているので、台座の高
さは整合回路基板の厚みよりも小さいものとなる。従っ
て、整合回路基板を台座に接触させて搭載することによ
り、整合回路基板の上面の台座側の端部はマイクロ波半
導体素子に向かってせり出すかたちとなるので、整合回
路基板がマイクロ波半導体素子により近づくことにな
り、両者を接続するボンディングワイヤの長さは短くて
すむ。
In the matching circuit board of the present invention configured as described above, the pedestal is mounted adjacent to the inclined side surface, and the surface adjacent to the side surface is formed to be inclined so as to match the side surface. Therefore, it is possible to mount on the carrier by contacting the side surface of the pedestal. Generally, the pedestal is formed on the carrier in order to adjust the height of the microwave semiconductor element and the matching circuit board. Therefore, the height of the pedestal is smaller than the thickness of the matching circuit board. Therefore, by mounting the matching circuit board in contact with the pedestal, the pedestal-side end of the upper surface of the matching circuit board protrudes toward the microwave semiconductor element. As a result, the length of the bonding wire connecting them can be reduced.

【0014】本発明のマイクロ波半導体装置は、マイク
ロ波半導体素子と、該マイクロ波半導体素子が搭載され
る台座が形成されたキャリアと、前記マイクロ波半導体
素子の入出力の整合をとるために前記キャリアの上面に
前記台座と隣接して搭載された整合回路基板とを有する
マイクロ波半導体装置において、前記台座は、前記整合
回路基板と隣接する面が傾斜して側方から見て裾広がり
形状に形成され、前記整合回路基板は、前記台座の傾斜
した面に隣接する面が、前記台座の傾斜した面と合致す
るように傾斜して形成されて前記台座の傾斜した面と接
触して前記キャリアに搭載されていることを特徴とす
る。
According to the microwave semiconductor device of the present invention, a microwave semiconductor element, a carrier having a pedestal on which the microwave semiconductor element is mounted, and the input / output of the microwave semiconductor element are matched with each other. In a microwave semiconductor device having a pedestal and a matching circuit board mounted adjacent to a top surface of a carrier, the pedestal has a shape in which a surface adjacent to the matching circuit substrate is inclined and has a flared shape when viewed from a side. The matching circuit board is formed such that a surface adjacent to the inclined surface of the pedestal is formed to be inclined so as to match the inclined surface of the pedestal, and the carrier is brought into contact with the inclined surface of the pedestal. It is characterized by being mounted on.

【0015】すなわち、上述した本発明のマイクロ波半
導体素子用キャリアと整合回路基板とを組み合わせたも
のであり、上述したように、放熱性に優れ、かつ、ボン
ディングワイヤの長さが短くてすむマイクロ波半導体装
置となる。特に、キャリアと整合回路基板を半田によっ
て固着することで、放熱性が更に向上する。しかも、キ
ャリアと整合回路基板との間に隙間が生じても、この隙
間を半田で埋めれば放熱性が低下することはない。
That is, the combination of the above-described carrier for a microwave semiconductor device of the present invention and a matching circuit board, as described above, is excellent in heat dissipation and requires only a short bonding wire. Wave semiconductor device. In particular, by fixing the carrier and the matching circuit board by soldering, the heat dissipation is further improved. Moreover, even if a gap is formed between the carrier and the matching circuit board, if this gap is filled with solder, the heat dissipation will not be reduced.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】次に、本発明の実施形態について
図面を参照して説明する。
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0017】(第1の実施形態)図1は、本発明の第1
の実施形態のマイクロ波半導体装置の断面図であり、図
2は、図1に示したマイクロ波半導体装置のキャップ取
付け前の平面図である。図1及び図2に示すように、本
実施形態のマイクロ波半導体装置10は、マイクロ波半
導体素子15と、マイクロ波半導体素子15を搭載する
キャリア11と、マイクロ波半導体素子15の信号の入
出力の整合をとるための整合回路が形成された2つの整
合回路基板13と、マイクロ波半導体素子15及び整合
回路基板13を封止するためのキャップ16と、入力端
子17及び出力端子18とを有する。
(First Embodiment) FIG. 1 shows a first embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a cross-sectional view of the microwave semiconductor device according to the embodiment, and FIG. 2 is a plan view of the microwave semiconductor device shown in FIG. 1 before a cap is attached. As shown in FIGS. 1 and 2, a microwave semiconductor device 10 of the present embodiment includes a microwave semiconductor element 15, a carrier 11 on which the microwave semiconductor element 15 is mounted, and a signal input / output of the microwave semiconductor element 15. There are two matching circuit boards 13 on each of which a matching circuit for matching is formed, a cap 16 for sealing the microwave semiconductor element 15 and the matching circuit board 13, and an input terminal 17 and an output terminal 18. .

【0018】キャリア11は、導電性材料、例えば銅−
タングステン合金に金めっきを施したもので構成され、
その上面の中央部にはマイクロ波半導体素子15が搭載
される台座12が形成されている。図3に示すように、
台座12は側方から見て台形形状すなわち裾広がりの形
状であり、台座12の上面12aとキャリア11の上面
とを繋ぐ傾斜面12bの傾斜角度は、本実施形態では4
5°とした。従って、台座12の根元部の投影面積は上
面12aの面積よりも大きくなっている。このような台
座12は、例えば、プレス加工によって容易に形成可能
である。
The carrier 11 is made of a conductive material such as copper.
It is made of tungsten alloy plated with gold,
A pedestal 12 on which the microwave semiconductor element 15 is mounted is formed at the center of the upper surface. As shown in FIG.
The pedestal 12 has a trapezoidal shape, that is, a flared shape when viewed from the side. The inclination angle of the inclined surface 12b connecting the upper surface 12a of the pedestal 12 and the upper surface of the carrier 11 is 4 in this embodiment.
5 °. Therefore, the projected area of the base of the pedestal 12 is larger than the area of the upper surface 12a. Such a base 12 can be easily formed by, for example, press working.

【0019】マイクロ波半導体素子15が搭載される台
座12の上面12aの大きさは、台座12の加工精度及
びマイクロ波半導体素子15の搭載位置決め精度を考慮
し、マイクロ波半導体素子15の周囲に0.1〜0.2
mmのマージンをとって、マイクロ波半導体素子15の
大きさよりも大きく形成される。高出力用のマイクロ波
半導体素子15の場合、その大きさは、長手方向の長さ
LCが4mm、幅WCが1mm、厚さdCが50μmに
達するので、本実施形態では、台座12の上面12aの
長手方向の長さLを4.3mm、幅Wを1.3mmとし
た。
The size of the upper surface 12a of the pedestal 12 on which the microwave semiconductor element 15 is mounted is set at 0 mm around the microwave semiconductor element 15 in consideration of the processing accuracy of the pedestal 12 and the mounting positioning accuracy of the microwave semiconductor element 15. .1 to 0.2
It is formed larger than the size of the microwave semiconductor element 15 with a margin of mm. In the case of the microwave semiconductor element 15 for high output, the size thereof is such that the length LC in the longitudinal direction reaches 4 mm, the width WC reaches 1 mm, and the thickness dC reaches 50 μm. Has a length L of 4.3 mm and a width W of 1.3 mm.

【0020】整合回路基板13は、台座12の両側方に
おいて台座12に隣接してキャリア11上に搭載され
る。整合回路基板13の上面にはマイクロ波半導体素子
15との接続用の電極(不図示)を有し、この電極とマ
イクロ波半導体素子15の電極(不図示)とが、Auか
らなるボンディングワイヤ14で電気的に接続される。
整合回路基板13の、キャリア11の台座12と隣接す
る面は、図4に示すように、台座11の傾斜面12bと
合致するように、台座11の傾斜面12bの傾斜角度と
実質的に等しい角度すなわち45°で下向きに傾斜した
傾斜面13aとなっており、両者を互いに接触させて整
合回路基板13はキャリア11に固着されている。
The matching circuit board 13 is mounted on the carrier 11 adjacent to the pedestal 12 on both sides of the pedestal 12. The upper surface of the matching circuit board 13 has an electrode (not shown) for connection to the microwave semiconductor element 15, and this electrode and the electrode (not shown) of the microwave semiconductor element 15 are connected to the bonding wire 14 made of Au. Are electrically connected.
The surface of the matching circuit board 13 adjacent to the pedestal 12 of the carrier 11 is substantially equal to the inclination angle of the inclined surface 12b of the pedestal 11 so as to match the inclined surface 12b of the pedestal 11, as shown in FIG. The matching circuit board 13 is fixed to the carrier 11 by making an inclined surface 13a inclined downward at an angle, that is, 45 °.

【0021】整合回路基板13の厚さは約250μmで
あるので、整合回路基板13の電極とマイクロ波半導体
素子15の電極との高さを一致させるため、台座12の
高さdは、整合回路基板13の厚さからマイクロ波半導
体素子15の厚さを差し引いた値である200μmとし
た。上述のように整合回路基板13は台座12の傾斜面
12bの傾斜角度と等しい角度の傾斜面13aを有し、
しかも整合回路基板13の厚さは台座12の高さdより
も厚いので、整合回路基板13の上面の台座12側の端
部は、台座12の上面12aの端部からマイクロ波半導
体素子15側にせり出している。
Since the thickness of the matching circuit board 13 is about 250 μm, the height d of the pedestal 12 is adjusted to match the height of the electrode of the matching circuit board 13 and the electrode of the microwave semiconductor element 15. The thickness was set to 200 μm, which is a value obtained by subtracting the thickness of the microwave semiconductor element 15 from the thickness of the substrate 13. As described above, the matching circuit board 13 has the inclined surface 13a having the same angle as the inclined angle of the inclined surface 12b of the pedestal 12,
Moreover, since the thickness of the matching circuit board 13 is greater than the height d of the pedestal 12, the end of the upper surface of the matching circuit board 13 on the pedestal 12 side is closer to the microwave semiconductor element 15 from the end of the upper surface 12a of the pedestal 12. It is protruding.

【0022】このせり出し量は、本実施形態の場合、整
合回路基板13の傾斜面13aの傾斜角度が45°であ
るので、50μm×cot45°=50μmとなり、そ
の分だけ整合回路基板13の電極の位置をマイクロ波半
導体素子15に近づけることができる。また、整合回路
基板13の搭載位置は、整合回路基板13の傾斜面13
aとキャリア11の台座12の傾斜面12bとを接触さ
せることにより一義的に決めることが可能である。
In this embodiment, the amount of protrusion is 50 μm × cot 45 ° = 50 μm because the inclination angle of the inclined surface 13 a of the matching circuit board 13 is 45 ° in the present embodiment. The position can be made closer to the microwave semiconductor element 15. The mounting position of the matching circuit board 13 is set on the inclined surface 13 of the matching circuit board 13.
a can be uniquely determined by contacting a with the inclined surface 12 b of the pedestal 12 of the carrier 11.

【0023】従って、整合回路基板12の電極の位置が
マイクロ波半導体素子15に近づいた分だけボンディン
グワイヤ14の長さを短くすることができるとともに、
ボンディングワイヤ14の長さも均一とすることがで
き、高周波特性をより向上させることができる。さら
に、整合回路基板13がマイクロ波半導体素子15側に
せり出す構造となることから整合回路基板13の上面の
面積を従来よりも大きくすることができるため、整合回
路の設計の自由度が増す。これによって、より高周波特
性を向上した回路を設計し易くなる。
Therefore, the length of the bonding wire 14 can be shortened by an amount corresponding to the position of the electrode of the matching circuit board 12 approaching the microwave semiconductor element 15, and
The length of the bonding wire 14 can be made uniform, and the high-frequency characteristics can be further improved. Further, since the matching circuit board 13 has a structure protruding toward the microwave semiconductor element 15, the area of the upper surface of the matching circuit board 13 can be made larger than before, so that the degree of freedom in designing the matching circuit increases. This makes it easier to design a circuit with improved high-frequency characteristics.

【0024】一方、マイクロ波半導体素子15の動作に
よりマイクロ波半導体素子15から発生した熱はマイク
ロ波半導体素子15の裏面から台座12の上面12aに
伝わる。この熱は、台座12の上面12aからキャリア
11の内部に拡散していくわけであるが、台座12は裾
広がりの形状をしているため、熱は放射状にキャリア1
1の内部に拡散し、マイクロ波半導体素子15からの熱
を効率的に放熱することができる。これにより、マイク
ロ波半導体素子15の信頼性及び寿命の低下が抑えられ
る。
On the other hand, heat generated from the microwave semiconductor device 15 by the operation of the microwave semiconductor device 15 is transmitted from the back surface of the microwave semiconductor device 15 to the upper surface 12a of the pedestal 12. This heat is diffused from the upper surface 12a of the pedestal 12 to the inside of the carrier 11, but since the pedestal 12 has a flared shape, the heat is radiated to the carrier 1.
1 and the heat from the microwave semiconductor element 15 can be efficiently radiated. As a result, the reliability and the life of the microwave semiconductor device 15 are not reduced.

【0025】なお、上述の説明では整合回路基板13の
材質や整合回路基板13の固着方法については言及して
いないが、整合回路基板13を熱伝導率の高いアルミナ
基板としたり、さらには整合回路基板13とキャリア1
1との固着に、AuSn等の半田を接着材として用いる
ことで、キャリア11に拡散した熱を更に整合回路基板
13にも拡散させ、放熱性をより向上させることができ
る。これは、単に整合回路基板13の材質や接着材の材
質だけに因るものではなく、整合回路基板13と台座1
2との形状にも大きく関係している。すなわち、整合回
路基板13と台座12とは、互いの傾斜面13a,12
b同士が直接または半田を介して接触した構造となって
おり、図10に示したような従来の直方体形の台座11
2を有する場合に比べて台座12と整合回路基板13と
の接触面積が大きくなるためである。
Although the above description does not refer to the material of the matching circuit board 13 or the method of fixing the matching circuit board 13, the matching circuit board 13 may be an alumina substrate having a high thermal conductivity, Substrate 13 and carrier 1
By using a solder such as AuSn as an adhesive for fixing to the substrate 1, the heat diffused to the carrier 11 can be further diffused to the matching circuit board 13, and the heat dissipation can be further improved. This does not depend solely on the material of the matching circuit board 13 or the material of the adhesive, but rather on the matching circuit board 13 and the pedestal 1.
2 is also greatly related to the shape. That is, the matching circuit board 13 and the pedestal 12 are mutually inclined.
b are in contact with each other directly or via solder, and a conventional rectangular parallelepiped pedestal 11 as shown in FIG.
This is because the contact area between the pedestal 12 and the matching circuit board 13 is larger than that in the case where the number 2 is provided.

【0026】半田によって整合回路基板13とキャリア
11とを固着する場合、整合回路基板13とキャリア1
1との接触面全体、つまり整合回路基板13の底面及び
傾斜面13aをキャリア11及び台座12に固着した方
が、キャリア11の熱がより拡散し易くなり放熱効果の
点からは好ましい。
When the matching circuit board 13 and the carrier 11 are fixed by soldering, the matching circuit board 13 and the carrier 1 are fixed.
It is preferable that the entire contact surface of the carrier 11, that is, the bottom surface and the inclined surface 13 a of the matching circuit board 13 be fixed to the carrier 11 and the pedestal 12, since the heat of the carrier 11 is more easily diffused and the heat radiation effect is obtained.

【0027】(第2の実施形態)図5は、本発明の第2
の実施形態のマイクロ波半導体装置の断面図である。ま
た、図6は、図5に示したマイクロ波半導体装置のキャ
リアの断面図であり、図7は、図5に示したマイクロ波
半導体装置の整合回路基板の傾斜面近傍の断面図であ
る。
(Second Embodiment) FIG. 5 shows a second embodiment of the present invention.
It is sectional drawing of the microwave semiconductor device of 2nd Embodiment. 6 is a cross-sectional view of the carrier of the microwave semiconductor device shown in FIG. 5, and FIG. 7 is a cross-sectional view near the inclined surface of the matching circuit substrate of the microwave semiconductor device shown in FIG.

【0028】キャリア21の台座22を、プレス加工で
はなく切削加工で形成した場合、図6に示すように、台
座22の根元部には半径が50μm程度の切削残り22
cが生じる。そこで、図7に示すように、整合回路基板
23に傾斜面23aを形成した後、傾斜面23aと底面
23bとが交わる稜部に面取り23cを施す。その他の
構成は第1の実施形態と同様であるので説明は省略す
る。
When the pedestal 22 of the carrier 21 is formed by cutting instead of press working, as shown in FIG. 6, the base 22 of the pedestal 22 has a cutting residue 22 having a radius of about 50 μm.
c occurs. Therefore, as shown in FIG. 7, after the inclined surface 23a is formed on the matching circuit board 23, a chamfer 23c is applied to a ridge where the inclined surface 23a and the bottom surface 23b intersect. The other configuration is the same as that of the first embodiment, and the description is omitted.

【0029】これにより、整合回路基板23の傾斜面2
3aを台座22の傾斜面と接触させることが可能とな
り、整合回路基板23とマイクロ波半導体素子25との
接続のためのボンディングワイヤ24の長さを短くする
ことができる。なお、整合回路基板23に面取り23c
を施すことにより、この面取り23cの部分と台座22
の切削残り22cとの間に隙間ができるが、この隙間は
整合回路基板23をキャリア21に搭載する際に用いる
半田で埋めることができるので、放熱性も低下すること
はない。
Thus, the inclined surface 2 of the matching circuit board 23
3a can be brought into contact with the inclined surface of the pedestal 22, and the length of the bonding wire 24 for connecting the matching circuit board 23 and the microwave semiconductor element 25 can be shortened. Note that the chamfer 23c is formed on the matching circuit board 23.
Is applied to the chamfered portion 23c and the pedestal 22.
A gap is formed between the substrate and the cutting residue 22c, but since this gap can be filled with the solder used when mounting the matching circuit board 23 on the carrier 21, the heat radiation does not decrease.

【0030】(第3の実施形態)図8は、本発明の第3
の実施形態のマイクロ波半導体装置の断面図である。図
9は、図8に示したマイクロ波半導体装置のキャリアの
断面図である。
(Third Embodiment) FIG. 8 shows a third embodiment of the present invention.
It is sectional drawing of the microwave semiconductor device of 2nd Embodiment. FIG. 9 is a cross-sectional view of the carrier of the microwave semiconductor device shown in FIG.

【0031】本実施形態もキャリア31の台座32を切
削加工により形成したものであるが、本実施形態では、
図9に示すように、切削残りが生じる部分を予め掘り下
げた掘り込み部32dを台座32の根元部に形成してい
る。その他の構成は第1の実施形態と同様であるので、
その説明は省略する。
In this embodiment also, the pedestal 32 of the carrier 31 is formed by cutting, but in this embodiment,
As shown in FIG. 9, a dug portion 32 d in which a portion where cutting residue occurs is dug down in advance is formed at the base of the pedestal 32. Other configurations are the same as those of the first embodiment.
The description is omitted.

【0032】これにより、整合回路基板33に図7に示
したような面取り23cを施さなくても整合回路基板3
3の傾斜面を台座32の傾斜面と接触させることが可能
となり、整合回路基板33とマイクロ波半導体素子35
とを接続するボンディングワイヤ34の長さを短くする
ことができる。なお、キャリア31の台座32の根元部
に掘り込み部32dを形成するとにより、この掘り込み
部と32d整合回路基板33との間に隙間ができるが、
この隙間は整合回路基板33をキャリア31に搭載する
際に用いる半田で埋めることができるので、放熱性も低
下することはない。
Thus, even if the chamfer 23c as shown in FIG.
3 can be brought into contact with the inclined surface of the pedestal 32, and the matching circuit substrate 33 and the microwave semiconductor element 35
Can be reduced in length. By forming the dug portion 32d at the base of the pedestal 32 of the carrier 31, a gap is formed between the dug portion and the 32d matching circuit board 33.
Since this gap can be filled with the solder used when mounting the matching circuit board 33 on the carrier 31, the heat dissipation does not decrease.

【0033】以上、本発明の実施形態について、キャリ
アに一つのマイクロ波半導体素子が搭載されたものを例
に挙げて説明したが、実際にはキャリアに複数のマイク
ロ波半導体素子を搭載して使用する場合が多い。本発明
は、このように複数のマイクロ波半導体素子を搭載する
キャリア、そのようなキャリアに搭載される整合回路基
板、及びこれらキャリアと整合回路基板とを含むマイク
ロ波半導体装置にも適用可能である。もちろんこの場合
にも、台座の上面の大きさは、台座の加工精度及びマイ
クロ波半導体素子の搭載位置決め精度を考慮して、マイ
クロ波半導体素子が搭載される領域の周囲に0.1〜
0.2mmのマージンがとれる大きさとするのが好まし
い。
As described above, the embodiment of the present invention has been described with an example in which one microwave semiconductor element is mounted on a carrier. However, in practice, a plurality of microwave semiconductor elements are mounted on a carrier. Often do. The present invention is also applicable to a carrier on which a plurality of microwave semiconductor elements are mounted, a matching circuit board mounted on such a carrier, and a microwave semiconductor device including these carriers and the matching circuit board. . Of course, also in this case, the size of the upper surface of the pedestal should be 0.1 to 0.1 mm around the area where the microwave semiconductor element is mounted in consideration of the processing accuracy of the pedestal and the positioning accuracy of the microwave semiconductor element.
It is preferable that the size is such that a margin of 0.2 mm can be obtained.

【0034】[0034]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、キ
ャリアは台座が側方から見て裾広がり形状に形成されて
いるので、マイクロ波半導体素子からの熱を効率的に放
熱することができ、マイクロ波半導体素子の信頼性及び
寿命の低下を抑えることができる。また、キャリアと整
合回路基板とを半田で固着すれば、マイクロ波半導体素
子からの熱をより良好に放熱することができ、しかも、
キャリアと整合回路基板との間に隙間が生じるような場
合であっても、この隙間を半田で埋めることにより、放
熱性の低下を防止することができる。
As described above, according to the present invention, since the pedestal of the carrier is formed in a flared shape when viewed from the side, heat from the microwave semiconductor element can be efficiently radiated. Thus, a decrease in the reliability and life of the microwave semiconductor device can be suppressed. Further, if the carrier and the matching circuit board are fixed with solder, the heat from the microwave semiconductor element can be better radiated, and
Even in the case where a gap is formed between the carrier and the matching circuit board, the gap can be filled with solder to prevent a decrease in heat radiation.

【0035】また、台座の側面の傾斜と、整合回路基板
の台座と隣接する側面の傾斜とを合致させることによ
り、整合回路基板を台座に接触させて搭載し、結果的に
はマイクロ波半導体素子と整合回路基板とを接続するボ
ンディングワイヤの長さを短くして高周波特性の劣化を
防止することができる。特に、台座は裾広がり形状であ
るので、整合回路基板の厚みを台座の高さよりも大きく
すれば、整合回路基板の上面の、台座側の端部は台座側
にせり出すので、その分だけボンディングワイヤの長さ
を短くすることができる。
Further, the inclination of the side surface of the pedestal and the matching circuit board
By matching the pedestal with the slope of the adjacent side , the matching circuit board is mounted in contact with the pedestal, and as a result, the length of the bonding wire connecting the microwave semiconductor element and the matching circuit board is shortened. As a result, deterioration of the high frequency characteristics can be prevented. In particular, since the pedestal has a flared shape, if the thickness of the matching circuit board is made larger than the height of the pedestal, the pedestal-side end of the upper surface of the matching circuit board protrudes toward the pedestal, so that the bonding wire Can be shortened.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施形態のマイクロ波半導体装
置の断面図である。
FIG. 1 is a sectional view of a microwave semiconductor device according to a first embodiment of the present invention.

【図2】図1に示したマイクロ波半導体装置のキャップ
取付け前の平面図である。
FIG. 2 is a plan view of the microwave semiconductor device shown in FIG. 1 before a cap is attached.

【図3】図1に示したマイクロ波半導体装置のキャリア
の断面図である。
3 is a sectional view of a carrier of the microwave semiconductor device shown in FIG.

【図4】図1に示したマイクロ波半導体装置の整合回路
基板の傾斜面近傍の断面図である。
FIG. 4 is a cross-sectional view showing the vicinity of an inclined surface of a matching circuit substrate of the microwave semiconductor device shown in FIG. 1;

【図5】本発明の第2の実施形態のマイクロ波半導体装
置の断面図である。
FIG. 5 is a sectional view of a microwave semiconductor device according to a second embodiment of the present invention.

【図6】図5に示したマイクロ波半導体装置のキャリア
の断面図でる。
6 is a sectional view of a carrier of the microwave semiconductor device shown in FIG.

【図7】図5に示したマイクロ波半導体装置の整合回路
基板の傾斜面近傍の断面図である。
7 is a cross-sectional view of the vicinity of an inclined surface of a matching circuit substrate of the microwave semiconductor device shown in FIG.

【図8】本発明の第3の実施形態のマイクロ波半導体装
置の断面図である。
FIG. 8 is a sectional view of a microwave semiconductor device according to a third embodiment of the present invention.

【図9】図8に示したマイクロ波半導体装置のキャリア
の断面図である。
9 is a sectional view of a carrier of the microwave semiconductor device shown in FIG.

【図10】従来のマイクロ波半導体装置の一例の断面図
である。
FIG. 10 is a cross-sectional view of an example of a conventional microwave semiconductor device.

【図11】図11に示したマイクロ波半導体装置のキャ
ップ取付け前の平面図である。
11 is a plan view of the microwave semiconductor device shown in FIG. 11 before a cap is attached.

【図12】図10に示したマイクロ波半導体装置の不具
合を説明する図である。
FIG. 12 is a diagram illustrating a defect of the microwave semiconductor device shown in FIG.

【図13】従来のマイクロ波半導体装置の他の例の断面
図である。
FIG. 13 is a cross-sectional view of another example of a conventional microwave semiconductor device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 マイクロ波半導体装置 11,21,31 キャリア 12,22,32 台座 12a 上面 12b 傾斜面 13,23,33 整合回路基板 13a,23a 傾斜面 14,24,34 ボンディングワイヤ 15,25,35 マイクロ波半導体素子 16 キャップ 17 入力端子 18 出力端子 22c 切削残り 23c 面取り 32d 掘り込み部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Microwave semiconductor device 11, 21, 31 Carrier 12, 22, 32 Pedestal 12a Upper surface 12b Inclined surface 13, 23, 33 Matching circuit board 13a, 23a Inclined surface 14, 24, 34 Bonding wire 15, 25, 35 Microwave semiconductor Element 16 Cap 17 Input terminal 18 Output terminal 22c Cutting remainder 23c Chamfer 32d Dug

Claims (15)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 マイクロ波半導体素子が搭載される台座
が上面に形成され、前記台座に隣接して、前記マイクロ
波半導体素子の入出力の整合をとるための、前記台座に
隣接する側面が下向きに傾斜した整合回路基板が搭載さ
れるマイクロ波半導体素子用キャリアであって、 前記台座は、前記整合回路基板の前記側面と合致するよ
うに、前記整合回路基板と隣接する面が傾斜して側方か
ら見て裾広がり形状に形成されていることを特徴とする
マイクロ波半導体素子用キャリア。
1. A pedestal on which a microwave semiconductor element is mounted is formed on an upper surface, and is adjacent to the pedestal and is provided on the pedestal for matching input and output of the microwave semiconductor element.
A carrier for a microwave semiconductor element matching circuit substrate adjacent the side surface is inclined downwardly is loading tower, the pedestal is consistent with the side of the matching circuit substrate
As described above, a carrier for a microwave semiconductor element , wherein a surface adjacent to the matching circuit substrate is inclined and formed to have a flared shape when viewed from the side.
【請求項2】 前記台座は、側方から見て台形形状であ
る請求項1に記載のマイクロ波半導体素子用キャリア。
2. The carrier according to claim 1, wherein the pedestal has a trapezoidal shape when viewed from the side.
【請求項3】 前記台座はプレス加工によって形成され
る請求項1または2に記載のマイクロ波半導体素子用キ
ャリア。
3. The carrier for a microwave semiconductor device according to claim 1, wherein the pedestal is formed by press working.
【請求項4】 前記台座は切削加工によって形成され、
前記台座の根元部には掘り込み部が形成されている請求
項1または2に記載のマイクロ波半導体素子用キャリ
ア。
4. The pedestal is formed by cutting,
3. The carrier for a microwave semiconductor device according to claim 1, wherein a dug portion is formed at a base portion of the pedestal.
【請求項5】 前記台座の高さは、前記整合回路基板の
厚みから前記マイクロ波半導体素子の厚みを差し引いた
高さである請求項1ないし4のいずれか1項に記載のマ
イクロ波半導体素子用キャリア。
5. The microwave semiconductor device according to claim 1, wherein the height of the pedestal is a height obtained by subtracting the thickness of the microwave semiconductor device from the thickness of the matching circuit board. For carrier.
【請求項6】 キャリアの上面に側面が傾斜して側方か
ら見て裾広がり形状に形成された台座に搭載されたマイ
クロ波半導体素子の入出力の整合をとるために前記台座
の傾斜した側面に隣接して前記キャリア上に搭載される
整合回路基板であって、 前記台座の傾斜した側面に隣接する面が、前記台座の傾
斜した側面と合致するように傾斜して形成されている整
合回路基板。
6. A sloping side surface of the pedestal for matching input and output of a microwave semiconductor element mounted on a pedestal formed on the upper surface of the carrier and having a flared side shape when viewed from the side. A matching circuit board mounted on the carrier adjacent to the pedestal, wherein a surface adjacent to the inclined side surface of the pedestal is formed to be inclined so as to match the inclined side surface of the pedestal. substrate.
【請求項7】 前記台座の傾斜した側面に隣接する面と
前記キャリア上に搭載される面とが交わる稜部に面取り
加工が施されている請求項6に記載の整合回路基板。
7. The matching circuit board according to claim 6, wherein a ridge at which a surface adjacent to the inclined side surface of the pedestal and a surface mounted on the carrier intersects is chamfered.
【請求項8】 マイクロ波半導体素子と、該マイクロ波
半導体素子が搭載される台座が形成されたキャリアと、
前記マイクロ波半導体素子の入出力の整合をとるために
前記キャリアの上面に前記台座と隣接して搭載された整
合回路基板とを有するマイクロ波半導体装置において、 前記台座は、前記整合回路基板と隣接する面が傾斜して
側方から見て裾広がり形状に形成され、 前記整合回路基板は、前記台座の傾斜した面に隣接する
面が、前記台座の傾斜した面と合致するように傾斜して
形成されて前記台座の傾斜した面と接触して前記キャリ
アに搭載されていることを特徴とするマイクロ波半導体
装置。
8. A microwave semiconductor device, a carrier having a pedestal on which the microwave semiconductor device is mounted, and
In a microwave semiconductor device having a matching circuit board mounted adjacent to the pedestal on an upper surface of the carrier for matching input and output of the microwave semiconductor element, the pedestal is adjacent to the matching circuit board. The inclined surface is formed in a flared shape as viewed from the side, and the matching circuit board is inclined so that a surface adjacent to the inclined surface of the pedestal coincides with the inclined surface of the pedestal. A microwave semiconductor device formed and mounted on the carrier in contact with an inclined surface of the pedestal.
【請求項9】 前記整合回路基板は半田によって前記キ
ャリアに固着されている請求項8に記載のマイクロ波半
導体装置。
9. The microwave semiconductor device according to claim 8, wherein the matching circuit board is fixed to the carrier by solder.
【請求項10】 前記整合回路基板は、前記台座の傾斜
した面と隣接する面、及び前記キャリア上に搭載される
面が前記キャリアに固着されている請求項9に記載のマ
イクロ波半導体装置。
10. The microwave semiconductor device according to claim 9, wherein the matching circuit board has a surface adjacent to the inclined surface of the pedestal and a surface mounted on the carrier fixed to the carrier.
【請求項11】 前記台座は切削加工によって形成さ
れ、 前記整合回路基板は、前記台座の傾斜した面と隣接する
面と前記キャリア上に搭載される面とが交わる稜部に面
取り加工が施されている請求項8に記載のマイクロ波半
導体装置。
11. The pedestal is formed by cutting, and the matching circuit board is chamfered at a ridge where a surface adjacent to an inclined surface of the pedestal and a surface mounted on the carrier intersect. 9. The microwave semiconductor device according to claim 8, wherein:
【請求項12】 前記整合回路基板は半田によって前記
キャリアに固定され、前記面取り加工が施された部分と
前記台座の根元部との間が前記半田で埋められている請
求項11に記載のマイクロ波半導体装置。
12. The micro circuit according to claim 11, wherein the matching circuit board is fixed to the carrier by solder, and a space between the chamfered portion and a base of the pedestal is filled with the solder. Wave semiconductor device.
【請求項13】 前記台座は切削加工によって形成さ
れ、前記台座の根元部には掘り込み部が形成されている
請求項8に記載のマイクロ波半導体装置。
13. The microwave semiconductor device according to claim 8, wherein the pedestal is formed by cutting, and a dug portion is formed at a base of the pedestal.
【請求項14】 前記整合回路基板は半田によって前記
キャリアに固定され、前記掘り込み部が前記半田で埋め
られている請求項13に記載のマイクロ波半導体装置。
14. The microwave semiconductor device according to claim 13, wherein the matching circuit board is fixed to the carrier by solder, and the dug portion is filled with the solder.
【請求項15】 前記台座の高さは、前記整合回路基板
の厚みから前記マイクロ波半導体素子の厚みを差し引い
た高さである請求項8ないし14のいずれか1項に記載
のマイクロ波半導体装置。
15. The microwave semiconductor device according to claim 8, wherein the height of the pedestal is a height obtained by subtracting the thickness of the microwave semiconductor element from the thickness of the matching circuit board. .
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