JP3123696B2 - 石英ガラス坩堝の製造方法 - Google Patents

石英ガラス坩堝の製造方法

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JP3123696B2 JP05343266A JP34326693A JP3123696B2 JP 3123696 B2 JP3123696 B2 JP 3123696B2 JP 05343266 A JP05343266 A JP 05343266A JP 34326693 A JP34326693 A JP 34326693A JP 3123696 B2 JP3123696 B2 JP 3123696B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、シリコン単結晶の引
上げに用いる石英ガラス坩堝の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】シリコン単結晶は、主にチョクラルスキ
ー法(略してCZ法ともいう)によって製造されてい
る。CZ法は、石英ガラス坩堝内の溶融シリコンに種結
晶を浸し、これを徐々に引上げることによってシリコン
単結晶インゴットを製造する方法である。近年、シリコ
ンウエハの大径化にともない、大径で高純度のシリコン
単結晶を引き上げることがますます重要になってきてい
る。
【0003】さて、大径で高品質のシリコン単結晶をC
Z法によって引き上げるためには、高純度の石英坩堝が
必要不可法である。高純度の石英坩堝を得るため、従来
から様々な方法が提案されている。例えば、第一の方法
として、特開昭60−137892号公報には、天然水
晶粉の浮遊選鉱法によって原料の精製(又は酸処理等)
を行う方法が示されており、第二の方法として同公報に
は、坩堝形成後に高電圧を印加して電解処理を施す方法
が示されており、第三の方法として特開平3−4098
9号公報には、多結晶Si溶液と接する坩堝の内層部を
合成石英ガラスによって形成する方法が提案されてい
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記第
一の方法では、高純度化が充分でなかった。すなわち、
第1の方法では、水晶粉の表面部のみの純化であり、内
部に介存する不純物を除去することは実質上不可能であ
った。
【0005】また、前記第二の手法は、設備が大がかり
になってコスト高であったり、Fe、Na、Kは0.1
ppm以下に純化可能であったが、Liの含有量を同程
度に低く抑えることは難しかった。さらに前記第三の手
法は、天然水晶を原料として用いる場合に較べて高温融
液に対する耐触性が充分でなかった。これは、合成石英
ガラスの粘性が天然水晶の粘性に比べて小さいためであ
る。
【0006】石英ガラス坩堝の純度が不充分な場合に
は、石英坩堝が変形したり失透する恐れが大きい。シリ
コン単結晶引き上げ時に石英坩堝が失透・変形を起す
と、高品質のシリコン単結晶を引き上げることができな
くなる。
【0007】こういった失透・変形は、主に石英ガラス
中の不純物に起因することは一般に知られており、従来
は前記方法等によって石英ガラス中の総不純物量を下げ
る努力が成されてきたのである。
【0008】本発明者の研究によれば、不純物の中でも
特にNa、K、Li等のアルカリ金属の影響が大きいこ
とが見出されている。しかしながら、前述したように従
来の製法では、特にLiの含有量を低く抑えることが難
かしかったのである。
【0009】このような従来技術の問題点に鑑み、本発
明は、従来の方法に較べて、高純度であって特にLiの
含有量を低減させることができる石英坩堝の製造方法を
提供することを要旨としている。
【0010】
【課題を解決するための手段】この発明は、シリコン単
結晶の引上げに用いる石英ガラス坩堝の製造方法におい
て、原料の天然水晶を加熱溶融させた後に冷却固化し、
これを粉砕して粒体とし、この粒体を高温下のハロゲン
ガス含有雰囲気中で純化処理し、純化処理した粒体を用
いて回転アーク溶融法によって石英ガラス坩堝を成形す
ることを特徴とする石英ガラス坩堝の製造方法を要旨と
している。
【0011】
【実施例】以下、本発明の好適な実施例を説明する。
【0012】本発明の石英ガラス坩堝の製造方法におい
ては、天然水晶を原料として用いる。まず、天然水晶を
加熱溶融した後、冷却して固化させる。次に、これを粉
砕して、所定の粒度分布を有する粒体(粉体)を得る。
粉砕した粒体の粒径は50〜500μmとすることが好
ましい。50μm未満のものが含まれると、粒体の凝集
が生じ、作業性が悪化する。また500μmを超える
と、次工程での純化処理に多大な時間と多量のハロゲン
ガスを費やすこととなり、効率が悪い。また500μm
を超えると、回転アーク溶融で形成した石英ガラス坩堝
において適当な気泡径制御が困難となる。さらに好まし
い粒体粒径の範囲は100〜300μmである。本発明
の方法では、このようにして得た非晶質石英の粒体を原
料として用いるのである。以上の工程では、粒体が不純
物を取り込まないように、雰囲気等に充分注意をはらう
必要がある。
【0013】次に、この非晶質石英粒体をハロゲンガス
で純化処理する。すなわち、好ましくは700℃以上の
高温下において、HCl、Cl2 等のハロゲンガス含有
雰囲気下で非晶質石英粒体の純化処理を行うのである。
ハロゲンガス含有雰囲気とは、HCl、Cl2 等のハロ
ゲンガスを大体5%以上含む雰囲気を意味し、ハロゲン
ガス以外のガス成分としては酸素、空気等を適宜含んで
いてもよい。ハロゲンガスの含有率は5〜75体積%が
好ましい。5体積%未満では、純化の効果が充分に得ら
れず、また、75体積%を超えると、逆にハロゲンが非
晶質石英粒体中に吸着し純化後に脱ハロゲン処理を行わ
なければならなくなる。より純化の効果を奏しより効率
的な作業を行うためには、ハロゲンガスの含有率が25
〜50体積%とすることが好ましい。
【0014】しかる後に、純化処理した非晶質石英粒体
を用いて、回転アーク溶融法により坩堝を成形する。回
転アーク溶融法には、様々な方式があるが、例えば本出
願人が提出した特開平1−160836号公報や同じく
平1−157428号公報にその一例が開示されてい
る。
【0015】回転アーク溶融法を簡単に説明する。坩堝
形状を有する型を中心軸まわりに回転させ、その中に原
料粒体を投入して、型の内側に粒体が層をつくるように
する。そして、アークを備えた加熱源で粒体を加熱し、
そのかなりの部分を溶融して部分層を半融焼結させると
ともに、残部粒体を粒子状態のまま固定するのである。
この工程は、所定の雰囲気下あるいは減圧下で行うと有
利であり、中空の通気性をもった型を用いて、成形する
石英坩堝の外側から排気を行うことも可能である。中空
の型を用いて石英坩堝の外側から排気を行う方式によれ
ば、一般に気泡の少ない石英坩堝を作ることができる。
そして、冷却後に石英ガラス坩堝を型から取り出すので
ある。
【0016】実施例1 前述した方法に従って、実施例1の石英ガラス坩堝を作
成した。その際、非晶質石英ガラス粒体は粒径が100
μm〜300μmとなるように粉砕した。また、純化処
理は、1100℃の温度下でハロゲンガスの濃度を25
%程度含む雰囲気下で行った。さらに、回転アーク溶融
法は常圧下で行った。
【0017】比較例1 次に、比較例1として、天然水晶を上記実施例1と同等
の粒径に粉砕後ハロゲンガスで純化処理し、その他の工
程は実施例1と全く同様にして石英ガラス坩堝を作成し
た。
【0018】実施例1と比較例1の石英ガラス坩堝に含
まれるFe及びアルカリ金属のNa、K、Liの含有量
を調べたところ、実施例1においては、Fe、Na、
K、Liのいずれもが0.1ppm未満であった。一
方、比較例1においては、Feが0.2ppm、Naが
0.1ppm未満、Kが0.1ppm未満、Liが0.
5ppm含まれていた。
【0019】実施例1と比較例1における不純物含有量
を比較すると、特にLiの含有量に大きな差があり、実
施例1のLi含有量は、比較例1の1/5以下であるこ
とがわかる。
【0020】次に、実施例1と比較例1の石英ガラス坩
堝を用いて、同条件の下でシリコン単結晶を引き上げ
た。そして、シリコンウエハをマイクロチップとする加
工(デバイスプロセス)を行った。その結果、シリコン
単結晶を実施例1の坩堝を用いて引き上げた場合には、
比較例1及び従来の場合に較べて大幅に歩留りを向上す
ることができた。
【0021】なお、本発明は前述の実施例に限定されな
い。例えば、石英坩堝の内層部分、すなわちシリコン融
液と接する部分のみを本発明方法によって形成し、外層
部分は従来の方法で形成することも可能である。
【0022】この場合上記内層部分は石英ガラス坩堝の
内周表面から肉厚の30%以上の厚さで形成することが
好ましい。30%以上とすることによりCZ法における
当該石英ガラス坩堝の使用頻度が向上させることができ
る。
【0023】
【発明の効果】本発明方法によれば、従来の方法に較べ
て極めて高純度であり、特にLi含有量の少ない石英ガ
ラス坩堝を製造することができる。また、高温下で純化
処理することにより、OHの含有量も従来法より約30
%減らすことができる。また、非晶質石英粉を使用する
事により、坩堝内面側の無泡化も大幅に促進することが
できる。
【0024】そして、本発明方法によって製造した石英
ガラス坩堝を用いてシリコン単結晶を引上げた場合に
は、石英ガラス坩堝がシリコン溶液に溶け込むこともな
く、かつアルカリ金属不純物の溶け込みも少ないので、
高品質のシリコン単結晶を製造することが可能である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平5−105574(JP,A) 特開 昭63−236723(JP,A) 特開 昭62−12692(JP,A) 特開 昭63−100038(JP,A) 特公 平5−44438(JP,B2) 特公 昭64−6158(JP,B2) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) C30B 1/00 - 35/00 C03B 20/00

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 シリコン単結晶の引上げに用いる石英ガ
    ラス坩堝の製造方法において、原料の天然水晶を加熱溶
    融させた後に冷却固化し、これを粉砕して粒体とし、こ
    の粒体を高温下のハロゲンガス含有雰囲気中で純化処理
    し、純化処理した粒体を用いることを特徴とする石英ガ
    ラス坩堝の製造方法。
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JP4799536B2 (ja) * 2007-12-14 2011-10-26 ジャパンスーパークォーツ株式会社 大径のシリコン単結晶インゴット中のピンホール欠陥の低減を可能とする大径シリコン単結晶インゴット引上げ用高純度石英ガラスルツボ
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