JP3118989B2 - 干渉計装置 - Google Patents
干渉計装置Info
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Description
態をレーザ干渉計を用いて検査するための干渉計装置に
関するものである。
レーザ干渉計を用いるように構成したものは、従来から
知られている。即ち、レーザ光源からのレーザ光の光路
にレンズの基準となる基準レンズを配設すると共に、こ
の光路における基準レンズの前方位置に被検レンズを配
設し、基準レンズの基準面からの反射光と被検レンズの
被検面からの反射光との間で生じる干渉縞の本数を測定
することによって、このレンズの表面状態を検査するよ
うにしたものである。このように、レーザ干渉計を用い
ると、被検レンズを非接触で検査できることから、基準
レンズにも、また被検レンズにも損傷を来すことなく精
密に検査できるので極めて都合が良い。
ば、基準レンズも球面レンズとするが、この被検レンズ
が凸レンズであれ、凹レンズであれ、基準レンズの基準
面の曲率半径と被検レンズの曲率半径との距離だけ離し
た位置(以下、測定位置という)に配置して、干渉縞を
観察することによって、被検レンズの測定を行うことが
できる。ここで、実際上においては、基準レンズには適
切な測定を行うことができる範囲にはある程度の制限が
あることから、通常は、5〜10種類程度の基準レンズ
を用意しておき、測定の対象とする被検レンズの種類、
即ち凹レンズであるか、凸レンズであるかや、その被検
面の有効口径や曲率半径等に応じて基準レンズを交換し
て用いるようにしている。
源や光学系,干渉縞撮像手段等と共に干渉計本体として
組み込み、被検レンズは、レンズマウントに着脱可能に
セットできるように構成し、干渉計本体またはレンズマ
ウントを変位手段に連結して、この変位手段により移動
させることによって、基準レンズと被検レンズとの間の
間隔が測定位置となるように調整するようにしている。
計本体に装着される基準レンズは、複数種類の中から選
択されることから、被検レンズの測定を行うに先立っ
て、現に干渉計本体に装着されている基準レンズにより
測定可能か否かの確認を行い、測定に適さない基準レン
ズが装着されている場合には、その交換を行った後に、
基準レンズと被検レンズとの間の相対位置が測定位置と
なるように位置調整するという、測定準備作業が必要と
なる。この測定準備作業は、被検レンズの基準となる基
準原器、即ちニュートンゲージをセットして、被検レン
ズ側または基準レンズ側を光軸方向に変位させることに
より行われる。而して、従来は、この測定準備作業は実
際に干渉縞をモニタ等に表示して、作業者がこの干渉縞
映像を観察しながら基準レンズと被検レンズとの相対位
置を変化させて、干渉縞の本数が最小となるように調整
するようにしており、この作業はかなりの熟練度を必要
とし、かつ作業性が悪く、その自動化を図るのは極めて
困難である。しかも、測定を行う被検レンズを変える毎
にこの測定準備作業を行わなければならないことから、
特に多品種の被検レンズを測定する際にはこの作業は極
めて煩雑であり、作業効率が著しく低下する等の欠点が
ある。
あって、その目的とするところは、干渉計本体に装着さ
れている基準レンズと被検レンズとが測定位置となるよ
うに調整する作業を容易に行うことができるようにする
ことにある。
ために、本発明の干渉計装置は、干渉計本体に設けた基
準レンズの基準面に光源からの光を一部を反射させ、こ
の基準レンズを透過する光を被検レンズにも反射させ
て、両反射光の間で干渉縞を発生させることにより被検
レンズの表面状態の検査を行うものであって、前記基準
レンズまたは被検レンズがセットされるレンズマウント
の少なくとも一方を変位手段に装着して光軸方向に位置
調整可能となし、被検レンズに応じて基準レンズを交換
可能とした干渉計装置であって、前記干渉計本体に装着
されている基準レンズの基準面の曲率半径及び有効口径
を検出する基準レンズ検出手段と、前記変位手段による
基準レンズまたは被検レンズの位置を検出する位置検出
手段と、前記基準レンズ検出手段及び位置検出手段から
の信号に基づいて、この基準レンズの被検レンズに対す
る相対位置において、測定可能な被検レンズの曲率半径
を割り出す曲率半径演算手段とを備える構成としたこと
をその特徴とするものである。
面がある曲率半径を持ったものである場合において、測
定位置は、この基準面の曲率半径と、被検レンズの被検
面の曲率半径との和または差に相当する距離だけ離した
位置となる。なお、基準レンズの基準面,被検レンズの
被検面が共に凹球面の場合には、測定位置は両レンズの
曲率半径の和に相当する距離だけ離した位置とし、いず
れか一方が凹球面で、他方が凸球面である場合には、測
定位置は両レンズをそれらの曲率半径の差分の距離だけ
離した位置となる。即ち、基準レンズの基準面の曲率半
径と、この基準レンズの現在の位置における被検レンズ
がセットされるレンズマウントとの距離とが判明すれ
ば、その状態において測定できる被検レンズの曲率半径
を割り出すことができる。そして、この曲率半径をモニ
タ装置等の表示手段に表示させた状態で変位手段を作動
させれば、表示手段に表示される測定可能な被検レンズ
の曲率半径の表示がそれに応じて変化する。従って、こ
の表示を目視しながら、変位手段により当該の被検レン
ズの曲率半径が表示手段に表示される位置にまで基準レ
ンズまたは被検レンズを移動させれば、その位置が測定
位置となる。従って、測定準備作業を極めて容易に、し
かも迅速かつ円滑に行うことができる。
曲率半径だけでなく、基準レンズの基準面の曲率半径,
有効口径及び測定範囲をも表示できるようにしておけ
ば、この表示を目視することによって、現に干渉計本体
に装着されている基準レンズによって測定しようとする
被検レンズが実際に測定できるか否かの判断も容易に行
うことができる。
化するには、測定可能な被検レンズの曲率半径を割り出
す曲率半径演算手段に曲率半径入力手段を接続し、この
曲率半径入力手段に測定しようとする被検レンズの被検
面の曲率半径を入力する。これによって、変位手段が作
動して、基準レンズまたは被検レンズがセットされるレ
ンズマウントが入力された曲率半径の位置まで変位し
て、当該の位置で変位手段が停止することによって、確
実に測定位置に変位させることができる。
に説明する。まず、図1及び図2に本発明の実施例を示
す。図中、1は干渉計本体を示し、この干渉計本体1は
本体ケーシング2に装着されている。この本体ケーシン
グ2は、内部に空気擾乱が生じるのを防止する等のため
に、密閉された空間となっており、干渉計本体1はその
天板部2aに変位手段としての昇降手段3によって上下
方向に変位可能に装着されている。また、天板部2aに
は開口4が形成されており、干渉計本体1からのレーザ
光は、この開口4を介して外部に導出できるようになっ
ている。表面状態の測定が行われる被検レンズ5は、こ
の開口4の上面側に配設したレンズマウント6に、その
被検面5aが干渉計本体1側を向くようにしてセットさ
れるように構成されている。
に示されているのは、所謂フィゾー型の干渉計である
が、本発明で用いられる干渉計としては、このタイプの
ものに限定されないことはいうまでもない。而して、同
図において、10はHe−Neレーザ等からなるレーザ
発振器10であって、このレーザ発振器10から出力さ
れたレーザ光はビーム発散用の発散レンズ11によっ
て、一度集光させた後に、発散させる。そして、この発
散レンズ11の集光位置にはピンホール12が配設され
ており、これによって集光した光以外を光路からカット
するようにしている。ピンホール12を通過した光はビ
ームスプリッタ13の反射面13aに反射せしめられ
る。このビームスプリッタ13での反射光は1/4波長
板14を介してコリメータレンズ15によって平行光と
なされ、この平行光は基準部材としての基準レンズ16
に入射される。基準レンズ16の入射面16aは反射防
止コーティングが施されており、またこの入射面16a
とは反対側の面は基準面16bで、この基準面16bか
らの反射光は、被検レンズ5の被検面5aから反射する
物体光である測定波面に対し、参照光として基準波面を
形成する。
れると、レーザ発振器10からレーザ導光用光学系を構
成する発散レンズ11,ピンホール12,ビームスプリ
ッタ13,1/4波長板14及びコリメータレンズ15
を経て基準レンズ16に入射され、その一部はこの基準
レンズ16の基準面16bで反射し、他は被検レンズ5
に入射されて、この被検レンズ5の被検面5aで反射す
る。基準レンズ16の基準面16b及び被検レンズ5の
被検面5aからの反射光はコリメータレンズ15により
収束せしめられながら、1/4波長板14を経てビーム
スプリッタ13に戻される。ここで、この戻り光はビー
ムスプリッタ13の反射面13aを透過する。そして、
このビームスプリッタ13の透過光の光路には、絞り1
7及び結像レンズ18が設けられており、この結像レン
ズ18の結像位置に、基準面16bからの参照光と被検
面5aからの物体光との間の干渉作用によって、干渉縞
が結像される。この結像位置にCCD等からなる撮像手
段19が設けられており、この撮像手段19で干渉縞が
撮影される。そして、この撮像手段19はモニタ装置2
0と接続されており、このモニタ装置20の画面20a
に干渉縞映像が表示される。
って、被検レンズ5の表面状態の検査が行われるが、こ
の被検レンズ5の検査を正確に行うには、被検レンズ5
がレンズマウント6に正確に位置決めしなければならな
いことは当然として、この被検レンズ5と基準レンズ1
6との間が所定の相対位置関係となるように調整されて
いなければならない。しかも、単一の種類の被検レンズ
の測定だけでなく、複数の種類の被検レンズが適宜交換
して測定されるようになっている。
5が球面レンズである時には、それが凹球面であれ、凸
球面であれ、基準レンズ16の基準面16bを凹球面と
なし、被検レンズが凹レンズ5Pの場合には、基準レン
ズ16から、基準レンズ16の曲率半径R1 と被検レン
ズ5Pの曲率半径R2 との合計に相当する間隔D1 だけ
離した位置に配置すれば、当該位置では干渉縞が最小と
なり、この時の干渉縞の数の計測等を行えば、被検レン
ズの表面状態の測定が可能となる。また、被検レンズが
凸レンズ5Vである場合には、基準レンズ16の曲率半
径R1 とこの被検レンズ5Vの曲率半径R3 との差に相
当する間隔D2 だけ離した位置に配置する。従って、こ
のように基準レンズ16と被検レンズ5とが所定の間隔
をもった位置関係が測定位置であり、被検レンズ5の測
定を行う際には、まず基準レンズ16と被検レンズ5と
の間の位置関係の調整を行う必要がある。
したように、有効口径に対して曲率半径の小さな被検面
を持ったのレンズである場合には、このレンズ5Lの周
辺部にはレーザ光が当らないことになり、また符号5S
で示した有効口径に対して曲率半径が小さい被検面を持
ったレンズでは、モニタ画面20aに表示される干渉縞
の映像が小さくなり、その観察が困難となる。さらに、
被検レンズが凸レンズ5Vである場合には、基準レンズ
16の曲率半径R1 以上のレンズは測定できない。そし
て、被検レンズ5側を可動にするにしろ、基準レンズ1
6が装着されている干渉計本体1を可動にするにしろ、
当然にその可動範囲に制限がある。以上のことから、基
準レンズには測定範囲に制限があり、被検レンズによっ
ては現に干渉計本体1に装着されている基準レンズ16
では測定不能な場合がある。従って、被検レンズの種類
に応じて干渉計本体1に装着されている基準レンズを交
換しなければならないこともある。
置関係の調整は、被検レンズ5に応じて基準レンズ16
を変化させることにより行われるようになっている。即
ち、干渉計本体1は昇降手段3に装着されて、上下方向
に移動可能となっており、被検レンズ5がセットされる
レンズマウント6は、干渉計本体1の光軸方向には実質
的に固定されており、測定位置に変位させるのは、第一
義的には、基準レンズ16を変位させることにより行わ
れるようになっている。ただし、レンズマウント6は、
最終的にその位置を微調整できるようになされている。
に設けたガイド21を有し、このガイド21に昇降ブロ
ック22を昇降自在に連結して、この昇降ブロック22
に送りねじ23を挿通させるようにしている。そして、
この送りねじ23は笠歯車伝達手段24を介してステッ
ピングモータ等のように、微細位置決めが可能な駆動手
段25に接続されている。昇降ブロック22には干渉計
本体1が連結されており、従って駆動手段25を作動さ
せると、干渉計本体1が昇降駆動されるようになってい
る。一方、レンズマウント6は、本体ケーシング2の天
板部2aの上面において、開口4を囲繞するように設け
た基台26に水平方向に位置調整可能なXYステージ2
7を設け、さらにこのXYステージ27上に高さ微調整
手段28を設置し、この高さ調整手段28上に被検レン
ズ5がセットされるレンズセット部29が設けられてい
る。
4に示す。基台26上に設けられるXYステージ27
は、この基台26上に設けたX軸ガイドレール27aに
ガイドされる第1のテーブル27bにY軸ガイドレール
27cを設け、このY軸ガイドレール27cによりガイ
ドされる第2のテーブル27dとから構成されるXYテ
ーブルを有し、このXYテーブルを構成する第1及び第
2のテーブル27b,27dはそれぞれマイクロメータ
ヘッド27e,27fによって位置微調整可能となって
いる。これらによって、レンズセット部29の水平方向
の位置、即ち干渉計本体1の光軸と直交する方向の位置
を調整できるようになる。
整リング28aがボルト等の手段によって固着して設け
られている。この高さ調整リング28aの外面にはねじ
が設けられており、この高さ調整リング28aのねじの
部分に保持部材28bが螺合されている。そして、この
保持部材28bにはレバー28cが連結されており、こ
のレバー28cを回動させることによって、保持部材2
8bの高さ位置を調整できるようになっている。従っ
て、これらによって、レンズセット部29の高さ方向の
位置を微調整する高さ微調整手段28が構成される。レ
ンズセット部29は、この保持部材28bに螺挿されて
おり、このレンズセット部29に被検レンズ5が、その
被検面5aの外周縁近傍部位が当接するようにセットさ
れる構成となっている。そして、保持部材28bを回動
させることによって、レンズセット部29の高さを調整
する際に、このレンズセット部29がそれに連動して回
動しないように保持するために、保持部材28bは回動
部28r,28tと、この回動部28r,28t間にク
ランプされて、レンズセット部29が直接螺合される保
持体28sとから構成され、保持体28sは高さ調整リ
ング28aに装着した回り止めピン28pにより回り止
めされている。
であって、所定の曲率半径及び有効口径を有する被検レ
ンズ5の検査・測定を行うに当っては、被検レンズ5を
レンズマウント6にセットして、レーザ発振器10から
のレーザ光を基準レンズ16の基準面16bに反射させ
た参照光と被検レンズ5の被検面5aで反射した物体光
との間で生じる干渉縞をモニタ装置20の画面20aに
表示して、この干渉縞映像を観察することによって、被
検レンズ5の被検面5aの仕上げ精度の測定が行われ
る。
と曲率半径とを有する被検レンズ5の測定を行うに当っ
ては、現に干渉計本体1に装着されている基準レンズ1
6により測定可能か否かの確認を行い、測定に適さない
基準レンズ16が装着されている場合には、その交換を
行った後に、基準レンズ16と被検レンズ5との間の相
対位置が測定位置となるように位置調整を行うという、
測定準備作業を行わなければならない。
るようにするために、モニタ装置20における画面20
aには、スーパーインポーズ方式によって、基準レンズ
16における基準面16bの曲率半径及び有効口径(F
ナンバーとして表示される)と、この基準レンズ16に
より測定可能な被検レンズの曲率半径の範囲と、基準レ
ンズ16の現在の位置で測定可能な被検レンズの曲率半
径とを、干渉縞映像に重ね合わせて表示できるようにな
っている。そして、これらの情報の表示を可能ならしめ
るために、図5に示したような回路構成が採用されてい
る。
類を検出する基準レンズ検出手段であって、この基準レ
ンズ検出手段30は、例えば図6に示したような光検出
手段で構成することができる。即ち、基準レンズ16の
入射面16aにおける有効径の部分を避けた位置に光透
過部と光反射部とからなる複数区画のデータ表示域30
aを形成し、このデータ表示域30aにおける各区画部
に対向させて、反射型の光センサ30bを並べることに
より構成することができる。これによって、各種の基準
レンズがコード化された状態で基準レンズ検出手段30
により識別されるようになる。例えば、データ表示域を
2箇所設ければ、4種類の基準レンズの識別を行うこと
ができ、また3箇所のデータ表示域を設ければ、8種類
の基準レンズの識別が可能となる。
ブロック22には、磁気スケール,エンコーダ等のよう
に、その高さ位置を正確に検出できる位置検出手段31
が設けられている。ここで、位置検出手段31を例えば
アブソリュート型のエンコーダを用いれば、このエンコ
ーダからの信号のみに基づいて干渉計本体1の高さ位置
を検出できるが、磁気スケールやインクリメンタルエン
コーダ等を用いる場合には、干渉計本体1の原点位置を
検出する手段を備える必要がある。このためには、例え
ば、昇降ブロック22の最下端位置に、その位置を検出
するフォトセンサ等からなる下端位置検出手段32を設
け、この下端位置検出手段32による検出信号を原点信
号として、この原点信号と位置検出手段31と変位信号
とを高さ位置演算回路33に入力して、この高さ位置演
算回路33により干渉計本体1の高さ位置を検出するこ
とができる。なお、以下の説明においては、後者の方式
で基準レンズの高さ位置を検出するようにしたものとし
て説明する。
ズデータメモリである。レンズデータメモリ35には、
各種の基準レンズにおける基準面の曲率半径及びFナン
バーと、この基準レンズにより測定可能な被検レンズの
曲率半径の範囲、及び基準レンズの位置に応じて測定で
きる被検レンズの曲率半径に関するデータが、それぞれ
識別コードと共に記憶されている。
準レンズ16の識別コードに関する信号と高さ位置演算
回路33からの干渉計本体1の高さ位置に関する信号と
は、データ処理回路34に入力されるようになってい
る。そして、このデータ処理回路34において、基準レ
ンズの識別データから当該の基準レンズの基準面の曲率
半径及びFナンバーと、測定可能な被検レンズの曲率半
径の範囲に関する情報がレンズデータメモリ35から読
み出される。また、この識別データと高さ位置演算回路
33からの基準レンズの高さ位置検出信号とから、基準
レンズの現在の位置で測定可能な被検レンズの曲率半径
がレンズデータメモリ35から読み出される。従って、
これら基準レンズ検出手段30,高さ位置演算回路3
3,データ処理回路34及びレンズデータメモリ35に
よって、基準レンズ16の被検レンズ5に対する相対位
置において、測定可能な被検レンズ5の曲率半径を割り
出す曲率半径演算手段が構成される。
タ画像化処理回路36に入力され、このデータ画像化処
理回路36によって、撮像手段19から画像処理回路3
7を経て生成された干渉縞映像信号に重ね合わせて、モ
ニタ装置20の画面20aに、基準レンズにおける基準
面の曲率半径及びFナンバーと、測定可能な被検レンズ
の曲率半径の範囲、及び現在の位置で測定可能な被検レ
ンズの曲率半径とをスーパーインポーズ方式によって表
示できるようにするための処理が行われるようになって
いる。
は、キーボード等を備えた入力装置38が接続されてい
る。そして、この入力装置38によって、基準レンズに
関するデータを干渉縞映像にスーパーインポーズする複
合映像表示モードと、干渉縞映像を単独で表示する干渉
縞映像表示モードと、基準レンズに関するデータを単独
で表示する基準レンズデータ映像表示モードとの選択を
行うことができるようになっている。このために、デー
タ画像化処理回路36の出力側には、撮像手段19によ
る画像処理回路37からの信号にデータ画像化処理回路
36からの信号を重ね合わせるために、表示制御回路3
9が設けられる。表示制御回路39には、これらデータ
画像化処理回路36からの信号と画像処理回路37から
の信号とが入力されるようになっており、この表示制御
回路39はモードの切換機構を有し、入力装置38から
のモード選択信号が表示制御回路39に入力されると、
画像処理回路37からの干渉縞映像信号にデータ画像化
処理回路36からの基準レンズデータをスーパーインポ
ーズした複合映像信号,画像処理回路37から得られる
干渉縞情報を単独で表示するための干渉縞映像信号,デ
ータ画像化処理回路36からの基準レンズデータを単独
で表示するための基準レンズデータ映像信号のいずれか
の映像を選択してモニタ装置20に出力できるようにな
っている。また、入力装置38には、測定しようとする
被検レンズの曲率半径を入力できるようになっており、
このように入力された曲率半径に関する信号に基づい
て、データ処理回路34によって基準レンズをどの位置
に変位させれば良いかの演算が行われる。そして、この
信号は、高さ位置演算回路33からの出力信号と共にサ
ーボ回路40に入力されて、このサーボ回路40からの
信号に基づいて駆動手段25が作動して、当該の被検レ
ンズの曲率半径に応じた測定位置に被検レンズが変位す
るように干渉計本体1の位置制御が行われるようになっ
ている。
入力装置38によりスーパーインポーズする複合映像表
示表示モード(または基準レンズデータ表示モード)を
選択し、モニタ装置20における画面20aにデータが
表示される状態とする。これによって、基準レンズ検出
手段30により干渉計本体1に現在装着されている基準
レンズ16に関するデータ、即ち基準レンズ16におけ
る基準面16bの曲率半径,Fナンバー,測定可能な被
検レンズ5の被検面5aの曲率半径が検出されて、画面
20aに表示される。また、この基準レンズ16の現在
の位置で測定可能な被検レンズ5の被検面の曲率半径も
同時に画面20aに表示される。そこで、この表示に基
づいて、測定しようとする被検レンズ5が、現在装着さ
れている基準レンズ16で実際に測定できるか否かの確
認を行うことができる。従って、この基準レンズ16で
は被検レンズ5を測定するのに適しない場合には、基準
レンズの交換を行う。
なれば、入力装置38に測定しようとする被検レンズ5
の被検面5aの曲率半径を入力する。ここで、データ処
理回路34においては、基準レンズ16の現在の位置に
おいて、測定可能な被検レンズ5の被検面5aの曲率半
径が割り出されているので、両信号を比較して、その差
分だけ基準レンズ16を変位させるための信号がサーボ
回路40に入力され、このサーボ回路40による制御信
号に基づいて駆動手段25が作動して、この基準レンズ
16で被検レンズ5を測定する位置となるように干渉計
本体1が変位せしめられる。なお、前述した駆動手段2
5では厳格な位置決めができない場合には、さらに高さ
調整手段28を操作して、レンズマウント6におけるレ
ンズセット部29の高さ位置を微調整する。
で、実際に被検レンズ5の測定を行うが、この時におい
ては、モニタ装置20の画面20aにデータがスーパー
インポーズされていると、干渉縞を円滑に観察できない
場合がある。また、このデータは測定準備作業時にのみ
必要なものであるから、入力装置38を操作して、干渉
縞映像表示モードを選択する。これによって、モニタ装
置20の画面20aには干渉縞映像のみが表示されるこ
とになり、全体にわたって干渉縞の観察を行うことがで
きる。
25により干渉計本体1を昇降駆動することによって、
基準レンズ16と被検レンズ5との間の相対位置関係を
調整するように構成したが、これに代えてレンズマウン
ト6側を変位させるように構成することもできる。ま
た、基準レンズ側及び被検レンズ側のいずれを変位させ
るにしても、その変位を駆動手段により行うのではな
く、手動操作によって行うようにすることもできる。こ
のように手動操作によって変位させる場合には、モニタ
装置の画面に表示されている被検レンズの測定可能な曲
率半径が実際に測定しようとする被検レンズの曲率半径
と一致する状態となるまで変位させるようにすれば良
い。さらに、前述した各種データは種々の態様で表示さ
せれば良く、例えば、干渉縞映像と基準レンズデータに
関する映像とを選択的に表示したり、またモニタ装置で
は干渉縞映像のみを表示させ、基準レンズに関するデー
タは別個の表示手段に表示させることもでき、この場合
には表示モードを選択する機構を設ける必要はない。
本体に装着されている基準レンズの基準面の曲率半径及
び有効口径を検出する基準レンズ検出手段と、基準レン
ズまたは被検レンズの位置を検出する位置検出手段と、
これら基準レンズ検出手段及び位置検出手段からの信号
に基づいて、この基準レンズの被検レンズに対する相対
位置において、測定可能な被検レンズの曲率半径を割り
出す手段とを備える構成としたので、所定の曲率半径と
有効口径とを有する被検レンズの被検面を検査・測定を
行うに当って、基準レンズとの関係で、被検レンズを実
際に測定できる状態となるように調整する測定準備作業
を極めて容易に、しかも円滑かつ迅速に行うことができ
る等の諸効果を奏する。
成説明図である。
る。
置における位置関係を、この基準レンズでは測定できな
い被検レンズと共に示す作用説明図である。
って、必要な情報の表示を可能とする回路構成図であ
る。
ある。
Claims (4)
- 【請求項1】 干渉計本体に設けた基準レンズの基準面
に光源からの光を一部を反射させ、この基準レンズを透
過する光を被検レンズにも反射させて、両反射光の間で
干渉縞を発生させることにより被検レンズの表面状態の
検査を行うものであって、前記基準レンズまたは被検レ
ンズがセットされるレンズマウントの少なくとも一方を
変位手段に装着して光軸方向に位置調整可能となし、被
検レンズに応じて基準レンズを交換可能とした干渉計装
置において、前記干渉計本体に装着されている基準レン
ズの基準面の曲率半径及び有効口径を検出する基準レン
ズ検出手段と、前記変位手段による基準レンズまたは被
検レンズの位置を検出する位置検出手段と、前記基準レ
ンズ検出手段及び位置検出手段からの信号に基づいて、
この基準レンズの被検レンズに対する相対位置におい
て、測定可能な被検レンズの曲率半径を割り出す曲率半
径演算手段とを備える構成としたことを特徴とする干渉
計装置。 - 【請求項2】 前記曲率半径演算手段からの信号に基づ
いて、この曲率半径を表示する表示手段を備える構成と
したことを特徴とする請求項1記載の干渉計装置。 - 【請求項3】 前記表示手段には、さらに前記干渉計本
体に装着されている基準レンズの基準面の曲率半径,有
効口径及び測定範囲の少なくともいずれか1つの情報を
表示するものであることを特徴とする請求項2記載の干
渉計装置。 - 【請求項4】 前記曲率半径演算手段に測定しようとす
る被検レンズの曲率半径を入力する曲率半径入力手段を
接続し、この曲率半径入力手段からの入力信号に基づい
て、前記変位手段を作動させて、被検レンズの測定が可
能な位置に、この被検レンズまたは基準レンズを変位さ
せるように構成したことを特徴とする請求項1記載の干
渉計装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP04277678A JP3118989B2 (ja) | 1992-09-24 | 1992-09-24 | 干渉計装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP04277678A JP3118989B2 (ja) | 1992-09-24 | 1992-09-24 | 干渉計装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06109456A JPH06109456A (ja) | 1994-04-19 |
JP3118989B2 true JP3118989B2 (ja) | 2000-12-18 |
Family
ID=17586785
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP04277678A Expired - Lifetime JP3118989B2 (ja) | 1992-09-24 | 1992-09-24 | 干渉計装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3118989B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5049082B2 (ja) * | 2007-09-26 | 2012-10-17 | オリンパス株式会社 | 測定架台 |
-
1992
- 1992-09-24 JP JP04277678A patent/JP3118989B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH06109456A (ja) | 1994-04-19 |
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