JP3118966B2 - 積層型チップバリスタ - Google Patents

積層型チップバリスタ

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JP3118966B2 JP04181269A JP18126992A JP3118966B2 JP 3118966 B2 JP3118966 B2 JP 3118966B2 JP 04181269 A JP04181269 A JP 04181269A JP 18126992 A JP18126992 A JP 18126992A JP 3118966 B2 JP3118966 B2 JP 3118966B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電圧非直線抵抗体とし
て機能するバリスタ素子と抵抗素子とを一体化してなる
積層型のチップバリスタに関し、特に実装スペースの縮
小,及び部品点数の削減を図りながら、プリント基板に
実装する際の接続方向を容易に識別でき、ひいては製造
工程を簡略化できるようにした構造に関する。
【0002】
【従来の技術】ICやLSI等においては、静電気サー
ジ等の侵入によって誤動作や破壊が生じるおそれがあ
る。このような静電気等の侵入を防止するために、従
来、図10に示すように、低電圧で電流吸収能力を持つ
積層型チップバリスタ(例えば、特公昭58-23921号公報
参照) をIC回路に並列接続してICを保護するように
している。このICを保護するには、積層型バリスタの
制限電圧を15V 以下にする必要があることから、例えば
ZnOを主成分としたバリスタでは、グレインサイズを
10μm 以上に大きくしたり,あるいは内部電極間のセラ
ミック層の厚さを10μm 以下に設定して低いバリスタ電
圧を得ている。しかし、グレインサイズを大きくした
り,厚さを小さくすると漏れ電流が大きくなったり,バ
リスタ電圧がばらついたりし易く、信頼性に劣るという
問題がある。
【0003】このような問題を解消する手段として、従
来、図11に示すように、積層型バリスタとICとの間
に抵抗体を直列接続して回路を構成したものがある。こ
の抵抗体を付加することによって、比較的高いバリスタ
電圧を持つ積層型バリスタを使用することができ、例え
ばグレインサイズが3μm 程度で、かつ厚さ20μm 以上
のセラミック層からなる積層型バリスタを構成できる。
その結果、漏れ電流を小さくできるとともに、バリスタ
電圧を均一化でき、信頼性を向上できる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の積層型バリスタに抵抗体を直列接続する場合、プリ
ント基板に2つの素子を別々に実装することから、実装
スペースが拡大し、高密度実装に対応できないという問
題があり、また部品点数が増える分だけ実装コストが上
昇するという問題がある。
【0005】ここで、本件出願人は、図9に示すよう
に、バリスタ素子と抵抗体とを一体化してなる積層型の
複合チップバリスタを提案した。この積層型チップバリ
スタ1は以下の構造を有している。セラミック焼結体2
の左, 右端面にそれぞれ入力電極3,出力電極4を形成
するとともに、両側面の中央部にグランド電極5を形成
する。また上記焼結体2内に、図示しない一対の内部電
極を埋設し、この一方の内部電極を上記入力電極2に、
他方の内部電極をグランド電極5にそれぞれ接続する。
そして上記焼結体4の表面に抵抗膜6を形成し、この抵
抗膜6の両端を入力,出力電極3,4に接続して構成さ
れている。このチップバリスタ1によれば、1つの部品
でバリスタ機能と抵抗機能とを得ることができ、実装ス
ペースを縮小できるとともに、部品点数を削減でき、上
述の問題を解消できる。
【0006】ところで、上記積層型チップバリスタ1を
回路基板等に実装する場合、図7の等価回路図に示すよ
うに、入力,出力電極3,4及びグランド電極5でL字
型の回路が構成されており、各電極3〜5の接続方向が
決まっている。例えば、図8に示すように、入力,出力
電極3,4の接続方向を逆方向に接続すると、高エネル
ギーのサージ電流が抵抗膜6に流れることから抵抗膜6
が焼損し、信号回路をオープンにしてしまうという問題
が生じる。従って、上記チップバリスタ1に接続方向を
識別できる表示マークを別途形成する必要があり、それ
だけ製造工数が増えることから、この点での改善が要請
されている。
【0007】本発明の目的は、実装スペースの縮小,及
び部品点数の削減を図りながら、接続方向の表示マーク
を不要にして製造工程を簡略化できる積層型チップバリ
スタを提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】そこで本発明は、セラミ
ック焼結体の両端面にそれぞれ入力電極,出力電極を形
成するとともに、側面にグランド電極を形成し、上記焼
結体の内部に少なくとも一対の内部電極を埋設し、この
一方の内部電極を上記入力電極に、他方の内部電極を上
記グランド電極にそれぞれ接続し、さらに上記焼結体に
上記両入力,出力電極に接続される抵抗体を配設してな
る積層型チップバリスタであって、上記グランド電極を
上記焼結体の入力電極,又は出力電極のいずれか一方側
に偏位させて形成したことを特徴としている。
【0009】
【作用】本発明に係る積層型チップバリスタによれば、
グランド電極を入力,出力電極のいずれか一方側に寄せ
て形成したので、グランド電極の形成位置を目視するこ
とによって実装する際の接続方向が容易に識別できる。
その結果、上述の別工程による表示マークを不要にで
き、それだけ製造工程を省略でき、ひいては生産性を向
上できる。また、本発明では、単体の部品でバリスタ機
能と抵抗機能とを得ることができることから、実装スペ
ースを縮小できるとともに、部品点数を削減して実装コ
ストを低減できる。
【0010】
【実施例】以下、本発明の実施例を図について説明す
る。図1ないし図3は、本発明の一実施例による積層型
チップバリスタを説明するための図である。図1は斜視
図、図2(a) は図1のIIa−IIa線断面図、図2(b) は
図1のIIb−IIb線断面図、図3は分解斜視図である。
図において、10は本実施例の積層型チップバリスタで
ある。このバリスタ10は、ZnOを主成分とする直方
体状のセラミック焼結体11の左, 右端面11a,11
bにそれぞれ入力電極12,出力電極13を形成すると
ともに、両側面11c,11dにグランド電極14を形
成して構成されている。
【0011】また、上記焼結体11の上面には、これの
両端面11a,11b方向に延びる帯状の抵抗膜20が
形成されており、この抵抗膜20の両端は上記入力,出
力電極12,13に接続されている。
【0012】上記焼結体11内部の上部,下部には、そ
れぞれ板状に延びる第1内部電極15,16が2つずつ
埋設されている。この上部の内部電極15の一端面は焼
結体11の左側端面11aに露出して上記入力電極12
に接続されており、下部の内部電極16の一端面は右側
端面11bに露出して上記出力電極13に接続されてい
る。
【0013】また、上記焼結体11の内部には、上記各
第1内部電極15,16とセラミック層17を挟んで対
向する第2内部電極18,19が2つずつ埋設されてい
る。この各内部電極18,19の周端面は焼結体11の
内側に位置して封入されており、この各第2内部電極1
8,19と上記各第1内部電極15,16とで挟まれた
セラミック層17が電圧非直線特性を発現する部分とな
っている。
【0014】さらに図3に示すように、上記各第2内部
電極18,19の図示左, 右両端部には、引出電極2
1,22が接続形成されており、この各引出電極21,
22の端面は上記焼結体11の両側面11c,11dの
長手方向両端部に露出している。
【0015】そして、上記左側の引出電極21には上記
グランド電極14が接続されており、これによりこのグ
ランド電極14は中央部から入力電極12側に偏位した
位置に形成されていることとなる。
【0016】次に、本実施例の作用効果について説明す
る。本実施例の積層型チップバリスタ10は、電源部,
信号ラインから侵入する静電気サージを吸収してICや
LSI等の破壊を防止する機能を有している。このチッ
プバリスタ10を回路基板に接続するには、プリント基
板上の信号ラインの入力部に入力電極12を、出力部に
出力電極13をそれぞれ半田付け接続するとともに、ア
ースラインにグランド電極14を半田付け接続する。こ
の場合、このグランド電極14に近い方の電極が入力電
極12となる。
【0017】このように本実施例によれば、グランド電
極14を入力電極12側に寄せて形成したので、目視に
より接続方向を容易に識別できることから、表示マーク
を別途形成する必要はなく、この分だけ製造工程を省略
でき、ひいては生産性を向上できる。また、単一のバリ
スタ素子に抵抗を一体化したので、実装時のスペースを
縮小できるとともに、部品点数を削減してコストを低減
できる。
【0018】また、本実施例では、焼結体11の上部,
下部に電圧非直線特性を発現する第1,第2内部電極1
5,18及び16,19を埋設し、この各第2内部電極
18,19の引出電極21,22を焼結体11の両側面
11c,11dの両端部に導出したので、上記焼結体1
1にグランド電極14を付与する工程において、上記引
出電極21,22のいずれかにグランド電極14を形成
だけで方向性を持たせることができることから、電極を
付与する際の、焼結体11の向きを揃える作業を不要に
でき、この点からも生産性を向上できる。従って、図1
において、右側の引出電極22にグランド電極を形成し
た場合は、符号13が入力電極となり、符号12が出力
電極となる。さらに、上記積層型チップバリスタ10を
誤って逆向きに配置した場合、プリント基板のアースラ
インとグランド電極との半田付け位置が合わなくなるこ
とから、半田付け検査時に発見できる。
【0019】ここで、図2(a) に示すように、上部の内
部電極18と下部の内部電極16との間が狭いと浮遊容
量Csが発生し易くなる。この浮遊容量Csは出力電極
とグランド電極(図7参照)との間に入ることから、上
記両内部電極18,16の距離を充分とることにより、
信号波形への影響を回避できる。
【0020】なお、上記実施例では、焼結体11内の上
部,下部にそれぞれ第1,第2内部電極を埋設し、該焼
結体11の左, 右両端部に引出電極21,22を露出さ
せた場合を例にとって説明したが、本発明ではいずれか
一方のみに形成してもよい。また、上記抵抗膜20を焼
結体11の表面に形成したが、本発明では抵抗膜を焼結
体11内に内蔵してもよい。
【0021】図4及び図5は、それぞれ上記実施例の変
形例による積層型チップバリスタを示す図であり、図
中、図2と同一符号は同一又は相当部分を示す。図4に
示すチップバリスタ10は、第1,第2内部電極15,
18及び16,19の配置位置を入れ換えた例である。
つまり、第1内部電極15,16の間にセラミック層1
7を挟んで第2内部電極18,19を配設して構成され
ている。この構造の場合、内部電極15と16との間に
浮遊容量Csが発生し易く、この浮遊容量Csは、図5
に示すように、抵抗膜20に並列に入って高周波ノイズ
を通過させる場合があり、両内部電極間の距離を充分と
る必要がある。
【0022】また、図5に示す積層型チップバリスタ1
0は、入力,出力電極12,13に接続される第1内部
電極15,16及びグランド電極14に接続される第2
内部電極18,19をそれぞれ左, 右対象に配設して構
成した例である。この構造の場合、左, 右の電極間距離
dを充分とることにより、浮遊容量の発生を抑制でき、
信号及びノイズ吸収効果への影響を回避できる。
【0023】
【発明の効果】以上のように本発明に係る積層型チップ
バリスタによれば、グランド電極を焼結体の入力,出力
電極の何れか一方側に偏位させて形成したので、実装ス
ペースの縮小,及び部品点数の削減を図りながら、別工
程による表示マークを不要にでき、それだけ製造工程を
簡略化できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例による積層型チップバリスタ
を説明するための斜視図である。
【図2】上記実施例の積層型チップバリスタの断面図で
ある。
【図3】上記実施例の積層型チップバリスタの分解斜視
図である。
【図4】上記実施例の他の例による積層型バリスタを示
す断面図である。
【図5】上記積層型バリスタの等価回路図である。
【図6】上記実施例の変形例による積層型バリスタを示
す断面図である。
【図7】本発明の成立過程を説明するための等価回路図
である。
【図8】本発明の成立過程を説明するための問題点を示
す等価回路図である。
【図9】本発明の成立過程を説明するための積層型チッ
プバリスタの斜視図である。
【図10】従来の積層型チップバリスタの等価回路図で
ある。
【図11】従来の積層型チップバリスタに抵抗体を付加
した等価回路図である。
【符号の説明】 10 積層型チップバリスタ 11 セラミック焼結体 11a,11b 焼結体の両端面 11c,11d 焼結体の両側面 12 入力電極 13 出力電極 14 グランド電極 15,16 第1内部電極(一方側) 18,19 第2内部電極(他方側) 20 抵抗膜

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 セラミック焼結体の両端面にそれぞれ入
    力電極,出力電極を形成するとともに、側面にグランド
    電極を形成し、上記焼結体の内部に少なくとも一対の内
    部電極を埋設し、この一方の内部電極を上記入力電極
    に、他方の内部電極を上記グランド電極にそれぞれ接続
    し、さらに上記焼結体の表面,又は内部に上記両入力,
    出力電極に接続される抵抗体を配設してなる積層型チッ
    プバリスタであって、上記グランド電極を上記焼結体の
    入力電極,又は出力電極のいずれか一方側に偏位させて
    形成したことを特徴とする積層型チップバリスタ。
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TWI270195B (en) * 2003-07-30 2007-01-01 Innochips Technology Complex laminated chip element
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