JP3117683B2 - 非接触型半導体カード - Google Patents

非接触型半導体カード

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JP3117683B2
JP3117683B2 JP11065049A JP6504999A JP3117683B2 JP 3117683 B2 JP3117683 B2 JP 3117683B2 JP 11065049 A JP11065049 A JP 11065049A JP 6504999 A JP6504999 A JP 6504999A JP 3117683 B2 JP3117683 B2 JP 3117683B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、基板とそれに搭載
された電子部品を樹脂製のカード基体内に埋設してなる
非接触型半導体カードに係り、特にその基板と電子部品
の封止構造に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、メモリICやCPU、それにデー
タ入出力用のコイルなど、所定の電子部品が搭載された
プリント基板などの基板を樹脂製のカード基体内に完全
に埋設し、リーダ/ライタに備えられたデータ入出力用
コイルと前記基板に搭載された前記コイルとの間でデー
タの授受を行なう非接触型の半導体カードが提案されて
いる。
【0003】この半導体カードは、カードの表面に外部
端子を露出し、リーダ/ライタに備えられた接続端子を
前記外部端子に接触することによってデータの授受を行
う接触型の半導体カードに比べて、外部端子が汚損した
り摩耗するということがないので、耐久性に優れ、かつ
信頼性の高いデータ通信ができるという特長を有する。
【0004】従来、特開平2−204096号公報に記
載されているような非接触型半導体カードの製造方法が
提案されている。この製造方法は、回路基板の電子部品
が搭載されていない個所に貫通孔を形成し、この回路基
板を第1の金型に装着して回路基板の電子部品が搭載さ
れていない個所に電子部品とほぼ同じ高さを有する枠体
を形成するとともに、前記貫通孔を通して樹脂の一部を
回路基板の裏面から突出させて突起を形成する。
【0005】この枠体付きの回路基板を別の第2の金型
に入れて、周囲の全体を封止樹脂層で封止する。このと
き回路基板の裏側に突起が設けられているから、金型底
面と回路基板の間に空間が形成され、回路基板の裏側に
も樹脂を回り込ませることができ、回路基板を封止樹脂
層内に完全に埋設するようになっている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】この半導体カードは、
回路基板の裏面側にも封止樹脂を回り込ませるために回
路基板の裏面側に突起を設けているが、予め形成された
突起と後から形成される封止樹脂層とは別体であり、両
者の接合強度が弱い。そのため半導体カードの落下など
の衝撃により、封止樹脂層と突起の接合部からクラック
や剥がれを生じるなどの欠点を有している。
【0007】本発明は、この従来技術の欠点を解消し、
基板とカード基体の結合力が強く、信頼性の高い非接触
型半導体カードを提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明は、基板およびその基板に搭載されたデータ
入出力用コイルならびに半導体チップを含む電子部品を
樹脂製のカード基体内に埋設してなる非接触型半導体カ
ードを対象とするものである。
【0009】そして前記基板の電子部品が搭載されてい
ない個所に樹脂層連結用スルーホールが形成され、その
基板を埋設するカード基体が少なくとも第1の成形部と
第2の成形部を有し、その第2の成形部が半導体カード
の厚さを規定するための成形部であり、その第2の成形
部の外周に形成される前記第1の成形部により基板の外
周部側が埋設され、基板の上側に上側樹脂層を、基板の
下側に下側樹脂層を、基板の外周に外周樹脂層をそれぞ
れ形成し、カード基体を構成する樹脂の一部を前記樹脂
層連結用スルーホールに充填させ、そのスルーホール内
の樹脂により前記上側樹脂層と下側樹脂層を相互に連結
するとともに、前記外周樹脂層により前記上側樹脂層と
下側樹脂層を相互に連結することを特徴とするものであ
る。
【0010】
【発明の実施の形態】本発明は前述のように、カード基
体を構成する樹脂の一部を基板の樹脂層連結用スルーホ
ール内に充填させて、そのスルーホール内の樹脂により
カード基体の一部を構成する上側樹脂層と下側樹脂層を
相互に連結した構造になっているから、基板とカード基
体とを強固に一体化できる。
【0011】以下、本発明の実施形態を図とともに説明
する。図1は本発明に係る半導体カードの断面図、図2
はその半導体カードの平面図、図3はその半導体カード
の製造工程を説明するための断面図である。
【0012】半導体カードは、図2に示すように例えば
メモリIC1aやCPU1b、それにデータ入出力用の
コイル1cなどの電子部品1が搭載されたプリント基板
などの基板2が、カード基体3内に完全に埋設され、そ
のカード基体3の表裏両面にラミネートフイルム5,5
を貼着している。
【0013】カード基体3は図1及び図2に示すよう
に、それの外周部分を構成し、その厚さ方向のほぼ中央
位置に電子部品1と基板2を保持する第1の成形部3a
と、基板2の電池4を封入するケース状の第2の成形部
3bとからなる。図1に示すように第1の成形部3aと
第2の成形部3bの表面(表裏両面)はほぼ同一平面状
になっており、両者の接合部を隠すようにカード基体3
の表裏両面にラミネートフイルム5,5が貼着されてい
る。またこの接合部は、カード基体3の外周部に達して
おらず、カード基体3の内側部分に存在する。
【0014】第1の成形部3aと第2の成形部3bは、
同種または異種の樹脂材料によって成形される。カード
基体3(第1の成形部3a及び第2の成形部3b)は、
任意の樹脂材料でもって成形することができるが、電子
部品保護のため、なるべく溶融温度が低くかつ硬化収縮
率が小さい樹脂材料が好ましい。かかる好ましい樹脂材
料としては、不飽和ポリエステルを挙げることができ
る。
【0015】基板2の電子部品1が搭載されていない位
置に、1個ないし複数個の樹脂層連結用のスルーホール
6が開設されている。第1の成形部3aの成形時に、こ
の第1の成形部3aを構成する樹脂の一部がスルーホー
ル6内に充填させて、そのスルーホール6内の樹脂によ
り基板2の上側に形成される上側樹脂層3a−1と、基
板2の下側に形成される下側樹脂層3a−2を相互に連
結される(図3参照)。また、第1の成形部3aを構成
する樹脂の一部は図1、図2に示すように基板2の外周
全体に回り込み、その外周樹脂層3a−3により上側樹
脂層3a−1と下側樹脂層3a−2も相互に連結され
る。
【0016】以下、この実施形態に係る半導体カードの
製造方法について説明する。図3に示すように金型11
は、上金型11aと下金型11bとからなり、両金型1
1a,11bの対向面に、カード基体3の外形と同形の
キャビティ13と、そのキャビティ13に連通する樹脂
注入部14とが形成されている。
【0017】第1の成形部3aの成形に際しては、上金
型11aと下金型11bとを開き、基板2に搭載された
電池4をカバーするように基板2の電池搭載部をケース
状の第2の成形部3bで上下から挟み込んだ状態で、基
板2と第2の成形部3bを下金型11b内に設置して、
上金型11aを閉じ、基板2を介して上下の第2の成形
部3bを上金型11aと下金型11bで挟む。
【0018】このとき第2の成形部3bの凹部15と金
型11の凸部16が係合し、キャビティ13内における
基板2の面内方向(カード厚さ方向と直交する平面方
向)の位置決めがなされる。また、電子部品1ならびに
基板2は上下の第2の成形部3bで挟まれた状態で、キ
ャビティ13の上下方向のほぼ中央位置に固定される。
【0019】この状態で樹脂注入口4から樹脂が注入さ
れ、図3に示すように第1の成形部3aが形成される。
上金型11aと下金型11bがそれぞれ上下の第2の成
形部3bに当接した状態で金型11が閉じられてキャビ
ティ13が形成され、そこに樹脂を注入して第1の成形
部3aが形成されるから、結局、上下の第2の成形部3
bによって第1の成形部3aの厚さ、すなわちカード基
体3の厚さが規定されることになる。
【0020】このようにして形成された第1の成形部3
aの上下表面は、図1に示すように第2の成形部3bの
上下表面と面一になる。第1の成形部3aと第2の成形
部3bによって構成されたカード基体3の上下両面にラ
ミネートフィルム5,5が貼着され、第1の成形部3a
と第2の成形部3bの接合部がラミネートフィルム5に
よって覆われる。
【0021】図中の3cは第2の成形部3bの外周に設
けられた鍔部、12は上金型11aと上側の第2の成形
部3bとの間、ならびに下金型11bと下側の第2の成
形部3bとの間に設けられた空間部で、電池4に対する
金型温度の熱的影響を軽減するために設けられている。
【0022】基板2及び当該基板2に搭載された電子部
品1をカード基体3の厚さ方向のほぼ中央位置に配置し
て完全に樹脂製のカード基体3内に埋設し、樹脂の硬化
収縮に起因する内部応力を基板2の表裏両面にほぼ等分
に作用させるようにしたので、カード基体3に生じる反
り等の変形を小さくすることができる。
【0023】
【発明の効果】請求項1記載の発明は、カード基体を構
成する樹脂の一部を基板の樹脂層連結用スルーホール内
に充填させて、そのスルーホール内の樹脂によりカード
基体の一部を構成する上側樹脂層と下側樹脂層を相互に
連結した構造になっているから、基板とカード基体とを
強固に一体化でき、信頼性の高い半導体カードを提供す
ることができる。
【0024】
【0025】
【0026】
【0027】
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態に係る半導体カードの断面
図である。
【図2】この半導体カードの平面図である。
【図3】この半導体カードの製造工程を説明するための
図である。
【符号の説明】
1 電子部品 1a メモリIC 1b CPU 1c データ入出力用のコイル 2 基板 3 カード基体 3a 第1の成形部 3a−1 上側樹脂層 3a−2 下側樹脂層 3a−3 外周側樹脂層 3b 第2の成形部 4 電池 5 ラミネートフィルム 6 スルーホール 11 金型 11a 上金型 11b 下金型 13 キャビティ 15 凹部 16 凸部

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板およびその基板に搭載されたデータ
    入出力コイルならびに半導体チップを含む電子部品を樹
    脂製のカード基体内に埋設してなる非接触型半導体カー
    ドにおいて、 前記基板の電子部品が搭載されていない個所に樹脂層連
    結用スルーホールが形成され、 その基板を埋設するカード基体が少なくとも第1の成形
    部と第2の成形部を有し、 その第2の成形部が半導体カードの厚さを規定するため
    の成形部であり、 その第2の成形部の外周に形成される前記第1の成形部
    により基板の外周部側が埋設され、基板の上側に上側樹
    脂層を、基板の下側に下側樹脂層を、基板の外周に外周
    樹脂層をそれぞれ形成し、カード基体を構成する樹脂の
    一部を前記樹脂層連結用スルーホールに充填させ、その
    スルーホール内の樹脂により前記上側樹脂層と下側樹脂
    層を相互に連結するとともに、前記外周樹脂層により前
    記上側樹脂層と下側樹脂層を相互に連結する ことを特徴
    とする非接触型半導体カード。
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