JP3122651B2 - 非接触型半導体カード及びその製造方法 - Google Patents

非接触型半導体カード及びその製造方法

Info

Publication number
JP3122651B2
JP3122651B2 JP11065047A JP6504799A JP3122651B2 JP 3122651 B2 JP3122651 B2 JP 3122651B2 JP 11065047 A JP11065047 A JP 11065047A JP 6504799 A JP6504799 A JP 6504799A JP 3122651 B2 JP3122651 B2 JP 3122651B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
card
substrate
molded
contact type
type semiconductor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP11065047A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH11316815A (ja
Inventor
洋介 片山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Maxell Energy Ltd
Original Assignee
Hitachi Maxell Energy Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Maxell Energy Ltd filed Critical Hitachi Maxell Energy Ltd
Priority to JP11065047A priority Critical patent/JP3122651B2/ja
Publication of JPH11316815A publication Critical patent/JPH11316815A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3122651B2 publication Critical patent/JP3122651B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、基板とそれに搭載
された電子部品をカード基体内に埋設してなる非接触型
半導体カード及びその製造方法に係り、特にその基板と
電子部品の封止構造に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、メモリICやCPU、それにデー
タ入出力用のコイルなど、所定の電子部品が搭載された
プリント基板などの基板を樹脂製のカード基体内に完全
に埋設し、リーダ/ライタに備えられたデータ入出力用
コイルと前記基板に搭載された前記コイルとの間でデー
タの授受を行なう非接触型の半導体カードが提案されて
いる。
【0003】この半導体カードは、カードの表面に外部
端子を露出し、リーダ/ライタに備えられた接続端子を
前記外部端子に接触することによってデータの授受を行
う接触型の半導体カードに比べて、外部端子が汚損した
り摩耗するということがなく、耐久性に優れ、かつ信頼
性の高いデータ通信ができるという特長を有する。
【0004】従来、この種の非接触型半導体カードにお
いて、特開平2−204096号公報に記載されている
ような製造方法が提案されている。この製造方法は、回
路基板の電子部品が搭載されていない個所に貫通孔を形
成し、この回路基板を第1の金型に装着して回路基板の
電子部品が搭載されていない個所に電子部品とほぼ同じ
高さを有する枠体を形成するとともに、前記貫通孔を通
して樹脂の一部を回路基板の裏面から突出させて突起を
形成する。
【0005】この枠体付きの回路基板を別の第2の金型
に入れて、周囲の全体を封止樹脂層で封止する。このと
き回路基板の裏側に突起が設けられているから、金型底
面と回路基板の間に隙間が形成され、回路基板の裏側に
も樹脂を回り込ませることができ、回路基板を封止樹脂
層内に完全に埋設するようになっている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】この半導体カードは、
電子部品を搭載した回路基板と枠体の周囲全体を封止樹
脂層で封止する構造であるため、枠体付き回路基板を第
2の金型に入れたとき、前記突起がただ金型底面に載っ
ているだけで、他の部分は第2の金型の内面から封止樹
脂層の厚さに相当する間隔だけ離れており、金型内での
固定ができない。そのためこの状態で第2の金型の空間
部に封止樹脂を射出注入した際、樹脂の射出圧力により
回路基板がずれたり、斜めになって封止樹脂層中に埋設
される。
【0007】非接触型の半導体カードは、リーダ/ライ
タに装着した際に回路基板上の入出力用コイルとリーダ
/ライタ側の入出力用コイルとが適正に対向することに
より、データの授受が行なわれる。
【0008】しかし、前記半導体カードは金型で封止樹
脂層を成形する際、金型内で回路基板がずれたり、斜め
になるため、半導体カード内での前記コイルの位置が水
平方向または(ならびに)垂直方向にずれたり、姿勢が
斜めになる。従ってリーダ/ライタ側のデータ入出力用
コイルとのカップリングが適正に行なわれず、そのため
データの授受に支障をきたし、信頼性が低下するととも
に製品毎の通信特性にばらつきを生じる。このようにこ
の種の非接触型半導体カードにおいて、カード基体内の
所定の位置にいかに正確にデータ入出力用コイルを埋
設、固定するかは極めて重要な問題である。
【0009】また前記半導体カードは、回路基板の裏面
側にも封止樹脂を回り込ませるために回路基板の裏面側
に突起を設けているが、予め形成された突起と後から形
成される封止樹脂層とは別体であり、両者の接合強度が
弱い。そのため半導体カードの落下などの衝撃により、
回路基板の裏側の薄い封止樹脂層から剥がれるなどの欠
点を有している。
【0010】本発明は、この従来技術の欠点を解消し、
カード基体内に入出力用コイルが適正に固定できる動作
信頼性の高い非接触型半導体カード及びその製造方法を
提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、第1の本発明は、基板およびその基板に搭載された
データ入出力用コイルならびに半導体チップを含む電子
部品をカード基体内に埋設してなる非接触型半導体カー
ドを対象とするものである。
【0012】そして前記カード基体が少なくとも合成樹
脂で成形された例えば後述の成形部からなる第1の成形
部と合成樹脂で成形された後述のケース部からなる第2
の成形部を有し、前記第2の成形部が、前記基板を保持
するとともに、半導体カードの少なくとも厚さを規定す
るための成形部であり、前記第1の成形部が、前記第2
の成形部に隣接するように設けられて、第2の成形部と
ともに半導体カードの外形を形成することにより、前記
基板と電子部品とを前記カード基体内に埋設することを
特徴とするものである。
【0013】前記目的を達成するため、第2の本発明
は、基板およびその基板に搭載されたデータ入出力用コ
イルならびに半導体チップを含む電子部品をカード基体
内に埋設してなる非接触型半導体カードの製造方法を対
象とするものである。
【0014】そして前記カード基体が少なくとも例えば
後述の成形部からなる第1の成形部と後述のケース部か
らなる第2の成形部とを有し、前記カード基体の厚さを
規定するための前記第2の成形部を形成する工程と、前
記電子部品を搭載した基板と前記第2の成形部との複合
体を金型に装着して、カード基体の残りの部分を成形し
て第1の成形部を形成する工程とを有していることを特
徴とするものである。
【0015】
【発明の実施の形態】前述のように本発明は、半導体カ
ードの厚さが第2の成形部により規定されるようになっ
ている。このような構成をとることにより、図3に示す
ように第1の成形部を形成してカード基体を完成すると
きに、上下の金型により第2の成形部を介して基板が金
型内に安定に保持され、そのためカード基体内でのデー
タ入出力用コイルが所定の位置に保持・固定され、その
ためデータ授受の信頼性を高めることができる。
【0016】以下、本発明の実施形態を図とともに説明
する。図1は本発明に係る半導体カードの断面図、図2
はその半導体カードの平面図、図3はその半導体カード
の製造工程を説明するための断面図である。
【0017】半導体カードは、図2に示すように例えば
メモリIC1aやCPU1b、それにデータ入出力用の
コイル1cなどの電子部品1が搭載されたプリント基板
などの基板2が、カード基体3内に完全に埋設され、そ
のカード基体3の表裏両面にラミネートフイルム5,5
を貼着している。
【0018】カード基体3は図1及び図2に示すよう
に、それの外周部分を構成し、その厚さ方向のほぼ中央
位置に電子部品1と基板2を保持する第1の成形部3a
と、基板2の電池4を封入するケース状の第2の成形部
3bとからなる。図1に示すように第1の成形部3aと
第2の成形部3bの表面(表裏両面)はほぼ同一平面状
になっており、両者の接合部を隠すようにカード基体3
の表裏両面にラミネートフイルム5,5が貼着されてい
る。またこの接合部は、カード基体3の外周部に達して
おらずカード基体3の内側部分に存在する。
【0019】第1の成形部3aと第2の成形部3bは、
同種または異種の樹脂材料によって成形される。カード
基体3(第1の成形部3a及び第2の成形部3b)は、
任意の樹脂材料でもって成形することができるが、電子
部品保護のため、なるべく溶融温度が低くかつ硬化収縮
率が小さい樹脂材料が好ましい。かかる好ましい樹脂材
料としては、不飽和ポリエステルを挙げることができ
る。
【0020】基板2の電子部品1が搭載されていない位
置に、1個ないし複数個の樹脂層連結用のスルーホール
6が開設されている。第1の成形部3aの成形時に、こ
の第1の成形部3aを構成する樹脂の一部がスルーホー
ル6内に充填されるとともに、そのスルーホール6内の
充填樹脂により基板2の上側に形成される上側樹脂層3
a−1と、基板2の下側に形成される下側樹脂層3a−
2が相互に連結される(図3参照)。また、第1の成形
部3aを構成する樹脂の一部は図1、図2に示すように
基板2の外周全体に回り込み、その外周側樹脂層3a−
3により上側樹脂層3a−1と下側樹脂層3a−2も相
互に連結される。
【0021】以下、この実施形態に係る半導体カードの
製造方法について説明する。図3に示すように金型11
は、上金型11aと下金型11bとからなり、両金型1
1a,11bの対向面に、カード基体3の外形と同形の
キャビティ13と、そのキャビティ13に連通する樹脂
注入部14とが形成されている。
【0022】この金型11に装着される前に、第2の成
形部3bは図示しない別の金型により成形されている。
第1の成形部3aの成形に際しては、上金型11aと下
金型11bとを開き、基板2に搭載された電池4をカバ
ーするように基板2の電池搭載部をケース状の第2の成
形部3bで上下から挟み込んだ状態で、基板2と第2の
成形部3bを下金型11b内に設置して、上金型11a
を閉じ、基板2を介して上下の第2の成形部3bを上金
型11aと下金型11bで挟む。
【0023】このとき第2の成形部3bの凹部15と金
型11の凸部16が係合し、キャビティ13内における
基板2の面内方向(カード厚さ方向と直交する平面方
向)の位置決めがなされる。また、電子部品1ならびに
基板2は上下の第2の成形部3bで挟まれた状態で、キ
ャビティ13の上下方向のほぼ中央位置に固定される。
【0024】この状態で樹脂注入口4から樹脂が注入さ
れ、図3に示すように第1の成形部3aが形成される。
上金型11aと下金型11bがそれぞれ上下の第2の成
形部3bに当接した状態で金型11が閉じられてキャビ
ティ13が形成され、そこに樹脂を注入して第1の成形
部3aが形成されるから、結局、上下の第2の成形部3
bによって第1の成形部3aの厚さ、すなわちカード基
体3の厚さが規定されることになる。
【0025】このようにして形成された第1の成形部3
aの上下表面は、図1に示すように第2の成形部3bの
上下表面とほぼ同一平面状になる。第1の成形部3aと
第2の成形部3bによって構成されたカード基体3の上
下両面にラミネートフィルム5,5が貼着され、第1の
成形部3aと第2の成形部3bの接合部がラミネートフ
ィルム5によって覆われる。
【0026】図中の3cは第2の成形部3bの外周に設
けられた鍔部、12は上金型11aと上側の第2の成形
部3bとの間、ならびに下金型11bと下側の第2の成
形部3bとの間に設けられた空間部で、電池4に対する
金型温度の熱的影響を軽減するために設けられている。
【0027】基板2及び当該基板2に搭載された電子部
品1をカード基体3の厚さ方向のほぼ中央位置に配置し
て完全に樹脂製のカード基体3内に埋設し、樹脂の硬化
収縮に起因する内部応力を基板2の表裏両面にほぼ等分
に作用させるようにしたので、カード基体3に生じる反
り等の変形を小さくすることができる。
【0028】また、基板2にスルーホール6を設け、そ
のスルーホール6内に樹脂が充填されて基板2の表裏両
面側に成形された樹脂層3a−1、3a−2がスルーホ
ール6内に樹脂によって相互に連結されるので、基板2
とカード基体3を強固に一体化できる。
【0029】
【発明の効果】請求項1ならびに請求項10記載の本発
明は、半導体カードの厚さが第2の成形部により規定さ
れるようになっている。このような構成をとることによ
り、図3に示すように第1の成形部を形成してカード基
体を完成するときに、上下の金型により第2の成形部を
介して基板が金型内に安定に保持され、そのためカード
基体内でのデータ入出力用コイルが所定の位置に保持・
固定され、そのためデータ授受の信頼性を高めることが
できる。
【0030】請求項2記載の本発明は、基板がカード基
体の厚さ方向のほぼ中央位置に埋設されている。また請
求項3記載の本発明は、基板と電子部品がカード基体の
厚さ方向のほぼ中央位置に埋設されている。このように
構成することにより、樹脂の硬化収縮に起因する内部応
力が基板の表裏両面でほぼ均等になり、従ってカード基
体に生じる反り等の変形を小さくすることができる。ま
たカード基体の反りによる基板ならびに電子部品への機
械的影響を最小限に止めることもできる。
【0031】請求項4記載の本発明は、スルーホール内
の樹脂により上側樹脂層と下側樹脂層を相互に連結して
いるため、基板とカード基体とを強固に一体化できる。
【0032】請求項5記載の本発明は、基板が第1の成
形部から第2の成形部にかけて埋設されているから、基
板が第1の成形部と第2の成形部の連結部材としても機
能し、第1の成形部と第2の成形部の接合強度が高ま
る。
【0033】請求項6記載の本発明は、第1の成形部と
第2の成形部の接合部が、カード基体の外周部に達して
おらずカード基体の内側部分に存在している。カード基
体の外周部は例えば落下などによる外部からの衝撃を受
け易い。そのため第1の成形部と第2の成形部の接合部
がカード基体の外周部に達していると、外部からの衝撃
によりその接合部からカード基体にクラックが発生し易
いが、本発明のように接合部がカード基体の内側部分に
あると、クラックの発生が防止できる。
【0034】請求項7記載の本発明は、第1の成形部と
第2の成形部の表面がほぼ同一平面であるから、両者の
間に段差がなく、リーダ/ライタなどへの挿入がスムー
ズである。
【0035】請求項8記載の本発明は、第1の成形部と
第2の成形部の接合部を被覆部材で覆って隠しているか
ら、接合部によって外観を損ねることがない。
【0036】請求項9記載の本発明は、第2の成形部が
半導体カード内部における基板の面内方向の位置を規定
するようになっているから、カード基体内でのデータ入
出力用コイルが所定の位置に保持・固定され、そのため
データ授受の信頼性を高めることができるなどの特長を
有している。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態に係る半導体カードの断面
図である。
【図2】この半導体カードの平面図である。
【図3】この半導体カードの製造工程を説明するための
断面図である。
【符号の説明】
1 電子部品 1a メモリIC 1b CPU 1c データ入出力用のコイル 2 基板 3 カード基体 3a 第1の成形部 3a−1 上側樹脂層 3a−2 下側樹脂層 3a−3 外周側樹脂層 3b 第2の成形部 4 電池 5 ラミネートフィルム 6 スルーホール 11 金型 11a 上金型 11b 下金型 13 キャビテ 15 凹部 16 凸部

Claims (10)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板およびその基板に搭載されたデータ
    入出力用コイルならびに半導体チップを含む電子部品を
    カード基体内に埋設してなる非接触型半導体カードにお
    いて、 前記カード基体が少なくとも合成樹脂からなる第1の成
    形部と合成樹脂からなる第2の成形部を有し、 前記第2の成形部が、前記基板を保持するとともに、半
    導体カードの少なくとも厚さを規定するための成形部で
    あり、 前記第1の成形部が、前記第2の成形部に隣接するよう
    に設けられて、第2の成形部とともに半導体カードの外
    形を形成することにより、前記基板と電子部品とを前記
    カード基体内に埋設することを特徴とする非接触型半導
    体カード。
  2. 【請求項2】 請求項1記載において、前記基板が前記
    カード基体の厚さ方向のほぼ中央位置に埋設されている
    ことを特徴とする非接触型半導体カード。
  3. 【請求項3】 請求項1記載において、前記基板と電子
    部品が前記カード基体の厚さ方向のほぼ中央位置に埋設
    されていることを特徴とする非接触型半導体カード。
  4. 【請求項4】 請求項1記載において、前記基板の電子
    部品が搭載されていない個所に樹脂層連結用スルーホー
    ルが形成され、 前記基板をカード基体内に埋設することにより、基板の
    上側に前記第1の成形部の上側樹脂層を、基板の下側に
    第1の成形部の下側樹脂層を形成するとともに、第1の
    成形部を構成する樹脂の一部を前記樹脂層連結用スルー
    ホール内に充填させて、そのスルーホール内の樹脂によ
    り前記上側樹脂層と下側樹脂層を相互に連結したことを
    特徴とする非接触型半導体カード。
  5. 【請求項5】 請求項1記載において、前記基板が前記
    第1の成形部から第2の成形部にかけて埋設されている
    ことを特徴とする非接触型半導体カード。
  6. 【請求項6】 請求項1記載において、前記第1の成形
    部と第2の成形部の接合部が、前記カード基体の外周部
    に達しておらず、カード基体の内側部分に存在すること
    を特徴とする非接触型半導体カード。
  7. 【請求項7】 請求項1記載において、前記第1の成形
    部の表面と第2の成形部の表面がほぼ同一平面であるこ
    とを特徴とする非接触型半導体カード。
  8. 【請求項8】 請求項7記載において、前記第1の成形
    部と第2の成形部の接合部が被覆部材で覆われているこ
    とを特徴とする非接触型半導体カード。
  9. 【請求項9】 請求項1記載において、前記第1の成形
    部と第2の成形部が同種の樹脂材料によって成形されて
    いることを特徴とする非接触型半導体カード。
  10. 【請求項10】 基板およびその基板に搭載されたデー
    タ入出力用コイルならびに半導体チップを含む電子部品
    をカード基体内に埋設してなる非接触型半導体カードの
    製造方法において、 前記カード基体が第1の成形部と第2の成形部からな
    り、 前記カード基体の厚さを規定するための前記第2の成形
    部を形成する工程と、 前記電子部品を搭載した基板と前記第2の成形部との複
    合体を金型に装着して、カード基体の残りの部分を成形
    して第1の成形部を形成する工程とを有していることを
    特徴とする非接触型半導体カードの製造方法。
JP11065047A 1999-03-11 1999-03-11 非接触型半導体カード及びその製造方法 Expired - Fee Related JP3122651B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11065047A JP3122651B2 (ja) 1999-03-11 1999-03-11 非接触型半導体カード及びその製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11065047A JP3122651B2 (ja) 1999-03-11 1999-03-11 非接触型半導体カード及びその製造方法

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP02283479A Division JP3117455B2 (ja) 1990-10-23 1990-10-23 電池内蔵型一体成形カード

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11316815A JPH11316815A (ja) 1999-11-16
JP3122651B2 true JP3122651B2 (ja) 2001-01-09

Family

ID=13275667

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11065047A Expired - Fee Related JP3122651B2 (ja) 1999-03-11 1999-03-11 非接触型半導体カード及びその製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3122651B2 (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPH11316815A (ja) 1999-11-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0377937B1 (en) IC card
US8324021B2 (en) Advanced smart cards with integrated electronics in bottom layer and method of making such advanced smart cards
EP0390996B1 (en) IC card module
US20080213947A1 (en) Resin encapsulation molding method for semiconductor device
JP2559849B2 (ja) Icカード
JPH09240179A (ja) Icカード及びicカードの製造方法並びに icカード基板の製造方法
JP3122651B2 (ja) 非接触型半導体カード及びその製造方法
JP3117683B2 (ja) 非接触型半導体カード
JPH09286187A (ja) Icカード、icカード製造用中間体およびicカードの製造方法
JP3117682B2 (ja) 非接触型半導体カード
JP3117455B2 (ja) 電池内蔵型一体成形カード
JPH0214193A (ja) Icカードとその製造方法
JPH05151424A (ja) 集積回路トークン
JP3126782B2 (ja) 薄型半導体装置の製造方法
JPH11195101A (ja) Icモジュールとそのモジュールを搭載したicカード
JP2000306068A (ja) ハイブリッド型icカードの製造方法
JP3181935B2 (ja) Icカード
JPH1024685A (ja) Icカード及びその製造方法
KR910007471B1 (ko) 회로기판과 그 제조방법
CN111508849A (zh) 一种指纹识别装置及其制造方法
CN111508850A (zh) 一种智能芯片封装结构及其制造方法
JPH0687485B2 (ja) Icモジユール
JPH02265797A (ja) Icカードモジュール
JPH07175903A (ja) 電子カード
JPH11185000A (ja) Icカード

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20001003

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081020

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091020

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091020

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091020

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101020

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101020

Year of fee payment: 10

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees