JP3113068U - X線異物検査装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】搬送機構支持フレームの前下がり変形と搬送機構の変形を防止するX線異物検査装置を提供する。
【解決手段】搬送機構10を内装する検査室2の左右の搬入口、搬出口にあってX線遮蔽用の短冊状暖簾9を吊り下げ支持する暖簾支持部8の前面に、下方に延出する補助支持板30を取り付ける。一方、搬送機構10を支持する搬送機構支持フレーム7の前端部には係合突部31を設け、暖簾支持部8が装置筐体3の張り出し部3cに装着されたときに補助支持板30の係合開口32に係合突部31を挿通させることでフレーム7の前端部を吊り下げ支持する。これにより、もともとの支持端である後端部とともにフレーム7は両持ち支持構造となる。暖簾支持部8を取り外せばフレーム7は片持ち支持構造となり搬送機構10の脱着が容易に行える。
【選択図】図2

Description

本考案は、X線を用いて主として被検査物中に含まれる異物の検査を行うX線異物検査装置に関し、さらに詳しくは、該装置において被検査物の搬送を目的とした搬送機構の支持構造に関する。
現在、各種分野でX線を用いた異物検査が利用されているが、特に食品加工分野では、PL法やHACCPによる製造過程の管理対策としてX線異物検査装置が広く利用されている。X線異物検査装置は、X線源から被検査物にX線を照射し、被検査物を透過した透過X線により得られる透過画像によって被検査物に混入している異物の検査を行うものである。これによって、食肉類や加工食品に異物である例えば金属片、骨、木片、合成樹脂などが混入している場合に、これを検知して排除処理を行うことができる。もちろん、被検査物の衛生性や安全性を確保するためには、こうした装置自体が食品製造加工工程に適し、高い衛生性や安全性が保証されているものでなければならない。
こうしたX線異物検査装置として例えば特許文献1に記載のものが従来知られている。図3はこの従来のX線異物検査装置の概略外観斜視図、図4はこのX線異物検査装置の要部の概略右側面図であって(a)は搬送機構を装置に装着した状態、(b)は搬送機構を装置から取り外した状態を示す。
このX線異物検査装置は、検査室2と該検査室2の上部に設けられた電装室1とを備える。電装室1の内部にはX線を照射するためのX線照射部20が配置されており、X線の装置外への漏洩を防止するために、装置筐体3の一部を構成し、X線遮蔽特性を有する材料から成るカバー3aにより覆われている。検査室2は前面及び左右両側面が開口し、その前面開口は前縁部に設けられたヒンジ5により軸支されたX線遮蔽特性を有する材料から扉体4により開閉自在となっている。また左右側面開口には、装置筐体3の一部である左右への張り出し部3cに装着された暖簾支持部8により吊り下げ支持された短冊状暖簾9がそれぞれ3列ずつ配置されている。この短冊状暖簾9はX線を遮蔽する鉛ゴムから成る。
検査室2内にあっては、その後面が装置筐体3の一部を構成する直立壁部3bに固定された搬送機構支持フレーム7が略水平に前方に突出するように配置されている。即ち、搬送機構支持フレーム7の後端は支持端、前端は自由端であって、片持ち支持構造となっている。この搬送機構支持フレーム7の内部にはX線検出用のラインセンサ21が、前後方向に延伸するように設けられている。
搬送機構支持フレーム7には搬送機構10が前方から挿入されるようにして装着される。搬送機構10は、全体が略門形状であるハウジング11と、その内部に前後方向に延伸して架設された複数のローラ12と、それらローラ12の周囲に巻き掛けられた無端ベルト13と、を含む。したがって、ハウジング11の下方に向いた開口部の下面には無端ベルト13が張架された状態となっている。
この搬送機構10が図3及び図4(a)に示す如く搬送機構支持フレーム7に適切に装着された状態では、複数個のローラ12のうちの1個は図示しないギアなどを含む伝達機構を介して直立壁部3b内に設置された駆動部に結合し、該駆動部の回転駆動力によりローラ12が回動され、それによって無端ベルト13は図3中の白抜き矢印の方向に往復走行可能である。この無端ベルト13の走行によって左右の側面開口の一方から(例えば図3の左方から)短冊状暖簾9を押し分けるようにしながら検査室2内に被検査物Sを搬入し、側面開口の他方(例えば図3の右方)から短冊状暖簾9を押し分けるようにしながら被検査物Sを搬出する。
このように搬送機構10の無端ベルト13により装置外から搬入される被検査物Sに対し、所定位置において、上方の電装室1内のX線照射部20から出射されたX線が照射される。このX線照射により被検査物Sを上から下に透過した透過X線は、搬送機構支持フレーム7の内部に収容されているラインセンサ21により検出され、検出信号が出力される。この検出信号に基づいて画像処理がなされ、被検査物S中に何らかの異物が見つかった場合には、カバー3aの前面に配設されたモニタ22画面上の被検査物の画像に異物がマークして表示される。これによって、作業者は被検査物Sに混入している異物を認識できる。
上述の如く搬送機構支持フレーム7は直立壁部3bによりに片持ち支持されており、搬送機構支持フレーム7の前端は自由端であるから、図4(b)に示すように扉体4を開放した状態で、搬送機構支持フレーム7に対して搬送機構10を前方に引き出すようにして装置から取り外すことができる。これにより、検査室2内の清掃や装置内部の保守・点検などのメインテナンスが非常に容易である。また、搬送機構10の無端ベルト13等を取り外して清掃することも容易である。
特開平11−183407号公報
しかしながら、上記のような従来のような構造では、図4(a)に示すように、搬送機構支持フレーム7は搬送機構10を支えるとともに無端ベルト13上を搬送される被検査物Sの重量も支える必要がある。そのため、被検査物Sの重量によっては搬送機構支持フレーム7の前部(自由端側)に大きな荷重が加わり、搬送機構支持フレーム7自体が前下がりになる傾向にある。搬送機構支持フレーム7の内部にはラインセンサ21が配設されているが、搬送機構支持フレーム7が前下がりになると、X線照射部20とラインセンサ21との間の距離が前後方向の位置によって異なり、透視画像が歪んで正確な異物検出に支障をきたすおそれがある。
また、搬送機構支持フレーム7が前下がりになると搬送機構10のハウジング11にも歪みや撓みが生じ、無端ベルト13の走行時に蛇行が生じ易くなり無端ベルト13が外れる一因となる。こうした無端ベルト13の外れを防止するには、例えばローラ12に周方向に形成した凹部に噛み合うような蛇行防止用の桟を無端ベルト13の裏面に形成するといった対策が必要となる。
もちろん、搬送機構支持フレーム7や搬送機構10のハウジング11の剛性を高めることで、上述したような前下がり等の変形や歪みを防止することは可能ではあるが、そうすると大きなコストの増加につながる。
本考案はこのような点に鑑みて成されたものであり、その目的とするところは、簡単で且つ低コストな構造で以て搬送機構支持フレームの撓みや歪み等の変形を防止して、上述したような透視画像の乱れやベルトの走行不良を回避することができるX線異物検査装置を提供することである。
上記課題を解決するために成された本考案は、X線を照射するX線照射部と、該X線照射部によるX線照射領域へ被検査物を搬入・搬出する搬送機構と、被検査物を透過したX線を検出するX線検出部と、前記搬送機構による被検査物の搬入口及び搬出口にあって被検査物が通過可能なX線遮蔽の短冊状暖簾と、を具備し、前記X線検出部は一方の端部が自由端であり他方の端部が支持端である略水平に延設された片持ち支持構造のフレームの内部に収容され、前記搬送機構は被検査物が載る搬送部が前記フレームの上に位置するように該フレームの自由端側から挿入されるようにして装着されて成るX線異物検査装置において、
前記短冊状暖簾を吊り下げ支持する暖簾支持部は装置筐体に着脱可能であり、該暖簾支持部が装置筐体に装着されたときに前記フレーム又は該フレームに装着された搬送機構の一部に接触してこれを支持する補助支持部を該暖簾支持部に設けたことを特徴としている。
本考案に係るX線異物検査装置では、暖簾支持部を装置筐体に取り付け、その暖簾支持部に設けられている補助支持部を例えばフレーム(搬送機構支持フレーム)の一部に係合させることでフレームを支え受ける。即ち、暖簾支持部を取り外したときには補助支持部がフレームから離れてフレームは片持ち支持構造となるが、暖簾支持部を装置筐体に取り付けたときには補助支持部もフレームを支え受けるため、フレームは片持ち支持構造ではなくなり安定的に保持される。
これにより、被検査物が重量物であった場合でも、従来の構造に比べてフレーム自体が自由端側で下がらなくなり、フレーム内部に収容されたX線検出部とX線照射部との間の間隔が自由端側と支持端側とでほぼ等しくなることで、透過画像の歪み等の乱れを軽減することができる。また、搬送機構の撓みや歪み等の変形も生じにくくなるため、搬送機構のベルトに蛇行防止用の桟などを設けなくても安定して良好に走行させることができる。
また本考案に係るX線異物検査装置においてより安定的にフレームを支持するには、前記補助支持部は、前記フレームの自由端の一部に接触してこれを支持する構造とするよい。これによれば、暖簾支持部を装置筐体に取り付けたときにフレームの両端が支持される、つまり両持ち支持構造となるので、フレームを安定的に保持して前下がり変形等をより確実に防止することができる。
もちろん、暖簾支持部を取り外した際にはフレームは片持ち支持構造となり、補助支持部自体も搬送機構の引き出し前方から取り除かれるので、搬送機構をフレームから容易に引き出すことができ、従来の構造における検査室の清掃のし易さや装置内部の保守・点検のし易さなどの利点を損なうことはない。
以下、本考案の一実施例であるX線異物検査装置を図1及び図2により説明する。図1は本実施例のX線異物検査装置の概略外観斜視図、図2は本装置の要部の概略側面図であり、(a)は搬送機構を装置に装着した状態、(b)は搬送機構を装置から取り外した状態を示す。なお、既に説明した図3及び図4と同一の構成要素には同一符号を付して説明を省略する。
このX線異物検査装置の基本的な構造は前述した従来のX線異物検査装置と同じである。即ち、装置筐体3の一部であるカバー3aで被覆された電装室1内には下向きにX線を照射するX線照射部20が設けられ、その下方の検査室2内には、前端部が自由端であり、後端部が支持端である片持ち支持構造の搬送機構支持フレーム7が本考案におけるフレームとして配置され、その内部には本考案におけるX線検出部としてのラインセンサ21が設置されている。搬送機構10は、略門形状のハウジング11の内部の複数のローラ12に本考案における搬送部としての無端ベルト13が巻き掛けられた構成を有し、無端ベルト13の中で被検査物Sが上に載る部分、つまりはハウジング11上部の水平部が搬送機構支持フレーム7の上に位置するように、該フレーム7の前端部側から挿入されるようにして装着される。さらに、検査室2の左右側面開口、即ち被検査物Sの搬入口および搬出口には、装置筐体3の張り出し部3cに取り付けられた暖簾支持部8により吊り下げ支持された鉛ゴムから成る短冊状暖簾9がそれぞれ3列ずつ設置されている。
本実施例の特徴的な構成として、装置筐体3の左右の張り出し部3cにそれぞれ着脱自在に装着される暖簾支持部8の前面には、下方に延出する補助支持板30が本考案における補助支持部として固着されている。この左右一対の補助支持板30の下部の所定位置には係合開口32が穿設されている。一方、搬送機構支持フレーム7の前面の左右端部付近には係合突部31が設けられている。この係合突部31の位置は、図1及び図2(a)に示すように、暖簾支持部8を張り出し部3cに完全に装着したときに補助支持板30の係合開口32に挿通されるような位置とされている。これにより、この補助支持板30の係合開口32に係合突部31が挿通されると、暖簾支持部8と補助支持板30とは、係合開口32と係合突部31との引っ掛かりによる係合を介して搬送機構支持フレーム7の前端つまり自由端を張り出し部3cに対して吊り下げ支持する。
したがって、通常の使用時や非使用時において暖簾支持部8を装着した状態では、搬送機構10が装着された搬送機構支持フレーム7はもともとの支持端である後端部における固定と、補助支持板30による前端部における保持とにより実質的に両持ち支持された状態となる。その結果、搬送機構支持フレーム7には、それ自体の重量、搬送機構10の重量、ベルト13上を搬送される被検査物Sの重量等が分散して支え受けられるので、従来起こっていたような前端部側が下がるような変形が防止される。また、こうした搬送機構支持フレーム7の変形が起こらないことで搬送機構10のハウジング11の撓みや歪みも生じにくいので、無端ベルト13に蛇行防止用の桟を設けなくても蛇行が生じにくく、安定的に良好に走行させることができる。
一方、図2(b)に示すように扉体4を開放して暖簾支持部8を張り出し部3cから取り外した状態では、搬送機構支持フレーム7の係合突部31と補助支持板30の係合開口32との係合は解除され、従来と同様に片持ち支持構造となる。さらに、搬送機構10の引き出し前方を塞いでいた補助支持板30自体も取り除かれる。したがって、搬送機構10を簡単に取り外し又は取り付けることができる。これにより、検査室2の内部の清掃や、搬送機構10の無端ベルト13等の清掃、搬送機構支持フレーム7内に収容されているラインセンサ21や直立壁部3b内に収容されている駆動部等の各種部品の交換などの保守・点検等、を容易に行うことができる。
なお、上記実施例では、暖簾支持部8は左右が別個の構造であったが、両者を一体化して1個の補助支持板30で以て搬送機構支持フレーム7を吊り下げ支持する構造としてもよい。また、上記のような係合突部31と係合開口32とによる係合は一例であり、例えば補助支持板30の下端を後方側に折り曲げたり後方に突部を形成したりして、その部分により搬送機構支持フレーム7の前面下端を支え受けるようにする等、適宜の構成に変形することが可能である。また、必ずしも搬送機構支持フレーム7の前端部を支持するのではなく、前端部と後端部との間、つまり側方の適宜の位置を支持するようにしてもよい。また、搬送機構支持フレーム7を支持するのではなく搬送機構10にあって無端ベルト13の移動に障害とならない箇所を支持するようにしてもよい。
さらにまた、上記実施例は本考案の一例であり、上記記載以外においても本考案の趣旨の範囲で適宜変更や修正を行うことができることは明らかである。
本考案の一実施例であるX線異物検査装置の概略外観斜視図。 本実施例のX線異物検査装置の要部の概略側面図であり、(a)は搬送機構を装着した状態、(b)は搬送機構を取り外した状態。 従来のX線異物検査装置の概略外観斜視図。 従来のX線異物検査装置の要部の概略側面図であり、(a)は搬送機構を装着した状態、(b)は搬送機構を取り外した状態。
符号の説明
1…電装室
2…検査室
3…装置筐体
3a…カバー
3b…直立壁部
3c…張り出し部
4…扉体
5…ヒンジ
7…搬送機構支持フレーム
8…暖簾支持部
9…短冊状暖簾
10…搬送機構
11…ハウジング
12…ローラ
13…無端ベルト
20…X線照射部
21…ラインセンサ
22…モニタ
30…補助支持板
31…係合突部
32…係合開口
S…被検査物

Claims (2)

  1. X線を照射するX線照射部と、該X線照射部によるX線照射領域へ被検査物を搬入・搬出する搬送機構と、被検査物を透過したX線を検出するX線検出部と、前記搬送機構による被検査物の搬入口及び搬出口にあって被検査物が通過可能なX線遮蔽の短冊状暖簾と、を具備し、前記X線検出部は一方の端部が自由端であり他方の端部が支持端である略水平に延設された片持ち支持構造のフレームの内部に収容され、前記搬送機構は被検査物が載る搬送部が前記フレームの上に位置するように該フレームの自由端側から挿入されるようにして装着されて成るX線異物検査装置において、
    前記短冊状暖簾を吊り下げ支持する暖簾支持部は装置筐体に着脱可能であり、該暖簾支持部が装置筐体に装着されたときに前記フレーム又は該フレームに装着された搬送機構の一部に接触してこれを支持する補助支持部を該暖簾支持部に設けたことを特徴とするX線異物検査装置。
  2. 前記補助支持部は、前記フレームの自由端の一部に接触してこれを支持するものであることを特徴とする請求項1に記載のX線異物検査装置。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008275452A (ja) * 2007-04-27 2008-11-13 Anritsu Sanki System Co Ltd X線異物検出装置
KR20160014760A (ko) * 2016-01-29 2016-02-11 (주)자비스 교체 방식 모듈 구조의 엑스레이 검사 장치
KR20160037865A (ko) * 2016-03-21 2016-04-06 (주)자비스 연속 검사 공정을 위한 엑스레이 검사 장치
KR20160105753A (ko) * 2016-08-30 2016-09-07 (주)자비스 소형 제품의 연속 검사를 위한 엑스레이 검사 장치
CN115144918A (zh) * 2021-03-30 2022-10-04 清华大学 射线检查设备、以及检查目标的方法
CN115144920A (zh) * 2021-03-30 2022-10-04 清华大学 射线检查设备、以及检查目标的方法

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008275452A (ja) * 2007-04-27 2008-11-13 Anritsu Sanki System Co Ltd X線異物検出装置
KR20160014760A (ko) * 2016-01-29 2016-02-11 (주)자비스 교체 방식 모듈 구조의 엑스레이 검사 장치
KR20160037865A (ko) * 2016-03-21 2016-04-06 (주)자비스 연속 검사 공정을 위한 엑스레이 검사 장치
KR20160105753A (ko) * 2016-08-30 2016-09-07 (주)자비스 소형 제품의 연속 검사를 위한 엑스레이 검사 장치
CN115144918A (zh) * 2021-03-30 2022-10-04 清华大学 射线检查设备、以及检查目标的方法
CN115144920A (zh) * 2021-03-30 2022-10-04 清华大学 射线检查设备、以及检查目标的方法
CN115144920B (zh) * 2021-03-30 2023-11-03 清华大学 射线检查设备、以及检查目标的方法
CN115144918B (zh) * 2021-03-30 2024-02-06 清华大学 射线检查设备、以及检查目标的方法

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