JP3097663B2 - 磁気ディスク装置 - Google Patents
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Description
装置に関し、特に、磁気ヘッドが磁気ディスク媒体に接
触摺動しながら記録再生を行う接触式磁気ディスク装置
に関する。
て、高記録密度化が着実に向上している。このため、磁
気ディスク装置では、情報の書き込み・読み出しを行う
磁気ヘッドと情報を保持している磁気ディスク媒体との
間隙をより小さくすることが、高密度記録化の重要な要
素の1つとなっている。磁気ヘッドと磁気ディスク媒体
との間隙を小さくするために、磁気ヘッドが磁気ディス
ク媒体面に接触摺動しながら記録再生を行う、いわゆ
る、接触式磁気ディスク装置が開発されている(例え
ば、「H.Hamilton:Journal of
Magnetic Society of Japa
n, Vol.15,Supplement No.S
2(1991)483」、および「特願平5−5088
08号(特表平5−814495号公報)」参照)。こ
のような接触式磁気ディスク装置においては、磁気ディ
スク媒体および磁気ヘッドの摩耗や損傷を防止すること
が大きな課題となっている。
置における摩耗や損傷低減の目的で種々の技術が提案さ
れている。例えば、特開平2−249177号公報に
は、液体潤滑剤を磁気ディスク装置内で循環させて、磁
気ディスク媒体表面に常に過剰量を供給することによっ
て磁気ヘッドとの摩耗を防止する技術が開示されてい
る。また、特開平4−113568号公報には、上記と
同様の構成で磁気ヘッドと磁気ディスク媒体間に非ニュ
ートン液体潤滑剤を介在させる技術が開示されている。
さらに特開平5−151735号公報には、磁気ディス
ク媒体表面の潤滑剤上を滑るのに適したスライダ構造が
開示されている。
た磁気ディスク装置においては、記録情報の再生に磁気
抵抗効果(MR)を応用したMR再生素子を用いる記録
再生素子分離型磁気ヘッド(以下、MRヘッドと称す
る)が主流となってきている。MRヘッドは、例えば特
開平4−364217号公報に記載のように、素子の放
電防止や耐食性向上のために、スライダ面上に保護膜を
形成することが一般的である。このヘッド保護膜の摩耗
はMR素子の特性劣化を招くため、MRヘッドを用いた
磁気ディスク装置では、ヘッド側の保護膜の摩耗や損傷
を抑えることが特に重要である。この点を改善する技術
として特開平9−204626号公報には、磁気ヘッド
の摺動面に保護膜を有する磁気ディスク装置において、
磁気ヘッドの保護膜の硬度を磁気ディスク媒体の保護膜
の硬度に対して2倍以上、好ましくは3倍以上として、
磁気ディスク媒体保護膜と磁気ヘッド保護膜の両者の摩
耗および損傷を防止する技術が開示されている。
た従来の磁気ディスク装置では、以下に示すような課題
がある。
−113568号公報、及び特開平5−151735号
公報に開示されている技術のように、液体潤滑剤を用い
る磁気ディスク装置では、磁気ヘッドと磁気ディスク媒
体との界面に常時過剰の潤滑剤を供給することで摩耗の
抑制を図っているが、実際の磁気ディスク装置において
清浄な潤滑剤を一定量安定に供給するのは極めて難し
く、長期にわたる装置の安定動作を確保するのが困難で
あるという課題がある。
スク媒体に保護膜を有する特開平9−204626号公
報に開示されている技術では、磁気ディスク媒体保護膜
が15nm以上と厚い保護膜を有する場合には有効であ
るが、保護膜が10nm以下と薄膜化した場合には磁気
ディスク媒体保護膜に摩耗損傷を生じ、その結果磁気ヘ
ッド保護膜も摩耗を生じてしまうという重大な問題点が
あった。特に、近年の高密度化に伴って、磁気スペーシ
ングの低減が重要な課題となっている昨今においては、
保護膜の低減も重要な課題となっている。
ッドと磁気ディスク媒体とが間欠的または連続的に接触
しうる状態で記録再生を行う磁気ディスク媒体におい
て、接触界面における磁気ヘッド保護膜および磁気ディ
スク媒体保護膜の摩耗や損傷を防止すること、特に、磁
気ヘッド保護膜および磁気ディスク媒体保護膜が薄層化
した場合においても摩耗や損傷が少ない、高記録密度で
信頼性に優れた磁気ディスク装置を提供することにあ
る。
に、本発明の磁気ディスク装置は、表面に保護膜を有す
る磁気ディスク媒体と、該磁気ディスク媒体を回転させ
る手段と、該磁気ディスク媒体に情報の記録再生を行う
ための磁気ヘッドと、これらを制御する制御手段とを有
し、前記磁気ヘッドが磁気ディスク媒体と間欠的または
連続的に接触摺動する磁気ディスク装置において、前記
磁気ヘッドが磁気ディスク媒体と接触する部分の少なく
とも一部に保護膜を有し、この磁気ヘッド保護膜の密度
が磁気ディスク媒体保護膜の密度よりも大きいこと、ま
たは磁気ヘッド保護膜のヤング率が磁気ディスク媒体保
護膜のヤング率よりも大きいことを特徴とするものであ
る。また、磁気ディスク媒体保護膜が1nm〜10nm
と薄い場合において、磁気ヘッド保護膜の硬度を磁気デ
ィスク媒体保護膜の硬度の1.5倍以上2倍未満とする
ことを特徴とするものである。
耗損傷を磁気ディスク媒体保護膜、あるいは磁気ヘッド
保護膜のどちらか一方へ偏らせることがなく両者の摩耗
損傷が均一に進むようにすることができ、その結果、全
体としての摩耗損傷の程度を著しく低減することができ
る。よって、摩耗損傷の少ない耐久性に優れた高信頼性
の磁気ディスク装置を提供できる。
を参照して説明する。図1は本発明の磁気ディスク装置
の基本構成を示す断面図である。磁気ディスク媒体14
は、基板10、下地層11、磁性体12、磁気ディスク
媒体保護膜13、及び潤滑剤15がこの順で積層されて
なり、スピンドルモーター16に取り付けられて回転す
る。磁気ヘッドは、磁気ヘッドスライダ20、磁気記録
再生素子17、コンタクトパッド19および磁気ヘッド
保護膜18よりなり、ジンバルばね22、ロードビーム
ばね23を介して支持アーム24によって支持されてい
る。
を用い、磁気ディスク媒体保護膜および磁気ヘッド保護
膜の物性と機械的耐久性との関係を調べる検討を行っ
た。以下にその具体例を示す。
ク媒体14は基板10として直径63.5mm、厚さ
0.3mmのガラス基板を用い、このガラス基板上に、
下地層11としてCrを100nmの膜厚で、さらに磁
性体12としてCoCrTaPtを30nmの膜厚で、
どちらもスパッタ法により成膜し、更にその上部には、
磁気ディスク媒体保護膜13としてカーボンまたはカー
ボンを主とする水素または窒素添加膜をプラズマ化学気
相成長(CVD)法またはスパッタ法を用いて成膜し、
その上部に潤滑剤15としてパーフルオロポリエーテル
を5nmの膜厚でディップ法により成膜し形成した。
TiCを用い、幅1mm、長さ1.2mmおよび厚さ
0.3mmの形状とした。また、コンタクトパッド19
は磁気ヘッドスライダ20をアルゴンイオンによるミリ
ング加工によって形成し、直径30μm、高さ6μmに
形成した。
系のMR再生素子を用い、この磁気記録再生素子17お
よびコンタクトパッド19の磁気ディスク対向面側には
磁気ヘッド保護膜18を形成した。この磁気ヘッド保護
膜18としては、先ず、密着層としてシリコンを1nm
スパッタ法により成膜した後、プラズマ化学気相成長
(CVD)法またはスパッタ法を用いてカーボンまたは
カーボンを主とする水素または窒素添加膜を形成した。
膜厚はシリコン膜厚とカーボン膜厚のトータル膜厚で2
〜20nmの範囲で変化させた。
ルばね22は長さ2mm、幅1mmおよび厚さ0.01
mm、ロードビームばね23は長さ10mm、幅1.2
mmおよび厚さ0.05mm、支持アーム24は長さ1
5mm、幅3mmおよび厚さ1mmの形状に、いずれも
ステンレスを用いて形成した。またピボット21は、ロ
ードビームばね23を加圧形成して直径0.2mm、高
さ0.1mmの球形突起を作製した。
ク媒体保護膜の物性の制御は、各保護膜を成膜する際の
CVDガスやスパッタガスの種類、流量、または成膜の
際の投入パワー、バイアス電圧等を変化させることによ
って制御した。このようにして、所定の密度、ヤング率
および硬度をもつ保護膜を形成し、下記実施例1〜41
の磁気ディスク装置を作製した。また、これらの実施例
装置との比較を行うために、比較例1〜87の磁気ディ
スク装置も併せて作製した。
は、磁気ディスク媒体を5400rpmで回転させ、半
径30mmの位置で磁気ヘッドスライダを接触摺動させ
た状態で1000時間保持した後、原子間力顕微鏡およ
びエリプソメータを用いて磁気ヘッド保護膜および磁気
ディスク媒体保護膜の摩耗高さを測定した。
度を1.2〜1.8(g/cm3 )、磁気ヘッド保護膜
の密度を1.0〜2.0(g/cm3 )の範囲で変化さ
せ作製した磁気ディスク装置を用いて耐久性試験を行っ
たときの磁気ディスク媒体保護膜および磁気ヘッド保護
膜の摩耗高さの結果である。この際、磁気ディスク媒体
保護膜の膜厚および磁気ヘッド保護膜の膜厚はどちらも
10nmとした。
び比較例1から24の結果を参照すると、磁気ヘッド保
護膜の密度が磁気ディスク媒体保護膜の密度よりも大き
い場合に、磁気ディスク媒体保護膜の摩耗高さ、および
磁気ヘッド保護膜の摩耗高さを共に小さく抑えられるこ
とがわかる。その一方、磁気ヘッド保護膜の密度が磁気
ディスク媒体保護膜の密度と同等か、小さい場合には、
磁気ディスク媒体保護膜の摩耗高さは小さく抑えること
ができるが、磁気ヘッド保護膜の摩耗高さが著しく大き
くなることがわかる。即ち、磁気ヘッド保護膜の密度を
磁気ディスク媒体保護膜の密度よりも大きくすることに
よって磁気ディスク媒体保護膜および磁気ヘッド保護膜
の摩耗を著しく低減でき、摩耗損傷の少ない耐久性に優
れた高信頼性の磁気ディスク装置を提供できることがわ
かる。
を200〜400(GPa)、磁気ヘッド保護膜のヤン
グ率を150〜500(GPa)の範囲で変化させ作製
した磁気ディスク装置を用いて耐久性試験を行ったとき
の磁気ディスク媒体保護膜および磁気ヘッド保護膜の摩
耗高さの結果を表5及び表6に示す。この際、磁気ディ
スク媒体保護膜の膜厚および磁気ヘッド保護膜の膜厚は
どちらも10nmとした。
および比較例25から36の結果を参照すると、磁気ヘ
ッド保護膜のヤング率が磁気ディスク媒体保護膜のヤン
グ率よりも大きい場合に、磁気ディスク媒体保護膜の摩
耗高さ、および磁気ヘッド保護膜の摩耗高さを共に小さ
く抑えられることがわかる。その一方、磁気ヘッド保護
膜のヤング率が磁気ディスク媒体保護膜のヤング率と同
等か、小さい場合には、磁気ディスク媒体保護膜の摩耗
高さは小さいが、磁気ヘッド保護膜の摩耗高さが著しく
大きくなることがわかる。即ち、磁気ヘッド保護膜のヤ
ング率を磁気ディスク媒体保護膜のヤング率よりも大き
くすることによって磁気ディスク媒体保護膜および磁気
ヘッド保護膜の摩耗を著しく低減でき、摩耗損傷の少な
い耐久性に優れた高信頼性の磁気ディスク装置を提供で
きることがわかる。
0(GPa)とし、磁気ヘッド保護膜の硬度を40〜1
40(GPa)の範囲で変化させ、さらに磁気ディスク
媒体保護膜の膜厚を1から20nmまで変化させ作製し
た磁気ディスク装置を用いて耐久性試験を行ったときの
磁気ディスク媒体保護膜および磁気ヘッド保護膜の摩耗
高さの結果を表7から表11に示す。ここで磁気ヘッド
保護膜の膜厚は10nmとした。
よび比較例37から63の結果を参照すると、磁気ディ
スク媒体保護膜の厚さが1nm以上10nm以下の場合
には、磁気ヘッド保護膜の硬度が磁気ディスク媒体保護
膜の硬度の1.5倍以上2.0倍未満である場合に磁気
ディスク媒体保護膜の摩耗高さ、および磁気ヘッド保護
膜の摩耗高さを共に小さく抑えられることがわかる。そ
の一方、磁気ヘッド保護膜の硬度が磁気ディスク媒体保
護膜の硬度の1.5倍未満の場合には磁気ヘッド保護膜
の摩耗高さが大きくなり、また、2.0倍以上の場合に
は磁気ディスク媒体保護膜および磁気ヘッド保護膜の摩
耗高さが共に著しく大きくなることがわかる。
87の結果を参照すると、磁気ディスク媒体保護膜の膜
厚が15nm以上と厚い場合には、磁気ヘッド保護膜の
硬度が磁気ディスク媒体保護膜の硬度の2.0倍以上で
ある場合に磁気ディスク媒体保護膜、および磁気ヘッド
保護膜の摩耗高さを共に小さく抑えることができ、その
一方、磁気ヘッド保護膜の硬度が磁気ディスク媒体保護
膜の硬度の2.0倍未満の場合には磁気ディスク媒体保
護膜の摩耗高さは小さく抑えられるが、磁気ヘッド保護
膜の摩耗高さが著しく大きくなることがわかる。即ち、
磁気ディスク媒体保護膜の膜厚が1nm以上10nm以
下の場合には磁気ヘッド保護膜の硬度を磁気ディスク媒
体保護膜の硬度の1.5倍以上2.0倍未満とし、磁気
ディスク媒体保護膜の膜厚が15nmと厚い場合には磁
気ヘッド保護膜の硬度を磁気ディスク媒体保護膜の硬度
の2.0倍以上とすることによって、磁気ディスク媒体
保護膜および磁気ヘッド保護膜の摩耗を著しく低減で
き、摩耗損傷の少ない耐久性に優れた高信頼性の磁気デ
ィスク装置を提供できることがわかる。
膜の膜厚を10nmで一定とした場合のみ示したが、磁
気ヘッド保護膜の膜厚を2nmから20nmと変化させ
た場合においても、磁気ディスク媒体保護膜および磁気
ヘッド保護膜の摩耗量にほとんど変化は無かった。
ク媒体保護膜の材料として、上記実施例ではカーボンま
たはカーボンを主とする窒素または水素添加膜を用いた
が、SiC、SiN、BNを用いた場合においても、上
記実施例と同様の結果が得られた。
ク媒体保護膜、磁気ヘッド保護膜、潤滑剤、磁気ヘッド
スライダ、磁気記録再生素子、ジンバルばね、ロードビ
ームばね、支持アームおよびコンタクトパッドの材料、
形成方法は特に上記実施例に限定されるものではなく、
公知の材料、形成方法を特別な制限なく用いることがで
きる。
媒体保護膜に潤滑剤を用いた構成としたが、特に潤滑剤
を有さなくても本実施例に記載のものと同様の効果を得
ることができる。
以下に示すような効果が得られる。
磁気ディスク媒体保護膜の密度またはヤング率よりも大
きくすること、あるいは磁気ディスク媒体保護膜が1n
mから10nmと薄い場合においては、磁気ヘッド保護
膜の硬度を磁気ディスク媒体保護膜の硬度の1.5倍以
上2.0倍未満とすることによって、摺動による摩耗損
傷を磁気ディスク媒体保護膜、あるいは磁気ヘッド保護
膜のどちらか一方へ偏らせることがなく、両者の摩耗損
傷が均一に進むようにすることによって、その摩耗損傷
の程度を著しく低減することができ、高い信頼性を有す
る磁気ディスク装置を提供することができる。
Claims (5)
- 【請求項1】表面に保護膜を有する磁気ディスク媒体
と、該磁気ディスク媒体を回転させる手段と、該磁気デ
ィスク媒体に情報の記録再生を行うための磁気ヘッド
と、これらを制御する制御手段とを有し、前記磁気ヘッ
ドが磁気ディスク媒体と間欠的または連続的に接触摺動
する磁気ディスク装置において、前記磁気ヘッドが磁気
ディスク媒体と接触する部分の少なくとも一部に保護膜
を有し、該磁気ヘッド保護膜の密度が前記磁気ディスク
媒体保護膜の密度よりも大きいことを特徴とする磁気デ
ィスク装置。 - 【請求項2】表面に保護膜を有する磁気ディスク媒体
と、該磁気ディスク媒体を回転させる手段と、該磁気デ
ィスク媒体に情報の記録再生を行うための磁気ヘッド
と、これらを制御する制御手段とを有し、前記磁気ヘッ
ドが磁気ディスク媒体と間欠的または連続的に接触摺動
する磁気ディスク装置において、前記磁気ヘッドが磁気
ディスク媒体と接触する部分の少なくとも一部に保護膜
を有し、該磁気ヘッド保護膜のヤング率が前記磁気ディ
スク媒体保護膜のヤング率よりも大きいことを特徴とす
る磁気ディスク装置。 - 【請求項3】表面に1nm以上10nm以下の保護膜を
有する磁気ディスク媒体と、該磁気ディスク媒体を回転
させる手段と、該磁気ディスク媒体に情報の記録再生を
行うための磁気ヘッドと、これらを制御する制御手段と
を有し、前記磁気ヘッドが磁気ディスク媒体と間欠的ま
たは連続的に接触摺動する磁気ディスク装置において、
前記磁気ヘッドが磁気ディスク媒体と接触する部分の少
なくとも一部に保護膜を有し、該磁気ヘッド保護膜の硬
度が前記磁気ディスク媒体保護膜の硬度の1.5倍以上
2倍未満であること特徴とする磁気ディスク装置。 - 【請求項4】前記磁気ヘッド保護膜と磁気ディスク媒体
保護膜が同じ材料からなることを特徴とする請求項1、
2及び3のいずれかに記載の磁気ディスク装置。 - 【請求項5】前記磁気ヘッド保護膜および磁気ディスク
媒体保護膜がカーボンを主とする材料よりなることを特
徴とする請求項1、2、3及び4のいずれかに記載の磁
気ディスク装置。
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