JP3090856B2 - 誤り率測定装置 - Google Patents
誤り率測定装置Info
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L1/00—Arrangements for detecting or preventing errors in the information received
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- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B1/00—Details of transmission systems, not covered by a single one of groups H04B3/00 - H04B13/00; Details of transmission systems not characterised by the medium used for transmission
- H04B1/06—Receivers
- H04B1/16—Circuits
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Detection And Prevention Of Errors In Transmission (AREA)
- Compression Or Coding Systems Of Tv Signals (AREA)
- Two-Way Televisions, Distribution Of Moving Picture Or The Like (AREA)
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
- Surgical Instruments (AREA)
- Polishing Bodies And Polishing Tools (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は誤り率測定装置に関
し、特にたとえばＦＭ多重放送において任意の地点での
データの誤り率を検出することによって、その地点での
受信の難易度がわかる、誤り率測定装置に関する。
し、特にたとえばＦＭ多重放送において任意の地点での
データの誤り率を検出することによって、その地点での
受信の難易度がわかる、誤り率測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の誤り率測定装置が、たとえば特開
昭６３−３０２６３７号公報（Ｈ０４Ｌ １／００な
ど）において開示されている。
昭６３−３０２６３７号公報（Ｈ０４Ｌ １／００な
ど）において開示されている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】この従来技術では、付
加された誤り訂正符号を用いてディジタルデータの誤り
率を求めるが、誤りビット数の計数はシンドローム計算
のみによって行うので計測精度が悪くなり、ひいては誤
り率の精度も悪くなってしまう。それゆえに、この発明
の主たる目的は、高い精度で誤り率を測定できる、誤り
率測定装置を提供することである。
加された誤り訂正符号を用いてディジタルデータの誤り
率を求めるが、誤りビット数の計数はシンドローム計算
のみによって行うので計測精度が悪くなり、ひいては誤
り率の精度も悪くなってしまう。それゆえに、この発明
の主たる目的は、高い精度で誤り率を測定できる、誤り
率測定装置を提供することである。
【０００４】
【課題を解決するための手段】この発明は、同期信号を
含むディジタルデータの受信状況を検出するための誤り
率測定装置であって、復号に成功したパケットについて
はそのパケットの復号前データと復号後データとを比較
して誤りビット数を計算する誤りビット数計算手段、復
号に失敗したパケットについてはその誤りビット数とし
て所定の推定誤りビット数を設定する推定誤りビット数
設定手段、および前記誤りビット数計算手段での誤りビ
ット数と前記推定誤りビット数設定手段での推定誤りビ
ット数とに基づいてパケット部のビット誤り率を得る第
１ビット誤り率測定手段を備える、誤り率測定装置であ
る。
含むディジタルデータの受信状況を検出するための誤り
率測定装置であって、復号に成功したパケットについて
はそのパケットの復号前データと復号後データとを比較
して誤りビット数を計算する誤りビット数計算手段、復
号に失敗したパケットについてはその誤りビット数とし
て所定の推定誤りビット数を設定する推定誤りビット数
設定手段、および前記誤りビット数計算手段での誤りビ
ット数と前記推定誤りビット数設定手段での推定誤りビ
ット数とに基づいてパケット部のビット誤り率を得る第
１ビット誤り率測定手段を備える、誤り率測定装置であ
る。
【０００５】
【０００６】
【作用】たとえばＦＭ多重放送用データを多数決論理復
号法を用いて復号手段で復号する。復号手段は復号前お
よび復号後のＦＭ多重放送用データをそれぞれ誤り率測
定手段に与える、このとき、ＦＭ多重放送用データを復
号しないで出力する第１復号手段およびＦＭ多重放送用
データを復号して出力する第２復号手段を用いてもよ
い。
号法を用いて復号手段で復号する。復号手段は復号前お
よび復号後のＦＭ多重放送用データをそれぞれ誤り率測
定手段に与える、このとき、ＦＭ多重放送用データを復
号しないで出力する第１復号手段およびＦＭ多重放送用
データを復号して出力する第２復号手段を用いてもよ
い。
【０００７】復号に成功したパケットについては誤り率
測定手段の誤りビット数計算手段で、復号前データと復
号後データとを比較して誤りビット数を計算する。復号
に失敗したパケットについては推定誤りビット数設定手
段で所定の推定誤りビット数を設定する。このとき、推
定誤りビット数としては復号成功率５０％以下の任意の
値をとり、しかも成功パケット数計算手段で計算された
１回目の横方向復号の成功パケット数を考慮してその推
定誤りビット数は設定される。また、同期がとれていな
いブロックについては、そのパケットの誤りビット数と
して所定の誤りビット数が設定される。そして、測定レ
ンジ毎に、誤りビット数および推定誤りビット数が積算
され、その値に基づいて第１ビット誤り率測定手段でパ
ケット部のビット誤り率が計算される。
測定手段の誤りビット数計算手段で、復号前データと復
号後データとを比較して誤りビット数を計算する。復号
に失敗したパケットについては推定誤りビット数設定手
段で所定の推定誤りビット数を設定する。このとき、推
定誤りビット数としては復号成功率５０％以下の任意の
値をとり、しかも成功パケット数計算手段で計算された
１回目の横方向復号の成功パケット数を考慮してその推
定誤りビット数は設定される。また、同期がとれていな
いブロックについては、そのパケットの誤りビット数と
して所定の誤りビット数が設定される。そして、測定レ
ンジ毎に、誤りビット数および推定誤りビット数が積算
され、その値に基づいて第１ビット誤り率測定手段でパ
ケット部のビット誤り率が計算される。
【０００８】また、第２ビット誤り率測定手段で同期信
号に基づいて同期信号部のビット誤り率が測定される。
同期がとれていないブロックについてはその周期信号部
の誤りビット数として所定の誤りビット数が設定され
る。さらに、パケット誤り率測定手段でパケット誤り率
が測定され、同期ブロック測定手段でフレーム同期の確
定ブロックの割合およびブロック同期の確定ブロックの
割合がそれぞれ測定される。これらの測定データも、測
定レンジ毎に計算される。測定レンジは数ブロックに設
定され得る。
号に基づいて同期信号部のビット誤り率が測定される。
同期がとれていないブロックについてはその周期信号部
の誤りビット数として所定の誤りビット数が設定され
る。さらに、パケット誤り率測定手段でパケット誤り率
が測定され、同期ブロック測定手段でフレーム同期の確
定ブロックの割合およびブロック同期の確定ブロックの
割合がそれぞれ測定される。これらの測定データも、測
定レンジ毎に計算される。測定レンジは数ブロックに設
定され得る。
【０００９】そして、各測定データは表示手段に同時あ
るいは個別に表示され、また、出力手段からプリントア
ウトされる。さらに、各測定データは記憶手段に格納さ
れ、必要に応じて出力手段からプリントアウトされても
よい。
るいは個別に表示され、また、出力手段からプリントア
ウトされる。さらに、各測定データは記憶手段に格納さ
れ、必要に応じて出力手段からプリントアウトされても
よい。
【００１０】
【発明の効果】この発明によれば、復号の成否および同
期・非同期に応じて、誤りビット数を計算・設定するの
で、誤りビット数を高い精度で計数できる。したがっ
て、誤り率の測定も高い精度で行える。この発明の上述
の目的，その他の目的，特徴および利点は、図面を参照
して行う以下の実施例の詳細な説明から一層明らかとな
ろう。
期・非同期に応じて、誤りビット数を計算・設定するの
で、誤りビット数を高い精度で計数できる。したがっ
て、誤り率の測定も高い精度で行える。この発明の上述
の目的，その他の目的，特徴および利点は、図面を参照
して行う以下の実施例の詳細な説明から一層明らかとな
ろう。
【００１１】
【実施例】図１を参照して、この実施例の誤り率測定装
置１０は復調器１２を含む。復調器１２には、たとえば
ＬＭＳＫ復調ＩＣとしてＶＬ３４００Ｍ（三洋電機株式
会社製）が用いられる。復調器１２には、チューナ（図
示せず）を介して多数決論理復号可能な（２７２，１９
０）短縮化差集合巡回符号などのディジタルデータが与
えられる。この実施例では、ディジタルデータとして移
動体ＦＭ多重放送用データが与えられる。
置１０は復調器１２を含む。復調器１２には、たとえば
ＬＭＳＫ復調ＩＣとしてＶＬ３４００Ｍ（三洋電機株式
会社製）が用いられる。復調器１２には、チューナ（図
示せず）を介して多数決論理復号可能な（２７２，１９
０）短縮化差集合巡回符号などのディジタルデータが与
えられる。この実施例では、ディジタルデータとして移
動体ＦＭ多重放送用データが与えられる。
【００１２】移動体ＦＭ多重放送用データのフレーム構
成は図２に示されるように、（２７２，１９０）短縮化
差集合巡回符号を積符号化して構成される。図２に示す
移動体ＦＭ多重放送用データは、１フレームに２７２個
のブロックを含み、各ブロックには同期信号部である１
６ビットのＢＩＣと２７２ビットのパケット部とが含ま
れる。このＦＭ多重放送用データが復調器１２で復調さ
れ、クロックとデータとが復号回路１４に与えられる。
復号回路１４には、ＣＰＵ１６から、ブロック同期およ
びフレーム同期のそれぞれの前方および後方保護回数，
ＢＩＣ誤り許容ビット数等の復号回路１４のセットアッ
プ情報が与えられる。このセットアップ情報はキーボー
ド１８によって入力される。
成は図２に示されるように、（２７２，１９０）短縮化
差集合巡回符号を積符号化して構成される。図２に示す
移動体ＦＭ多重放送用データは、１フレームに２７２個
のブロックを含み、各ブロックには同期信号部である１
６ビットのＢＩＣと２７２ビットのパケット部とが含ま
れる。このＦＭ多重放送用データが復調器１２で復調さ
れ、クロックとデータとが復号回路１４に与えられる。
復号回路１４には、ＣＰＵ１６から、ブロック同期およ
びフレーム同期のそれぞれの前方および後方保護回数，
ＢＩＣ誤り許容ビット数等の復号回路１４のセットアッ
プ情報が与えられる。このセットアップ情報はキーボー
ド１８によって入力される。
【００１３】ここで、復号回路１４は、図３に示すよう
に、復調器１２からのブロックとデータとが与えられる
同期再生・ＰＮ加算回路１４ａを含み、同期再生・ＰＮ
加算回路１４ａで所定の処理が施された後、データのブ
ロック番号およびデータがパケットメモリ（バンクメモ
リ）１４ｂおよびフレームメモリ１４ｃに格納される。
に、復調器１２からのブロックとデータとが与えられる
同期再生・ＰＮ加算回路１４ａを含み、同期再生・ＰＮ
加算回路１４ａで所定の処理が施された後、データのブ
ロック番号およびデータがパケットメモリ（バンクメモ
リ）１４ｂおよびフレームメモリ１４ｃに格納される。
【００１４】そして、パケットメモリ１４ｂからは、復
号前のデータ，データのブロック番号，インタラプトお
よび同期情報等がＣＰＵ１６を介してバッファメモリ２
０のバンクメモリ２２ａに出力され、バンクメモリ２２
ａに格納される。一方、フレームメモリ１４ｃに格納さ
れたデータはセットアップ情報に基づいて復号回路１４
内で通常通りに復号され、復号後のデータ，データのブ
ロック番号，復号の成否情報およびインタラプト等がＣ
ＰＵ１６を介して、バッファメモリ２０のバンクメモリ
２２ｂに格納される。バッファメモリ２０は、ＣＰＵ１
６のワークメモリとして働き、それぞれ２フレーム分の
退避エリアを有する２つのバンクメモリ２２ａおよび２
２ｂを含む。なお、復号回路１４には、同期再生および
誤り訂正用ＩＣとしてたとえばＬＣ７２７００Ｅ（三洋
電機株式会社製）が含まれる。
号前のデータ，データのブロック番号，インタラプトお
よび同期情報等がＣＰＵ１６を介してバッファメモリ２
０のバンクメモリ２２ａに出力され、バンクメモリ２２
ａに格納される。一方、フレームメモリ１４ｃに格納さ
れたデータはセットアップ情報に基づいて復号回路１４
内で通常通りに復号され、復号後のデータ，データのブ
ロック番号，復号の成否情報およびインタラプト等がＣ
ＰＵ１６を介して、バッファメモリ２０のバンクメモリ
２２ｂに格納される。バッファメモリ２０は、ＣＰＵ１
６のワークメモリとして働き、それぞれ２フレーム分の
退避エリアを有する２つのバンクメモリ２２ａおよび２
２ｂを含む。なお、復号回路１４には、同期再生および
誤り訂正用ＩＣとしてたとえばＬＣ７２７００Ｅ（三洋
電機株式会社製）が含まれる。
【００１５】バンクメモリ２２ａおよび２２ｂへの復号
前のデータおよび復号後のデータの書き込みタイミング
は図４に示される。図４には、５ブロック目に横方向復
号を失敗した場合を示す。データ書き込みタイミングを
さらに模式化して示す図５（Ａ）からわかるように、パ
ケット１の復号前データはパケット２の受信中にバッフ
ァメモリ２２ａに格納され、その後パケット１の復号後
データがバンクメモリ２２ｂに格納される。そして、図
５（Ｂ）からわかるように、１フレームの最後のパケッ
トの復号前データは次のフレームの先頭パケットの受信
時にバンクメモリ２２ａに格納され、その後１回目横方
向復号に失敗しかつ縦方向復号あるいは２回目の横方向
復号に成功した（復号後）のデータが順次バンクメモリ
２２ｂに格納される。
前のデータおよび復号後のデータの書き込みタイミング
は図４に示される。図４には、５ブロック目に横方向復
号を失敗した場合を示す。データ書き込みタイミングを
さらに模式化して示す図５（Ａ）からわかるように、パ
ケット１の復号前データはパケット２の受信中にバッフ
ァメモリ２２ａに格納され、その後パケット１の復号後
データがバンクメモリ２２ｂに格納される。そして、図
５（Ｂ）からわかるように、１フレームの最後のパケッ
トの復号前データは次のフレームの先頭パケットの受信
時にバンクメモリ２２ａに格納され、その後１回目横方
向復号に失敗しかつ縦方向復号あるいは２回目の横方向
復号に成功した（復号後）のデータが順次バンクメモリ
２２ｂに格納される。
【００１６】図１に戻って、ＣＰＵ１６には、ＲＯＭ２
４が接続される。ＲＯＭ２４には、動作プログラムの
他、図６に示すような最初の横方向復号を成功したパケ
ット数と訂正成功率５０％の誤りビット数との関係を示
すテーブルが格納される。図６には、最初の横方向復号
成功パケットの数が増えると、訂正成功率５０％の誤り
ビット数も増える傾向にあることが示されている。
４が接続される。ＲＯＭ２４には、動作プログラムの
他、図６に示すような最初の横方向復号を成功したパケ
ット数と訂正成功率５０％の誤りビット数との関係を示
すテーブルが格納される。図６には、最初の横方向復号
成功パケットの数が増えると、訂正成功率５０％の誤り
ビット数も増える傾向にあることが示されている。
【００１７】ここで、（２７２，１９０）短縮化差集合
巡回符号を積符号化したデータ（図２）における、誤り
ビット数と訂正成功率との関係を図７に示す。図７に示
す特性曲線は最初の横方向復号成功のパケット数に応じ
て変化する。すなわち、特性曲線は、最初の横方向復号
成功パケット数が少ないときは一点鎖線Ａのようにな
り、多くなるに従って、実線Ｂ，破線Ｃのように移行す
る。
巡回符号を積符号化したデータ（図２）における、誤り
ビット数と訂正成功率との関係を図７に示す。図７に示
す特性曲線は最初の横方向復号成功のパケット数に応じ
て変化する。すなわち、特性曲線は、最初の横方向復号
成功パケット数が少ないときは一点鎖線Ａのようにな
り、多くなるに従って、実線Ｂ，破線Ｃのように移行す
る。
【００１８】ここで、ＣＰＵ１６でのビット誤り率の計
算方法について述べる。ビット誤り率の測定範囲は、Ｂ
ＩＣ（ブロック識別符号）部と（２７２，１９０）短縮
化差集合巡回符号部（パケット部）とに分かれる。まず
ＢＩＣ部については、図８（Ａ）に示すように、ブロッ
ク同期およびフレーム同期がとれているときには、ブロ
ック位置に応じたＢＩＣパターンと受信データのＢＩＣ
とを比較することによってＢＩＣ部のビット誤り率が算
出される。また、ブロック同期およびフレーム同期の少
なくともいずれかが非同期であれば、１つのＢＩＣ部の
半数のビット（８ビット）が誤っているとみなされる。
算方法について述べる。ビット誤り率の測定範囲は、Ｂ
ＩＣ（ブロック識別符号）部と（２７２，１９０）短縮
化差集合巡回符号部（パケット部）とに分かれる。まず
ＢＩＣ部については、図８（Ａ）に示すように、ブロッ
ク同期およびフレーム同期がとれているときには、ブロ
ック位置に応じたＢＩＣパターンと受信データのＢＩＣ
とを比較することによってＢＩＣ部のビット誤り率が算
出される。また、ブロック同期およびフレーム同期の少
なくともいずれかが非同期であれば、１つのＢＩＣ部の
半数のビット（８ビット）が誤っているとみなされる。
【００１９】また、（２７２，１９０）符号部について
は図８（Ｂ）に示すが、フレーム同期がとれておりかつ
復号に成功したパケットに対してのみ、そのパケットと
バンクメモリ２２ａ内の対応するパケット（復号前のデ
ータ）とを比較することによって、誤りビット数を算出
する。一方、復号に失敗したパケットについては、図６
を考慮して１パケット（２７２ビット）中の推定誤りビ
ット数が設定される。すなわち、推定誤りビット数とし
ては訂正成功率５０％以下の誤りビット数が設定される
が、この訂正成功率５０％の誤りビット数は最初の横方
向復号成功パケット数に応じて変化する。したがって、
最初の横方向復号成功パケット数に応じて推定誤りビッ
ト数が設定される。
は図８（Ｂ）に示すが、フレーム同期がとれておりかつ
復号に成功したパケットに対してのみ、そのパケットと
バンクメモリ２２ａ内の対応するパケット（復号前のデ
ータ）とを比較することによって、誤りビット数を算出
する。一方、復号に失敗したパケットについては、図６
を考慮して１パケット（２７２ビット）中の推定誤りビ
ット数が設定される。すなわち、推定誤りビット数とし
ては訂正成功率５０％以下の誤りビット数が設定される
が、この訂正成功率５０％の誤りビット数は最初の横方
向復号成功パケット数に応じて変化する。したがって、
最初の横方向復号成功パケット数に応じて推定誤りビッ
ト数が設定される。
【００２０】一例として、最初の横方向復号成功パケッ
ト数が３０個程度であれば、訂正成功率５０％の誤りビ
ット数は“１５”程度となり、したがって、推定誤りビ
ット数は“１５”以上に設定される。このように推定誤
りビット数として、訂正成功率５０％以下の誤りビット
数が設定されるのは、復号が成功するか失敗するかの微
妙な領域すなわちビット誤りが少ない領域でのビット誤
り率を正確に測定するためである。訂正成功率が５０％
以下のときは、換言すれば復号が失敗する期待値が５０
％以上となり、したがって、訂正成功率５０％以下の誤
りビット数はほぼ間違いなく復号不可能な信頼性の高い
ビット数と考えられる。
ト数が３０個程度であれば、訂正成功率５０％の誤りビ
ット数は“１５”程度となり、したがって、推定誤りビ
ット数は“１５”以上に設定される。このように推定誤
りビット数として、訂正成功率５０％以下の誤りビット
数が設定されるのは、復号が成功するか失敗するかの微
妙な領域すなわちビット誤りが少ない領域でのビット誤
り率を正確に測定するためである。訂正成功率が５０％
以下のときは、換言すれば復号が失敗する期待値が５０
％以上となり、したがって、訂正成功率５０％以下の誤
りビット数はほぼ間違いなく復号不可能な信頼性の高い
ビット数と考えられる。
【００２１】なお、フレーム同期がとれていないとき
は、横方向復号が確実に失敗する誤りビット数が固定的
に、そのパケットの誤りビット数として設定される。こ
れらの誤りビット数および推定誤りビット数に基づいて
ビット誤り率が計算される。ＣＰＵ１６では、その他
に、パケット誤り率，フレーム同期やブロック同期それ
ぞれの確定ブロックの割合等の測定データが計測され
る。
は、横方向復号が確実に失敗する誤りビット数が固定的
に、そのパケットの誤りビット数として設定される。こ
れらの誤りビット数および推定誤りビット数に基づいて
ビット誤り率が計算される。ＣＰＵ１６では、その他
に、パケット誤り率，フレーム同期やブロック同期それ
ぞれの確定ブロックの割合等の測定データが計測され
る。
【００２２】また、ＣＰＵ１６には、ＶＲＡＭ２６を介
してモニタ２８が接続され、さらに、ＣＰＵ１６にはプ
リンタ３０も接続される。リアルタイム測定時には、Ｃ
ＰＵ１６は、表示したい測定データが示すＶ−ＲＡＭ２
８上の座標にプロットし（「１」を書き込み）、モニタ
３０上にリアルタイムで測定データを表示する。また、
プリントアウト時には、Ｖ−ＲＡＭ２８上に存在する測
定データをＣＰＵ１６に読み出し、ＣＰＵ１６からプリ
ンタ制御コマンドとともにプリンタ３０に出力すること
によって、プリントアウトが行われる。したがって、プ
リントアウトは、モニタ３０上に表示されているものが
印刷されることになる。
してモニタ２８が接続され、さらに、ＣＰＵ１６にはプ
リンタ３０も接続される。リアルタイム測定時には、Ｃ
ＰＵ１６は、表示したい測定データが示すＶ−ＲＡＭ２
８上の座標にプロットし（「１」を書き込み）、モニタ
３０上にリアルタイムで測定データを表示する。また、
プリントアウト時には、Ｖ−ＲＡＭ２８上に存在する測
定データをＣＰＵ１６に読み出し、ＣＰＵ１６からプリ
ンタ制御コマンドとともにプリンタ３０に出力すること
によって、プリントアウトが行われる。したがって、プ
リントアウトは、モニタ３０上に表示されているものが
印刷されることになる。
【００２３】また、ＣＰＵ１６にはファイル３２が接続
され、ファイル３２には測定データが格納される。ファ
イル３２内の測定データをプリントアウトするときに
は、その測定データを一旦ＶＲＡＭ２６に格納した後
に、プリンタ３０によってプリントアウトする。また、
モニタ２８には、たとえば図９に示すように測定結果が
リアルタイム表示される。
され、ファイル３２には測定データが格納される。ファ
イル３２内の測定データをプリントアウトするときに
は、その測定データを一旦ＶＲＡＭ２６に格納した後
に、プリンタ３０によってプリントアウトする。また、
モニタ２８には、たとえば図９に示すように測定結果が
リアルタイム表示される。
【００２４】図９を参照して、モニタ２８に示される変
数について説明する。≪System Information≫欄の右隅
は日付を表す。condition 欄は以下に示すパラメータの
測定時の値を表す。 ＢＡＰＣ：ブロック前方保護回数 ＢＢＰＣ：ブロック後方保護回数 ＦＡＰＣ：フレーム同期の前方保護回数 ＦＢＰＣ：フレーム同期の後方保護回数 ＦＢＩＣ：ＢＩＣ誤り許容ビット数（前方保護） ＢＢＩＣ：ＢＩＣ誤り許容ビット数（後方保護） なお、これらのパラメータ値はキーボード１８によって
測定前に予め入力される。
数について説明する。≪System Information≫欄の右隅
は日付を表す。condition 欄は以下に示すパラメータの
測定時の値を表す。 ＢＡＰＣ：ブロック前方保護回数 ＢＢＰＣ：ブロック後方保護回数 ＦＡＰＣ：フレーム同期の前方保護回数 ＦＢＰＣ：フレーム同期の後方保護回数 ＦＢＩＣ：ＢＩＣ誤り許容ビット数（前方保護） ＢＢＩＣ：ＢＩＣ誤り許容ビット数（後方保護） なお、これらのパラメータ値はキーボード１８によって
測定前に予め入力される。
【００２５】≪Error Information ≫欄のRange ，Ove
r，Dispは以下の理由から明示される。ＢＩＣ部やパケ
ット部の誤り率を１ブロックに含まれるビット（ＢＩＣ
部では１６ビット，パケット部では２７２ビット）のみ
で計測すると十分な測定精度が得られないため、ＢＩＣ
部やパケット部をそれぞれ数ブロック分ひとまとめにし
て誤り率を算出する。Range （測定レンジ）はこのひと
まとめにするブロックの数を表す。Overは隣接する２つ
のRange が共有するブロック数を表す。なお、隣接する
２つのRange が複数のブロックを共有するのは、各々の
Range から得られる誤り率の変動を抑えるためである。
Range とOverとが定まると、隣接するRange 間の表示間
隔をブロック単位で示すDispが得られる。Range ：２
０，Over：１０，Disp：１０とした場合の関係を図１０
に示す。
r，Dispは以下の理由から明示される。ＢＩＣ部やパケ
ット部の誤り率を１ブロックに含まれるビット（ＢＩＣ
部では１６ビット，パケット部では２７２ビット）のみ
で計測すると十分な測定精度が得られないため、ＢＩＣ
部やパケット部をそれぞれ数ブロック分ひとまとめにし
て誤り率を算出する。Range （測定レンジ）はこのひと
まとめにするブロックの数を表す。Overは隣接する２つ
のRange が共有するブロック数を表す。なお、隣接する
２つのRange が複数のブロックを共有するのは、各々の
Range から得られる誤り率の変動を抑えるためである。
Range とOverとが定まると、隣接するRange 間の表示間
隔をブロック単位で示すDispが得られる。Range ：２
０，Over：１０，Disp：１０とした場合の関係を図１０
に示す。
【００２６】このようにＢＩＣ部がパケット部をそれぞ
れ数ブロック分ひとまとめになるようにRange を設定す
ることによって、たとえばノイズ等によって或る時点の
誤りビット数が極端に大きくなる場合でも、そのノイズ
を“丸める”ことができ、より正確な測定データが得ら
れる。すなわち、たとえば隣接するブロック間でノイズ
等によって誤りビット数が大きく異なるフィールドにお
いて、各ブロック毎に誤り率を測定すると誤り率の変動
が大きくなり、そのフィールドの受信特性を正確に判断
することは困難である。そこで、この実施例では、数ブ
ロックをひとまとめにすることで、安定性と測定精度を
高めた形で誤り率を算出できる。
れ数ブロック分ひとまとめになるようにRange を設定す
ることによって、たとえばノイズ等によって或る時点の
誤りビット数が極端に大きくなる場合でも、そのノイズ
を“丸める”ことができ、より正確な測定データが得ら
れる。すなわち、たとえば隣接するブロック間でノイズ
等によって誤りビット数が大きく異なるフィールドにお
いて、各ブロック毎に誤り率を測定すると誤り率の変動
が大きくなり、そのフィールドの受信特性を正確に判断
することは困難である。そこで、この実施例では、数ブ
ロックをひとまとめにすることで、安定性と測定精度を
高めた形で誤り率を算出できる。
【００２７】≪Error Information ≫には、同期情報を
示す図（グラフ）と誤り率を示す図（グラフ）とがあ
る。同期情報を示す図には以下の情報が示される。 Ｆ−Ｓ（破線）：測定レンジ内のフレーム同期の確定ブ
ロックの割合 Ｂ−Ｓ（実線）：測定レンジ内のブロック同期の確定ブ
ロックの割合 誤り率を示す図には以下の情報が示される。
示す図（グラフ）と誤り率を示す図（グラフ）とがあ
る。同期情報を示す図には以下の情報が示される。 Ｆ−Ｓ（破線）：測定レンジ内のフレーム同期の確定ブ
ロックの割合 Ｂ−Ｓ（実線）：測定レンジ内のブロック同期の確定ブ
ロックの割合 誤り率を示す図には以下の情報が示される。
【００２８】Ｂ−Ｂ：測定レンジ内のＢＩＣから算出し
たビット誤り率（測定レンジ内のＢＩＣの総ビット数に
対するＢＩＣの総誤りビット数の比率） Ｐ−Ｂ：測定レンジ内の（２７２，１９０）符号部すな
わちパケット部から算出したビット誤り率（測定レンジ
内のパケット部の総ビット数に対するパケット部の総誤
りビット数の比率） Ｐ−Ｐ：測定レンジ内のパケット誤り率（測定レンジ内
の総パケット数に対する総誤りパケット（復号失敗パケ
ット）数の比率） ここでは、パケット誤り率は、横縦横復号後の値を示
す。
たビット誤り率（測定レンジ内のＢＩＣの総ビット数に
対するＢＩＣの総誤りビット数の比率） Ｐ−Ｂ：測定レンジ内の（２７２，１９０）符号部すな
わちパケット部から算出したビット誤り率（測定レンジ
内のパケット部の総ビット数に対するパケット部の総誤
りビット数の比率） Ｐ−Ｐ：測定レンジ内のパケット誤り率（測定レンジ内
の総パケット数に対する総誤りパケット（復号失敗パケ
ット）数の比率） ここでは、パケット誤り率は、横縦横復号後の値を示
す。
【００２９】誤り率を示す図の下には以下のパラメータ
が表示される。 Time行 左端：測定開始時刻 右端：測定終了時刻 中央：←ｘｘｘｘ：ＸＸＸＸ Blocks→ ｘｘｘｘ：測定ブロック数 ＸＸＸＸ：測定に使用したブロック数 測定開始時刻，測定終了時刻および測定に使用されたブ
ロック数によって、測定が正確に行われたかどうかが判
断できる。比較的受信状況の良好な測定において、測定
時間＝測定終了時刻−測定開始時刻と、測定に使用され
たブロック数×０．０１８秒との差が４．８９６秒（１
フレーム）以上異なる場合には、ＣＰＵ１６の処理能力
が十分でないことが考えられることから処理能力の高い
ＣＰＵ１６に変更する必要がある。
が表示される。 Time行 左端：測定開始時刻 右端：測定終了時刻 中央：←ｘｘｘｘ：ＸＸＸＸ Blocks→ ｘｘｘｘ：測定ブロック数 ＸＸＸＸ：測定に使用したブロック数 測定開始時刻，測定終了時刻および測定に使用されたブ
ロック数によって、測定が正確に行われたかどうかが判
断できる。比較的受信状況の良好な測定において、測定
時間＝測定終了時刻−測定開始時刻と、測定に使用され
たブロック数×０．０１８秒との差が４．８９６秒（１
フレーム）以上異なる場合には、ＣＰＵ１６の処理能力
が十分でないことが考えられることから処理能力の高い
ＣＰＵ１６に変更する必要がある。
【００３０】Timeの下の行 測定終了後に〔 〕内に表示される数値は、各測定デー
タの測定全体にわたる誤り率あるいは割合（％表示）を
示す。このような誤り率測定装置１０の動作を以下説明
する。まず、図１１に示すステップＳ１において測定条
件の初期設定が行われる。ステップＳ１では、図１２に
示すように処理される。
タの測定全体にわたる誤り率あるいは割合（％表示）を
示す。このような誤り率測定装置１０の動作を以下説明
する。まず、図１１に示すステップＳ１において測定条
件の初期設定が行われる。ステップＳ１では、図１２に
示すように処理される。
【００３１】すなわち、まず図１２に示すステップＳ１
ａにおいて、各種設定値が入力される。その設定値に
は、測定フレーム数，測定レンジ（何ブロック分をまと
めて１点として表示するか），表示間隔（ブロック数）
および測定データの表示モードが含まれる。測定データ
の表示モードを設定することによって、モニタ２８上に
各測定データを同時に表示したり、各測定データを個別
に表示したりできる。また、ＢＩＣ誤り許容ビット数，
ブロック同期前方保護回数，ブロック同期後方保護回
数，フレーム同期前方保護回数，フレーム同期後方保護
回数も入力され、これらの設定値はソフトウェアに与え
られる。なお、以下に述べる動作では、前提として測定
レンジと表示間隔とを等しく設定している。
ａにおいて、各種設定値が入力される。その設定値に
は、測定フレーム数，測定レンジ（何ブロック分をまと
めて１点として表示するか），表示間隔（ブロック数）
および測定データの表示モードが含まれる。測定データ
の表示モードを設定することによって、モニタ２８上に
各測定データを同時に表示したり、各測定データを個別
に表示したりできる。また、ＢＩＣ誤り許容ビット数，
ブロック同期前方保護回数，ブロック同期後方保護回
数，フレーム同期前方保護回数，フレーム同期後方保護
回数も入力され、これらの設定値はソフトウェアに与え
られる。なお、以下に述べる動作では、前提として測定
レンジと表示間隔とを等しく設定している。
【００３２】次いで、ステップＳ３ａにおいて、ソフト
ウェア変数が初期化される。すなわち、d-sf（フレーム
非同期パケット数）＝０，d-sb（ブロック非同期パケッ
ト数）＝０，d-eb（復号失敗パケット数）＝０，d-ebit
（パケット部の誤りビット数）＝０，disp-cnt（表示パ
ケットカウンタ）＝０，d-ebic（ＢＩＣ部誤りビット
数）＝０，bank-f＝bank-f′＝０，bank＝１が設定され
る。なお、bank-f＝bank-f′＝０およびbank＝１によっ
て、バンクメモリ２２ａおよび２２ｂにおいてそれぞれ
片面が選択される。
ウェア変数が初期化される。すなわち、d-sf（フレーム
非同期パケット数）＝０，d-sb（ブロック非同期パケッ
ト数）＝０，d-eb（復号失敗パケット数）＝０，d-ebit
（パケット部の誤りビット数）＝０，disp-cnt（表示パ
ケットカウンタ）＝０，d-ebic（ＢＩＣ部誤りビット
数）＝０，bank-f＝bank-f′＝０，bank＝１が設定され
る。なお、bank-f＝bank-f′＝０およびbank＝１によっ
て、バンクメモリ２２ａおよび２２ｂにおいてそれぞれ
片面が選択される。
【００３３】そして、ステップＳ５ａにおいて、ハード
ウェアがセットアップされる。すなわち、ＢＩＣ誤り許
容ビット数，ブロック同期前方保護回数，ブロック同期
後方保護回数，フレーム同期前方保護回数，フレーム同
期後方保護回数がセットされ、復号回路１４に与えられ
る。次いで、ステップＳ７ａにおいて、外部割り込み
（データの書き込み）が許可され、終了する。
ウェアがセットアップされる。すなわち、ＢＩＣ誤り許
容ビット数，ブロック同期前方保護回数，ブロック同期
後方保護回数，フレーム同期前方保護回数，フレーム同
期後方保護回数がセットされ、復号回路１４に与えられ
る。次いで、ステップＳ７ａにおいて、外部割り込み
（データの書き込み）が許可され、終了する。
【００３４】図１１へ戻って、ステップＳ３において、
復号前データおよび復号後データ等の書き込みが行われ
る。この処理は割込ルーチンであり、復号前データの割
込ルーチンを図１３に、復号後データの割込ルーチンを
図１４に示す。まず、図１３に示す復号前データの書き
込みルーチンでは、ステップＳ１ｂにおいて、復号前デ
ータおよび同期情報等がバッファメモリ２０のバンクメ
モリ２２ａに書き込まれる。次いで、ステップＳ３ｂに
おいて、フレーム同期がとれているか否かが判断され、
同期がとれていればステップＳ５ｂにおいて、フレーム
同期を示すsync-f〔bank-f〕〔pac 〕＝１が設定され
る。ここで、〔pac 〕は１フレーム内のブロック番号を
示す。一方、ステップＳ３ｂにおいてフレーム同期がと
れていなければ、ステップＳ７ｂに進む。ステップＳ７
ｂにおいて、フレーム非同期を示すsync-f〔bank-f〕
〔pac 〕＝０が設定される。ステップＳ５ｂおよびＳ７
ｂの処理後は、それぞれステップＳ９ｂに進む。
復号前データおよび復号後データ等の書き込みが行われ
る。この処理は割込ルーチンであり、復号前データの割
込ルーチンを図１３に、復号後データの割込ルーチンを
図１４に示す。まず、図１３に示す復号前データの書き
込みルーチンでは、ステップＳ１ｂにおいて、復号前デ
ータおよび同期情報等がバッファメモリ２０のバンクメ
モリ２２ａに書き込まれる。次いで、ステップＳ３ｂに
おいて、フレーム同期がとれているか否かが判断され、
同期がとれていればステップＳ５ｂにおいて、フレーム
同期を示すsync-f〔bank-f〕〔pac 〕＝１が設定され
る。ここで、〔pac 〕は１フレーム内のブロック番号を
示す。一方、ステップＳ３ｂにおいてフレーム同期がと
れていなければ、ステップＳ７ｂに進む。ステップＳ７
ｂにおいて、フレーム非同期を示すsync-f〔bank-f〕
〔pac 〕＝０が設定される。ステップＳ５ｂおよびＳ７
ｂの処理後は、それぞれステップＳ９ｂに進む。
【００３５】ステップＳ９ｂにおいて、ブロック同期が
とれているか否かが判断される。ブロック同期がとれて
いればステップＳ１１ｂにおいて、ブロック同期を示す
sync-b〔bank-f〕〔pac 〕＝１が設定される。一方、ス
テップＳ９ｂにおいてブロック同期がとれていなければ
ステップＳ１３ｂに進む。ステップＳ１３ｂにおいて、
ブロック非同期を示すsync-b〔bank-f〕〔pac 〕＝０が
設定される。ステップＳ１１ｂおよびＳ１３ｂの処理後
には、それぞれステップＳ１５ｂに進む。
とれているか否かが判断される。ブロック同期がとれて
いればステップＳ１１ｂにおいて、ブロック同期を示す
sync-b〔bank-f〕〔pac 〕＝１が設定される。一方、ス
テップＳ９ｂにおいてブロック同期がとれていなければ
ステップＳ１３ｂに進む。ステップＳ１３ｂにおいて、
ブロック非同期を示すsync-b〔bank-f〕〔pac 〕＝０が
設定される。ステップＳ１１ｂおよびＳ１３ｂの処理後
には、それぞれステップＳ１５ｂに進む。
【００３６】ステップＳ１５ｂにおいて、１フレーム分
の書き込みが完了したか否かが判断される。“ＹＥＳ”
であればステップＳ１７ｂにおいてデータを退避するバ
ンクメモリ２２ａの退避エリアが切り換えられ（bank-f
＝!bank-f ）、そして終了する。ここで、“! ”はエリ
アの切り換えを示す。また、ステップＳ１５ｂが“Ｎ
Ｏ”のときも終了する。
の書き込みが完了したか否かが判断される。“ＹＥＳ”
であればステップＳ１７ｂにおいてデータを退避するバ
ンクメモリ２２ａの退避エリアが切り換えられ（bank-f
＝!bank-f ）、そして終了する。ここで、“! ”はエリ
アの切り換えを示す。また、ステップＳ１５ｂが“Ｎ
Ｏ”のときも終了する。
【００３７】次いで、図１４を参照して、復号後データ
の書込ルーチンについて説明する。まず、ステップＳ１
ｃにおいて、復号後のデータおよび復号情報等がバンク
メモリ２２ｂに書き込まれる。そして、ステップＳ３ｃ
において、復号が成功したか否かが判断される。復号に
失敗すると、ステップＳ５ｃにおいて、 err-f〔bank-
f′〕〔pac ′〕＝０が設定される。１回目の横方向復
号が成功すればステップＳ７ｃにおいて、 err-f〔bank
-f′〕〔pac ′〕＝１が設定される。また、縦方向復号
または２回目の横方向復号が成功すればステップＳ９ｃ
において、 err-f〔bank-f′〕〔pac ′〕＝２が設定さ
れる。そして、ステップＳ５ｃないしＳ９ｃの処理後
は、それぞれステップＳ１１ｃに進む。ステップＳ１１
ｃにおいて、１フレーム分の書き込みが完了したか否か
が判断される。“ＹＥＳ”であればステップＳ１３ｃに
おいて、バンクメモリ２２ｂの退避エリアが切り換えら
れ（bank-f′＝!bank-f ′）、そして終了する。一方、
ステップＳ１１ｃが“ＮＯ”であれば終了する。
の書込ルーチンについて説明する。まず、ステップＳ１
ｃにおいて、復号後のデータおよび復号情報等がバンク
メモリ２２ｂに書き込まれる。そして、ステップＳ３ｃ
において、復号が成功したか否かが判断される。復号に
失敗すると、ステップＳ５ｃにおいて、 err-f〔bank-
f′〕〔pac ′〕＝０が設定される。１回目の横方向復
号が成功すればステップＳ７ｃにおいて、 err-f〔bank
-f′〕〔pac ′〕＝１が設定される。また、縦方向復号
または２回目の横方向復号が成功すればステップＳ９ｃ
において、 err-f〔bank-f′〕〔pac ′〕＝２が設定さ
れる。そして、ステップＳ５ｃないしＳ９ｃの処理後
は、それぞれステップＳ１１ｃに進む。ステップＳ１１
ｃにおいて、１フレーム分の書き込みが完了したか否か
が判断される。“ＹＥＳ”であればステップＳ１３ｃに
おいて、バンクメモリ２２ｂの退避エリアが切り換えら
れ（bank-f′＝!bank-f ′）、そして終了する。一方、
ステップＳ１１ｃが“ＮＯ”であれば終了する。
【００３８】図１１に戻って、次いでステップＳ５にお
いて各種測定データの計測および表示が行われる。ステ
ップＳ５のサブルーチンが図１５および図１６に示され
る。図１５および図１６を参照して、ステップＳ５の動
作を説明する。図１５に示すステップＳ１ｄにおいて、
bank-f′＝bankか否かが判断される。“ＮＯ”であれば
待機し、“ＹＥＳ”でなればステップＳ３ｄに進む。ス
テップＳ１ｄはバンクメモリ２２ｂに１フレーム分のデ
ータが書き込まれたか否かを判断する処理であり、１フ
レーム分のデータが書き込まれるまで待機し、書き込ま
れるとステップＳ３ｄに進む。
いて各種測定データの計測および表示が行われる。ステ
ップＳ５のサブルーチンが図１５および図１６に示され
る。図１５および図１６を参照して、ステップＳ５の動
作を説明する。図１５に示すステップＳ１ｄにおいて、
bank-f′＝bankか否かが判断される。“ＮＯ”であれば
待機し、“ＹＥＳ”でなればステップＳ３ｄに進む。ス
テップＳ１ｄはバンクメモリ２２ｂに１フレーム分のデ
ータが書き込まれたか否かを判断する処理であり、１フ
レーム分のデータが書き込まれるまで待機し、書き込ま
れるとステップＳ３ｄに進む。
【００３９】ステップＳ３ｄでは、１パケット内の推定
誤りビット数が設定される。この推定誤りビット数は、
図６に示す関係を考慮し、１回目の横方向復号が成功
（ err-f〔bank-f′〕〔pac ′〕＝１）したパケット数
に基づいて算出される。次いで、ステップＳ５ｄにおい
て、ｉ＝０に設定され、ステップＳ７ｄへ進む。ステッ
プＳ７ｄでは、フレーム同期がとれているか（sync-f
〔!bank-f 〕〔ｉ〕＝１か）否かが判断される。ステッ
プＳ７ｄが“ＹＥＳ”であれば、ステップＳ９ｂにおい
て、ブロック同期がとれているか（sync-b〔!bank-f 〕
〔ｉ〕＝１か）否かが判断される。ステップＳ９ｄが
“ＹＥＳ”であれば、ステップＳ１１ｄに進む。ステッ
プＳ１１ｄにおいて、ブロック位置に応じたＢＩＣパタ
ーンと受信データのＢＩＣとを比較して誤りビット数を
算出し、誤りビット数を積算する（d-ebic＝d-ebic＋誤
りビット数）。
誤りビット数が設定される。この推定誤りビット数は、
図６に示す関係を考慮し、１回目の横方向復号が成功
（ err-f〔bank-f′〕〔pac ′〕＝１）したパケット数
に基づいて算出される。次いで、ステップＳ５ｄにおい
て、ｉ＝０に設定され、ステップＳ７ｄへ進む。ステッ
プＳ７ｄでは、フレーム同期がとれているか（sync-f
〔!bank-f 〕〔ｉ〕＝１か）否かが判断される。ステッ
プＳ７ｄが“ＹＥＳ”であれば、ステップＳ９ｂにおい
て、ブロック同期がとれているか（sync-b〔!bank-f 〕
〔ｉ〕＝１か）否かが判断される。ステップＳ９ｄが
“ＹＥＳ”であれば、ステップＳ１１ｄに進む。ステッ
プＳ１１ｄにおいて、ブロック位置に応じたＢＩＣパタ
ーンと受信データのＢＩＣとを比較して誤りビット数を
算出し、誤りビット数を積算する（d-ebic＝d-ebic＋誤
りビット数）。
【００４０】ステップＳ９ｄが“ＮＯ”であれば、ステ
ップＳ１３ｄに進み、ブロック非同期パケット数を１イ
ンクリメントする（d-sb＝d-sb＋１）。次いで、ステッ
プＳ１５ｄにおいて、ＢＩＣ部の誤りビット数を８ビッ
ト分積算する（d-ebic＝d-ebic＋８）。ステップＳ１１
ｄおよびＳ１５ｄの処理後、ステップＳ１７ｄに進む。
ステップＳ１７ｄにおいて、復号に失敗したか（ err-f
〔!bank-f ′〕〔ｉ〕＝０か）否かが判断される。ステ
ップＳ１７ｄが“ＹＥＳ”であれば、ステップＳ１９ｄ
において、誤りビット数として推定誤りビット数が積算
される（d-ebit＝d-ebit＋推定誤りビット数）。ここ
で、推定誤りビット数は、１フレーム当りの１回目の横
方向復号の成功パケット数（図１３ステップＳ７ｃの e
rr-f〔bank-f′〕〔pac ′〕＝１を示す１フレーム当り
の総パケット数）を考慮して設定される。そして、ステ
ップＳ２１ｄにおいて、復号失敗パケット数が１インク
リメントされる（d-eb＝d-eb＋１）。
ップＳ１３ｄに進み、ブロック非同期パケット数を１イ
ンクリメントする（d-sb＝d-sb＋１）。次いで、ステッ
プＳ１５ｄにおいて、ＢＩＣ部の誤りビット数を８ビッ
ト分積算する（d-ebic＝d-ebic＋８）。ステップＳ１１
ｄおよびＳ１５ｄの処理後、ステップＳ１７ｄに進む。
ステップＳ１７ｄにおいて、復号に失敗したか（ err-f
〔!bank-f ′〕〔ｉ〕＝０か）否かが判断される。ステ
ップＳ１７ｄが“ＹＥＳ”であれば、ステップＳ１９ｄ
において、誤りビット数として推定誤りビット数が積算
される（d-ebit＝d-ebit＋推定誤りビット数）。ここ
で、推定誤りビット数は、１フレーム当りの１回目の横
方向復号の成功パケット数（図１３ステップＳ７ｃの e
rr-f〔bank-f′〕〔pac ′〕＝１を示す１フレーム当り
の総パケット数）を考慮して設定される。そして、ステ
ップＳ２１ｄにおいて、復号失敗パケット数が１インク
リメントされる（d-eb＝d-eb＋１）。
【００４１】一方、ステップＳ１７ｄが“ＮＯ”であれ
ば、ステップＳ２３ｄに進む。ステップＳ２３ｄにおい
て、バッファメモリ２２ａおよび２２ｂにそれぞれ退避
しておいた復号前データおよび復号後データを比較し、
誤りビット数を算出し、その誤りビット数を積算する
（d-ebit＝d-ebit＋誤りビット数）。ステップＳ７ｄに
戻って、ステップＳ７ｄが“ＮＯ”であれば、ステップ
Ｓ２５ｄに進む。ステップＳ２５ｄにおいて、フレーム
非同期パケット数が１インクリメントされる（d-sf＝d-
sf＋１）。次いで、ステップＳ２７ｄにおいて、ブロッ
ク同期がとれているか（sync-b〔!bank-f 〕〔ｉ〕＝１
か）否かが判断される。ステップＳ２７ｄが“ＮＯ”で
あれば、ステップＳ２９ｄにおいてブロック非同期パケ
ット数が１インクリメントされる（d-sb＝d-sb＋１）。
ステップＳ２７ｄが“ＹＥＳ”のときおよびステップＳ
２９ｄの処理後、ステップＳ３１ｄに進む。
ば、ステップＳ２３ｄに進む。ステップＳ２３ｄにおい
て、バッファメモリ２２ａおよび２２ｂにそれぞれ退避
しておいた復号前データおよび復号後データを比較し、
誤りビット数を算出し、その誤りビット数を積算する
（d-ebit＝d-ebit＋誤りビット数）。ステップＳ７ｄに
戻って、ステップＳ７ｄが“ＮＯ”であれば、ステップ
Ｓ２５ｄに進む。ステップＳ２５ｄにおいて、フレーム
非同期パケット数が１インクリメントされる（d-sf＝d-
sf＋１）。次いで、ステップＳ２７ｄにおいて、ブロッ
ク同期がとれているか（sync-b〔!bank-f 〕〔ｉ〕＝１
か）否かが判断される。ステップＳ２７ｄが“ＮＯ”で
あれば、ステップＳ２９ｄにおいてブロック非同期パケ
ット数が１インクリメントされる（d-sb＝d-sb＋１）。
ステップＳ２７ｄが“ＹＥＳ”のときおよびステップＳ
２９ｄの処理後、ステップＳ３１ｄに進む。
【００４２】ステップＳ３１ｄにおいて、ＢＩＣ部の誤
りビット数が“８”積算される（d-ebic＝d-ebic＋
８）。次いで、ステップＳ３３ｄにおいて、誤りビット
数が積算される。この誤りビット数としては、横方向復
号が確実に失敗するビット数たとえば“１６”程度の固
定化されたビット数が設定され、積算される（d-ebit＝
d-ebit＋横方向復号が確実に失敗するビット数）。次い
で、ステップＳ３５ｄにおいて、復号失敗パケット数を
１インクリメントする（d-eb＝d-eb＋１）。ステップＳ
２１ｄ，Ｓ２３ｄおよびＳ３５ｄの処理後は、それぞれ
図１６に示すステップＳ３７ｄにおいて、表示パケット
カウンタを１インクリメントする（disp-cnt＝disp-cnt
＋１）。
りビット数が“８”積算される（d-ebic＝d-ebic＋
８）。次いで、ステップＳ３３ｄにおいて、誤りビット
数が積算される。この誤りビット数としては、横方向復
号が確実に失敗するビット数たとえば“１６”程度の固
定化されたビット数が設定され、積算される（d-ebit＝
d-ebit＋横方向復号が確実に失敗するビット数）。次い
で、ステップＳ３５ｄにおいて、復号失敗パケット数を
１インクリメントする（d-eb＝d-eb＋１）。ステップＳ
２１ｄ，Ｓ２３ｄおよびＳ３５ｄの処理後は、それぞれ
図１６に示すステップＳ３７ｄにおいて、表示パケット
カウンタを１インクリメントする（disp-cnt＝disp-cnt
＋１）。
【００４３】次いで、ステップＳ３９ｄに進む。ステッ
プＳ３９ｄにおいて、表示パケットカウンタのカウント
値が表示間隔（パケット数）と等しいか否かが判断され
る。ステップＳ３９ｄが“ＹＥＳ”であればステップＳ
４１ｄに進み、測定レンジ分の誤りビット数等の測定値
に基づいて、ビット誤り率，パケット誤り率，ブロック
同期の割合およびパケット同期の割合などの各種測定デ
ータが計算され、モニタ２８に表示される。そして、ス
テップＳ４３ｄにおいて、各ソフトウェア変数が初期化
される。すなわち、d-sf＝０，d-sb＝０，d-eb＝０，d-
ebit＝０，d-ebic＝０，disp-cnt＝０に設定され、ステ
ップＳ４５ｄに進む。ステップＳ３９ｄが“ＮＯ”であ
れば直接ステップＳ４５ｄに進む。
プＳ３９ｄにおいて、表示パケットカウンタのカウント
値が表示間隔（パケット数）と等しいか否かが判断され
る。ステップＳ３９ｄが“ＹＥＳ”であればステップＳ
４１ｄに進み、測定レンジ分の誤りビット数等の測定値
に基づいて、ビット誤り率，パケット誤り率，ブロック
同期の割合およびパケット同期の割合などの各種測定デ
ータが計算され、モニタ２８に表示される。そして、ス
テップＳ４３ｄにおいて、各ソフトウェア変数が初期化
される。すなわち、d-sf＝０，d-sb＝０，d-eb＝０，d-
ebit＝０，d-ebic＝０，disp-cnt＝０に設定され、ステ
ップＳ４５ｄに進む。ステップＳ３９ｄが“ＮＯ”であ
れば直接ステップＳ４５ｄに進む。
【００４４】ステップＳ４５ｄにおいて、１フレーム分
の処理が終了したか（ｉ＝２７１か）否かが判断され
る。ステップＳ４５ｄが“ＮＯ”すなわちまだ１フレー
ム分の処理が終了していなければ、ステップＳ４７ｄに
おいて、ｉを１インクリメントし（ｉ＝ｉ＋１）、ステ
ップＳ７ｄに戻る。そして、ステップＳ４５ｄが“ＹＥ
Ｓ”になるまで処理を繰り返し、ステップＳ４５ｄが
“ＹＥＳ”すなわち１フレーム分の処理が終了すれば、
ステップＳ４９ｄにおいて、バンクメモリ２２ａおよび
２２ｂの他面を用いるように設定される（bank＝!bank
）。そして終了する。
の処理が終了したか（ｉ＝２７１か）否かが判断され
る。ステップＳ４５ｄが“ＮＯ”すなわちまだ１フレー
ム分の処理が終了していなければ、ステップＳ４７ｄに
おいて、ｉを１インクリメントし（ｉ＝ｉ＋１）、ステ
ップＳ７ｄに戻る。そして、ステップＳ４５ｄが“ＹＥ
Ｓ”になるまで処理を繰り返し、ステップＳ４５ｄが
“ＹＥＳ”すなわち１フレーム分の処理が終了すれば、
ステップＳ４９ｄにおいて、バンクメモリ２２ａおよび
２２ｂの他面を用いるように設定される（bank＝!bank
）。そして終了する。
【００４５】図１１に戻って、ステップＳ７において、
入力した測定フレーム数について各種データの測定が終
了したか否かが判断される。終了していなければステッ
プＳ３に戻り、終了するまで処理を繰り返す。測定が終
了すればステップＳ９に進む。ステップＳ９において、
外部割り込み（データの書き込み）が禁止され、ステッ
プＳ１１において、測定データが保存されるか否かが判
断される。“ＹＥＳ”であればステップＳ１３におい
て、表示用のＶＲＡＭ２６に格納された測定データを読
み出し、その測定データをファイル３２へ保存する。そ
してステップＳ１５に進む。ステップＳ１１が“ＮＯ”
のときは直接ステップＳ１５へ進む。
入力した測定フレーム数について各種データの測定が終
了したか否かが判断される。終了していなければステッ
プＳ３に戻り、終了するまで処理を繰り返す。測定が終
了すればステップＳ９に進む。ステップＳ９において、
外部割り込み（データの書き込み）が禁止され、ステッ
プＳ１１において、測定データが保存されるか否かが判
断される。“ＹＥＳ”であればステップＳ１３におい
て、表示用のＶＲＡＭ２６に格納された測定データを読
み出し、その測定データをファイル３２へ保存する。そ
してステップＳ１５に進む。ステップＳ１１が“ＮＯ”
のときは直接ステップＳ１５へ進む。
【００４６】ステップＳ１５において、測定データをプ
リントアウトするか否かが判断される。“ＹＥＳ”の場
合にはステップＳ１７に進む。測定データをファイル３
２に保存していないときは、ステップＳ１７において、
表示用のＶＲＡＭ２６から測定データを読み出し、モニ
タ２８に表示する。測定データをファイル３２に保存し
ているときは、ステップＳ１７において、ファイル３２
から測定データを読み出し、対応する表示用のＶＲＡＭ
２６に測定データを書き込み、そのＶＲＡＭ２６の測定
データを読み出してモニタ２８に表示する。そして終了
する。ステップＳ１５が“ＮＯ”のときも終了する。
リントアウトするか否かが判断される。“ＹＥＳ”の場
合にはステップＳ１７に進む。測定データをファイル３
２に保存していないときは、ステップＳ１７において、
表示用のＶＲＡＭ２６から測定データを読み出し、モニ
タ２８に表示する。測定データをファイル３２に保存し
ているときは、ステップＳ１７において、ファイル３２
から測定データを読み出し、対応する表示用のＶＲＡＭ
２６に測定データを書き込み、そのＶＲＡＭ２６の測定
データを読み出してモニタ２８に表示する。そして終了
する。ステップＳ１５が“ＮＯ”のときも終了する。
【００４７】この実施例によれば、各ビット誤り率をモ
ニタ２８に同時に表示することができる。さらに、ブロ
ック同期およびフレーム同期の確立状況がビット誤り率
に与える影響が大きいことを考慮し、測定データの信憑
性を明らかにするためにこれらの同期特性も同時に表示
する。また、復号を失敗したパケットのパケット誤り率
をも同時に表示することによって、ビット誤り率の信憑
性をより明らかにしている。
ニタ２８に同時に表示することができる。さらに、ブロ
ック同期およびフレーム同期の確立状況がビット誤り率
に与える影響が大きいことを考慮し、測定データの信憑
性を明らかにするためにこれらの同期特性も同時に表示
する。また、復号を失敗したパケットのパケット誤り率
をも同時に表示することによって、ビット誤り率の信憑
性をより明らかにしている。
【００４８】また、この実施例によれば、受信データの
内容が未知な場合でも誤り率を計測できる。さらに、測
定データの表示方法や保存方法を変更することができる
ので、使い易い誤り率測定装置が得られる。たとえば、
ＢＩＣ部のビット誤り率，パケット部のビット誤り率，
パケット誤り率の３つの誤り率をモニタ２８上に同時か
つリアルタイムに表示することができるので、リアルタ
イムで誤り率を退避させる必要はなく、さらに各誤り率
の値をモニタ２８上から読み取ったり、必要のない誤り
率を消すことによってモニタ２８を見易くすることがで
きる。
内容が未知な場合でも誤り率を計測できる。さらに、測
定データの表示方法や保存方法を変更することができる
ので、使い易い誤り率測定装置が得られる。たとえば、
ＢＩＣ部のビット誤り率，パケット部のビット誤り率，
パケット誤り率の３つの誤り率をモニタ２８上に同時か
つリアルタイムに表示することができるので、リアルタ
イムで誤り率を退避させる必要はなく、さらに各誤り率
の値をモニタ２８上から読み取ったり、必要のない誤り
率を消すことによってモニタ２８を見易くすることがで
きる。
【００４９】次いで、図１７に他の実施例の誤り率測定
装置１０′を示す。図１７に示す誤り率測定装置１０′
は、２つの復号回路１４ａおよび１４ｂを有し、一方の
復号回路１４ａは復号前のデータをそのまま出力し他方
の復号回路１４ｂは復号後のデータを出力するように、
セットアップされ、誤り率を測定するものである。他の
構成については図１に示す誤り率測定装置１０と同様で
あるので、同一の参照番号を付すことによって重複する
説明は省略する。
装置１０′を示す。図１７に示す誤り率測定装置１０′
は、２つの復号回路１４ａおよび１４ｂを有し、一方の
復号回路１４ａは復号前のデータをそのまま出力し他方
の復号回路１４ｂは復号後のデータを出力するように、
セットアップされ、誤り率を測定するものである。他の
構成については図１に示す誤り率測定装置１０と同様で
あるので、同一の参照番号を付すことによって重複する
説明は省略する。
【００５０】復号回路１４ｂには、復号回路１４と同
様、同期再生および誤り訂正用ＩＣとしてたとえばＬＣ
７２７００Ｅが含まれる。この復号回路１４ｂは復号後
データ等を出力するが、復号前データは出力しない。復
号回路１４ａは、たとえば図１８に示すように構成され
る。図１８に示す復号回路１４ａでは、データレジスタ
４０およびシンドロームレジスタ４２にそれぞれデータ
がロードされ、データレジスタ４０に２７２ビットのデ
ータがロードされると、データレジスタ４０の前段のス
イッチ４４が切り換えられデータレジスタ４０を巡回さ
せる。
様、同期再生および誤り訂正用ＩＣとしてたとえばＬＣ
７２７００Ｅが含まれる。この復号回路１４ｂは復号後
データ等を出力するが、復号前データは出力しない。復
号回路１４ａは、たとえば図１８に示すように構成され
る。図１８に示す復号回路１４ａでは、データレジスタ
４０およびシンドロームレジスタ４２にそれぞれデータ
がロードされ、データレジスタ４０に２７２ビットのデ
ータがロードされると、データレジスタ４０の前段のス
イッチ４４が切り換えられデータレジスタ４０を巡回さ
せる。
【００５１】一方、パリティ信号である８２ビットのう
ちの適当なビットがシンドロームレジスタ４２からシン
ドローム和算出回路４６に入力され、シンドローム和算
出回路４６で、１７個のシンドローム計算式が演算さ
れ、１７個のシンドローム値が多数決回路４８に与えら
れる。そして、多数決回路４８において、最初に閾値を
設定しておき、データレジスタ４０の先頭ビットをモジ
ュロ演算した結果に応じてデータの誤り訂正とシンドロ
ームレジスタ４２の修正とが行われる。この操作が２７
２ビット全てについて行われる。このような操作が一巡
すると、多数決回路４８での閾値を小さくして同様の処
理が繰り返される。
ちの適当なビットがシンドロームレジスタ４２からシン
ドローム和算出回路４６に入力され、シンドローム和算
出回路４６で、１７個のシンドローム計算式が演算さ
れ、１７個のシンドローム値が多数決回路４８に与えら
れる。そして、多数決回路４８において、最初に閾値を
設定しておき、データレジスタ４０の先頭ビットをモジ
ュロ演算した結果に応じてデータの誤り訂正とシンドロ
ームレジスタ４２の修正とが行われる。この操作が２７
２ビット全てについて行われる。このような操作が一巡
すると、多数決回路４８での閾値を小さくして同様の処
理が繰り返される。
【００５２】そして、セットアップ情報として誤り訂正
を指示するハイレベルの信号が端子５０から出ている場
合には、訂正終了後のシンドロームレジスタ４２からの
出力が全て０であり、かつＣＲＣ検査回路５２によって
データは正しいと判断されたときのみ、復号は成功した
と判断され、エラーフラグ回路５４から復号成功を示す
エラーフラグが出力される。
を指示するハイレベルの信号が端子５０から出ている場
合には、訂正終了後のシンドロームレジスタ４２からの
出力が全て０であり、かつＣＲＣ検査回路５２によって
データは正しいと判断されたときのみ、復号は成功した
と判断され、エラーフラグ回路５４から復号成功を示す
エラーフラグが出力される。
【００５３】また、フラグメモリ５６には、１回目の横
方向復号結果がフラグとして格納され、フラグメモリ５
８には、縦方向復号結果がフラグとして格納される。そ
して、１回目の横方向復号後の縦方向復号時に、判定対
象とされるビットに対応する横方向復号結果（フラグメ
モリ５６に格納）が、横方向復号に成功したことを示す
場合には、判定対象とされるビットに対して誤り訂正さ
れない。このとき、多数決回路４８の出力が強制的に無
効化される。
方向復号結果がフラグとして格納され、フラグメモリ５
８には、縦方向復号結果がフラグとして格納される。そ
して、１回目の横方向復号後の縦方向復号時に、判定対
象とされるビットに対応する横方向復号結果（フラグメ
モリ５６に格納）が、横方向復号に成功したことを示す
場合には、判定対象とされるビットに対して誤り訂正さ
れない。このとき、多数決回路４８の出力が強制的に無
効化される。
【００５４】また、縦方向復号時に、復号失敗パケット
数カウント回路６０でカウントした１回目の横方向復号
結果の失敗パケットの計数値が所定値より多いときに
は、さらに誤り訂正ビット数カウント回路６２で縦方向
復号時の訂正ビット数がカウントされる。この計数値が
所定値以上であれば、縦方向復号を失敗したとみなす。
さらに、縦方向復号後の２回目の横方向復号時に、多数
決回路４８での閾値が所定値以上の場合には、縦方向復
号結果（フラグメモリ５８に格納）を参照して誤り訂正
の要否が判定され、多数決回路４８での閾値がその所定
値未満となる場合には、縦方向復号結果を参照しないで
誤り訂正の要否が判定される。なお、エラーフラグ回路
５４は、誤り訂正ビット数カウント回路６２からの出力
に応じて復号の成否の条件を変化させる。
数カウント回路６０でカウントした１回目の横方向復号
結果の失敗パケットの計数値が所定値より多いときに
は、さらに誤り訂正ビット数カウント回路６２で縦方向
復号時の訂正ビット数がカウントされる。この計数値が
所定値以上であれば、縦方向復号を失敗したとみなす。
さらに、縦方向復号後の２回目の横方向復号時に、多数
決回路４８での閾値が所定値以上の場合には、縦方向復
号結果（フラグメモリ５８に格納）を参照して誤り訂正
の要否が判定され、多数決回路４８での閾値がその所定
値未満となる場合には、縦方向復号結果を参照しないで
誤り訂正の要否が判定される。なお、エラーフラグ回路
５４は、誤り訂正ビット数カウント回路６２からの出力
に応じて復号の成否の条件を変化させる。
【００５５】このような復号回路１４ａにおいて、ＣＲ
Ｃ検査回路５２とエラーフラグ回路５４との間にＯＲ回
路６４が介挿され、シンドロームレジスタ４２とエラー
フラグ回路５４との間に“０”出力回路６６およびセレ
クタ６８が介挿される。すなわち、ＯＲ回路６４に端子
５０からの出力の反転信号とＣＲＣ検査回路５２からの
出力とが与えられ、そのＯＲ出力がエラーフラグ５４に
与えられる。また、セレクタ６８にシンドロームレジス
タ４２からの出力と“０”発生回路６６からの出力とが
与えられ、端子５０からの出力に応じて選択された出力
がセレクタ６８からエラーフラグ５４に与えられる。端
子５０からの出力はＡＮＤゲート７０にも与えられる。
Ｃ検査回路５２とエラーフラグ回路５４との間にＯＲ回
路６４が介挿され、シンドロームレジスタ４２とエラー
フラグ回路５４との間に“０”出力回路６６およびセレ
クタ６８が介挿される。すなわち、ＯＲ回路６４に端子
５０からの出力の反転信号とＣＲＣ検査回路５２からの
出力とが与えられ、そのＯＲ出力がエラーフラグ５４に
与えられる。また、セレクタ６８にシンドロームレジス
タ４２からの出力と“０”発生回路６６からの出力とが
与えられ、端子５０からの出力に応じて選択された出力
がセレクタ６８からエラーフラグ５４に与えられる。端
子５０からの出力はＡＮＤゲート７０にも与えられる。
【００５６】復号回路１４ａをこのように構成すること
によって、誤り訂正をするときには端子５０からハイレ
ベルの信号が与えられ、通常の復号動作が行われる。一
方、端子７２から入力されるデータを復号することなく
そのまま端子７４から取り出すときには、端子５０から
ローレベルの信号が与えられる。すると、ＡＮＤゲート
７０の出力は常にローレベルとなり、その結果、データ
の誤り訂正およびシンドロームレジスタ４２の修正は行
われず、データは巡回するのみとなる。さらに、エラー
フラグ５４には、ＯＲ回路６４からは常にハイレベルの
信号が与えられかつセレクタ６８からは常に“０”が与
えられる。これらの信号を受け取るエラーフラグ回路５
４は、シンドロームレジスタ４２からの出力は全て０で
ありかつＣＲＣ検査回路５２からはデータは正しいこと
を示す信号が与えられたものと判断し、エラーフラグ回
路５４は復号成功を示すエラーフラグを出力する。
によって、誤り訂正をするときには端子５０からハイレ
ベルの信号が与えられ、通常の復号動作が行われる。一
方、端子７２から入力されるデータを復号することなく
そのまま端子７４から取り出すときには、端子５０から
ローレベルの信号が与えられる。すると、ＡＮＤゲート
７０の出力は常にローレベルとなり、その結果、データ
の誤り訂正およびシンドロームレジスタ４２の修正は行
われず、データは巡回するのみとなる。さらに、エラー
フラグ５４には、ＯＲ回路６４からは常にハイレベルの
信号が与えられかつセレクタ６８からは常に“０”が与
えられる。これらの信号を受け取るエラーフラグ回路５
４は、シンドロームレジスタ４２からの出力は全て０で
ありかつＣＲＣ検査回路５２からはデータは正しいこと
を示す信号が与えられたものと判断し、エラーフラグ回
路５４は復号成功を示すエラーフラグを出力する。
【００５７】したがって、端子５０からセットアップ情
報としてローレベルの信号を与えることによって、復調
器１２から端子７２を介して与えられたデータについて
復号を行うことなく端子７４を介してＣＰＵ１６に与え
ることができる。しかも、このときエラーフラグ５４は
復号に成功したと判断するので、あたかも復号が成功し
たデータを流すような形で復調器１２から与えられたデ
ータをＣＰＵ１６に送ることができる。したがって、こ
の実施例では、復号回路１４ａには端子５０からローレ
ベルの信号を与えて復号回路１４ａを動作させる。
報としてローレベルの信号を与えることによって、復調
器１２から端子７２を介して与えられたデータについて
復号を行うことなく端子７４を介してＣＰＵ１６に与え
ることができる。しかも、このときエラーフラグ５４は
復号に成功したと判断するので、あたかも復号が成功し
たデータを流すような形で復調器１２から与えられたデ
ータをＣＰＵ１６に送ることができる。したがって、こ
の実施例では、復号回路１４ａには端子５０からローレ
ベルの信号を与えて復号回路１４ａを動作させる。
【００５８】このような復号回路１４ａおよび１４ｂを
用いる誤り率訂正装置１０′では、復号回路を、復号前
データ等を出力する復号回路１４ａと復号後データ等を
出力する復号回路１４ｂとに分けて構成するので、復号
回路１４ａおよび１４ｂ自体の回路規模を抑えることが
できる。したがって、誤り率測定装置１０自体を民生用
ＬＳＩで構成することができる。
用いる誤り率訂正装置１０′では、復号回路を、復号前
データ等を出力する復号回路１４ａと復号後データ等を
出力する復号回路１４ｂとに分けて構成するので、復号
回路１４ａおよび１４ｂ自体の回路規模を抑えることが
できる。したがって、誤り率測定装置１０自体を民生用
ＬＳＩで構成することができる。
【００５９】なお、図１９に示すように、誤りビット数
と（２回目の横方向）訂正成功率との関係は、縦方向復
号時の成功パケット数によっても左右される。一点鎖線
Ｄに示す特性曲線は縦方向復号時の成功パケット数が少
ない場合であり、実線Ｅに示す特性曲線は縦方向復号時
の成功パケット数が多い場合である。したがって、１回
目の横方向復号の成功パケット数を考慮したのと同様
に、縦方向復号時の成功パケット数をも考慮して推定誤
りビット数を調整すれば、より推定精度を高めることが
できる。たとえば、図２０に示すような縦方向復号の成
功パケット数と訂正成功率５０％の誤りビット数との関
係を考慮すればよい。なお、縦方向復号時の成功パケッ
ト数が訂正成功率に及ぼす影響は、１回目の横方向復号
が数十パケット以上成功した場合に特に顕著に現れる。
と（２回目の横方向）訂正成功率との関係は、縦方向復
号時の成功パケット数によっても左右される。一点鎖線
Ｄに示す特性曲線は縦方向復号時の成功パケット数が少
ない場合であり、実線Ｅに示す特性曲線は縦方向復号時
の成功パケット数が多い場合である。したがって、１回
目の横方向復号の成功パケット数を考慮したのと同様
に、縦方向復号時の成功パケット数をも考慮して推定誤
りビット数を調整すれば、より推定精度を高めることが
できる。たとえば、図２０に示すような縦方向復号の成
功パケット数と訂正成功率５０％の誤りビット数との関
係を考慮すればよい。なお、縦方向復号時の成功パケッ
ト数が訂正成功率に及ぼす影響は、１回目の横方向復号
が数十パケット以上成功した場合に特に顕著に現れる。
【００６０】また、上述の実施例では、（２７２，１９
０）短縮化差集合巡回符号を「積符号化」した場合につ
いて述べたが、積符号化しない符号たとえば文字放送に
用いられるような符号の場合には、誤りビット数と訂正
成功率との関係は図２１に示すようになる。この場合に
は、訂正成功率５０％時の誤りビット数は“１２”程度
であるので、推定誤りビット数を“１２”以上の値たと
えば“１２”や“１３”程度に設定すればよい。
０）短縮化差集合巡回符号を「積符号化」した場合につ
いて述べたが、積符号化しない符号たとえば文字放送に
用いられるような符号の場合には、誤りビット数と訂正
成功率との関係は図２１に示すようになる。この場合に
は、訂正成功率５０％時の誤りビット数は“１２”程度
であるので、推定誤りビット数を“１２”以上の値たと
えば“１２”や“１３”程度に設定すればよい。
【００６１】さらに、上述の実施例では、（２７２，１
９０）符号の場合について述べたが、それ以外の（７，
３）符号，（２１，１１）符号，（７３，４５）符号，
（２７３，１９１）符号，および（１０５７，８１３）
符号のいずれの符号にも、さらにこれらの符号を短縮化
した符号にも、この発明を適用することができる。ま
た、この発明はパソコンを利用して構成することもでき
る。
９０）符号の場合について述べたが、それ以外の（７，
３）符号，（２１，１１）符号，（７３，４５）符号，
（２７３，１９１）符号，および（１０５７，８１３）
符号のいずれの符号にも、さらにこれらの符号を短縮化
した符号にも、この発明を適用することができる。ま
た、この発明はパソコンを利用して構成することもでき
る。
【図１】この発明の一実施例を示すブロック図である。
【図２】移動体ＦＭ多重放送のフレーム構成の一例を示
す図解図である。
す図解図である。
【図３】復号回路の主要部を示すブロック図である。
【図４】データ書き込みのタイミングを示すタイミング
図である。
図である。
【図５】データ書き込みタイミングを説明するための図
解図である。
解図である。
【図６】最初の横方向復号成功パケット数と訂正成功率
５０％の誤りビット数との関係を示すグラフである。
５０％の誤りビット数との関係を示すグラフである。
【図７】誤りビット数と訂正成功率との関係を示すグラ
フである。
フである。
【図８】（Ａ）はＢＩＣ部の誤り率の計算方法を示し、
（Ｂ）は（２７２，１９０）符号部の誤り率の計算方法
を示す図解図である。
（Ｂ）は（２７２，１９０）符号部の誤り率の計算方法
を示す図解図である。
【図９】モニタに表示される測定データの一例を示す図
解図である。
解図である。
【図１０】測定パケット数，測定レンジおよび表示タイ
ミング等を示す図解図である。
ミング等を示す図解図である。
【図１１】この実施例の動作のメインルーチンを示すフ
ロー図である。
ロー図である。
【図１２】測定条件の初期設定のサブルーチンを示すフ
ロー図である。
ロー図である。
【図１３】復号前データの書込ルーチンを示すフロー図
である。
である。
【図１４】復号後データの書込ルーチンを示すフロー図
である。
である。
【図１５】各種測定データの計測および表示のサブルー
チンを示すフロー図である。
チンを示すフロー図である。
【図１６】図１５の続きの動作を示すフロー図である。
【図１７】この発明の他の実施例を示すブロック図であ
る。
る。
【図１８】図１７実施例に用いられる復号回路の一例を
示すブロック図である。
示すブロック図である。
【図１９】誤りビット数と訂正成功率との関係が縦方向
復号成功パケット数の影響を受けることを示すグラフで
ある。
復号成功パケット数の影響を受けることを示すグラフで
ある。
【図２０】縦方向復号成功パケット数と訂正成功率５０
％の誤りビット数との関係を示すグラフである。
％の誤りビット数との関係を示すグラフである。
【図２１】（２７２，１９０）短縮化差集合巡回符号に
おける誤りビット数と訂正成功率との関係を示すグラフ
である。
おける誤りビット数と訂正成功率との関係を示すグラフ
である。
１０，１０′ …誤り率測定装置 １２ …復調器 １４，１４ａ，１４ｂ …復号回路 １６ …ＣＰＵ １８ …キーボード ２０ …バッファメモリ ２２ａ，２２ｂ …バンクメモリ ２４ …ＲＯＭ ２６ …ＶＲＡＭ ２８ …モニタ ３０ …プリンタ ３２ …ファイル
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 徳本 照昌 東京都渋谷区神南２丁目２番１号 日本 放送協会放送センター内 (72)発明者 本田 稔 東京都渋谷区神南２丁目２番１号 日本 放送協会放送センター内 (72)発明者 久保 歳弘 東京都渋谷区神南２丁目２番１号 日本 放送協会放送センター内 (56)参考文献 特開 昭63−60633（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−173426（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−53940（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−145500（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−291542（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−131636（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−198545（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−229538（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−249341（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−135234（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) H04L 1/00 H04N 7/20 H04N 7/24
Claims (14)
- 【請求項１】同期信号を含むディジタルデータの受信状
況を検出するための誤り率測定装置であって、 復号に成功したパケットについてはそのパケットの復号
前データと復号後データとを比較して誤りビット数を計
算する誤りビット数計算手段、 復号に失敗したパケットについてはその誤りビット数と
して所定の推定誤りビット数を設定する推定誤りビット
数設定手段、および前記誤りビット数計算手段での誤り
ビット数と前記推定誤りビット数設定手段での推定誤り
ビット数とに基づいてパケット部のビット誤り率を得る
第１ビット誤り率測定手段を備える、誤り率測定装置。 - 【請求項２】前記推定誤りビット数は復号成功率５０％
以下の任意の値をとる、請求項１記載の誤り率測定装
置。 - 【請求項３】１回目の横方向復号の成功パケット数を計
算する成功パケット計算手段をさらに備え、 前記成功パケット数を考慮して前記推定誤りビット数を
設定する、請求項２記載の誤り率測定装置。 - 【請求項４】フレーム同期がとれていないブロックにつ
いてはそのブロックに含まれるパケットの誤りビット数
として所定の誤りビット数を設定する、請求項１ないし
３のいずれかに記載の誤り率測定装置。 - 【請求項５】同期信号に基づいて同期信号部のビット誤
り率を測定する第２ビット誤り率測定手段をさらに備え
る、請求項１ないし４のいずれかに記載の誤り率測定装
置。 - 【請求項６】同期がとれていないブロックについてはそ
の同期信号部の誤りビット数として所定の誤りビット数
を設定する、請求項５記載の誤り率測定装置。 - 【請求項７】パケット誤り率を測定するパケット誤り率
測定手段をさらに備える、請求項６記載の誤り率測定装
置。 - 【請求項８】フレーム同期の確定ブロックの割合、およ
びブロック同期の確定ブロックの割合をそれぞれ測定す
る同期ブロック測定手段をさらに備える、請求項７記載
の誤り率測定装置。 - 【請求項９】前記各測定データは数ブロックにわたるデ
ータに基づいて測定される、請求項１ないし８のいずれ
かに記載の誤り率測定装置。 - 【請求項１０】前記各測定データを表示する表示手段を
さらに備える、請求項１ないし９のいずれかに記載の誤
り率測定装置。 - 【請求項１１】前記表示手段は前記各測定データを同時
に表示する、請求項１０記載の誤り率測定装置。 - 【請求項１２】前記表示手段は前記各測定データを個別
に表示する、請求項１０記載の誤り率測定装置。 - 【請求項１３】前記各測定データをプリントアウトする
出力手段をさらに備える、請求項１ないし１２のいずれ
かに記載の誤り率測定装置。 - 【請求項１４】前記各測定データを格納する記憶手段を
さらに備え、必要に応じて前記測定データを前記出力手
段からプリントアウトする、請求項１３記載の誤り率測
定装置。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27333194A JP3090856B2 (ja) | 1994-11-08 | 1994-11-08 | 誤り率測定装置 |
| SE9503874A SE515390C2 (sv) | 1994-11-08 | 1995-11-02 | Anordning för felkvotsmätning |
| US08/554,790 US5652760A (en) | 1994-11-08 | 1995-11-07 | Error rate measuring apparatus |
| NO19954473A NO317052B1 (no) | 1994-11-08 | 1995-11-07 | Maleapparat for feilrate |
| FR9513205A FR2726715B1 (fr) | 1994-11-08 | 1995-11-08 | Appareil de mesure de taux d'erreur |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27333194A JP3090856B2 (ja) | 1994-11-08 | 1994-11-08 | 誤り率測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08139703A JPH08139703A (ja) | 1996-05-31 |
| JP3090856B2 true JP3090856B2 (ja) | 2000-09-25 |
Family
ID=17526402
Family Applications (1)
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