JP3082900B2 - Icテスタ - Google Patents
IcテスタInfo
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- JP3082900B2 JP3082900B2 JP07287276A JP28727695A JP3082900B2 JP 3082900 B2 JP3082900 B2 JP 3082900B2 JP 07287276 A JP07287276 A JP 07287276A JP 28727695 A JP28727695 A JP 28727695A JP 3082900 B2 JP3082900 B2 JP 3082900B2
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Description
C,LSIなど)に被変調信号を与えて試験を行うIC
テスタに関し、自由度が高く、回路規模が小さく、テス
ト時間が短いICテスタに関するものである。
C,LSIなど)に被変調信号を与える場合、予めメモ
リに被試験対象に与える被変調信号のデータを記憶さ
せ、このメモリからデータを取り出して、D/A変換器
でアナログ信号に変換して被試験対象に信号を与えてい
た。
点があった。 被試験対象の試験には複数の試験信号を必要とするの
で、被試験対象に与える試験信号ごとにメモリが必要に
なる。 被変調信号は搬送波の周波数に合わせてデータを記憶
しなければならないので、大容量のメモリが必要にな
る。
験信号を出力するため、メモリに長大なデータを書き込
む時間が必要になり、テスト時間が長くなってしまう。 例えば、被試験対象がFM復調器の場合、変調信号が
同一であるFM変調の被変調波とAM変調の被変調波を
入力して試験が行われるので、変調信号が同一でも、そ
れぞれメモリに記憶しなければならなかった。
度が高く、回路規模が小さく、テスト時間が短いICテ
スタを実現することにある。
被変調信号を与えて試験を行うICテスタにおいて、キ
ャリアの周波数を規定する周波数データと周波数変調す
る周波数変調データとを加算する第1の加算器と、この
第1の加算器からのデータを入力し、このデータを累積
加算し、正弦波の位相データを出力する位相アキュムレ
ータと、この位相アキュムレータからの位相データと位
相変調する位相変調データとを加算する第2の加算器
と、この第2の加算器が加算したデータをアドレスとし
て、格納されている正弦波の振幅データを出力する正弦
波テーブルメモリと、この正弦波テーブルメモリからの
振幅データと振幅変調する振幅変調データとを乗算する
乗算器と、この乗算器からのデータをアナログ信号に変
換し、前記被試験対象に与えるD/A変換器と、2つの
変調データを入力し、2つの変調データと”0”とを切
り換えて、前記第1の加算器の周波数変調データ、前記
第2の加算器の位相変調データ、前記乗算器の振幅変調
データとして与える切換部とを有することを特徴とする
ものである。
データと”0”とを切り換えて、第1の加算器の周波数
変調データ、前記第2の加算器の位相変調データ、前記
乗算器の振幅変調データとして与える。第1の加算器
は、周波数変調データと周波数データとを加算すること
により、周波数変調が行われる。第2の加算器は、位相
変調データと位相アキュムレータからのデータとを加算
することにより、位相変調が行われる。そして、乗算器
は、振幅変調データと正弦波テーブルメモリからの振幅
データとを乗算することにより、振幅変調が行われる。
る。図1は本発明の一実施例を示した構成図である。図
において、1は第1の加算器で、レジスタ10に格納さ
れているキャリア周波数を決めるための周波数データと
周波数変調する周波数変調データとを加算する。
のデータを入力し、位相データを出力する。位相アキュ
ムレータ2は加算器21とレジスタ22とにより構成さ
れ、加算器1からのデータを累積加算し、正弦波の位相
データを出力する。3は第2の加算器で、位相アキュム
レータ2からの位相データと位相変調する位相変調デー
タとを加算する。
加算したデータをアドレスとして、格納されている正弦
波の振幅データを出力する。5は加算器で、振幅変調す
る振幅変調データとレジスタ50に格納されているキャ
リアレベルデータとを加算する。キャリアレベルデータ
は、キャリアのレベルを決めるデータである。6は乗算
器で、正弦波テーブルメモリ4からの振幅データと加算
器5からのデータとを乗算する。
データとを制御部(図示せず)の制御信号により切り換
えて、加算器1,3,5に与える。そして、切換部7は
セレクタ71〜73で構成される。セレクタ71は、変
調データa,b,“0”データを制御部の制御信号によ
り選択して加算器1に変調データとして入力する。同様
に、セレクタ72は、変調データa,b,“0”データ
を制御部の制御信号により選択して加算器3に変調デー
タとして入力する。セレクタ73は、変調データa,
b,“0”データを制御部の制御信号により選択して加
算器5に変調データとして入力する。
タをアナログ信号に変換し、被試験対象(以下DUTと
略す)9に与える。ここで、切換部7に与えられる変調
データa.bは一般にメモリから順次出力されるデータ
であるが、ダイレクトデジタルシンセサイザから出力さ
れるデジタルデータの場合もある。
(周波数変調)復調器のときと、AM(振幅変調)復調
器のときと、QAM(直交振幅変調)復調器のときとに
ついて以下で説明する。DUT9がFM復調器のと
き。制御部からの制御信号により、セレクタ71は変調
データaを選択し、周波数変調データとして、加算器1
に与え、セレクタ72は“0”データを選択し、位相デ
ータとして、加算器3に与え、セレクタ73は“0”デ
ータを選択し、振幅変調データとして、加算器5に与え
る。
ジスタ10の周波数データとを加算し位相アキュムレー
タ2に与える。位相アキュムレータ2は、入力したデー
タの累積加算を行い、加算器3に正弦波の位相データを
出力する。この結果、位相アキュムレータ2が出力する
位相データは、変調データaによって周波数変調を受け
る。加算器3は、セレクタ72からのデータが“0”で
あるので、位相アキュムレータ2からの位相データを出
力する。つまり、位相変調は行なわれない。正弦波テー
ブルメモリ4は、加算器4からのデータをアドレスとし
て、正弦波の振幅データを出力する。つまり、正弦波テ
ーブルメモリ4の出力は、変調データaにより、周波数
が変化した正弦波信号を出力する。加算器5は、セレク
タ73からのデータが“0”であるので、レジスタ50
のキャリアレベルデータを出力する。そして、乗算器6
は正弦波テーブルメモリ4からの振幅データと加算器5
からのキャリアレベルデータとを乗算し、D/A変換器
8に与える。これにより、キャリアレベル分、出力する
信号のレベルが上がる。D/A変換器8は、乗算器6か
らのデータをアナログ信号に変換し、DUT9に与え
る。
した信号を出力する。この復調された信号をICテスタ
はA/D変換器(図示せず)を介して入力し、変調デー
タaと一致しているか否かを比較し、DUT9の試験を
行う。一致した場合は、DUT9は良品と判断し、一致
しなかった場合は不良品と判断する。
らの制御信号により、セレクタ71は“0”データを選
択し、周波数変調データとして、加算器1に与え、セレ
クタ72は“0”データを選択し、位相変調データとし
て、加算器3に与え、セレクタ73は変調データaを選
択し、振幅変調データとして、加算器5に与える。
のデータが“0”であるので、レジスタ10の周波数デ
ータを位相アキュムレータ2に与える。つまり、周波数
変調は行なわれない。位相アキュムレータ2は、入力し
たデータの累積加算を行い、加算器3に正弦波の位相デ
ータを出力する。加算器3は、セレクタ72からのデー
タが“0”であるので、位相アキュムレータ2からの位
相データを出力する。つまり、位相変調は行なわれな
い。正弦波テーブルメモリ4は、加算器4からのデータ
をアドレスとして、正弦波の振幅データを出力する。つ
まり、周波数データで決まる一定周波数の正弦波を出力
する。加算器5は、変調データaとレジスタ50のキャ
リアレベルデータとを加算し出力する。そして、乗算器
6は正弦波テーブルメモリ4からの振幅データと加算器
5からのデータとを乗算し、D/A変換器8に与える。
ここで、一定周波数の正弦波と振幅変調する変調データ
aとを乗算したので、変調データaで、正弦波はAM変
調される。D/A変換器は、乗算器6からのデータをア
ナログ信号に変換し、DUT9に与える。
した信号を出力する。この復調された信号をICテスタ
はA/D変換器を介して入力し、変調データaと一致し
ているか否かを比較し、DUT9の試験を行う。一致し
た場合は、DUT9は不良品と判断し、一致しなかった
場合は良品と判断する。
ータa,bにそれぞれ位相変調成分、振幅変調成分を割
り当てる。制御部からの制御信号により、セレクタ71
は“0”データを選択し、周波数変調データとして、加
算器1に与え、セレクタ72は変調データaを選択し、
位相変調データとして、加算器3に与え、セレクタ73
は変調データbを選択し、振幅変調データとして、加算
器5に与える。
らのデータが“0”であるので、レジスタ10の周波数
データを位相アキュムレータ2に与える。つまり、周波
数変調は行なわれない。位相アキュムレータ2は、入力
したデータの累積加算を行い、加算器3に正弦波の位相
データを出力する。加算器3は、変調データaと位相ア
キュムレータ2の位相データとを加算し出力する。この
結果、位相アキュムレータ2が出力する位相データは、
変調データaによって位相変調を受ける。正弦波テーブ
ルメモリ4は、加算器4からのデータをアドレスとし
て、正弦波の振幅データを出力する。つまり、正弦波テ
ーブルメモリ4の出力は、変調データaにより、位相変
調された信号を出力する。加算器5は、変調データbと
レジスタ50のキャリアレベルデータとを加算し、出力
する。そして、乗算器6は正弦波テーブルメモリ4から
の振幅データと加算器5からのデータとを乗算し、D/
A変換器8に与える。すなわち、キャリアレベルデータ
が加算された変調データbで、正弦波テーブルメモリ4
から出力される振幅データを振幅変調する。D/A変換
器は、乗算器6からのデータをアナログ信号に変換し、
DUT9に与える。
した信号を出力する。この復調された信号をICテスタ
はA/D変換器を介して入力し、変調データa,bと一
致しているか否かを比較し、DUT9の試験を行う。一
致した場合は、DUT9は良品と判断し、一致しなかっ
た場合は不良品と判断する。
切り換えて、各種の変調を行うことができるので、自由
度が大きい。また、同一の変調データを異なる変調に使
用することができるので、変調ごとの被変調信号(試験
信号)をメモリに記憶させる必要がないため、回路規模
を小さくすることができる。同様にメモリに搬送波の周
波数で被変調データをメモリに記憶しなくてもよいの
で、回路規模が小さくできる。そして、長大な被変調信
号をメモリに書き込まなくて良いので、テスト時間を短
縮することができる。
て、D/A変換器8とDUT9との間にローパスフィル
タを設けていないが、実際の構成においては必要であ
る。また、切換部7が変調データa,b,“0”データ
の切り換えの例を示したが、これに限定されるものでは
なく、1つの変調データと“0”データとを切り換える
構成でもよい。そして、実施例では、加算器5によりキ
ャリアレベルを変える構成を示したが、本発明はこれに
限定するものではなく、D/A変換器8の出力にアナロ
グ的にキャリアレベルを加える構成でもよい。
る。変調データを切り換えて、各種の変調を行うことが
できるので、自由度が大きい。また、同一の変調データ
を異なる変調に使用することができるので、変調ごとの
被変調信号(試験信号)をメモリに記憶させる必要がな
いため、回路規模を小さくすることができる。同様にメ
モリに搬送波の周波数で被変調データをメモリに記憶し
なくてもよいので、回路規模が小さくできる。そして、
長大な被変調信号をメモリに書き込まなくて良いので、
テスト時間を短縮することができる。
Claims (1)
- 【請求項1】 被試験対象に被変調信号を与えて試験を
行うICテスタにおいて、 キャリアの周波数を規定する周波数データと周波数変調
する周波数変調データとを加算する第1の加算器と、 この第1の加算器からのデータを入力し、このデータを
累積加算し、正弦波の位相データを出力する位相アキュ
ムレータと、 この位相アキュムレータからの位相データと位相変調す
る位相変調データとを加算する第2の加算器と、 この第2の加算器が加算したデータをアドレスとして、
格納されている正弦波の振幅データを出力する正弦波テ
ーブルメモリと、 この正弦波テーブルメモリからの振幅データと振幅変調
する振幅変調データとを乗算する乗算器と、 この乗算器からのデータをアナログ信号に変換し、前記
被試験対象に与えるD/A変換器と、2つの変調データを入力し、2つの変調データと”0”
とを切り換えて、前記第1の加算器の周波数変調デー
タ、前記第2の加算器の位相変調データ、前記乗算器の
振幅変調データとして与える切換部と を有することを特
徴とするICテスタ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP07287276A JP3082900B2 (ja) | 1995-11-06 | 1995-11-06 | Icテスタ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP07287276A JP3082900B2 (ja) | 1995-11-06 | 1995-11-06 | Icテスタ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09127196A JPH09127196A (ja) | 1997-05-16 |
JP3082900B2 true JP3082900B2 (ja) | 2000-08-28 |
Family
ID=17715313
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP07287276A Expired - Fee Related JP3082900B2 (ja) | 1995-11-06 | 1995-11-06 | Icテスタ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3082900B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4593534B2 (ja) * | 2005-08-11 | 2010-12-08 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置及び無線通信システム |
CN101278534B (zh) | 2005-08-11 | 2011-06-08 | 株式会社半导体能源研究所 | 半导体器件和无线通信系统 |
US7900098B2 (en) * | 2008-04-01 | 2011-03-01 | Intel Corporation | Receiver for recovering and retiming electromagnetically coupled data |
JP2012060600A (ja) * | 2010-09-13 | 2012-03-22 | Sumitomo Electric Ind Ltd | ダイレクトデジタルシンセサイザ、光変調装置、光反射測定装置および光通信システム |
-
1995
- 1995-11-06 JP JP07287276A patent/JP3082900B2/ja not_active Expired - Fee Related
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---|---|
JPH09127196A (ja) | 1997-05-16 |
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