JP3077594B2 - 半導体装置用プロ−ブカ−ド - Google Patents

半導体装置用プロ−ブカ−ド

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JP3077594B2 JP08194543A JP19454396A JP3077594B2 JP 3077594 B2 JP3077594 B2 JP 3077594B2 JP 08194543 A JP08194543 A JP 08194543A JP 19454396 A JP19454396 A JP 19454396A JP 3077594 B2 JP3077594 B2 JP 3077594B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体装置用プロ
−ブカ−ドに関し、特に、コンタクトパッドが千鳥状に
配列された半導体装置のウエハ検査に用いるプロ−ブカ
−ドに関する。
【0002】
【従来の技術】従来のプロ−ブカ−ドについて、図5〜
図8を参照して説明する。なお、図5は、従来のプロ−
ブカ−ドを説明する図であって、通常のパッドレイアウ
ト時の平面図であり、図6は図5の要部断面図である。
また、図7は、同じく従来のプロ−ブカ−ドを説明する
図であって、千鳥状のパレットレイアウト時の平面図で
あり、図8は図7の要部断面図である。
【0003】従来のプロ−ブカ−ドは、図5,図6に示
すように、プロ−ブカ−ド基板50の開口部51の縁部52近
傍にプロ−ブ53の基板取付け位置(針元54)を配列したも
のである。そして、ペレット55上の開口部51は、ほぼペ
レット55と類似の形状に作られており、したがって、開
口部51の縁部52も、ペレット55と類似の形状であって直
線状に構成されている。また、プロ−ブ53の針元54も、
若干の弧を描くことはあるが、ほぼ直線的に配列されて
いる。なお、図5および図6中の56はコンタクトパッド
であり、このコンタクトパッド56は、ペレット55上に同
一列に配列した“通常のパッドレイアウト”の例であ
る。
【0004】ところで、従来のプロ−ブカ−ドでは、ペ
レット55上のコンタクトパッド56が同一列上になく、千
鳥状にレイアウトされていると、図7,図8に示すよう
になり、ペレット55の内側のコンタクトパッド(内側パ
ッド56a)と外側のコンタクトパッド(外側パッド56b)
でプロ−ブの長さが異なっていた。
【0005】即ち、図7,図8に示す“千鳥状のパレッ
トレイアウト”の場合、従来のプロ−ブカ−ドでは、内
側パッド56aに接触しているプロ−ブ53aと外側パッド
56bに接触しているプロ−ブ53bとでは、プロ−ブ53a
の長さ(A1)がプロ−ブ53bの長さ(B1)より長くなる
(A1>B1)。これをプロ−ブとコンタトパッドとの接触
角について更に説明すると、プロ−ブ53aと内側パッド
56aとの接触角(α1)は、プロ−ブ53bと外側パッド56
bとの接触角(β1)より小さくなる(α1<β1)。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来の前記
したプロ−ブカ−ドを用いて、コンタトパッドが千鳥状
にレイアウト(配列)されているペレットを測定しようと
すると、接触不良により、うまく測定できないことが多
かった。
【0007】その理由は、コンタトパッドが千鳥状に配
列されているペレットに対し、前記したように、プロ−
ブの長さ(A1,B1)及びプロ−ブとコンタクトパッドと
の接触角(α1,β1)が、ペレット55の内側パッド56aと
外側パッド56bとで異なっているためであり(前掲の図
8参照)、プロ−ブの圧力がパッド毎に均一にならず、
接触不良が生じるからであった。
【0008】プロ−ブカ−ドの接触不良により正確に測
定することができない場合には、良品のペレットに対し
てもこれを不良品としたり、あるいは、再度ウエハ検査
をやり直さなければならなかったりし、非常に生産性が
悪くなる。本発明は、この点の改善を目的とするもので
あって、“プロ−ブカ−ドのペレット(コンタクトパッ
ドが千鳥状に配列されているペレット)に対する接触不
良の解消”を技術課題とする半導体装置用プロ−ブカ−
ドを提供するものである。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明に係るプロ−ブカ
−ドは、前記した目的を達成する手段として、千鳥状に
レイアウト(配列)されているコンタクトパッドに対応さ
せて、プロ−ブカ−ドの基板取付け位置(針元)をプロー
ブカード面内または水平面内で千鳥状に配列したことを
特徴とし(請求項1)、これにより、プロ−ブの長さ及び
プロ−ブとコンタクトパッドの接触角が内側のパッドと
外側のパッドで同じになる様にしている。
【0010】このように、千鳥状に配列されているコン
タクトパッドに対して、内側のパッドと外側のパッドで
プロ−ブの長さと接触角が同じになっているため、プロ
−ブの圧力がどのパッドでも均一になり、従来のプロ−
ブカ−ドでみられる“接触不良”が生じない。
【0011】
【発明の実施の形態】本発明に係るプロ−ブカ−ドの好
ましい実施の形態としては、 ・プロ−ブの基板取付け位置(針元)を被測定半導体装置
の千鳥状コンタクトパッドに対応可能にするために、基
板開口部の縁部に凸部を配設すること(請求項2)、また
は、 ・基板開口部の縁部を、上記のように凹凸状としない
で、従来のプロ−ブカ−ドと同様、直線状とするが、該
縁部近傍のプロ−ブの基板取付け位置(針元)を、被測定
半導体装置の千鳥状コンタクトパッドに対応するように
ずらして配列すること(請求項3)、であり、これによっ
て、プロ−ブの長さ及びプロ−ブとコンタクトパッドの
接触角が内側のパッドと外側のパッドで差がないように
することができる。
【0012】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て詳細に説明する。
【0013】(実施例1)図1は、本発明に係るプロ−
ブカ−ドの一実施例(実施例1)を説明する図であって、
その平面図であり、図2は図1の要部断面図である。
【0014】本実施例1のプロ−ブカ−ドでは、図1,
図2に示すように、プロ−ブカ−ド基板10にプロ−ブ13
が針元14で接続している。一方、半導体装置のペレット
15のコンタクトパッド16は、千鳥状に配列されている。
プロ−ブカ−ドの針元14に、コンタクトパッド16(内側
パッド16a,外側パッド16b)の千鳥状パッドレイアウ
トに合わせて、凸部14aを設ける。
【0015】内側パッド16aに接触するプロ−ブ13a
は、上記凸部14aに接続させる。これにより、内側パッ
ド16aに接触する内側プロ−ブ13aと外側パッド16bに
接触する外側プロ−ブ13bとでは、プロ−ブの長さ
(A,B)が等しくなり、プロ−ブの接触角(α,β)も等
しくなる(A=B,α=β)。なお、図1および図2中の
11はプロ−ブカ−ドの基板開口部,12は基板開口部11の
縁部,17半導体ウエハである。
【0016】(実施例2)図3は、本発明に係るプロ−
ブカ−ドの他の実施例(実施例2)を説明する図であっ
て、その平面図であり、図4は図3の要部断面図であ
る。
【0017】このプロ−ブカ−ドでは、針元34に実施例
1の様な凸部を設けず、針元34の位置をコンタクトパッ
ド36(内側パッド36a,外側パッド36b)の千鳥レイアウ
トに合わせてずらしてある。本実施例2でも、プロ−ブ
33の内側のプロ−ブ33aと外側のプロ−ブ33bでは、長
さ(A,B),接触角(α,β)ともに等しくなっている
(A=B,α=β)。
【0018】この実施例2では、プロ−ブカ−ドのペレ
ット35上の基板開口部31を単純な形状にできるので、プ
ロ−ブカ−ドの製造が容易になる利点がある。なお、図
3および図4中の30はプロ−ブカ−ド基板,32は基板開
口部31の縁部,37半導体ウエハである。
【0019】
【発明の効果】本発明は、以上詳記したとおり、コンタ
クトパッドが千鳥状に配列されている半導体装置の該千
鳥状パッドレイアウトに対応して、プロ−ブの基板取付
け位置をプローブカード面内でまたは水平面内で千鳥状
に配列したことを特徴とし、これにより、千鳥状パッド
レイアウトの内側のパッドと外側のパッドに対する“プ
ロ−ブの長さ”“接触角”を等しくすることができ、そ
の結果、千鳥状パッドレイアウトの半導体装置に対して
も、接触不良が解消できるという効果が生じる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るプロ−ブカ−ドの一実施例(実施
例1)を説明する図であって、その平面図である。
【図2】図1の要部断面図である。
【図3】本発明に係るプロ−ブカ−ドの他の実施例(実
施例2)を説明する図であって、その平面図である。
【図4】図3の要部断面図である。
【図5】従来のプロ−ブカ−ドを説明する図であって、
通常のパッドレイアウト時の平面図である。
【図6】図5の要部断面図である。
【図7】従来のプロ−ブカ−ドを説明する図であって、
千鳥状のパッドレイアウト時の平面図である。
【図8】図7の要部断面図である。
【符号の説明】
10,30,50 プロ−ブカ−ド基板 11,31,51 基板開口部 12,32,52 縁部 13,33,53 プロ−ブ 13a,33a,53a 内側プロ−ブ 13b,33b,53b 外側プロ−ブ 14,34,54 針元 14a 凸部 15,35,55 ペレット 16,36,56 コンタクトパッド 16a,36a,56a 内側パッド 16b,36b,56b 外側パッド 17,37,57 半導体ウエハ A,B,A1,B1 プロ−ブの長さ α,β,α1,β1 プロ−ブとコンタトパッドの接触角

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 コンタクトパッドが千鳥状に配列された
    半導体装置用のプロ−ブカ−ドであって、該プロ−ブカ
    −ドの基板開口部の縁部近傍にプロ−ブの基板取付け位
    置を配列したプロ−ブカ−ドにおいて、前記プロ−ブの
    基板取付け位置を、被測定半導体装置の前記コンタクト
    パッドに対応してプローブカード面内または水平面内で
    千鳥状に配列したことを特徴とする半導体装置用プロ−
    ブカ−ド。
  2. 【請求項2】 前記プロ−ブの基板取付け位置を被測定
    半導体装置の千鳥状コンタクトパッドに対応可能にする
    ために、前記基板開口部の縁部に凸部を配設したことを
    特徴とする請求項1に記載の半導体装置用プロ−ブカ−
    ド。
  3. 【請求項3】 前記基板開口部の縁部を直線状に構成
    し、該縁部近傍のプロ−ブの基板取付け位置を、被測定
    半導体装置の千鳥状コンタクトパッドに対応するように
    配列したことを特徴とする請求項1に記載の半導体装置
    用プロ−ブカ−ド。
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