JP3068985B2 - 半導体リレー - Google Patents

半導体リレー

Info

Publication number
JP3068985B2
JP3068985B2 JP5188461A JP18846193A JP3068985B2 JP 3068985 B2 JP3068985 B2 JP 3068985B2 JP 5188461 A JP5188461 A JP 5188461A JP 18846193 A JP18846193 A JP 18846193A JP 3068985 B2 JP3068985 B2 JP 3068985B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor relay
mosfet
semiconductor
resistance
output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP5188461A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0746109A (ja
Inventor
仙也 奥村
吉昭 相沢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP5188461A priority Critical patent/JP3068985B2/ja
Priority to US08/279,892 priority patent/US5559466A/en
Priority to DE69428314T priority patent/DE69428314T2/de
Priority to KR1019940018423A priority patent/KR0141890B1/ko
Priority to EP94111800A priority patent/EP0637136B1/en
Priority to CN94108539A priority patent/CN1111855A/zh
Publication of JPH0746109A publication Critical patent/JPH0746109A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3068985B2 publication Critical patent/JP3068985B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/15Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/51Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used
    • H03K17/78Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used using opto-electronic devices, i.e. light-emitting and photoelectric devices electrically- or optically-coupled
    • H03K17/785Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used using opto-electronic devices, i.e. light-emitting and photoelectric devices electrically- or optically-coupled controlling field-effect transistor switches
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/51Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used
    • H03K17/56Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices
    • H03K17/687Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices the devices being field-effect transistors
    • H03K17/6871Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices the devices being field-effect transistors the output circuit comprising more than one controlled field-effect transistor
    • H03K17/6874Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices the devices being field-effect transistors the output circuit comprising more than one controlled field-effect transistor in a symmetrical configuration

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体リレーに関するも
ので、特に高周波信号を伝達する応用に使用されるもの
である。
【0002】
【従来の技術】図9に、半導体リレーの従来技術の一例
を示す。この半導体リレーは、LED101からなる一
次側と、このLED101から光を受けるフォトダイオ
ードアレイ102、抵抗103および抵抗103に並列
に接続されたダイオードアレイ104、Nチャネル型の
J−FET105と、逆直列に接続された一対のMOS
FET106からなる二次側とからなっている。ここ
で、ダイオードアレイ104と、Nチャネル型J−FE
T105は、MOSFET106のゲートに蓄積された
電荷を放電させる為の放電回路を形成する。
【0003】LED101が通電していない状態では、
フォトダイオードアレイ102には電圧は生じず、J−
FET105はONする。すると、Nチャネル型MOS
FET106の基板とゲートは短絡し、MOSFET1
06は共にOFFする。
【0004】一方、LED101を通電し、フォトダイ
オードアレイ102に光を照射すると、フォトダイオー
ドアレイ2に順方向の起電力が生じ、JFET105が
OFFすると共にMOSFET106のゲートに正の電
圧が加わる。その結果MOSFET106はONし、出
力端子108間が接続される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】この半導体リレーはO
FFの状態では、MOSFET106の端子108間は
分離されているが、一定の容量が存在するので、高周波
ではインピーダンスの低下により完全なOFFとはなら
ない。インピーダンスは次の式で表される。
【0006】 Z=1/2πCf …(1) ここで、Cは端子間容量、fは入力信号の周波数であ
る。
【0007】例えば、C=100pF,f=10MHz
の場合、インピーダンスは159Ωとなる。これはOF
Fというにはあまりに小さい値である。十分に高いイン
ピーダンスとするには、Cは1pF程度まで小さくする
必要がある。この場合、インピーダンスは1.59KΩ
である。
【0008】図10に示す様に、出力端子間の容量は、
パッケージの端子間容量CpinとMOSFET106
のジャンクション容量Cjunctionとからなる。一般的に
端子間容量Cpinは1pF以下であるのに対して、M
OSFET106のジャンクション容量Cjunctionは数
十から数百pFであり、従って、出力端子容量のほとん
どはジャンクション容量Cjunctionによるものである。
【0009】ジャンクション容量CjunctionはMOSF
ET106の空乏層によるもので、次の式で表される。
【0010】 Cjunction=εa/l …(2) ここで、εは半導体の誘電率、aはジャンクションの面
積、lは空乏層の幅である。Cjunctionを小さくするに
は、空乏層の幅1を狭くし、ジャンクションの面積を小
さくすることが必要である。しかし、このどちらもMO
SFETのON抵抗を大きくすることが、次のON抵抗
Ronを表す式から分かる。
【0011】 Ron=ρl/a …(3) ここでρは抵抗率である。
【0012】一方、耐圧は空乏層の幅によって決定す
る。従って、半導体の種類を変えない限り、抵抗の値を
決めるのはジャンクションの面積である。図11は出力
端子容量及びON抵抗とチップサイズとの相関を示すグ
ラフである。上記説明から予測される様に、ON抵抗は
チップサイズが小さくなるに従い大きくなり、一方出力
端子容量はチップサイズが大きくなるに従い増大するこ
とがこの図から分かる。一般的に、半導体リレーの性能
の指標として出力端子容量xON抵抗が用いられる。
【0013】図12は出力端子容量とON抵抗の積とチ
ップサイズとの相関を示すグラフである。このグラフか
ら分かる様に、ジャンクションの面積を調整しても、全
体的な性能を向上させることはできなかった。尚、ここ
でチップサイズとジャンクションの面積はほぼ比例す
る。この様に、ON抵抗を下げることとOFF抵抗を大
きくするという半導体リレーに対する基本的な要求は、
技術的には互いに相反するものとなってしまっている。
【0014】本発明は、上述の様な従来の問題点を解決
するためになされたもので、その目的は、ON抵抗の増
大なしに、簡単な構成で端子間容量を低減することがで
きる半導体リレーを提供することである。
【0015】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明による半導体リレーは、逆直列に接続された
2つのMOSFET2組が直列に接続され、これら2組
のMOSFETを同時にON/OFFさせる手段と、前
記MOSFETの接続中点と接地点との間に設けられた
スイッチとを備えたことを特徴とする。即ち、図1に示
した様に、MOSFET106の中点にスイッチ8を設
けて、不必要な電荷を放出する径路を形成したものであ
る。
【0016】
【作用】前記MOSFETの接続中点と接地点との間に
設けられたスイッチは、半導体リレーがOFFのとき
に、出力端子に蓄積される電荷を放出し出力容量を減少
させる。これにより、ON抵抗を押さえたままOFF抵
抗を大きくすることが可能となる。
【0017】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例につい
て説明する。
【0018】図2に、本発明による半導体リレーの第1
実施例を示す。
【0019】この半導体リレーは、LED1からなる一
次側と、このLED1から光を受けるフォトダイオード
アレイ2、抵抗3および抵抗3に並列に接続されたダイ
オードアレイ4、Nチャネル型のJ−FET5と、逆直
列に接続された一対のNチャネル型MOSFET6から
なる出力用半導体リレーが二次側を構成している。これ
らMOSFET6はエンハンスメント型である。ダイオ
ードアレイ4と、Nチャネル型J−FET5は、MOS
FET6のゲートに蓄積された電荷を放電させる為の放
電回路を形成する。ここで、二次側は出力端子7間に直
列に設けられている。即ち、4つのMOSFET6が出
力端子7間に直列に2組設けられている。
【0020】本発明の特徴は、これら2つの出力用半導
体リレーの中点に接地用半導体リレー8を設けた点にあ
る。即ち出力用半導体リレーと同じ構成を有する半導体
リレー8が、これら2つの出力用半導体リレーの中点と
グランドの間に設けられている。但し、接地用半導体リ
レー8のLED1aはLED1とは別に設けられ、出力
用半導体リレーとは独立にON/OFF可能となってい
る。
【0021】LED1が通電していない状態では、フォ
トダイオードアレイ2には電圧は生じずJ−FET5は
ONする。すると、Nチャネル型MOSFET6の基板
とゲートは短絡し、共にOFFする。一方、LED1を
通電し、フォトダイオードアレイ2に光を照射すると、
フォトダイオードアレイ2に順方向の起電力が生じ、J
−FET5がOFFすると共にMOSFET6のゲート
に正の電圧が加わる。その結果MOSFET6はON
し、出力端子7間が接続される。
【0022】以上の様に基本的動作は、従来のものと同
じである。
【0023】次に本発明の特徴である接地用半導体リレ
ー8の動作を説明する。半導体リレーのOFF抵抗は、
端子間容量により減少してしまうものである。つまり、
出力端子に蓄積される電荷が高周波信号を通過させる媒
体となっている。そこで、本発明では、出力用半導体リ
レーがOFFの場合、即ちLED1が発光していない時
は、LED1aを発光させ接地用半導体リレー8をON
させる。これにより、出力用半導体リレーの夫々の出力
端子の一方は接地され電荷が放出される。従って、高周
波信号であっても出力端子間を通過することができなく
なり、OFF抵抗を大きくすることができる。
【0024】一方、出力用半導体リレーがONの場合、
即ちLED1が発光している時は、LED1aへの通電
を停止し、接地用半導体リレー8をOFFさせる。これ
により、出力端子7間は接続される。即ち、出力用半導
体リレーがOFFの場合のみ、接地用半導体リレー8を
導通させ高周波信号を通してしまい余分な電荷を放出さ
せ、この半導体リレー全体のOFF抵抗を大幅に改善す
ることができる。
【0025】出力用半導体リレーの夫々の出力端子から
十分に電荷を引き抜くには、接地用半導体リレー8のO
N抵抗を十分小さくしておく必要がある。
【0026】図3は接地用半導体リレーのON抵抗と出
力端子17間のOFF時の出力容量との相関を示す図で
ある。この図から分かる様に、出力容量を1pF又はそ
れ以下とするには、接地用半導体リレーのON抵抗を1
00Ω又はそれ以下とすればよい。
【0027】図4に、本発明による半導体リレーの第2
実施例を示す。この半導体リレーは、出力用半導体リレ
ーのMOSFET6aがデプレッション型であることを
除き第1実施例と同じである。即ち、ここでは、LED
1に通電すればMOSFETがOFFし、LED1への
通電を止めればMOSFETがONする。従って、接地
用半導体リレーのLEDを出力用半導体リレーのLED
と共通することができる。
【0028】図5に、本発明による半導体リレーの第3
実施例を示す。この半導体リレーは、接地用半導体リレ
ー8のMOSFET6aがデプレッション型であること
を除き第1実施例とほぼ同じである。即ち、ここでは、
LED1に通電すればMOSFET6aはOFFし、L
ED1への通電を止めればMOSFET6aはONす
る。従って、やはりLEDを共通とすることができる。
【0029】図6に、本発明による半導体リレーの第4
実施例を示す。ここで接地用半導体リレー9は、フォト
ダイオードアレイ2のマイナス側にゲートが接続された
J−FET13と、負荷抵抗14とからなっている。こ
こでも、LED1に通電すればMOSFETaははOF
Fし、LED1への通電を止めればMOSFET6はO
Nする。従って、やはりLEDを共通とすることができ
る。
【0030】
【発明の効果】図7は本発明による出力用半導体リレー
における、出力端子容量及びON抵抗とチップサイズと
の相関を示すグラフである。本発明では、出力用半導体
リレーは2つ直列に設けられているため、ON抵抗は2
倍に出力端子容量は2分の1となっている。しかし、O
N抵抗が100Ωの接地用半導体リレーを設けることに
よって、出力端子容量を1pFまで減少させることがで
きるので、図8の出力端子容量とON抵抗の積とチップ
サイズとの相関を示すグラフに示す様に、全体的な性能
を表す出力端子容量xON抵抗は従来の80(pF・
Ω)から2(pF・Ω)まで大幅に向上した。又、接地
用半導体リレーをエンハンスメント型MOSFETで構
成する場合、そのON抵抗を10Ω以下まで下げること
が可能であり、この場合出力端子容量xON抵抗は従来
の0.6(pF・Ω)まで向上し、従来の1/100以
上の改善効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による半導体リレーの概念図を示す。
【図2】本発明による半導体リレーの第1実施例を示
す。
【図3】接地用半導体リレーのON抵抗と出力端子17
間のOFF時の出力容量との相関を示す。
【図4】本発明による半導体リレーの第2実施例を示
す。
【図5】本発明による半導体リレーの第3実施例を示
す。
【図6】本発明による半導体リレーの第4実施例を示
す。
【図7】本発明による出力用半導体リレーの出力端子容
量及びON抵抗とチップサイズとの相関を示す。
【図8】本発明による出力用半導体リレーの出力端子容
量とON抵抗の積とチップサイズとの相関を示す。
【図9】半導体リレーの従来例を示す。
【図10】出力端子間容量の内訳を示す。
【図11】従来の半導体リレーの出力端子容量及びON
抵抗とチップサイズとの相関を示す。
【図12】従来の半導体リレーの出力端子容量とON抵
抗の積とチップサイズとの相関を示す。
【符号の説明】
1,1a,101 LED 2,102 フォトダイオードアレイ 3,103 抵抗 4,104 放電回路 5,105 J−FET 6,6a,106 MOSFET 7,108 出力端子 8 接地用半導体リレー
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平3−46819(JP,A) 特開 平2−309811(JP,A) 特開 昭62−132422(JP,A) 特開 昭62−35712(JP,A) 特開 平6−244694(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H03K 17/00 - 17/70

Claims (7)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 逆直列に接続された2つのMOSFET
    が2組直列に接続され、これら2組のMOSFETを同
    時にON/OFFさせる手段と、前記MOSFETの接
    続中点と接地点との間に設けられたスイッチとを具備し
    たことを特徴とする半導体リレー。
  2. 【請求項2】 前記スイッチは、前記MOSFETがO
    FFの場合に前記MOSFETの接続中点を接地し、前
    記MOSFETがONの場合に前記MOSFETの接続
    中点を前記接地点から分離することを特徴とする請求項
    1に記載の半導体リレー。
  3. 【請求項3】 前記スイッチは、半導体スイッチである
    ことを特徴とする請求項1に記載の半導体リレー。
  4. 【請求項4】 前記スイッチは、逆直列に接続された2
    つのMOSFETからなることを特徴とする請求項1に
    記載の半導体リレー。
  5. 【請求項5】 前記半導体スイッチは、双方向性MOS
    FETからなることを特徴とする請求項1に記載の半導
    体リレー。
  6. 【請求項6】 前記半導体スイッチは、J−FETから
    なることを特徴とする請求項1に記載の半導体リレー。
  7. 【請求項7】 前記MOSFETを同時にON/OFF
    させる手段は、LEDを光源としたフォトダイオードの
    起電力によって駆動していることを特徴とする請求項1
    に記載の半導体リレー。
JP5188461A 1993-07-29 1993-07-29 半導体リレー Expired - Fee Related JP3068985B2 (ja)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5188461A JP3068985B2 (ja) 1993-07-29 1993-07-29 半導体リレー
US08/279,892 US5559466A (en) 1993-07-29 1994-07-25 Semiconductor relay for transmitting high frequency signals
DE69428314T DE69428314T2 (de) 1993-07-29 1994-07-28 Halbleiterrelais zum Übertragen hochfrequenter Signale
KR1019940018423A KR0141890B1 (ko) 1993-07-29 1994-07-28 반도체 릴레이
EP94111800A EP0637136B1 (en) 1993-07-29 1994-07-28 Semiconductor relay for transmitting high frequency signals
CN94108539A CN1111855A (zh) 1993-07-29 1994-07-29 半导体继电器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5188461A JP3068985B2 (ja) 1993-07-29 1993-07-29 半導体リレー

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0746109A JPH0746109A (ja) 1995-02-14
JP3068985B2 true JP3068985B2 (ja) 2000-07-24

Family

ID=16224117

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5188461A Expired - Fee Related JP3068985B2 (ja) 1993-07-29 1993-07-29 半導体リレー

Country Status (6)

Country Link
US (1) US5559466A (ja)
EP (1) EP0637136B1 (ja)
JP (1) JP3068985B2 (ja)
KR (1) KR0141890B1 (ja)
CN (1) CN1111855A (ja)
DE (1) DE69428314T2 (ja)

Families Citing this family (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3013894B2 (ja) * 1997-10-17 2000-02-28 日本電気株式会社 Fet装置
JPH11274252A (ja) * 1998-03-19 1999-10-08 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置の検査装置及びその検査方法
DE29812092U1 (de) * 1998-07-07 1999-11-18 Ic Haus Gmbh Elektronischer Wechselspannungsschalter
US6555935B1 (en) * 2000-05-18 2003-04-29 Rockwell Automation Technologies, Inc. Apparatus and method for fast FET switching in a digital output device
US6804502B2 (en) 2001-10-10 2004-10-12 Peregrine Semiconductor Corporation Switch circuit and method of switching radio frequency signals
US20030153832A1 (en) * 2002-01-22 2003-08-14 Jona Zumeris System and method for smart monitoring within a body
EP1774620B1 (en) 2004-06-23 2014-10-01 Peregrine Semiconductor Corporation Integrated rf front end
US9653601B2 (en) 2005-07-11 2017-05-16 Peregrine Semiconductor Corporation Method and apparatus for use in improving linearity of MOSFETs using an accumulated charge sink-harmonic wrinkle reduction
US20080076371A1 (en) 2005-07-11 2008-03-27 Alexander Dribinsky Circuit and method for controlling charge injection in radio frequency switches
US7890891B2 (en) 2005-07-11 2011-02-15 Peregrine Semiconductor Corporation Method and apparatus improving gate oxide reliability by controlling accumulated charge
US7910993B2 (en) 2005-07-11 2011-03-22 Peregrine Semiconductor Corporation Method and apparatus for use in improving linearity of MOSFET's using an accumulated charge sink
DE102006030448B4 (de) * 2006-06-29 2022-08-18 Phoenix Contact Gmbh & Co. Kg Sichere Ausgangsschaltung mit einem einkanaligen Peripherieanschluss für den Ausgang eines Bus-Teilnehmers
DE102007052089B4 (de) * 2007-10-31 2022-11-03 BSH Hausgeräte GmbH Elektrogerät mit verringerter Standby-Leistung
JP2009117528A (ja) * 2007-11-05 2009-05-28 Nec Electronics Corp 光半導体リレー装置
JP5027680B2 (ja) * 2008-01-18 2012-09-19 パナソニック株式会社 半導体リレーモジュール
JP5723303B2 (ja) * 2012-01-27 2015-05-27 株式会社東芝 受光回路
JP5781108B2 (ja) * 2013-02-28 2015-09-16 株式会社東芝 光結合装置
JP6154705B2 (ja) * 2013-09-24 2017-06-28 株式会社 日立パワーデバイス 半導体スイッチ回路、信号処理装置、および、超音波診断装置
JP6253439B2 (ja) * 2014-02-17 2017-12-27 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置
US9831857B2 (en) 2015-03-11 2017-11-28 Peregrine Semiconductor Corporation Power splitter with programmable output phase shift
DE102015109167B3 (de) * 2015-06-10 2016-08-11 Weetech Gmbh Bidirektionaler MOSFET-Schalter und Multiplexer
US9948281B2 (en) 2016-09-02 2018-04-17 Peregrine Semiconductor Corporation Positive logic digitally tunable capacitor
JP2018085567A (ja) * 2016-11-21 2018-05-31 株式会社オートネットワーク技術研究所 スイッチ回路及び電源装置
JP6660918B2 (ja) * 2017-08-31 2020-03-11 オムロン株式会社 半導体リレーモジュール
JP6930505B2 (ja) 2017-09-22 2021-09-01 株式会社デンソー 電源システム
WO2019058869A1 (ja) 2017-09-22 2019-03-28 株式会社デンソー 電源システム
US10236872B1 (en) 2018-03-28 2019-03-19 Psemi Corporation AC coupling modules for bias ladders
US10505530B2 (en) 2018-03-28 2019-12-10 Psemi Corporation Positive logic switch with selectable DC blocking circuit
JP7081347B2 (ja) * 2018-07-03 2022-06-07 オムロン株式会社 半導体リレーモジュールおよび半導体リレー回路
WO2020217723A1 (ja) * 2019-04-26 2020-10-29 パナソニックIpマネジメント株式会社 Mosfet出力型アイソレータ
JP7404778B2 (ja) 2019-10-30 2023-12-26 オムロン株式会社 半導体リレーモジュールおよび半導体リレー回路
JP7380084B2 (ja) 2019-10-30 2023-11-15 オムロン株式会社 半導体リレーモジュールおよび半導体リレー回路
CN116235304A (zh) * 2020-08-05 2023-06-06 松下知识产权经营株式会社 半导体继电器模块

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4408131A (en) * 1981-09-21 1983-10-04 Westinghouse Electric Corp. Optically isolated solid state relay
US4742380A (en) * 1982-02-09 1988-05-03 American Telephone And Telegraph Company, At&T Bell Laboratories Switch utilizing solid-state relay
US4611123A (en) * 1982-12-23 1986-09-09 Fairchild Camera And Instrument Corporation High voltage analog solid state switch
US4665316A (en) * 1984-11-21 1987-05-12 Telmos Incorporated Photovoltaic relay switch
JPS6393217A (ja) * 1986-10-07 1988-04-23 Fuji Electric Co Ltd アナログスイツチ回路
US4864126A (en) * 1988-06-17 1989-09-05 Hewlett-Packard Company Solid state relay with optically controlled shunt and series enhancement circuit
JPH0758804B2 (ja) * 1989-05-17 1995-06-21 株式会社東芝 ホトカプラ装置
US5045774A (en) * 1989-12-28 1991-09-03 R. Morley, Inc. Full scale AC or DC power attenuator
US5138177A (en) * 1991-03-26 1992-08-11 At&T Bell Laboratories Solid-state relay
US5146100A (en) * 1991-05-21 1992-09-08 Keithley Instruments, Inc. High voltage solid-state switch with current limit
US5298817A (en) * 1993-02-09 1994-03-29 At&T Bell Laboratories High-frequency solid-state relay

Also Published As

Publication number Publication date
EP0637136B1 (en) 2001-09-19
DE69428314T2 (de) 2002-06-20
KR950004574A (ko) 1995-02-18
DE69428314D1 (de) 2001-10-25
CN1111855A (zh) 1995-11-15
KR0141890B1 (ko) 1998-06-01
US5559466A (en) 1996-09-24
EP0637136A1 (en) 1995-02-01
JPH0746109A (ja) 1995-02-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3068985B2 (ja) 半導体リレー
US4631565A (en) MISFET with input amplifier
KR930000968B1 (ko) 반도체 집적회로
EP0243603B1 (en) Binary logic circuit
US5013926A (en) Photocoupler apparatus capable of shortening switching time of output contact
JP3121338B2 (ja) 固体継電器
JPS6028451B2 (ja) 光トリガ線型二方向スイツチ
US4647794A (en) Solid state relay having non overlapping switch closures
JP2555887B2 (ja) トランスファー型ソリッドステートリレー
US5514996A (en) Photo-coupler apparatus
JP3013894B2 (ja) Fet装置
US4677325A (en) High voltage MOSFET switch
US5847593A (en) Voltage discharge circuit for a photovoltaic power source
JP2522249B2 (ja) ソリッドステ−トリレ−
JPS63153916A (ja) 半導体スイツチ回路
JPH07107975B2 (ja) ソリッドステートリレー
JPH0477015A (ja) 光結合型リレー回路
JP3432608B2 (ja) 半導体リレー装置
JP2698723B2 (ja) 半導体リレー回路
JPH05243949A (ja) ソリッドステートリレー
JP2731654B2 (ja) 光結合型リレー回路
JP2731655B2 (ja) 光結合型リレー回路
JP2919108B2 (ja) 光結合型リレー回路
JPH0478211B2 (ja)
JPH05343972A (ja) 半導体リレー回路

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090519

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090519

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100519

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110519

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110519

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120519

Year of fee payment: 12

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees