JP3061764B2 - パチンコ遊戯機の不正半導体検査装置 - Google Patents
パチンコ遊戯機の不正半導体検査装置Info
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- JP3061764B2 JP3061764B2 JP9080961A JP8096197A JP3061764B2 JP 3061764 B2 JP3061764 B2 JP 3061764B2 JP 9080961 A JP9080961 A JP 9080961A JP 8096197 A JP8096197 A JP 8096197A JP 3061764 B2 JP3061764 B2 JP 3061764B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、パチンコ遊戯機の基板
にプログラム（ＲＯＭ等のメモリのデータも含む）の書
換え等の不正、もしくは不正な回路の組み込みがないか
否かを検査する装置に関するものである。
にプログラム（ＲＯＭ等のメモリのデータも含む）の書
換え等の不正、もしくは不正な回路の組み込みがないか
否かを検査する装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来より、パチンコ遊戯機の制御回路に
用いられているプログラムやデータを記憶させるメモリ
（ＲＯＭ）としては、型番２７６４のＲＯＭのみが使用
を認められているが、それを不正なものと差し替えて、
出玉の確立を変えるという不正が行われる場合があっ
た。
用いられているプログラムやデータを記憶させるメモリ
（ＲＯＭ）としては、型番２７６４のＲＯＭのみが使用
を認められているが、それを不正なものと差し替えて、
出玉の確立を変えるという不正が行われる場合があっ
た。
【０００３】そのような、不正の形態としては、 １．ＲＯＭ変更型 （１）不正なプログラムを書き込んだ２７６４と差し替
える方法。これは、ＲＯＭライター等を用いてメモリの
内容を読み出せば容易に不正が発見できる。 （２）容量の多い型番２７１２８の外観を正規のＲＯＭ
に模して用いる方法。これは、対応したメモリ読出機能
を使用することによって不正を発見できる。 （３）外観が２７６４と同様の２７１２８内に回路を追
加して、電源投入時には正規なプログラムが作動する
が、特定の時間経過後には、不正なプログラムに切り替
わるもの。 （４）２層型ＲＯＭと言われ、電源投入時のチェック後
に不正なプログラムに切り替わるもの。ＲＯＭコアが数
層になっており、紫外線を照射しても消去されないこと
が特徴である。 （５）４層型ＲＯＭと言われ、大当たり時、アタッカー
が開いたとき、Ｖ入賞時等特定のアドレスで不正なプロ
グラムに切り替わるもの。 ２．ＣＰＵ型 （１）面実装型部品を不正なＣＰＵに組み込んだタイプ
もしくはハイブリッドＩＣで成型したタイプもしくは正
規なＣＰＵの下にフィルム型基板を用いて不正なＣＰＵ
とＲＯＭと制御回路を組み込んだ回路を装着したタイプ
等がある。
える方法。これは、ＲＯＭライター等を用いてメモリの
内容を読み出せば容易に不正が発見できる。 （２）容量の多い型番２７１２８の外観を正規のＲＯＭ
に模して用いる方法。これは、対応したメモリ読出機能
を使用することによって不正を発見できる。 （３）外観が２７６４と同様の２７１２８内に回路を追
加して、電源投入時には正規なプログラムが作動する
が、特定の時間経過後には、不正なプログラムに切り替
わるもの。 （４）２層型ＲＯＭと言われ、電源投入時のチェック後
に不正なプログラムに切り替わるもの。ＲＯＭコアが数
層になっており、紫外線を照射しても消去されないこと
が特徴である。 （５）４層型ＲＯＭと言われ、大当たり時、アタッカー
が開いたとき、Ｖ入賞時等特定のアドレスで不正なプロ
グラムに切り替わるもの。 ２．ＣＰＵ型 （１）面実装型部品を不正なＣＰＵに組み込んだタイプ
もしくはハイブリッドＩＣで成型したタイプもしくは正
規なＣＰＵの下にフィルム型基板を用いて不正なＣＰＵ
とＲＯＭと制御回路を組み込んだ回路を装着したタイプ
等がある。
【０００４】ＲＯＭの２ピンが浮いていることが特徴で
ある。 ３．ソケット型 ＣＰＵ型の場合と同じに、ＲＯＭソケットの下にフィル
ム型基板を用いて不正な回路を組み込んだもの。本物の
ＲＯＭのピンが浮いていることが特徴である。 ４．ＩＣ型 ＣＰＵ周辺のＩＣを、マイコン化もしくは特殊な処理を
施したもの。以上のように、種々の不正基板があるが、
通常の目視検査では発見は不可能である。
ある。 ３．ソケット型 ＣＰＵ型の場合と同じに、ＲＯＭソケットの下にフィル
ム型基板を用いて不正な回路を組み込んだもの。本物の
ＲＯＭのピンが浮いていることが特徴である。 ４．ＩＣ型 ＣＰＵ周辺のＩＣを、マイコン化もしくは特殊な処理を
施したもの。以上のように、種々の不正基板があるが、
通常の目視検査では発見は不可能である。
【０００５】この種の不正ＲＯＭ基板においては、それ
が装着された特定のパチンコ遊戯機の出玉確立を一律に
高くすると、パチンコ店の管理用コンピュータが集計し
たときに発見されてしまうので、不正者（ゴトＲＯＭグ
ループ）が設定した特定の条件下においてのみ、確立を
上げ、その分、一般の客に対しては確立を下げて、平均
して所定の確立に収まるようにプログラムされているこ
とが特徴である。
が装着された特定のパチンコ遊戯機の出玉確立を一律に
高くすると、パチンコ店の管理用コンピュータが集計し
たときに発見されてしまうので、不正者（ゴトＲＯＭグ
ループ）が設定した特定の条件下においてのみ、確立を
上げ、その分、一般の客に対しては確立を下げて、平均
して所定の確立に収まるようにプログラムされているこ
とが特徴である。
【０００６】また、不正なプログラムが作動している間
はプログラムの実行時間が異なるので、電源投入時に不
正なプログラムに切り替わるタイプでは、電源投入後の
初期のハズレ出目が違う機種が多い。
はプログラムの実行時間が異なるので、電源投入時に不
正なプログラムに切り替わるタイプでは、電源投入後の
初期のハズレ出目が違う機種が多い。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】このように、巧妙にプ
ログラムされた不正ＲＯＭは、目視検査ではおろか、Ｒ
ＯＭライター等の検査装置を用いても容易には発見でき
なかった。また、パチンコ遊戯機の電源投入直後の動作
をチェックする汎用の装置があるが、これは電源投入後
の単発の動作はチェックできるが、大当たりを連続的に
シミュレートして検査できないので、４層ＲＯＭと言わ
れるタイプには対応できない。このように、従来の検査
装置は、ＲＯＭに書き込まれたデータを検査する方法で
あるので、特殊な条件が整わないかぎり外部からは読み
だされないように巧妙にプログラムされているデータは
検査できないという問題があった。
ログラムされた不正ＲＯＭは、目視検査ではおろか、Ｒ
ＯＭライター等の検査装置を用いても容易には発見でき
なかった。また、パチンコ遊戯機の電源投入直後の動作
をチェックする汎用の装置があるが、これは電源投入後
の単発の動作はチェックできるが、大当たりを連続的に
シミュレートして検査できないので、４層ＲＯＭと言わ
れるタイプには対応できない。このように、従来の検査
装置は、ＲＯＭに書き込まれたデータを検査する方法で
あるので、特殊な条件が整わないかぎり外部からは読み
だされないように巧妙にプログラムされているデータは
検査できないという問題があった。
【０００８】そこで、本発明は、ＲＯＭに書き込まれた
データを読み取ることなく、ＲＯＭ（ＲＯＭ以外の各種
半導体部品も含む）の特定の端子間の電気的特性を標準
のものと比較して、各種の不正ＲＯＭを発見することの
できる検査装置を提供することを目的としてなされたも
のである。
データを読み取ることなく、ＲＯＭ（ＲＯＭ以外の各種
半導体部品も含む）の特定の端子間の電気的特性を標準
のものと比較して、各種の不正ＲＯＭを発見することの
できる検査装置を提供することを目的としてなされたも
のである。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項１のパチ
ンコ遊戯機の不正半導体検査装置においては、パチンコ
遊戯機に使用される半導体の少なくとも二つの端子と電
気的に接続する接続手段と、接続した半導体の端子間の
電気的特性を測定する測定手段と、測定した電気的特性
を予め記憶している判定条件と比較する比較手段と、判
定条件を満たしたときに合格信号を出力し、判定条件を
満たさないときに不合格信号を出力する判定手段とを備
えている。
ンコ遊戯機の不正半導体検査装置においては、パチンコ
遊戯機に使用される半導体の少なくとも二つの端子と電
気的に接続する接続手段と、接続した半導体の端子間の
電気的特性を測定する測定手段と、測定した電気的特性
を予め記憶している判定条件と比較する比較手段と、判
定条件を満たしたときに合格信号を出力し、判定条件を
満たさないときに不合格信号を出力する判定手段とを備
えている。
【００１０】そして、請求項２では、請求項１の接続手
段を、パチンコ遊戯機に使用されるＲＯＭの電源供給端
子と、負論理チップセレクト端子と、接地端子と電気的
に接続する接続手段とし、測定手段を、電源供給端子
と、負論理チップセレクト端子及び接地端子との間に所
定の電圧を印加したときに消費される電流値を測定する
測定手段としたものである。
段を、パチンコ遊戯機に使用されるＲＯＭの電源供給端
子と、負論理チップセレクト端子と、接地端子と電気的
に接続する接続手段とし、測定手段を、電源供給端子
と、負論理チップセレクト端子及び接地端子との間に所
定の電圧を印加したときに消費される電流値を測定する
測定手段としたものである。
【００１１】電流値に限らず、２つの端子間の電気抵抗
値を測定してもよい。また、所定の電源電圧を供給した
ときの、特定の端子の電圧や変化特性を測定してもよ
い。なお、正論理チップセレクト端子の場合には、接地
端子でなく電源端子に接続して測定するとよい。
値を測定してもよい。また、所定の電源電圧を供給した
ときの、特定の端子の電圧や変化特性を測定してもよ
い。なお、正論理チップセレクト端子の場合には、接地
端子でなく電源端子に接続して測定するとよい。
【００１２】なお、現実的には、パチンコ遊戯機に使用
されているＲＯＭは２７６４系のみであるので、検査対
象の半導体を２７６４系のＲＯＭと限定して、端子番号
１、２７、２８に電源（直流５Ｖ）の＋極を接続し、負
論理チップセレクト端子と接地端子とを接続して低抵抗
器（例えば５Ω）を介して電源の−極を接続し、前記低
抵抗器の両端の電圧を測定することによって、消費され
る電流を換算して得るとよい。
されているＲＯＭは２７６４系のみであるので、検査対
象の半導体を２７６４系のＲＯＭと限定して、端子番号
１、２７、２８に電源（直流５Ｖ）の＋極を接続し、負
論理チップセレクト端子と接地端子とを接続して低抵抗
器（例えば５Ω）を介して電源の−極を接続し、前記低
抵抗器の両端の電圧を測定することによって、消費され
る電流を換算して得るとよい。
【００１３】ちなみに、検査対象の２７６４系のＲＯＭ
が正規の標準ＴＴＬタイプであれば電流値は数十mAであ
り、Ｃ−ＭＯＳタイプであれば１mA未満である。また、
より正確な測定のためには、検査対象の半導体に印加す
る電源電圧を精密に制御された電圧としたり、温度補正
を行ったりするとよい。
が正規の標準ＴＴＬタイプであれば電流値は数十mAであ
り、Ｃ−ＭＯＳタイプであれば１mA未満である。また、
より正確な測定のためには、検査対象の半導体に印加す
る電源電圧を精密に制御された電圧としたり、温度補正
を行ったりするとよい。
【００１４】
【発明の実施の形態】以下に、本発明にかかるパチンコ
遊戯機の不正半導体検査装置を、その実施の形態を示し
た図面に基づいて詳細に説明する。図１は、本発明の実
施の形態のパチンコ遊戯機の不正半導体検査装置のブロ
ック図である。
遊戯機の不正半導体検査装置を、その実施の形態を示し
た図面に基づいて詳細に説明する。図１は、本発明の実
施の形態のパチンコ遊戯機の不正半導体検査装置のブロ
ック図である。
【００１５】図において、Ｋはパチンコ遊戯機の不正半
導体検査装置（以下、単に検査装置という。）、１はワ
ンチップマイコン、２はＲＯＭの判断基準となる基準デ
ータを記憶したＥＥＰＲＯＭ、３は検査対象のＲＯＭを
装着するレバー式のソケット、４はソケット３のチップ
セレクト端子41及び接地端子42に接続された接地抵抗器
である。５は接地抵抗器４の両端の電圧を検出するため
の検出回路であり、低感度用のオペアンプ回路51と高感
度用のオペアンプ回路52とを備えている。低感度用の分
解能は0.8mA 、高感度用は0.08mAである。
導体検査装置（以下、単に検査装置という。）、１はワ
ンチップマイコン、２はＲＯＭの判断基準となる基準デ
ータを記憶したＥＥＰＲＯＭ、３は検査対象のＲＯＭを
装着するレバー式のソケット、４はソケット３のチップ
セレクト端子41及び接地端子42に接続された接地抵抗器
である。５は接地抵抗器４の両端の電圧を検出するため
の検出回路であり、低感度用のオペアンプ回路51と高感
度用のオペアンプ回路52とを備えている。低感度用の分
解能は0.8mA 、高感度用は0.08mAである。
【００１６】ワンチップマイコン１は、Ａ／Ｄ変換ユニ
ットやＩ／Ｏインターフェースユニットも内蔵してい
る。
ットやＩ／Ｏインターフェースユニットも内蔵してい
る。
【００１７】６は検査対象のＲＯＭに前記ソケット３を
介して電源電圧を印加する／しないを制御するリレー回
路、７は判定結果によって鳴動される圧電ブザー回路、
８は種々の設定用のキーボード、９は操作手順及び判定
結果を表示する液晶表示装置である。ＥＥＰＲＯＭ１に
は図２に示したような内容の判定基準テーブルが記憶さ
れている。
介して電源電圧を印加する／しないを制御するリレー回
路、７は判定結果によって鳴動される圧電ブザー回路、
８は種々の設定用のキーボード、９は操作手順及び判定
結果を表示する液晶表示装置である。ＥＥＰＲＯＭ１に
は図２に示したような内容の判定基準テーブルが記憶さ
れている。
【００１８】その他、電源電圧を安定化させるための安
定化回路や、ワンチップマイコン１におけるＡ／Ｄ変換
用の基準電圧となる基準電圧供給回路や、クロック発振
回路等の必要回路を備えている。
定化回路や、ワンチップマイコン１におけるＡ／Ｄ変換
用の基準電圧となる基準電圧供給回路や、クロック発振
回路等の必要回路を備えている。
【００１９】上記構成の不正半導体検査装置Ｋによれ
ば、まず、検査対象のＲＯＭの登録番号をキーボード８
のテンキーを用いて設定する。例えば、「Ａ」というパ
チンコ遊戯機に使用されているＲＯＭが、「Ｂ」社とい
う半導体メーカの標準ＴＴＬで型番が「２７６４」であ
る場合、このＲＯＭに対応する登録番号は例えば「００
２」として、判定条件となる基準データが記憶されてい
る。なお、登録番号が「００１」から「２５１」までの
２５１種類のＲＯＭのデータを登録しておくことができ
る。登録番号が設定されると、ＥＥＰＲＯＭ２から該当
する番号の基準データを読みだす。例えば、上限データ
50mA、下限データ45mAという基準データが読みだされ、
ワンチップマイコン１のレジスタに保持される。このと
き、液晶表示装置９には図３の（Ａ）のように、登録番
号、ＲＯＭの型番、下限データ、上限データ、メーカ名
が表示される。
ば、まず、検査対象のＲＯＭの登録番号をキーボード８
のテンキーを用いて設定する。例えば、「Ａ」というパ
チンコ遊戯機に使用されているＲＯＭが、「Ｂ」社とい
う半導体メーカの標準ＴＴＬで型番が「２７６４」であ
る場合、このＲＯＭに対応する登録番号は例えば「００
２」として、判定条件となる基準データが記憶されてい
る。なお、登録番号が「００１」から「２５１」までの
２５１種類のＲＯＭのデータを登録しておくことができ
る。登録番号が設定されると、ＥＥＰＲＯＭ２から該当
する番号の基準データを読みだす。例えば、上限データ
50mA、下限データ45mAという基準データが読みだされ、
ワンチップマイコン１のレジスタに保持される。このと
き、液晶表示装置９には図３の（Ａ）のように、登録番
号、ＲＯＭの型番、下限データ、上限データ、メーカ名
が表示される。
【００２０】次に、「Ａ」というパチンコ遊戯機の基板
から引き抜いた検査対象のＲＯＭを、ソケット２に装着
する。当然このＲＯＭのメーカはＢ社であり、その型番
は「２７６４」となっている。このソケットはレバー式
であるので、装着するときも引き抜くときもレバーを解
除すれば抵抗が無い。次に、キーボード８の「ＲＥＳ／
ＳＴＡＲＴ」を押すと、測定プログラムがスタートし
て、リレー回路６を制御して電源電圧を印加し、接地抵
抗器４の両端の電圧を検出回路５で検出する。
から引き抜いた検査対象のＲＯＭを、ソケット２に装着
する。当然このＲＯＭのメーカはＢ社であり、その型番
は「２７６４」となっている。このソケットはレバー式
であるので、装着するときも引き抜くときもレバーを解
除すれば抵抗が無い。次に、キーボード８の「ＲＥＳ／
ＳＴＡＲＴ」を押すと、測定プログラムがスタートし
て、リレー回路６を制御して電源電圧を印加し、接地抵
抗器４の両端の電圧を検出回路５で検出する。
【００２１】このとき、検査対象のＲＯＭが標準ＴＴＬ
であるので、低感度用のオペアンプ回路51から出力され
る検出信号が選択されて、内蔵したＡ／Ｄ変換ユニット
でＡ／Ｄ変換される。抵抗器４が５Ωの場合は、電流値
０〜100mA が電圧値０〜2.50Ｖとして検出される。な
お、高感度用のオペアンプ回路がスケールオーバーした
ときには、低感度用のオペアンプ回路の信号を用いるよ
うにしてもよい。
であるので、低感度用のオペアンプ回路51から出力され
る検出信号が選択されて、内蔵したＡ／Ｄ変換ユニット
でＡ／Ｄ変換される。抵抗器４が５Ωの場合は、電流値
０〜100mA が電圧値０〜2.50Ｖとして検出される。な
お、高感度用のオペアンプ回路がスケールオーバーした
ときには、低感度用のオペアンプ回路の信号を用いるよ
うにしてもよい。
【００２２】このようにして検出された電流値（例えば
48mA）が、レジスタに保持されている上限データと下限
データと比較される。上下限の範囲内であれば、合格判
定を行い、合格信号が出力され、圧電ブザー回路７が
「ピーッ」と鳴動するとともに、ＬＣＤ表示装置９にお
いては図３の（Ｂ）のように「ＯＫ」と表示される。範
囲外であれば、不合格判定を行い、不合格信号が出力さ
れ、圧電ブザー回路７が「ピッピッピーッ」と鳴動する
とともに、ＬＣＤ表示装置９においては図３の（Ｃ）の
ように「ＮＧ」と表示される。
48mA）が、レジスタに保持されている上限データと下限
データと比較される。上下限の範囲内であれば、合格判
定を行い、合格信号が出力され、圧電ブザー回路７が
「ピーッ」と鳴動するとともに、ＬＣＤ表示装置９にお
いては図３の（Ｂ）のように「ＯＫ」と表示される。範
囲外であれば、不合格判定を行い、不合格信号が出力さ
れ、圧電ブザー回路７が「ピッピッピーッ」と鳴動する
とともに、ＬＣＤ表示装置９においては図３の（Ｃ）の
ように「ＮＧ」と表示される。
【００２３】判定結果を表示した時点で、リレー回路６
が制御されてＲＯＭに対する電源の供給はオフされてい
るので、ソケットのレバーを操作して、検査済のＲＯＭ
を取り外すことができる。引き続いて、同一登録番号の
ＲＯＭを装着して「ＲＥＳ／ＳＴＡＲＴ」スイッチを押
すだけで検査することができる。このようにして、５０
回まで連続して検査することができ、測定値の平均値、
最大値、最小値も表示させることができる。
が制御されてＲＯＭに対する電源の供給はオフされてい
るので、ソケットのレバーを操作して、検査済のＲＯＭ
を取り外すことができる。引き続いて、同一登録番号の
ＲＯＭを装着して「ＲＥＳ／ＳＴＡＲＴ」スイッチを押
すだけで検査することができる。このようにして、５０
回まで連続して検査することができ、測定値の平均値、
最大値、最小値も表示させることができる。
【００２４】このようにして、同一登録番号のＲＯＭで
あれば、極めて簡単に多数のＲＯＭを検査することがで
きるので、多数のＲＯＭの検査作業が極めて能率よく行
えるという効果が得られる。異なる登録番号であって
も、登録番号の設定を変えるだけで検査できる。
あれば、極めて簡単に多数のＲＯＭを検査することがで
きるので、多数のＲＯＭの検査作業が極めて能率よく行
えるという効果が得られる。異なる登録番号であって
も、登録番号の設定を変えるだけで検査できる。
【００２５】ＥＥＰＲＯＭにあらかじめ登録されていな
い登録番号のＲＯＭを検査するためには、その登録番号
のＲＯＭのデータをキーボード８を操作して登録するこ
とができる。このときは、「編集キー」を押して「登録
モード」にして、画面の表示に従って、下限データ、上
限データ、登録番号、ＲＯＭの型番、メーカー名、等の
必要事項を登録するのである。
い登録番号のＲＯＭを検査するためには、その登録番号
のＲＯＭのデータをキーボード８を操作して登録するこ
とができる。このときは、「編集キー」を押して「登録
モード」にして、画面の表示に従って、下限データ、上
限データ、登録番号、ＲＯＭの型番、メーカー名、等の
必要事項を登録するのである。
【００２６】なお、測定する電流は、チップセレクト端
子と接地端子に限らず、ＶＣＣ端子の電流のように、内
部の回路構成によって影響を受ける端子で測定すること
も可能である。また、本発明の技術を利用して、ＲＯＭ
に限らず、ＣＰＵ型、ＩＣ型等のように種々の半導体を
検査することが可能となる。また、特定のＲＯＭのみを
検査する用途としては、ソケットとウインドコンパレー
タ回路による簡便か回路でも実用になる。
子と接地端子に限らず、ＶＣＣ端子の電流のように、内
部の回路構成によって影響を受ける端子で測定すること
も可能である。また、本発明の技術を利用して、ＲＯＭ
に限らず、ＣＰＵ型、ＩＣ型等のように種々の半導体を
検査することが可能となる。また、特定のＲＯＭのみを
検査する用途としては、ソケットとウインドコンパレー
タ回路による簡便か回路でも実用になる。
【００２７】なお、現実的には、パチンコ遊戯機に使用
されているＲＯＭは２７６４系のみであるが、本発明の
技術は、そのような制限がなくなった場合にでも有効な
技術である。
されているＲＯＭは２７６４系のみであるが、本発明の
技術は、そのような制限がなくなった場合にでも有効な
技術である。
【００２８】
【発明の効果】本発明の請求項１にかかるパチンコ遊戯
機の不正半導体検査装置によれば、検査対象の半導体の
特定の端子に接続するだけで、電気的特性を判定基準と
比較して、正規な半導体であるか、不正な半導体である
かを判定できるので、４層ＲＯＭと言われているような
特殊なＲＯＭであっても、簡単に検査することが可能と
なる。
機の不正半導体検査装置によれば、検査対象の半導体の
特定の端子に接続するだけで、電気的特性を判定基準と
比較して、正規な半導体であるか、不正な半導体である
かを判定できるので、４層ＲＯＭと言われているような
特殊なＲＯＭであっても、簡単に検査することが可能と
なる。
【００２９】そして、請求項２の検査装置によれば、検
査対象のＲＯＭの電源端子に所定の電圧を印加したとき
の電流値を正規なＲＯＭの電流値と比較して、ＲＯＭの
正／不正を判断するので、４層ＲＯＭと言われているよ
うな特殊なＲＯＭであっても、簡単に検査することが可
能となる。
査対象のＲＯＭの電源端子に所定の電圧を印加したとき
の電流値を正規なＲＯＭの電流値と比較して、ＲＯＭの
正／不正を判断するので、４層ＲＯＭと言われているよ
うな特殊なＲＯＭであっても、簡単に検査することが可
能となる。
【図１】本発明にかかるパチンコ遊戯機の不正半導体検
査装置の実施の形態のブロック図である。
査装置の実施の形態のブロック図である。
【図２】判定基準テーブルの内容を説明する説明図であ
る。
る。
【図３】前記検査装置の表示画面の説明図である。
Ｋ 請求項１のパチンコ遊戯機の不正半導体検査装置 １ ワンチップマイコン ２ ＥＥＰＲＯＭ ３ ソケット ４ 低抵抗器 ５ 検出回路
Claims (2)
- 【請求項１】パチンコ遊戯機に使用される半導体の少な
くとも二つの端子と電気的に接続する接続手段と、接続
した半導体の端子間の電気的特性を測定する測定手段
と、測定した電気的特性を予め記憶している判定条件と
比較する比較手段と、判定条件を満たしたときに合格信
号を出力し、判定条件を満たさないときに不合格信号を
出力する判定手段とを備えていることを特徴とするパチ
ンコ遊戯機の不正半導体検査装置。 - 【請求項２】請求項１の接続手段を、パチンコ遊戯機に
使用されるＲＯＭの電源供給端子と、負論理チップセレ
クト端子と、接地端子と、それぞれ電気的に接続する接
続手段とし、測定手段を、電源供給端子と、負論理チッ
プセレクト端子及び接地端子との間に所定の電圧を印加
したときに消費される電流値を測定する測定手段とし、
たことを特徴とする請求項１に記載のパチンコ遊戯機の
不正半導体検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9080961A JP3061764B2 (ja) | 1997-03-31 | 1997-03-31 | パチンコ遊戯機の不正半導体検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9080961A JP3061764B2 (ja) | 1997-03-31 | 1997-03-31 | パチンコ遊戯機の不正半導体検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10272240A JPH10272240A (ja) | 1998-10-13 |
| JP3061764B2 true JP3061764B2 (ja) | 2000-07-10 |
Family
ID=13733119
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9080961A Expired - Fee Related JP3061764B2 (ja) | 1997-03-31 | 1997-03-31 | パチンコ遊戯機の不正半導体検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3061764B2 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001293219A (ja) * | 2000-04-17 | 2001-10-23 | Sanyo Product Co Ltd | 遊技機 |
-
1997
- 1997-03-31 JP JP9080961A patent/JP3061764B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH10272240A (ja) | 1998-10-13 |
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