JP3057989B2 - セラミック電子部品の製造方法 - Google Patents

セラミック電子部品の製造方法

Info

Publication number
JP3057989B2
JP3057989B2 JP5336379A JP33637993A JP3057989B2 JP 3057989 B2 JP3057989 B2 JP 3057989B2 JP 5336379 A JP5336379 A JP 5336379A JP 33637993 A JP33637993 A JP 33637993A JP 3057989 B2 JP3057989 B2 JP 3057989B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
varistor
molded body
ceramic
firing
manufacturing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP5336379A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH07201530A (ja
Inventor
彰仁 小西
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Corp
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Panasonic Corp
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Corp, Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Panasonic Corp
Priority to JP5336379A priority Critical patent/JP3057989B2/ja
Publication of JPH07201530A publication Critical patent/JPH07201530A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3057989B2 publication Critical patent/JP3057989B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
  • Thermistors And Varistors (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はセラミック電子部品の製
造方法に係り、具体的にはセラミック成形体の焼成方法
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】例えば、電圧非直線抵抗体としてセラミ
ック原料から作られる酸化亜鉛バリスタは、ZnO(酸
化亜鉛)を主成分として、Bi23(酸化ビスマス)、
Sb23(酸化アンチモン)、Al23(酸化アルミニ
ウム)等の酸化物原料を混合した後に、有機バインダー
を添加して造粒し、続いてこれを板状のペレット(バリ
スタ成形体)に成形して焼成することにより製造され
る。
【0003】以下に従来のセラミック電子部品の1つで
あるバリスタ素子の成形工程以降の製造方法について説
明する。
【0004】図7は、従来の円板状のバリスタ成形体の
直径が10mm以下の場合の成形工程以降の工程フローを
示すものである。まず、成形工程において円板状のバリ
スタ成形体を所定の厚みになるようにプレス成形し、次
に前述した成形体をランダムに焼成サヤにサヤ詰めする
サヤ詰め工程を経て、次の焼成工程で1200〜130
0℃の温度で焼成してバリスタ焼結体を得、次の酸エッ
チング・面取り工程で焼結体の表面層状態を調整した
後、前記焼結体の両面に金属電極を形成する電極形成工
程とでバリスタ素子を製造している。
【0005】図8は、従来の円板型のバリスタ成形体の
直径が10mm以下の場合の焼成サヤ内のサヤ詰め状態を
示すものである。図8において、1はランダムに詰めら
れた多数個のバリスタ成形体であり、2はこれを収容す
る焼成サヤである。そしてこれを焼成する。
【0006】しかしながら、図8に示す焼成方法では、
バリスタ成形体1の特に側面部が焼成サヤ2との接触部
分及びその近傍あるいは他のバリスタ成形体1との接触
部分とその近傍において、焼結体の焼結過程での粒成長
モードや組成が変化して、バリスタ特性が大きくばらつ
くことが判明した。
【0007】そこで従来では、一定のバリスタ特性を得
るため、粒径や組成が変化したバリスタ焼結体の表面層
を、酸によるエッチング処理を施すことで除去する方法
がとられていた。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の製造方法では、焼結体の表面層を除去する酸エ
ッチング・面取り工程で、焼結体の表面層を十分に均一
な状態にすることが難しくまた、設備コストや工数が余
計にかかるという問題点を有していた。
【0009】本発明は上述した従来の問題点を解決する
もので、特性の変動をカバーした状態でセラミック成形
体を焼成し、特性バラツキの少ない焼結体を得ることが
でき、さらには、焼結体の表面処理工程の設備コストと
工数を低減できるセラミック電子部品の製造方法を提供
することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
の本発明によるセラミック電子部品の製造方法は、円板
型あるいは角板型の板状の側面部に同材料で一体となる
成形体側面突起部を有するセラミック成形体を得る成形
工程と、前記成形体をランダムに焼成用サヤ内にサヤ詰
めするサヤ詰め工程と、前記セラミック成形体を焼成し
てセラミック焼結体を得る焼成工程と、前記セラミック
焼結体の突起部を取り除く工程と、前記の工程で処理さ
れたセラミック焼結体の両面に金属電極を形成する工程
からなるものである。
【0011】
【作用】本発明によれば、セラミック成形体を焼成させ
る場合にこの成形体が接触する部分は、成形体の面部と
焼結後の特性に大きく影響を及ぼす側面部に限定され
る。そしてこの場合、焼成時にセラミック成形体の側面
部が接触するのは、予め形成した突起部に限られ、焼成
時の側面部の不均一な粒成長や組成変化は、この突起部
のみに発生することとなる。そしてこの突起部は、次の
工程で簡単な面取り処理を施すことで除去されること
で、焼結体の均一な側面状態が得られることとなり、特
性バラツキの少ない焼結体を得ることができる。
【0012】
【実施例】以下本発明の一実施例に係るセラミック電子
部品の製造方法について、図面を参照しながら説明す
る。図1は本発明の実施例におけるセラミック電子部品
としてバリスタ素子を例とした製造工程フローを示すも
のである。
【0013】まず、主原料であるZnO(酸化亜鉛)
と、Bi23(酸化ビスマス)、Sb 23(酸化アンチ
モン)、Al23(酸化アルミニウム)等の酸化物成分
から構成される原料粉抹をボールミル等で十分に粉砕、
混合した後、これに有機バインダーを添加して、スプレ
ードライヤーによる造粒を実施し、酸化亜鉛バリスタ用
の造粒粉を作製する。次に、造粒された原料をプレス成
形して、バリスタ成形体を作製する。
【0014】図2は、このバリスタ成形体を成形する金
型のモデルの断面図である。図2において3は成形金
型、4は成形される造粒粉を示す。そしてこの成形金型
3を使用して作製されたバリスタ成形体は、図3、図4
に示すように成形体本体5と、成形体側面突起部6とで
形成され、本実施例では、成形体本体5の直径が8mm、
成形体突起部6の高さが0.5mm、そして成形体本体5
の肉厚が1.25mmとなるように円板型の成形体を作製
した。
【0015】次に、上記のように製作された複数のバリ
スタ成形体7を、従来例と同様に図5に示すようにし
て、焼成サヤ8にランダムにサヤ詰めする。このとき、
各々のバリスタ成形体7は、図5に示すように、面部7
a及び成形体側面突起部6が焼成サヤ8及び他のバリス
タ成形体7と接触するが、成形体本体5の側面部には成
形体側面突起部6があるため、このような接触はない。
【0016】次にこのようにサヤ詰めされたバリスタ成
形体7を約1250℃の温度で60〜120分間焼成し
て、バリスタ焼結体を得る。続いて、このバリスタ焼結
体に簡単な面取り処理を施すことで、焼結体側面の突起
部を除去した後、この焼結体の両面にAg(銀)ペース
トを焼付けて電極を形成し、所望の特性を有するバリス
タ素子を得た。
【0017】本実施例により得られたバリスタ素子の特
性と、従来の方法により製作されたバリスタ素子の特性
を(表1)に比較して示している。
【0018】
【表1】
【0019】この(表1)から明らかなように、本実施
例で製作されたバリスタ素子のバリスタ電圧のバラツキ
を示した変動係数は、従来のものと比べ向上しており、
その他のバリスタ特性も良好に得られることが確認され
た。
【0020】以上のように本実施例によれば、バリスタ
成形体7をランダムに焼成サヤ8に詰めて焼成を実施し
た場合に、このバリスタ成形体7が焼成サヤ8の内部で
不規則に焼成サヤ8の内壁や他のバリスタ成形体7と接
触することによって発生する焼結過程での粒成長モード
の変化や、Bi23,Sb23等の飛散成分の含有率が
変化して、バリスタ電圧やサージ電流耐量等のバリスタ
特性が部分的に低下する欠点を、バリスタ成形体7の側
面部に設けた成形体側面突起部6に集中させ、次工程の
簡単な面取り処理で、これを除去することで、効果的に
バリスタ特性の安定化を図ることができる。
【0021】尚、上記実施例は種々の変更が可能であ
る。実施例において、バリスタ成形体7の成形体側面突
起部6の形状は、種々の変更が可能であり、例えば、図
6(a),(b)に示すように成形体側面突起部6の形
を断面三角形状やT字状に変形させても良い。また、本
発明は組成中に飛散し易い金属酸化物成分を含み、焼結
過程において粒成長を制御することが要求されるバリス
タ素子の製造に有効であるが、他の同様のセラミック電
子部品の製造に適用しても効果がある。また、成形体の
突起部の幅は、成形体本体の肉厚部の厚みによって、コ
ントロールされることは言うまでもない。
【0022】さらに、焼成サヤ8に上記実施例ではラン
ダムに詰める例を示したが、縦詰めあるいは横詰めとし
て整列してサヤ詰めしてもよいことは言うまでもない。
【0023】
【発明の効果】以上のように本発明は、円板型あるいは
角板型の板状の側面部に突起部を有したセラミック成形
体を作製し、これをランダムにサヤ詰めされた状態で焼
成し、次にこれによって得られた焼結体の突起部を除去
することで、特性バラツキの少ない焼結体を得ることが
でき、尚且つ、焼成後の焼結体の表面処理工程での設備
コストと工数を低減できるセラミック電子部品の製造方
法を提供できるものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例におけるセラミック電子部品
の製造方法を示した工程図
【図2】同実施例における成形体の成形金型を示す断面
【図3】同成形工程により得た成形体の底面図
【図4】同成形体の断面図
【図5】同成形体の焼成サヤへのサヤ詰めを示す要部の
断面図
【図6】(a)同成形体の他の例を示す要部の断面図 (b)同じく成形体のさらに他の例を示す要部の断面図
【図7】従来例のセラミック電子部品の製造方法を示す
要部の工程図
【図8】同従来の成形体のサヤ詰めを示す要部の断面図
【符号の説明】
3 成形金型 4 造粒粉 5 成形体本体 6 成形体側面突起部 7 バリスタ成形体 8 焼成サヤ

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 円板型あるいは角板型の板状の側面部に
    同材料で一体型となる成形体側面突起部を有するセラミ
    ック成形体を得る成形工程と、前記成形体をランダムに
    焼成用サヤ内にサヤ詰めするサヤ詰め工程と、前記セラ
    ミック成形体を焼成してセラミック焼結体を得る焼成工
    程と、前記セラミック焼結体の突起部を取り除く工程
    と、前記の工程で処理されたセラミック焼結体の両面に
    金属電極を形成する工程とからなるセラミック電子部品
    の製造方法。
  2. 【請求項2】 セラミック成形体を、縦詰めあるいは横
    詰めに整列してサヤ詰めした請求項第1記載のセラミッ
    ク電子部品の製造方法。
JP5336379A 1993-12-28 1993-12-28 セラミック電子部品の製造方法 Expired - Fee Related JP3057989B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5336379A JP3057989B2 (ja) 1993-12-28 1993-12-28 セラミック電子部品の製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5336379A JP3057989B2 (ja) 1993-12-28 1993-12-28 セラミック電子部品の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH07201530A JPH07201530A (ja) 1995-08-04
JP3057989B2 true JP3057989B2 (ja) 2000-07-04

Family

ID=18298535

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5336379A Expired - Fee Related JP3057989B2 (ja) 1993-12-28 1993-12-28 セラミック電子部品の製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3057989B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5258116B2 (ja) * 2009-12-25 2013-08-07 ニチコン株式会社 正特性サーミスタの製造方法および正特性サーミスタの焼結体

Also Published As

Publication number Publication date
JPH07201530A (ja) 1995-08-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH1070012A (ja) バリスタの製造方法
JP3057989B2 (ja) セラミック電子部品の製造方法
JP2531019B2 (ja) 正の抵抗温度特性を有する半導体磁器
JPS604561B2 (ja) 非直線電圧依存特性を有するセラミツク電気抵抗およびその製造方法
FR2512578A1 (fr) Procede de fabrication de varistance, a couche epaisse sur un substrat de circuit hybride, et varistance ainsi obtenue
JPH0590063A (ja) 半導体セラミツクコンデンサ及びその製法
JP2634838B2 (ja) 電圧非直線抵抗体の製造方法
JP2985527B2 (ja) 電圧非直線抵抗体の製造方法
JP2697735B2 (ja) Ag−酸化物系条材およびその製造方法
JPH05121211A (ja) 積層形電圧非直線抵抗器の製造方法
JP3246229B2 (ja) チップ状電子部品およびその製造方法
JPS6031097B2 (ja) コンデンサ用半導体磁器の焼成方法
JP3419285B2 (ja) セラミック電子部品の製造方法
JP3424497B2 (ja) セラミック電子部品の製造方法
JPH07114174B2 (ja) 積層型半導体磁器電子部品の製造方法
JPH08138908A (ja) 電子部品およびその製造方法
JPH04154672A (ja) 電子部品用セラミック焼結体の製造方法
JP2612247B2 (ja) Ntcサーミスタの製造法
JPH04130703A (ja) セラミック電子部品の製造方法
JPS5864705A (ja) セラミツク素子の製造方法
JPH07307206A (ja) 電圧非直線抵抗体の製造方法
JPH05267004A (ja) チップ型サーミスタの製造方法
JPS645441B2 (ja)
JPS63278304A (ja) 電圧非直線抵抗磁器の製造方法
JPH10149905A (ja) バリスタの製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080421

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090421

Year of fee payment: 9

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees