JP3047104B2 - 原子吸光光度計 - Google Patents
原子吸光光度計Info
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Description
【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は、 （ａ） 線スペクトルを発する第１光源と、 （ｂ） 測定光束を発生させ、この測定光束に試験空間
を貫通させ、光電検出器へ導くような光学装置と、 （ｃ） 測定光束が貫通する霧化範囲内で試料の成分が
原子の形態をとるように、試料を霧化させるために試験
空間内に備えられた霧化装置と、 （ｄ） 連続スペクトルを発し、光束の発生点となる第
２光源と、 （ｅ） 第２光源からの光束を基準光束として、測定光
束（18）の光路内に入射できる、また選択に応じて光路
から取外すことのできる光束分割器と、 （ｆ） ２つの光源（16、70）を交互に切替えられるよ
うな切替手段 とを含む原子吸光光度計に関するものである。
を貫通させ、光電検出器へ導くような光学装置と、 （ｃ） 測定光束が貫通する霧化範囲内で試料の成分が
原子の形態をとるように、試料を霧化させるために試験
空間内に備えられた霧化装置と、 （ｄ） 連続スペクトルを発し、光束の発生点となる第
２光源と、 （ｅ） 第２光源からの光束を基準光束として、測定光
束（18）の光路内に入射できる、また選択に応じて光路
から取外すことのできる光束分割器と、 （ｆ） ２つの光源（16、70）を交互に切替えられるよ
うな切替手段 とを含む原子吸光光度計に関するものである。
原子吸光光度計は、試料中の、求める元素の量または
濃度を測定するために用いる。この目的のため、線スペ
クトル光源、たとえば中空陰極ランプから、測定光束を
光電検出器へと導く。この測定光束の光路には、霧化装
置が取付けられている。この霧化装置内で、試料はその
成分が原子状態となるように霧化される。測定光束は、
求める元素の共鳴線を含んでいる。測定光束内のこの共
鳴線は、原子煙霧中の、元素の原子によって吸収され、
理想的な場合には試料中に含まれる他の元素は測定光束
に影響を及ぼさない。従って、測定光束は減衰し、この
ような減衰は測定光束の行程内にある元素の原子の数に
ついて、つまり試料中の、求める元素の濃度または量に
ついての目安を提供する。しかし、測定光束が受ける吸
収は、ただ単に求める元素の原子によって行われるだけ
ではない。たとえば、分子によって光が吸収される「バ
ックグラウンド吸収（潜在吸収）」がある。このバック
グラウンド吸収は、とくに高感度測定の場合には補整し
なくてはならない。
濃度を測定するために用いる。この目的のため、線スペ
クトル光源、たとえば中空陰極ランプから、測定光束を
光電検出器へと導く。この測定光束の光路には、霧化装
置が取付けられている。この霧化装置内で、試料はその
成分が原子状態となるように霧化される。測定光束は、
求める元素の共鳴線を含んでいる。測定光束内のこの共
鳴線は、原子煙霧中の、元素の原子によって吸収され、
理想的な場合には試料中に含まれる他の元素は測定光束
に影響を及ぼさない。従って、測定光束は減衰し、この
ような減衰は測定光束の行程内にある元素の原子の数に
ついて、つまり試料中の、求める元素の濃度または量に
ついての目安を提供する。しかし、測定光束が受ける吸
収は、ただ単に求める元素の原子によって行われるだけ
ではない。たとえば、分子によって光が吸収される「バ
ックグラウンド吸収（潜在吸収）」がある。このバック
グラウンド吸収は、とくに高感度測定の場合には補整し
なくてはならない。
霧化装置としては火焔を用いることができ、これに試
料を溶液の形で噴射する。しかし、高感度測定のために
は電熱式霧化を用いるとよい。すなわち、試料を炉内に
入れ、電流を通して高温加熱する。これによって試料は
炉内でまず乾燥し、次に灰化し、最後に霧化する。炉内
には「原子煙霧」が形成され、その中では求める元素は
原子の形で存在する。この炉内に測定光束を通す。炉尾
は各種形態のものを用いることができる。通常は黒鉛製
のものを使用する。
料を溶液の形で噴射する。しかし、高感度測定のために
は電熱式霧化を用いるとよい。すなわち、試料を炉内に
入れ、電流を通して高温加熱する。これによって試料は
炉内でまず乾燥し、次に灰化し、最後に霧化する。炉内
には「原子煙霧」が形成され、その中では求める元素は
原子の形で存在する。この炉内に測定光束を通す。炉尾
は各種形態のものを用いることができる。通常は黒鉛製
のものを使用する。
本発明は、このような原子吸光光度計の場合のバック
グラウンド補整に関するものである。
グラウンド補整に関するものである。
背景技術 バックグラウンド吸収量の測定と補整のためには、主
として２つの方法がある。その１つでは、線スペクトル
光源からの測定光束と交互に、スペクトル線幅に対して
帯域幅の大きい連続スペクトル光源からの基準光束に、
火焔または原子煙霧中を通過させることにより、原子吸
光とバックグラウンド吸収による測定光束の吸収が起こ
り、一方、基準光束の吸収は、実際にはバックグラウン
ド吸収のみによって定まる。（DE−Ａ−1 911 048） 線スペクトル光源から測定光束が出され、それが電熱
式霧化のための火焔または炉内を通過して、検出器に導
かれるような原子吸光光度計、および目的とする元素の
線スペクトルを含む測定光束と交互に、連続スペクトル
光源からの基準光束が有効に働くような原子吸光光度計
が知られている。このような基準光束は光束分割器によ
って測定光束の光路に照射される。この場合、光束分割
器は通常は半透明鏡である。この鏡には均等に分けられ
た反射面と透明面があり、測定光束の50％は透明面部分
を通過し、基準光束の50％は反射面部分を測定光束の方
向に反射される。測定光束と基準光束の交替は２つの光
源を切替えることによって行う。（“applied spectros
copy"）第27巻、第６号、（1973）、467−470） このような既知の装置では各光束は50％ずつ減衰す
る。このためにS/N比（信号対雑音比）が低下し、これ
は高感度測定にとっては致命的である。
として２つの方法がある。その１つでは、線スペクトル
光源からの測定光束と交互に、スペクトル線幅に対して
帯域幅の大きい連続スペクトル光源からの基準光束に、
火焔または原子煙霧中を通過させることにより、原子吸
光とバックグラウンド吸収による測定光束の吸収が起こ
り、一方、基準光束の吸収は、実際にはバックグラウン
ド吸収のみによって定まる。（DE−Ａ−1 911 048） 線スペクトル光源から測定光束が出され、それが電熱
式霧化のための火焔または炉内を通過して、検出器に導
かれるような原子吸光光度計、および目的とする元素の
線スペクトルを含む測定光束と交互に、連続スペクトル
光源からの基準光束が有効に働くような原子吸光光度計
が知られている。このような基準光束は光束分割器によ
って測定光束の光路に照射される。この場合、光束分割
器は通常は半透明鏡である。この鏡には均等に分けられ
た反射面と透明面があり、測定光束の50％は透明面部分
を通過し、基準光束の50％は反射面部分を測定光束の方
向に反射される。測定光束と基準光束の交替は２つの光
源を切替えることによって行う。（“applied spectros
copy"）第27巻、第６号、（1973）、467−470） このような既知の装置では各光束は50％ずつ減衰す
る。このためにS/N比（信号対雑音比）が低下し、これ
は高感度測定にとっては致命的である。
さらに、中空陰極ランプと重水素ランプの光軸の二等
分線内に取付けられたガラス板で一部が透明であり、一
部が部分反射するものを備えることが知られている。ガ
ラス板はその面内で動かすことができ、光束は選択に応
じて２つとも部分反射部分へ導かれて、その光路が重な
るか、または中空陰極ランプからの光束だけがガラス板
の透明部分を通過して、光度計へと導かれる。従って、
この装置は選択によっては、単光束光度計として使用す
ることができる。（JP−Ａ−58 58 418;「日本特許要
約」、第４巻、100号（P.19）（582）、1980年７月18
日） バックグラウンド吸収測定のためのもう１つの方法
は、ゼーマン効果に基づいている。すなわち、試料上に
磁界を設定することによって、試料内の、目的とする元
素の吸収スペクトルは、測定光束のスペクトルの方へ移
動し、磁界内にある試料では原子吸光は行われず、バッ
クグラウンド吸収だけが測定される。磁界を入れたり切
ったりすることによって、バックグラウンド吸収に応じ
て補整した原子吸光を測定することができる。
分線内に取付けられたガラス板で一部が透明であり、一
部が部分反射するものを備えることが知られている。ガ
ラス板はその面内で動かすことができ、光束は選択に応
じて２つとも部分反射部分へ導かれて、その光路が重な
るか、または中空陰極ランプからの光束だけがガラス板
の透明部分を通過して、光度計へと導かれる。従って、
この装置は選択によっては、単光束光度計として使用す
ることができる。（JP−Ａ−58 58 418;「日本特許要
約」、第４巻、100号（P.19）（582）、1980年７月18
日） バックグラウンド吸収測定のためのもう１つの方法
は、ゼーマン効果に基づいている。すなわち、試料上に
磁界を設定することによって、試料内の、目的とする元
素の吸収スペクトルは、測定光束のスペクトルの方へ移
動し、磁界内にある試料では原子吸光は行われず、バッ
クグラウンド吸収だけが測定される。磁界を入れたり切
ったりすることによって、バックグラウンド吸収に応じ
て補整した原子吸光を測定することができる。
DE−AS 1 964 469によって、１つの原子吸光光度計が
知られている。この原子吸光光度計では唯一の、線スペ
クトル投射器として形成された放射投射源から光線が発
せられ、試料を通過する光線は縦方向ゼーマン効果によ
って周波数変調される。この既知の原子吸光光度計には
電磁石の磁極片の間に中空陰極ランプが、設けられてい
る。磁極片のうちの１個には孔があり、ここを測定光束
が通過する。そのあと測定光束は霧化装置の役を果たす
火焔とモノクロメータを通過し、光電検出器へと導かれ
る。電磁石は電流を入れたり切ったりでき、電磁石の入
切時の信号の差からバックグラウンド吸収に応じて補整
された試料原子の原子吸光度を測定することができる。
電磁石の巻線は磁極片上にある。
知られている。この原子吸光光度計では唯一の、線スペ
クトル投射器として形成された放射投射源から光線が発
せられ、試料を通過する光線は縦方向ゼーマン効果によ
って周波数変調される。この既知の原子吸光光度計には
電磁石の磁極片の間に中空陰極ランプが、設けられてい
る。磁極片のうちの１個には孔があり、ここを測定光束
が通過する。そのあと測定光束は霧化装置の役を果たす
火焔とモノクロメータを通過し、光電検出器へと導かれ
る。電磁石は電流を入れたり切ったりでき、電磁石の入
切時の信号の差からバックグラウンド吸収に応じて補整
された試料原子の原子吸光度を測定することができる。
電磁石の巻線は磁極片上にある。
既知の原子吸光光度計の場合、線スペクトル光源の発
光スペクトルはゼーマン効果によって周期的に移動し、
発せられる光は周波数変調されるが、試料の吸収スペク
トルは変調されない。
光スペクトルはゼーマン効果によって周期的に移動し、
発せられる光は周波数変調されるが、試料の吸収スペク
トルは変調されない。
入切する電磁石の磁界を、光源の代わりに霧化装置
に、つまり霧化された試料上に設定した装置が、DE−PS
2 165 106によって知られている。この場合、霧化装置
は火焔である。磁界は測定光束の進行方向に対して垂直
に設定されている。「横方向」ゼーマン効果によって吸
収スペクトルは分裂し、測定光束の発光スペクトルと試
料の吸収スペクトルは相対的に移動する。磁界を入れた
り切ったりすることによって、求める元素の原子による
原子吸光と、非特異的バックグラウンド吸収を区別する
ことができる。
に、つまり霧化された試料上に設定した装置が、DE−PS
2 165 106によって知られている。この場合、霧化装置
は火焔である。磁界は測定光束の進行方向に対して垂直
に設定されている。「横方向」ゼーマン効果によって吸
収スペクトルは分裂し、測定光束の発光スペクトルと試
料の吸収スペクトルは相対的に移動する。磁界を入れた
り切ったりすることによって、求める元素の原子による
原子吸光と、非特異的バックグラウンド吸収を区別する
ことができる。
横方向ゼーマン効果によって、スペクトルは、磁界を
切った場合の関連スペクトルの移動しない波長に対応す
るような波長をもつ中央スペクトルと、高い波長と低い
波長へ移動した側方スペクトルに分裂する。中央スペク
トルと側方スペクトルでは偏光が異なっている。従っ
て、中央スペクトルの影響を偏光子によってなくすこと
ができる。しかし、このような偏光子によって光損失は
50％となる。
切った場合の関連スペクトルの移動しない波長に対応す
るような波長をもつ中央スペクトルと、高い波長と低い
波長へ移動した側方スペクトルに分裂する。中央スペク
トルと側方スペクトルでは偏光が異なっている。従っ
て、中央スペクトルの影響を偏光子によってなくすこと
ができる。しかし、このような偏光子によって光損失は
50％となる。
GB−Ａ−2 096 315は、試料を電熱霧化するための黒
鉛管を備えた原子吸光光度計について述べている。バッ
クグラウンド補整のために、交流励磁式電磁石が設けら
れ、これにより、測定光束の光軸に対して直角に走る磁
界が設定される。横方向ゼーマン効果によって、吸収ス
ペクトルの波長のところでの、中央π成分と、それに対
して移動したσ成分に分裂する。π成分とσ成分は、偏
光が異なる。モノクロメータを当初の吸収スペクトルの
波長に合わせる成分をなくするための偏光子は設けられ
ない。
鉛管を備えた原子吸光光度計について述べている。バッ
クグラウンド補整のために、交流励磁式電磁石が設けら
れ、これにより、測定光束の光軸に対して直角に走る磁
界が設定される。横方向ゼーマン効果によって、吸収ス
ペクトルの波長のところでの、中央π成分と、それに対
して移動したσ成分に分裂する。π成分とσ成分は、偏
光が異なる。モノクロメータを当初の吸収スペクトルの
波長に合わせる成分をなくするための偏光子は設けられ
ない。
バックグラウンド吸収がすばやく変化するときは、ゼ
ーマン効果を利用したバックグラウンド吸収の補整は困
難である。電磁石の自己インダクタンスのために磁界の
入切頻度に限界があるからである。（“International
Laboratory"17（1987）No.3） ゼーマンAASのいろいろな可能性については、“TRAC
Trends in Analytical Chemistry"、第１巻（1982）、
５月、９号、203−206に述べられている。
ーマン効果を利用したバックグラウンド吸収の補整は困
難である。電磁石の自己インダクタンスのために磁界の
入切頻度に限界があるからである。（“International
Laboratory"17（1987）No.3） ゼーマンAASのいろいろな可能性については、“TRAC
Trends in Analytical Chemistry"、第１巻（1982）、
５月、９号、203−206に述べられている。
発明の開示 本発明の課題は、はじめに述べたような装置でバック
グラウンド吸収の測定をきわめて柔軟に行うことがで
き、上記のような状況で最適の信号水準で作業を行える
ように保証することにある。
グラウンド吸収の測定をきわめて柔軟に行うことがで
き、上記のような状況で最適の信号水準で作業を行える
ように保証することにある。
本発明によれば、このような課題は、 （ｇ） 霧化された試料のところで磁界を測定光束の方
向に平行に発生させ、電磁石を入れたときに、縦方向ゼ
ーマン効果によって試料の吸収スペクトルの分裂が起こ
り、この吸収スペクトルが測定光束のスペクトルに対し
て移動をするような、入れたり切ったりできる電磁石 を設けることによって達成される。
向に平行に発生させ、電磁石を入れたときに、縦方向ゼ
ーマン効果によって試料の吸収スペクトルの分裂が起こ
り、この吸収スペクトルが測定光束のスペクトルに対し
て移動をするような、入れたり切ったりできる電磁石 を設けることによって達成される。
選択によって、バックグラウンド吸収の測定と補整を
連続スペクトル光源によって行うことができ、この場
合、光束分割器による測定光束の減衰を考慮に入れる。
バックグラウンド吸収がとくにすばやく変化しないとき
には測定光束を光束分割器によって付加的に減衰させる
ことなく、ゼーマン効果を利用してバックグラウンド吸
収の測定を行うことができる。縦方向ゼーマン効果を利
用するときは、当初の線スペクトルのところには吸収ス
ペクトルに現れず、横方向ゼーマン効果の場合に必要な
偏光子による光減衰もなくなる。
連続スペクトル光源によって行うことができ、この場
合、光束分割器による測定光束の減衰を考慮に入れる。
バックグラウンド吸収がとくにすばやく変化しないとき
には測定光束を光束分割器によって付加的に減衰させる
ことなく、ゼーマン効果を利用してバックグラウンド吸
収の測定を行うことができる。縦方向ゼーマン効果を利
用するときは、当初の線スペクトルのところには吸収ス
ペクトルに現れず、横方向ゼーマン効果の場合に必要な
偏光子による光減衰もなくなる。
これによって、横方向ゼーマン効果の場合に、偏光子
の使用によって起こる光減衰や、偏光子がない場合の感
度低下が回避される。
の使用によって起こる光減衰や、偏光子がない場合の感
度低下が回避される。
本発明の１つの実施例を、以下に添付図面を用いて詳
しく説明する。
しく説明する。
図面の簡単な説明 図は、バックグラウンド吸収を縦方向ゼーマン効果を
用いて補整するような原子吸光光度計の構造を略図で示
したものである。
用いて補整するような原子吸光光度計の構造を略図で示
したものである。
発明の好ましい実施例 図は原子吸光光度計の略図である。
原子吸光光度計にはケース10があり、この中にラン
プ、光学装置および感光性検出器が設けられている。ケ
ース10は試験空間12を形成している。試験空間12内に
は、霧化装置14が取付けられている。
プ、光学装置および感光性検出器が設けられている。ケ
ース10は試験空間12を形成している。試験空間12内に
は、霧化装置14が取付けられている。
原子吸光光度計には、第１の光源16として中空陰極ラ
ンプ16がある。光源16は線スペクトルを発し、これは一
定の、目的とする元素の共鳴線に対応している。光源16
からは測定光束18が出る。測定光束18は平面鏡20によっ
て方向を変えられ、凹面鏡22によってケース10の孔24を
通り、試験空間の中央に集められる。測定光束はそのあ
と孔24と１列に並んだケース10の孔26を通過し、第２の
凹面鏡28へと導かれる。測定光束18は第２の凹面鏡28か
ら、平面鏡30を経てモノクロメータ34の入口スリット32
に集められる。モノクロメータ34の出口スリットの後に
は光電検出器38がある。光電検出器38の信号は、信号処
理回路40へ送られる。
ンプ16がある。光源16は線スペクトルを発し、これは一
定の、目的とする元素の共鳴線に対応している。光源16
からは測定光束18が出る。測定光束18は平面鏡20によっ
て方向を変えられ、凹面鏡22によってケース10の孔24を
通り、試験空間の中央に集められる。測定光束はそのあ
と孔24と１列に並んだケース10の孔26を通過し、第２の
凹面鏡28へと導かれる。測定光束18は第２の凹面鏡28か
ら、平面鏡30を経てモノクロメータ34の入口スリット32
に集められる。モノクロメータ34の出口スリットの後に
は光電検出器38がある。光電検出器38の信号は、信号処
理回路40へ送られる。
霧化装置14には、電熱式霧化のための炉があり、この
うち第１図には本来の炉体42だけが示されている。また
試料のところに磁界を発生させるための切替え可能な電
磁石44が含まれている。電磁石44には、２個の１列にそ
ろった磁極片46と48があり、その間に炉体42が設けられ
ている。磁極片46と48には、１列にそろった孔50と52が
ある。孔50と52は、炉体42の縦孔54と１列にそろってい
る。測定光束18は、孔50と52および炉体の縦孔を通過す
る。磁極片50と52は、コイル取付部56と58を備えてい
る。このコイル取付部56と58に、電磁石44のコイル60と
62が巻付けられている。64は炉体42に電流を通すネット
部である。図に示されたように、電流は測定光束18の進
行方向に対して横方向に供給され、筒状炉体42を周囲方
向に流れる。電磁石44は、磁界を交互に入れたり切った
りできるように、磁石制御部66によって制御される。電
磁石44の磁界は、炉体内の試料のところでは測定光束18
の進行方向に走っている。従って、磁界を入れると試料
原子上では縦方向ゼーマン効果が生じる。つまり、試料
原子の吸収スペクトルは２つの線スペクトルに分裂し、
当初の吸収スペクトルの方へ移動する。当初の吸収スペ
クトルの波長のところでは試料の原子吸光はもはや行わ
れない。従って、求める元素の原子も測定光束18を吸収
することはない。この測定光束は、その元素について、
移動しない共鳴線だけを含んでいるからである。そこ
で、磁界を入れた場合にはバックグラウンド吸収だけが
測定される。磁界を入れたり切ったりして測定すること
によって、バックグラウンド吸収について補整した純粋
原子吸光だけを測定することができる。電磁石44の入切
のサイクル操作は、この目的のために導線68を通じて信
号処理回路40に与えられる。縦方向ゼーマン効果を用い
ることによって、光路内の偏光子は不要となり、有効信
号は向上する。
うち第１図には本来の炉体42だけが示されている。また
試料のところに磁界を発生させるための切替え可能な電
磁石44が含まれている。電磁石44には、２個の１列にそ
ろった磁極片46と48があり、その間に炉体42が設けられ
ている。磁極片46と48には、１列にそろった孔50と52が
ある。孔50と52は、炉体42の縦孔54と１列にそろってい
る。測定光束18は、孔50と52および炉体の縦孔を通過す
る。磁極片50と52は、コイル取付部56と58を備えてい
る。このコイル取付部56と58に、電磁石44のコイル60と
62が巻付けられている。64は炉体42に電流を通すネット
部である。図に示されたように、電流は測定光束18の進
行方向に対して横方向に供給され、筒状炉体42を周囲方
向に流れる。電磁石44は、磁界を交互に入れたり切った
りできるように、磁石制御部66によって制御される。電
磁石44の磁界は、炉体内の試料のところでは測定光束18
の進行方向に走っている。従って、磁界を入れると試料
原子上では縦方向ゼーマン効果が生じる。つまり、試料
原子の吸収スペクトルは２つの線スペクトルに分裂し、
当初の吸収スペクトルの方へ移動する。当初の吸収スペ
クトルの波長のところでは試料の原子吸光はもはや行わ
れない。従って、求める元素の原子も測定光束18を吸収
することはない。この測定光束は、その元素について、
移動しない共鳴線だけを含んでいるからである。そこ
で、磁界を入れた場合にはバックグラウンド吸収だけが
測定される。磁界を入れたり切ったりして測定すること
によって、バックグラウンド吸収について補整した純粋
原子吸光だけを測定することができる。電磁石44の入切
のサイクル操作は、この目的のために導線68を通じて信
号処理回路40に与えられる。縦方向ゼーマン効果を用い
ることによって、光路内の偏光子は不要となり、有効信
号は向上する。
ケース10内には、連続スペクトルを発する第２の光源
70がある。この第２光源は重水素ランプである。第２光
源70は、光束72を送り出す。第２光源70のこの光束72は
光路内にあり、選択に応じて切替えることのできる光束
分割器74を経て、測定光束18の光路に向けることができ
る。第１光源16と第２光源70は、すばやく交互に切替え
ることができ、第１光源（中空陰極ランプ）16からの線
スペクトルの測定光束18、または第２光源（重水素ラン
プ）からの連続スペクトルの測定光束が交互に炉体内に
形成された原子煙霧内を通過する。この状態で光束分割
器74を入れ、電磁石を切る。第１光源のごく狭いスペク
トルの吸収と、線スペクトルに比べて幅が広く、モノク
ロメータ34によって定められた連続スペクトルの吸収と
を交互に測定することによって、バックグラウンド吸収
を測定することができる。第１光源16と第２光源70の切
替は、周波数500ヘルツ以上、できれば1000ヘルツで行
う。連続スペクトルを発する第２光源を基準光源とする
ことによって、ゼーマン効果を用いて、電磁石44によっ
て把握できないようなバックグラウンド吸収の相対的に
敏速な変化を測定することができる。電磁石44は、かな
り不活発であり、原子吸光度測定とバックグラウンド吸
収測定の切替頻度には、限界がある。縦方向ゼーマン効
果を用いることによって、光路内の偏光子は不要とな
る。従って、電磁石を切ったあとは、原子吸光光度計は
連続スペクトルを発する第２光源70で作動し、偏光子と
光束分割器74による二重の光減衰は起こらない。
70がある。この第２光源は重水素ランプである。第２光
源70は、光束72を送り出す。第２光源70のこの光束72は
光路内にあり、選択に応じて切替えることのできる光束
分割器74を経て、測定光束18の光路に向けることができ
る。第１光源16と第２光源70は、すばやく交互に切替え
ることができ、第１光源（中空陰極ランプ）16からの線
スペクトルの測定光束18、または第２光源（重水素ラン
プ）からの連続スペクトルの測定光束が交互に炉体内に
形成された原子煙霧内を通過する。この状態で光束分割
器74を入れ、電磁石を切る。第１光源のごく狭いスペク
トルの吸収と、線スペクトルに比べて幅が広く、モノク
ロメータ34によって定められた連続スペクトルの吸収と
を交互に測定することによって、バックグラウンド吸収
を測定することができる。第１光源16と第２光源70の切
替は、周波数500ヘルツ以上、できれば1000ヘルツで行
う。連続スペクトルを発する第２光源を基準光源とする
ことによって、ゼーマン効果を用いて、電磁石44によっ
て把握できないようなバックグラウンド吸収の相対的に
敏速な変化を測定することができる。電磁石44は、かな
り不活発であり、原子吸光度測定とバックグラウンド吸
収測定の切替頻度には、限界がある。縦方向ゼーマン効
果を用いることによって、光路内の偏光子は不要とな
る。従って、電磁石を切ったあとは、原子吸光光度計は
連続スペクトルを発する第２光源70で作動し、偏光子と
光束分割器74による二重の光減衰は起こらない。
また、電磁石44を切り、同時に光束分割器74を光路か
ら取外すこともできる。しかし、この場合には、バック
グラウンド補整なしで、測定光束の光度をいっぱいにし
て行われる。
ら取外すこともできる。しかし、この場合には、バック
グラウンド補整なしで、測定光束の光度をいっぱいにし
て行われる。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 デンクス，カルル・ギュンター ドイツ連邦共和国 デー―7776 オヴィ ンゲン、プリールシュトラーセ ３ (72)発明者 レーダー，ギュンター ドイツ連邦共和国 デー―7776 オヴィ ンゲン、ヒンター・デン・ゲルテン 13 (56)参考文献 特開 昭53−42797（ＪＰ，Ａ) 特開 昭60−57238（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−38139（ＪＰ，Ａ) 特開 昭60−187844（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−231437（ＪＰ，Ａ) 特開 昭58−5632（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 21/00 - 21/01 G01N 21/17 - 21/61
Claims (1)
- 【請求項１】（ａ） 線スペクトルを発する第１光源
（16）と、 （ｂ） 前記第１光源が測定光束（18）を発生し、該測
定光束（18）を所定の方向で試験空間（12）を通過して
光電検出器（38）へと導くための光学装置（20、22、2
8、30、34）と、 （ｃ） 前記測定光束（18）が通過する霧化空間内で、
試料の成分が原子の状態となるように前記試料を霧化す
るため、前記試験空間（12）内に配置した霧化装置（1
4）と、 （ｄ） バックグラウンド補正のための、光束（72）を
発する連続スペクトルを発する第２光源（70）と、 （ｅ） 前記第２光源（70）から発せられ、霧化空間を
通過する、基準光束としての前記光束（72）を反射する
光束分割器（74）と、 （ｆ） 前記第１光源（16）および前記第２光源（70）
を交互に切り替える切換手段と、 （ｇ） 電磁石（44）を有したバックグラウンド補正の
ためのゼーマン手段と、 （ｈ） 前記霧化空間において、前記測定光束（18）の
所定の方向とほぼ平行に広がり、縦方向ゼーマン効果に
よって、前記第１光源（16）から発生された吸収スペク
トルに対応した試料原子の吸収スペクトルを変位する磁
界を発生する、前記霧化装置（14）と結合した電磁石
（44）と、 （ｉ） 前記電磁石（44）をスイッチ入切するための磁
石制御手段（66）と、を備え、 （ｊ） 前記光束分割器が取り入れ動作位置または取り
出し非動作位置にあり、該光束分割器が取り入れ動作位
置にあるときは、前記基準光束が前記霧化空間に向けら
れ、 （ｋ） 前記光束分割器および前記電磁石は、選択的に
バックグラウンド補正する手段の一部であり、前記光束
分割器および前記電磁石は、（ｉ）前記光束分割器が取
り入れ動作位置にあり、前記電磁石がスイッチの切られ
た非作動状態にある、または（ii）前記光束分割器が取
り外し非動作位置にあり、前記電磁石がスイッチの入れ
られた作動状態にあることを特徴とする原子吸光光度
計。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3809213A DE3809213A1 (de) | 1988-03-18 | 1988-03-18 | Atomabsorptions-spektrometer |
| DE3809213.1 | 1988-03-18 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
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| JP3047104B2 true JP3047104B2 (ja) | 2000-05-29 |
Family
ID=6350143
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
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| EP (1) | EP0404794B1 (ja) |
| JP (1) | JP3047104B2 (ja) |
| AU (1) | AU624608B2 (ja) |
| DE (2) | DE3809213A1 (ja) |
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| JPH05215673A (ja) * | 1992-01-31 | 1993-08-24 | Shimadzu Corp | 低圧放電管及びそれを用いた原子吸光分光光度計 |
| DE4230298C2 (de) * | 1992-09-10 | 2003-07-10 | Perkin Elmer Bodenseewerk Zwei | Atomabsorptions-Spektrometer und Hochdrucklampe für ein Atomabsorptions-Spektrometer |
| EP0629851A3 (de) * | 1993-06-17 | 1995-03-22 | Fraunhofer Ges Forschung | Vorrichtung zur absorptionsspektroskopischen Spurengasanalytik. |
| DE4401745C2 (de) * | 1994-01-21 | 2003-02-06 | Perkin Elmer Bodenseewerk Zwei | Verfahren zur Lichterzeugung für die Atomabsorptionsspektroskopie und Atomabsorptionsspektroskopiesystem zur Durchführung des Verfahrens |
| DE4413096B4 (de) * | 1994-04-15 | 2004-09-09 | Berthold Gmbh & Co. Kg | Multielement-Atomabsorptionsspektrometer sowie Meßverfahren unter Nutzung eines solchen Atomabsorptionsspektrometers |
| JPH0989763A (ja) * | 1995-09-20 | 1997-04-04 | Hitachi Ltd | 原子吸光分光光度計 |
| US5760895A (en) * | 1996-08-20 | 1998-06-02 | Aerodyne Research, Inc. | Optical monitor for water vapor concentration |
| DE19635421C1 (de) * | 1996-08-23 | 1997-12-11 | Deutsche Forsch Luft Raumfahrt | Resonanz-Absorptionsspektrometer und Verfahren zur Messung von Resonanz-Absorptionsspektren von Ionen |
| DE19740210B4 (de) * | 1997-09-12 | 2013-08-01 | PerkinElmer Singapore Pte.Ltd. | Atomabsorptionsspektrometer |
| JP3508722B2 (ja) * | 2000-12-25 | 2004-03-22 | 株式会社島津製作所 | 原子吸光光度計 |
| DE112009004305T5 (de) * | 2009-02-19 | 2012-06-14 | Abb Research Ltd. | Sauerstoffkonzentrationsmesseinrichtung und Verfahren zum Messen von Sauerstoff |
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| CN102141518B (zh) * | 2010-01-29 | 2013-04-10 | 上海华之光谱仪器有限公司 | 无洛仑兹力的交流塞曼背景校正原子吸收装置及其方法 |
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|---|---|---|---|---|
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| DE3113678A1 (de) * | 1981-04-04 | 1982-10-14 | Bodenseewerk Perkin-Elmer & Co GmbH, 7770 Überlingen | Vorrichtung zur atomabsorptionsanalyse einer probe |
| JPS6057238A (ja) * | 1983-09-09 | 1985-04-03 | Hitachi Ltd | 発光分析装置 |
| JPS60187844A (ja) * | 1984-03-07 | 1985-09-25 | Hitachi Ltd | 偏光ゼ−マン原子吸光分光光度計 |
| JPS61231437A (ja) * | 1985-04-08 | 1986-10-15 | Hitachi Ltd | 原子吸光分光々度計 |
-
1988
- 1988-03-18 DE DE3809213A patent/DE3809213A1/de not_active Withdrawn
-
1989
- 1989-03-13 DE DE8989903130T patent/DE58902429D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1989-03-13 EP EP89903130A patent/EP0404794B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1989-03-13 US US07/549,013 patent/US5181077A/en not_active Expired - Lifetime
- 1989-03-13 WO PCT/EP1989/000260 patent/WO1989008832A1/de active IP Right Grant
- 1989-03-13 AU AU33521/89A patent/AU624608B2/en not_active Ceased
- 1989-03-13 JP JP1502948A patent/JP3047104B2/ja not_active Expired - Lifetime
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| AU624608B2 (en) | 1992-06-18 |
| WO1989008832A1 (en) | 1989-09-21 |
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