JP3031466B1 - 食品容器の形状計測方法 - Google Patents
食品容器の形状計測方法Info
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- JP3031466B1 JP3031466B1 JP11064621A JP6462199A JP3031466B1 JP 3031466 B1 JP3031466 B1 JP 3031466B1 JP 11064621 A JP11064621 A JP 11064621A JP 6462199 A JP6462199 A JP 6462199A JP 3031466 B1 JP3031466 B1 JP 3031466B1
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Abstract
【要約】
【課題】 食品容器が複雑形状を呈する場合でも、簡単
に形状計測することができる食品容器の形状計測方法を
提供する。 【解決手段】 食品容器1の形状計測の目標となる断層
面にレーザービーム10を照射し、このレーザービーム
10の照射によって、断層面に得られる励起光を撮影手
段9によって撮影し、画像計測によって食品容器1の形
状計測を行うことを特徴とする。
に形状計測することができる食品容器の形状計測方法を
提供する。 【解決手段】 食品容器1の形状計測の目標となる断層
面にレーザービーム10を照射し、このレーザービーム
10の照射によって、断層面に得られる励起光を撮影手
段9によって撮影し、画像計測によって食品容器1の形
状計測を行うことを特徴とする。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えばガラス製の
食品容器の形状を光学的に計測する食品容器の形状計測
方法に関する。
食品容器の形状を光学的に計測する食品容器の形状計測
方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、ガラス容器の胴部肉厚をレーザ光
を用いて光学的に測定する測定装置が知られている(例
えば、特開平6−201336号公報)。
を用いて光学的に測定する測定装置が知られている(例
えば、特開平6−201336号公報)。
【0003】この公報に記載の測定装置は、ガラス容器
にレーザ光を入射させ、当該ガラス容器の外表面での光
点と内表面での光点との間の距離を撮像装置で撮映し
て、この画像からガラス容器の肉厚を算出する方法を採
用している。
にレーザ光を入射させ、当該ガラス容器の外表面での光
点と内表面での光点との間の距離を撮像装置で撮映し
て、この画像からガラス容器の肉厚を算出する方法を採
用している。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述の
技術では、ガラス容器の内表面が清浄であればあるほど
光の乱反射が起こりにくくなるので内表面での光点を求
めにくくなり、また外表面に埃などが付着した場合には
外表面での光点の形状が変形するので外表面の光点を求
めにくくなり、更には虚像による光点が発生するので画
像処理が困難になり、いずれも肉厚測定に誤差を生じさ
せるという問題がある。
技術では、ガラス容器の内表面が清浄であればあるほど
光の乱反射が起こりにくくなるので内表面での光点を求
めにくくなり、また外表面に埃などが付着した場合には
外表面での光点の形状が変形するので外表面の光点を求
めにくくなり、更には虚像による光点が発生するので画
像処理が困難になり、いずれも肉厚測定に誤差を生じさ
せるという問題がある。
【0005】また、従来の構成では、ガラス容器等が複
雑形状を呈する場合、その複雑形状を形状計測すること
が困難になるという問題がある。
雑形状を呈する場合、その複雑形状を形状計測すること
が困難になるという問題がある。
【0006】そこで、本発明の目的は、食品容器が複雑
形状を呈する場合でも、簡単に形状計測することができ
る食品容器の形状計測方法を提供することにある。
形状を呈する場合でも、簡単に形状計測することができ
る食品容器の形状計測方法を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
ガラス製食品容器の形状計測の目標となる断層面にレー
ザービームを照射し、当該ガラス中の不純物イオンに当
該レーザービームが吸収されて前記断層面に得られる励
起光を撮影手段によって撮影し、画像計測によって食品
容器の形状計測を行うことを特徴とするものである。
ガラス製食品容器の形状計測の目標となる断層面にレー
ザービームを照射し、当該ガラス中の不純物イオンに当
該レーザービームが吸収されて前記断層面に得られる励
起光を撮影手段によって撮影し、画像計測によって食品
容器の形状計測を行うことを特徴とするものである。
【0008】請求項2記載の発明は、請求項1記載のも
のにおいて、直線状に変換されたレーザービームを断層
面に照射するものである。
のにおいて、直線状に変換されたレーザービームを断層
面に照射するものである。
【0009】請求項3記載の発明は、請求項1記載のも
のにおいて、リング状に変換されたレーザービームを断
層面に照射するものである。
のにおいて、リング状に変換されたレーザービームを断
層面に照射するものである。
【0010】これらの発明では、食品容器の形状計測の
目標となる断層面にレーザービームを照射し、このレー
ザービームの照射によって断層面に得られる励起光を撮
影手段によって撮影するので、食品容器の形状が複雑で
あっても、この励起光が得られる限り、形状を簡単に計
測できる。
目標となる断層面にレーザービームを照射し、このレー
ザービームの照射によって断層面に得られる励起光を撮
影手段によって撮影するので、食品容器の形状が複雑で
あっても、この励起光が得られる限り、形状を簡単に計
測できる。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して本発明
の一実施形態を詳細に説明する。
の一実施形態を詳細に説明する。
【0012】図1は、ガラスびん(食品容器)の口部の
形状を計測するシステムを示している。このガラスびん
1は、矢印Yで示す方向に回転される回転台2の上に載
置されている。このガラスびん1の口部3の外周外側に
はレーザーダイオードを備えた単一のレーザービーム照
射システム5が配置されている。また、ガラスびん1の
口部3の上方には、フィルタ7、及びCCDカメラ9が
配設され、このCCDカメラ9には画像処理装置11が
接続されている。
形状を計測するシステムを示している。このガラスびん
1は、矢印Yで示す方向に回転される回転台2の上に載
置されている。このガラスびん1の口部3の外周外側に
はレーザーダイオードを備えた単一のレーザービーム照
射システム5が配置されている。また、ガラスびん1の
口部3の上方には、フィルタ7、及びCCDカメラ9が
配設され、このCCDカメラ9には画像処理装置11が
接続されている。
【0013】ガラスびん1の形状計測の目標となる断層
面にレーザービーム10が照射されると、図1bに示す
ように、当該断層面に、レーザービーム10の波長とは
異なる波長を有する励起光8が出現する。
面にレーザービーム10が照射されると、図1bに示す
ように、当該断層面に、レーザービーム10の波長とは
異なる波長を有する励起光8が出現する。
【0014】この励起光8はガラス中の不純物イオン
(遷移金属イオン、或いは希土類イオン等)にレーザビ
ーム10が吸収されて発生する励起光であり、この励起
光8は一般にレーザビームの波長よりも長波長側の波長
を有する。この励起光8は回転台2の回転により、図1
cに示すように、口部3の一周方向に連続し、この連続
した励起光8は、ガラスびん1の上方に配置されたCC
Dカメラ9によって撮影される。フィルタ7はこの励起
光の波長以外の波長(例えばレーザ光)を遮蔽するフィ
ルタであって、CCDカメラ9には励起光のみが撮影さ
れる。
(遷移金属イオン、或いは希土類イオン等)にレーザビ
ーム10が吸収されて発生する励起光であり、この励起
光8は一般にレーザビームの波長よりも長波長側の波長
を有する。この励起光8は回転台2の回転により、図1
cに示すように、口部3の一周方向に連続し、この連続
した励起光8は、ガラスびん1の上方に配置されたCC
Dカメラ9によって撮影される。フィルタ7はこの励起
光の波長以外の波長(例えばレーザ光)を遮蔽するフィ
ルタであって、CCDカメラ9には励起光のみが撮影さ
れる。
【0015】CCDカメラ9で撮影された画像は、画像
処理装置11に送られ、ここで画像処理されてモニタ画
面11aに映し出される。
処理装置11に送られ、ここで画像処理されてモニタ画
面11aに映し出される。
【0016】図2は、画像処理装置11のモニタ画面1
1aに映し出される画像の例を示している。この画像か
らは、ガラスびん1の口部における肉厚寸法A、内径寸
法B、外径寸法Cの各部寸法が計測される。具体的に
は、励起光のしめる画素数が測定され、この画素数から
各部寸法が算出される。
1aに映し出される画像の例を示している。この画像か
らは、ガラスびん1の口部における肉厚寸法A、内径寸
法B、外径寸法Cの各部寸法が計測される。具体的に
は、励起光のしめる画素数が測定され、この画素数から
各部寸法が算出される。
【0017】この実施形態では、ガラスびん1の口部断
層面にレーザービーム10を照射し、このレーザービー
ム10の照射によって断層面に得られる励起光を、CC
Dカメラ9によって撮影するので、ガラスびん1の形状
が複雑であったとしても、この励起光が得られる限り、
形状を簡単に計測できる。
層面にレーザービーム10を照射し、このレーザービー
ム10の照射によって断層面に得られる励起光を、CC
Dカメラ9によって撮影するので、ガラスびん1の形状
が複雑であったとしても、この励起光が得られる限り、
形状を簡単に計測できる。
【0018】図3は別の実施形態を示している。
【0019】このガラスびん1の口部3の外周外側に
は、3つのレーザービーム照射システム5が周方向に等
間隔に配置されている。また、ガラスびん1の口部3の
上方には、フィルタ7、及びCCDカメラ9が配設さ
れ、このCCDカメラ9には画像処理装置11が接続さ
れている。
は、3つのレーザービーム照射システム5が周方向に等
間隔に配置されている。また、ガラスびん1の口部3の
上方には、フィルタ7、及びCCDカメラ9が配設さ
れ、このCCDカメラ9には画像処理装置11が接続さ
れている。
【0020】レーザービーム照射システム5は、図4に
示すように、それぞれがレーザーダイオード13と、シ
リンドリカルレンズ14と、屋根型プリズム15とを備
えて構成されている。レーザーダイオード13から照射
されるレーザービーム10はシリンドリカルレンズ1
4、及び屋根型プリズム15によってビーム形状が直線
状に変換され、ガラスびん1の形状計測の目標となる断
層面(口部の断面層)にガラスびん1の外壁側から照射
される。
示すように、それぞれがレーザーダイオード13と、シ
リンドリカルレンズ14と、屋根型プリズム15とを備
えて構成されている。レーザーダイオード13から照射
されるレーザービーム10はシリンドリカルレンズ1
4、及び屋根型プリズム15によってビーム形状が直線
状に変換され、ガラスびん1の形状計測の目標となる断
層面(口部の断面層)にガラスびん1の外壁側から照射
される。
【0021】この場合、レーザービーム照射システム5
が周方向に等間隔に配置されているので、目標断層面に
はレーザビーム10が万遍なく照射される。ただし、レ
ーザービーム照射システム5の配置は、これに限定され
るものではなく、形状計測の目標となる断層面に万遍な
くレーザビーム10を照射できれば、単一のレーザービ
ーム照射システム5を配置するだけでもよい。
が周方向に等間隔に配置されているので、目標断層面に
はレーザビーム10が万遍なく照射される。ただし、レ
ーザービーム照射システム5の配置は、これに限定され
るものではなく、形状計測の目標となる断層面に万遍な
くレーザビーム10を照射できれば、単一のレーザービ
ーム照射システム5を配置するだけでもよい。
【0022】ガラスびん1の形状計測の目標となる断層
面にレーザービーム10が照射されると、当該断層面
に、レーザービーム10の波長とは異なる波長を有する
励起光が出現する。この励起光はガラス中の不純物イオ
ン(遷移金属イオン、或いは希土類イオン等)にレーザ
ビームが吸収されて発生する励起光であり、この励起光
は一般にレーザビームの波長よりも長波長側の波長を有
する。この励起光は、ガラスびん1の上方に配置された
CCDカメラ9によって撮影される。フィルタ7はこの
励起光の波長以外の波長(例えばレーザ光)を遮蔽する
フィルタであって、CCDカメラ9には励起光のみが撮
影される。
面にレーザービーム10が照射されると、当該断層面
に、レーザービーム10の波長とは異なる波長を有する
励起光が出現する。この励起光はガラス中の不純物イオ
ン(遷移金属イオン、或いは希土類イオン等)にレーザ
ビームが吸収されて発生する励起光であり、この励起光
は一般にレーザビームの波長よりも長波長側の波長を有
する。この励起光は、ガラスびん1の上方に配置された
CCDカメラ9によって撮影される。フィルタ7はこの
励起光の波長以外の波長(例えばレーザ光)を遮蔽する
フィルタであって、CCDカメラ9には励起光のみが撮
影される。
【0023】CCDカメラ9で撮影された画像は、画像
処理装置11に送られ、ここで画像処理されてモニタ画
面11aに映し出される。当該画像を別のモニタ画面1
1bに映し出して、この画像を、画像処理装置11とは
離れた位置、例えば製造ライン上で、目視確認できるよ
うに構成することは可能である。
処理装置11に送られ、ここで画像処理されてモニタ画
面11aに映し出される。当該画像を別のモニタ画面1
1bに映し出して、この画像を、画像処理装置11とは
離れた位置、例えば製造ライン上で、目視確認できるよ
うに構成することは可能である。
【0024】この画像処理装置11のモニタ画面11a
には、例えば図2に示すような画像が映し出される。こ
の画像の処理は前記の通りである。
には、例えば図2に示すような画像が映し出される。こ
の画像の処理は前記の通りである。
【0025】この実施形態では、ガラスびん1の口部断
層面にレーザービーム10を照射し、このレーザービー
ム10の照射によって断層面に得られる励起光を、CC
Dカメラ9によって撮影するので、ガラスびん1の形状
が複雑であったとしても、この励起光が得られる限り、
形状を簡単に計測できる。
層面にレーザービーム10を照射し、このレーザービー
ム10の照射によって断層面に得られる励起光を、CC
Dカメラ9によって撮影するので、ガラスびん1の形状
が複雑であったとしても、この励起光が得られる限り、
形状を簡単に計測できる。
【0026】図5、及び図6は別の実施形態を示す。
【0027】図5に示すレーザービーム照射システム5
は、レーザーダイオード21と、ガルバノミラー(首振
りミラー)22とで構成されている。これによれば、レ
ーザーダイオード21からのレーザービーム10は、ガ
ルバノミラー22によって、ガラスびん1の口部断層面
を矢印aの方向に走査される。また、図6に示すレーザ
ービーム照射システム5は、レーザーダイオード31
と、ポリゴンミラー(正多面体ミラー)32とで構成さ
れている。これによれば、レーザーダイオード31から
のレーザービーム10は、ポリゴンミラー32によっ
て、ガラスびん1の口部断層面を矢印bの方向に走査さ
れる。なお、いずれの場合も、レーザービーム照射シス
テム5は、図3に示す実施形態と同様に、ガラスびん1
の周方向に3つ、ほぼ等間隔に設置されている。
は、レーザーダイオード21と、ガルバノミラー(首振
りミラー)22とで構成されている。これによれば、レ
ーザーダイオード21からのレーザービーム10は、ガ
ルバノミラー22によって、ガラスびん1の口部断層面
を矢印aの方向に走査される。また、図6に示すレーザ
ービーム照射システム5は、レーザーダイオード31
と、ポリゴンミラー(正多面体ミラー)32とで構成さ
れている。これによれば、レーザーダイオード31から
のレーザービーム10は、ポリゴンミラー32によっ
て、ガラスびん1の口部断層面を矢印bの方向に走査さ
れる。なお、いずれの場合も、レーザービーム照射シス
テム5は、図3に示す実施形態と同様に、ガラスびん1
の周方向に3つ、ほぼ等間隔に設置されている。
【0028】図7は更に別の実施形態を示している。
【0029】この実施形態では、レーザービーム照射シ
ステム5aをガラスびん1の口部3の真上に配置し、真
上から形状計測の目標となる断層面にレーザービーム1
0を照射し、このレーザービーム10の照射によって当
該断層面に得られる励起光を、口部3の真横に配置され
たCCDカメラ9によって撮影する。このCCDカメラ
9には画像処理装置11が接続されている。
ステム5aをガラスびん1の口部3の真上に配置し、真
上から形状計測の目標となる断層面にレーザービーム1
0を照射し、このレーザービーム10の照射によって当
該断層面に得られる励起光を、口部3の真横に配置され
たCCDカメラ9によって撮影する。このCCDカメラ
9には画像処理装置11が接続されている。
【0030】この実施形態では、図8に示すように、ね
じ口部を備えたガラスびん1の口部3の断層面(斜線
部)が、CCDカメラ9によって撮影される。
じ口部を備えたガラスびん1の口部3の断層面(斜線
部)が、CCDカメラ9によって撮影される。
【0031】この撮影された画像は、前述したように、
画像処理装置11のモニタ画面11a(図7)に映し出
される。この画像からは、図8に示すように、ガラスび
ん1の口部3におけるねじ高さ寸法H1、ねじ幅寸法
W、ねじピッチ寸法P、ビード高さ寸法Qの各部寸法が
計測される。
画像処理装置11のモニタ画面11a(図7)に映し出
される。この画像からは、図8に示すように、ガラスび
ん1の口部3におけるねじ高さ寸法H1、ねじ幅寸法
W、ねじピッチ寸法P、ビード高さ寸法Qの各部寸法が
計測される。
【0032】また、計測対象が、図9に示すように、王
冠キャップ口部を備えたガラスびん1の口部3である場
合、かぶら高さ寸法H2が計測される。
冠キャップ口部を備えたガラスびん1の口部3である場
合、かぶら高さ寸法H2が計測される。
【0033】図7において、レーザービーム照射システ
ム5aはガラスびん1の口部3の真上に配置している
が、これに限定されず、レーザービーム照射システム5
bをガラスびん1の口部3の真横に配置してもよい。
ム5aはガラスびん1の口部3の真上に配置している
が、これに限定されず、レーザービーム照射システム5
bをガラスびん1の口部3の真横に配置してもよい。
【0034】これによっても、レーザービーム10の照
射によって断層面に得られる励起光を、口部3の真横に
配置されたCCDカメラ9で撮影することにより、画像
処理装置11のモニタ画面11aに、図8または図9に
示すような、口部3の断層面の画像を映し出すことがで
きる。
射によって断層面に得られる励起光を、口部3の真横に
配置されたCCDカメラ9で撮影することにより、画像
処理装置11のモニタ画面11aに、図8または図9に
示すような、口部3の断層面の画像を映し出すことがで
きる。
【0035】図7に示す実施形態では、ガラス容器の口
部断層面にレーザービームを照射し、このレーザービー
ムの照射によって断層面に得られる励起光を、CCDカ
メラによって撮影するので、かなり複雑形状ではある
が、この励起光が得られる限り、形状を簡単に計測する
ことができる。
部断層面にレーザービームを照射し、このレーザービー
ムの照射によって断層面に得られる励起光を、CCDカ
メラによって撮影するので、かなり複雑形状ではある
が、この励起光が得られる限り、形状を簡単に計測する
ことができる。
【0036】図10は、更に別の実施形態を示してい
る。
る。
【0037】この実施形態では、ガラスびん1の口部3
に対し、その軸線方向内壁側からレーザービームが照射
されている。このレーザービーム照射システム5は、レ
ーザーダイオード41と、コリメータレンズ42と、フ
ァイバ43と、円錐プリズム44と、ズームレンズ45
とを備えて構成されている。
に対し、その軸線方向内壁側からレーザービームが照射
されている。このレーザービーム照射システム5は、レ
ーザーダイオード41と、コリメータレンズ42と、フ
ァイバ43と、円錐プリズム44と、ズームレンズ45
とを備えて構成されている。
【0038】レーザーダイオード41から照射されるレ
ーザービーム10は、コリメータレンズ42、ファイバ
43、円錐プリズム44、及びズームレンズ45によっ
てビーム形状がリング状に変換され、ハーフミラー46
を通してガラスびん1の口部3に照射される。これによ
れば、レーザービーム10がリング状に変換されて、ガ
ラスびん1の口部3(目標断層面)に照射されるので、
当該目標断層面にはレーザビーム10が万遍なく照射さ
れる。
ーザービーム10は、コリメータレンズ42、ファイバ
43、円錐プリズム44、及びズームレンズ45によっ
てビーム形状がリング状に変換され、ハーフミラー46
を通してガラスびん1の口部3に照射される。これによ
れば、レーザービーム10がリング状に変換されて、ガ
ラスびん1の口部3(目標断層面)に照射されるので、
当該目標断層面にはレーザビーム10が万遍なく照射さ
れる。
【0039】ガラスびん1の形状計測の目標となる断層
面にレーザービーム10が照射されると、当該断層面
に、レーザービーム10の波長とは異なる波長を有する
励起光47が出現する。この励起光47は、ハーフミラ
ー45によって反射され、これを撮影できる位置に配置
されたCCDカメラ9によって撮影される。フィルタ7
はこの励起光の波長以外の波長を遮蔽するフィルタであ
って、CCDカメラ9には励起光のみが撮影される。C
CDカメラ9で撮影された画像は、前述した実施形態と
同様に、画像処理装置11に送られ、ここで画像処理さ
れてモニタ画面11aに映し出される。当該画像を別の
モニタ画面11bに映し出して、この画像を、画像処理
装置11とは離れた位置、例えば製造ライン上で、目視
確認できるように構成することは可能である。
面にレーザービーム10が照射されると、当該断層面
に、レーザービーム10の波長とは異なる波長を有する
励起光47が出現する。この励起光47は、ハーフミラ
ー45によって反射され、これを撮影できる位置に配置
されたCCDカメラ9によって撮影される。フィルタ7
はこの励起光の波長以外の波長を遮蔽するフィルタであ
って、CCDカメラ9には励起光のみが撮影される。C
CDカメラ9で撮影された画像は、前述した実施形態と
同様に、画像処理装置11に送られ、ここで画像処理さ
れてモニタ画面11aに映し出される。当該画像を別の
モニタ画面11bに映し出して、この画像を、画像処理
装置11とは離れた位置、例えば製造ライン上で、目視
確認できるように構成することは可能である。
【0040】この実施形態では、単一のレーザービーム
照射システム5によって形状計測できるので、計測精度
が向上する。
照射システム5によって形状計測できるので、計測精度
が向上する。
【0041】以上の構成では、例えば図11乃至図13
に示すように、ガラスびん1の目標断層面に出現した励
起光が、画像処理されて画像処理装置11のモニタ画面
11a、及び別のモニタ画面11bに映し出される。従
って、例えば製造ラインでは、別のモニタ画面11bに
映し出される画像から、目視又は画像処理装置によって
ガラスびん1の欠点を発見することができる。図11で
は泡51を発見することができ、図12では異物52を
発見することができ、図13ではクラック53を発見す
ることができる。なお、以上は例示であり、そのほかに
脈理、ガラス容器の咬みだしの有無などを発見すること
ができる。
に示すように、ガラスびん1の目標断層面に出現した励
起光が、画像処理されて画像処理装置11のモニタ画面
11a、及び別のモニタ画面11bに映し出される。従
って、例えば製造ラインでは、別のモニタ画面11bに
映し出される画像から、目視又は画像処理装置によって
ガラスびん1の欠点を発見することができる。図11で
は泡51を発見することができ、図12では異物52を
発見することができ、図13ではクラック53を発見す
ることができる。なお、以上は例示であり、そのほかに
脈理、ガラス容器の咬みだしの有無などを発見すること
ができる。
【0042】図14a、b、cは別の実施形態を示して
いる。
いる。
【0043】この実施形態では、ガラスびん1の口部の
軸線方向に沿って、ほぼ等間隔に上段、中段、及び下段
のレーザービーム照射システム61,62,63が配置
されている。これらレーザービーム照射システム61,
62,63にはコントローラ64が接続され、このコン
トローラ64は、3つのレーザービーム照射システム6
1,62,63を同期順にパルス発振させる。
軸線方向に沿って、ほぼ等間隔に上段、中段、及び下段
のレーザービーム照射システム61,62,63が配置
されている。これらレーザービーム照射システム61,
62,63にはコントローラ64が接続され、このコン
トローラ64は、3つのレーザービーム照射システム6
1,62,63を同期順にパルス発振させる。
【0044】この同期順に従って発振されるレーザービ
ームに起因して、ガラスびん1の目標断層面に出現する
それぞれの励起光が、順次、CCDカメラ9で撮影さ
れ、画像処理されて、画像処理装置11のモニタ画面1
1a、及び別のモニタ画面11bに映し出される。ガラ
スびん1の口部が正常であれば、図14bに示すよう
に、画像は上段、中段、及び下段でほぼ真円状を呈し、
例えば、下段に偏肉があれば、図14cに示すように、
下段の画像が偏肉を呈するので、これを目視又は画像処
理装置で簡単に確認することができる。
ームに起因して、ガラスびん1の目標断層面に出現する
それぞれの励起光が、順次、CCDカメラ9で撮影さ
れ、画像処理されて、画像処理装置11のモニタ画面1
1a、及び別のモニタ画面11bに映し出される。ガラ
スびん1の口部が正常であれば、図14bに示すよう
に、画像は上段、中段、及び下段でほぼ真円状を呈し、
例えば、下段に偏肉があれば、図14cに示すように、
下段の画像が偏肉を呈するので、これを目視又は画像処
理装置で簡単に確認することができる。
【0045】これは、従来のいわゆる口内部通り径検査
に相当し、この実施形態では、口内部通り径検査の精度
を向上させることができる。
に相当し、この実施形態では、口内部通り径検査の精度
を向上させることができる。
【0046】図15a、b、cは別の実施形態を示して
いる。
いる。
【0047】この実施形態では、ガラスびん1の口部の
軸線方向に沿って、ほぼ等間隔に上段、中段、及び下段
のミラー71、72、73が配置され、レーザービーム
照射システム75からのレーザービームが、各ミラー7
1、72、73で反射されて、上段、中段、及び下段の
ガラスびん1の各目標断層面に照射される。
軸線方向に沿って、ほぼ等間隔に上段、中段、及び下段
のミラー71、72、73が配置され、レーザービーム
照射システム75からのレーザービームが、各ミラー7
1、72、73で反射されて、上段、中段、及び下段の
ガラスびん1の各目標断層面に照射される。
【0048】上段、中段のミラー71、72は振動ミラ
ーで構成され、下段のミラー73は固定ミラーで構成さ
れる。上段のミラー71が突出した場合、この上段のミ
ラー71でレーザービームが反射され、上段のミラー7
1が後退して中段のミラー72が突出した場合、この中
段のミラー72でレーザービームが反射され、上段、中
段のミラー71、72が後退した場合、下段のミラー7
3でレーザービームが反射され、各目標断層面に照射さ
れる。
ーで構成され、下段のミラー73は固定ミラーで構成さ
れる。上段のミラー71が突出した場合、この上段のミ
ラー71でレーザービームが反射され、上段のミラー7
1が後退して中段のミラー72が突出した場合、この中
段のミラー72でレーザービームが反射され、上段、中
段のミラー71、72が後退した場合、下段のミラー7
3でレーザービームが反射され、各目標断層面に照射さ
れる。
【0049】ガラスびん1の口部が正常であれば、図1
5bに示すように、画像は上段、中段、及び下段でほぼ
真円状を呈し、例えば、下段に偏肉があれば、図15c
に示すように、下段の画像が偏肉を呈するので、これを
目視又は画像処理装置できわめて簡単に確認することが
できる。
5bに示すように、画像は上段、中段、及び下段でほぼ
真円状を呈し、例えば、下段に偏肉があれば、図15c
に示すように、下段の画像が偏肉を呈するので、これを
目視又は画像処理装置できわめて簡単に確認することが
できる。
【0050】以上、一実施形態に基づいて本発明を説明
したが、本発明は、これに限定されるものでないことは
明らかである。
したが、本発明は、これに限定されるものでないことは
明らかである。
【0051】
【発明の効果】これらの発明によれば、食品容器の形状
計測の目標となる断層面にレーザービームを照射し、こ
のレーザービームの照射によって断層面に得られる励起
光を撮影手段によって撮影するので、食品容器の形状が
複雑であっても、この励起光が得られる限り、形状を簡
単に計測することができる。
計測の目標となる断層面にレーザービームを照射し、こ
のレーザービームの照射によって断層面に得られる励起
光を撮影手段によって撮影するので、食品容器の形状が
複雑であっても、この励起光が得られる限り、形状を簡
単に計測することができる。
【図1】aは本発明の一実施形態を示す構成図、bは口
部の励起光の画像を示す図、cは口部回転後の励起光の
画像を示す図である。
部の励起光の画像を示す図、cは口部回転後の励起光の
画像を示す図である。
【図2】画像を示す平面図である。
【図3】別の実施形態を示す構成図である。
【図4】同じく水平断面で示す構成図である。
【図5】別の実施形態を示す図である。
【図6】別の実施形態を示す図である。
【図7】別の実施形態を示す構成図である。
【図8】ガラスびんの口部を示す断面図である。
【図9】ガラスびんの口部を示す断面図である。
【図10】別の実施形態を示す図である。
【図11】ガラスびんの欠点を示す図である。
【図12】ガラスびんの欠点を示す図である。
【図13】ガラスびんの欠点を示す図である。
【図14】別の実施形態を示し、aは構成図、bは正常
時の口部を示す図、cは異常時の口部を示す図である。
時の口部を示す図、cは異常時の口部を示す図である。
【図15】別の実施形態を示し、aは構成図、bは正常
時の口部を示す図、cは異常時の口部を示す図である。
時の口部を示す図、cは異常時の口部を示す図である。
1 ガラスびん 2 回転台 3 口部 5 レーザービーム照射システム 7 フィルタ 9 CCDカメラ 11 画像処理装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01B 11/00 - 11/30 102 G01N 21/84 - 21/91
Claims (3)
- 【請求項1】 ガラス製食品容器の形状計測の目標とな
る断層面にレーザービームを照射し、当該ガラス中の不
純物イオンに当該レーザービームが吸収されて前記断層
面に得られる励起光を撮影手段によって撮影し、画像計
測によって食品容器の形状計測を行うことを特徴とする
食品容器の形状計測方法。 - 【請求項2】 直線状に変換されたレーザービームを断
層面に照射することを特徴とする請求項1記載の食品容
器の形状計測方法。 - 【請求項3】 リング状に変換されたレーザービームを
断層面に照射することを特徴とする請求項1記載の食品
容器の形状計測方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11064621A JP3031466B1 (ja) | 1999-03-11 | 1999-03-11 | 食品容器の形状計測方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11064621A JP3031466B1 (ja) | 1999-03-11 | 1999-03-11 | 食品容器の形状計測方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP3031466B1 true JP3031466B1 (ja) | 2000-04-10 |
JP2000258138A JP2000258138A (ja) | 2000-09-22 |
Family
ID=13263526
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11064621A Expired - Fee Related JP3031466B1 (ja) | 1999-03-11 | 1999-03-11 | 食品容器の形状計測方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3031466B1 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4085999B2 (ja) * | 2004-03-22 | 2008-05-14 | アヲハタ株式会社 | 密封容器の検査方法及び内容物入り密封容器製品の製造方法 |
JP4508838B2 (ja) * | 2004-11-11 | 2010-07-21 | 大日本印刷株式会社 | 容器の口部の検査装置 |
JP2008145300A (ja) * | 2006-12-11 | 2008-06-26 | Sharp Corp | 蛍光体層厚み判定方法および発光装置の製造方法 |
CN102713506B (zh) * | 2009-12-17 | 2014-09-17 | 新日铁住金株式会社 | 管状物的检查装置及其检查方法 |
JP2017167078A (ja) * | 2016-03-18 | 2017-09-21 | 三菱重工業株式会社 | 光計測装置、光計測方法及び回転機械 |
CN116558438B (zh) * | 2023-07-11 | 2023-09-15 | 湖南视觉伟业智能科技有限公司 | 一种吹瓶质量检测装置及方法 |
-
1999
- 1999-03-11 JP JP11064621A patent/JP3031466B1/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2000258138A (ja) | 2000-09-22 |
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