JP3012402B2 - Information processing system - Google Patents

Information processing system

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JP3012402B2
JP3012402B2 JP4189880A JP18988092A JP3012402B2 JP 3012402 B2 JP3012402 B2 JP 3012402B2 JP 4189880 A JP4189880 A JP 4189880A JP 18988092 A JP18988092 A JP 18988092A JP 3012402 B2 JP3012402 B2 JP 3012402B2
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JP
Japan
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main storage
input
storage device
test
access
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雅晴 江尻
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NEC Communication Systems Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【技術分野】本発明は情報処理システムに関し、特に中
央処理装置,主記憶装置,入出力制御装置,これ等装置
を共通接続するバスからなる系が二重化された構成の情
報処理システムに関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an information processing system, and more particularly to an information processing system in which a system including a central processing unit, a main storage device, an input / output control unit, and a bus connecting these devices in common is duplicated. .

【0002】[0002]

【従来技術】この様な二重化システムにおいては、オン
ライン動作系の入出力制御装置と、オンライン非動作系
の主記憶装置との間の動作テストを行うには以下の2つ
の方法がある。
2. Description of the Related Art In such a redundant system, there are the following two methods for performing an operation test between an input / output control device of an online operation system and a main storage device of an online non-operation system.

【0003】(1)オンライン非動作系の中央処理装置
からオンライン動作系の入出力制御装置内のレジスタに
対して入出力を行い、バスの接続状態のみの確認を行う
方法。
(1) A method in which input / output is performed from a central processing unit of an online non-operation type to a register in an input / output control unit of an online operation type, and only a bus connection state is confirmed.

【0004】(2)オンライン動作を一時的に中断し、
オンライン非動作系の中央処理装置からの指示により、
入出力制御装置が入出力データのリードライトをオンラ
イン非動作系の主記憶装置に対して行う方法。
(2) Online operation is temporarily suspended,
In response to an instruction from a central processing unit that is not online,
A method in which an input / output control device reads and writes input / output data from / to a main storage device that is not online.

【0005】上記の(1)の方法では、オンライン動作
系の入出力制御装置がバスマスタとなってオンライン非
動作系の主記憶装置に対してデータ転送動作の確認がで
きないという欠点がある。
The above method (1) has a disadvantage that the input / output control device of the online operation system becomes a bus master and cannot confirm the data transfer operation to the main storage device of the online non-operation system.

【0006】上記(2)の方法では、オンライン動作を
中断して停止させる必要があり、テスト中に無応答等の
障害が発生した場合には、オンライン停止時間が長くな
り、システムダウンにつながる恐れがあり、システムの
信頼性が低下するという欠点がある。
In the above method (2), it is necessary to interrupt and stop the online operation. If a failure such as no response occurs during the test, the online stop time becomes longer, which may lead to a system down. There is a disadvantage that the reliability of the system is reduced.

【0007】また、テストを何等行わない方法も考えら
れるが、この場合には、正常性の確認が行われていない
装置をシステム中に組込むことになって、無応答障害等
が発生した場合、これまたオンライン停止時間が長くな
り、システムダウンにつながる恐れがあってやはりシス
テムの信頼性の低下を招来するという欠点がある。
[0007] In addition, a method of not performing any test is conceivable, but in this case, a device whose normality has not been confirmed is to be incorporated into the system, and if a non-response failure or the like occurs, In addition, there is a disadvantage that the online stop time is prolonged, which may lead to a system down, which also lowers the reliability of the system.

【0008】[0008]

【発明の目的】そこで、本発明はこの様な従来技術の欠
点を解消すべくなされたものであって、その目的とする
ところは、自系のオンライン動作に対して何等影響を与
えることなく他系の主記憶装置と自系の入出力制御装置
との間のインタフェース動作テストが可能となるように
した情報処理システムを提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, the present invention has been made to solve the above-mentioned drawbacks of the prior art, and the object of the present invention is to provide another method without affecting the online operation of its own system. It is an object of the present invention to provide an information processing system capable of performing an interface operation test between a system main storage device and its own system input / output control device.

【0009】[0009]

【発明の構成】本発明によれば、第1の中央処理装置,
第1の主記憶装置,第1の入出力装置,これ等各装置が
共通接続された第1のバスからなる第1の系と、第2の
中央処理装置,第2の主記憶装置,第2の入出力装置,
これ等各装置が共通接続された第2のバスからなる第2
の系とを有する二重化構成の情報処理システムであっ
て、前記第1及び第2の入出力制御装置の各々は、自系
及び他系の両主記憶装置に対して夫々オンラインアクセ
ス自在なオンライン手段と、自系及び他系の両主記憶装
置に対して夫々テストアクセス自在なテスト手段とを含
み、前記オンライン手段による自系の主記憶装置に対す
るアクセス中に、前記テスト手段により他系の主記憶装
置に対するテストアクセスをなすようにし、前記第1及
び第2の主記憶装置の各々は予め定められた診断用デー
タを格納した診断領域を有し、前記テスト手段は前記診
断領域に対するリードアクセスを行い、またこのリード
された診断用データを反転して前記診断領域にライトア
クセスするよう構成されていることを特徴とする情報処
理システムが得られる。
According to the present invention, a first central processing unit,
A first system including a first main storage device, a first input / output device, and a first bus to which these devices are commonly connected, a second central processing unit, a second main storage device, 2 input / output devices,
Each of these devices comprises a second bus commonly connected to a second bus.
An information processing system having a dual configuration, wherein each of the first and second input / output control devices is capable of online access to both main storage devices of its own system and another system. And test means capable of performing test access to both the main storage device of the own system and the main storage device of the other system, respectively, while the main storage device of the other system is accessed by the test means while the online storage device accesses the main storage device of the own system. Make test access to the equipment, and
And each of the second main storage devices has a predetermined diagnostic data.
A diagnostic area in which a diagnostic data is stored, wherein the test means
Read access to the disconnected area
Inverts the diagnostic data that has been written and writes it to the diagnostic area.
An information processing system characterized by being configured to access the information processing system.

【0010】[0010]

【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0011】図1は本実施例のブロック図である。第1
の系の中央処理装置(CPU)10は、主記憶装置(M
M)20と入出力制御装置(BIU)30とバス40で
共通接続されている。バス40は第2の系の入出力制御
装置(BIU)31に接続されており、第1の系の入出
力制御装置30は入出力装置(IO)50と接続されて
いる。
FIG. 1 is a block diagram of the present embodiment. First
The central processing unit (CPU) 10 of the system includes a main storage device (M
M) 20, an input / output control unit (BIU) 30, and a bus 40. The bus 40 is connected to a second system input / output control device (BIU) 31, and the first system input / output control device 30 is connected to an input / output device (IO) 50.

【0012】同様に第2の系の中央処理装置11は、主
記憶装置21と入出力制御装置31とバス41で共通接
続されている。バス41は第1の系の入出力制御装置3
0に接続され、第2の系の入出力制御装置31は入出力
装置51と接続されている。
Similarly, the central processing unit 11 of the second system is commonly connected by a main storage device 21, an input / output control device 31, and a bus 41. The bus 41 is the input / output control device 3 of the first system.
0, and the input / output control device 31 of the second system is connected to the input / output device 51.

【0013】いま、第1の系を0系と呼び、第2の系を
1系と呼ぶことにする。0系の入出力制御装置30内に
は、オンライン処理を行う回路(ONL)60と、入出
力制御装置30と他系主記憶装置21との間のテストを
行うテスト回路(TEST)70とが設けられている。
同様に1系の入出力制御装置31内には、オンライン処
理を行う回路61と、入出力制御装置31と他系主記憶
装置20との間のテストを行うテスト回路71とが設け
られている。
Now, the first system will be called the 0 system, and the second system will be called the 1 system. A circuit (ONL) 60 for performing online processing and a test circuit (TEST) 70 for performing a test between the input / output control device 30 and the other system main storage device 21 are provided in the input / output control device 30 of the 0 system. Is provided.
Similarly, a circuit 61 for performing online processing and a test circuit 71 for performing a test between the input / output control device 31 and the other system main storage device 20 are provided in the input / output control device 31 of the first system. .

【0014】図2は0系のシステムと1系のシステム両
方の装置がすべて正常であることが確認できているとき
の0系の入出力制御装置30からの主記憶装置へのアク
セスを示す概念図である。本アクセス動作をオンライン
動作と呼ぶ。
FIG. 2 is a conceptual diagram showing an access to the main storage from the input / output control device 30 of the system 0 when it is confirmed that all the devices of the system 0 and the system 1 are all normal. FIG. This access operation is called an online operation.

【0015】0系の入出力制御装置30内のオンライン
処理を行う回路60の働きにより、この入出力制御装置
30はバス40とバス41とのバスマスタとなり、バス
40とバス41とを介して両系の主記憶装置20と主記
憶装置21とに対してライトアクセスを行い、データを
書込む。同様にバス40とバス41とを介して両系の主
記憶装置20と主記憶装置21とに対してリードアクセ
スを行い、データを読出している。このことにより両系
の主記憶を常に同じ内容にしている。
The input / output control device 30 becomes a bus master of the bus 40 and the bus 41 by the function of the circuit 60 for performing the online processing in the input / output control device 30 of the 0 system. Write access is performed to the main storage device 20 and the main storage device 21 of the system, and data is written. Similarly, read access is made to the main storage devices 20 and 21 of both systems via the bus 40 and the bus 41 to read data. As a result, the main memories of both systems always have the same contents.

【0016】図3は1系の装置が故障したとき、入出力
制御装置30からの主記憶装置へアクセスを示す概念図
である。このときのオンライン動作は入出力制御装置3
0からの主記憶装置20へのアクセスということにな
る。0系の入出力制御装置30内のオンライン処理を行
う回路60の働きにより、この入出力制御装置30はバ
ス40のバスマスタとなりバス40を介して0系の主記
憶装置20にデータを書込み、同じく0系の主記憶装置
20からデータを読出している。
FIG. 3 is a conceptual diagram showing access from the input / output control device 30 to the main storage device when a system 1 device fails. At this time, the online operation is performed by the input / output controller 3
That is, the access to the main storage device 20 from 0. By the function of the circuit 60 for performing online processing in the input / output control device 30 of the system 0, the input / output control device 30 becomes a bus master of the bus 40 and writes data to the main storage device 20 of the system 0 via the bus 40. Data is being read from the 0-system main storage device 20.

【0017】図4は0系の入出力制御装置30により自
系に対してオンライン処理を行いつつ同時に1系の主記
憶装置21に対してリードライトアクセス試験を行って
いるときの概念図である。
FIG. 4 is a conceptual diagram when a read / write access test is performed on the main storage device 21 of the system 1 while performing on-line processing on the system itself by the input / output control device 30 of the system 0. .

【0018】0系の入出力制御装置30内のオンライン
処理を行う回路60の働きにより、バス40を介して主
記憶装置20のオンライン転送データの授受を行ってい
る。
The online transfer data of the main storage device 20 is transmitted and received via the bus 40 by the function of the circuit 60 for performing the online processing in the input / output control device 30 of the 0 system.

【0019】これと同時にテスト開始指示が生成される
と、これに応答して入出力制御装置30内のテスト回路
70が動作して、その働きにより入出力制御装置30は
バス41のバスマスタとなり、他系の主記憶装置21に
対するテスト用のリードライトアクセスが可能となる。
At the same time, when a test start instruction is generated, the test circuit 70 in the input / output control device 30 operates in response to the instruction, and the input / output control device 30 becomes a bus master of the bus 41 by its function. Test read / write access to the main storage device 21 of the other system becomes possible.

【0020】このとき、主記憶装置21内には、予め診
断用データが格納された診断領域を設定しておき、この
診断領域に対してテスト回路70はリードアクセスを行
う。そして、その後同じくテスト回路70は主記憶装置
21内の診断領域に対して、上記診断データの反転した
データを書込むべくライトアクセスを行う。
At this time, a diagnostic area in which diagnostic data is stored is set in the main storage device 21 in advance, and the test circuit 70 performs read access to this diagnostic area. Then, the test circuit 70 similarly performs write access to the diagnostic area in the main storage device 21 to write the inverted data of the diagnostic data.

【0021】このとき、診断データの反転したデータを
書込むのは以下の理由による。すなわち、主記憶装置上
に診断領域を確保しておくことから、この診断領域の容
量を増大することは許されないために、診断データをこ
の領域へ再書込み(いわゆる上書き)する関係上、以前
に格納されていた診断データを反転して書込めば、診断
を行ったことが判別できることによるものである。
At this time, the reason why the inverted data of the diagnostic data is written is as follows. That is, since the diagnosis area is secured on the main storage device, it is not allowed to increase the capacity of the diagnosis area. Therefore, the diagnosis data is rewritten (so-called overwritten) to this area. This is because if the stored diagnostic data is inverted and written, it can be determined that the diagnosis has been performed.

【0022】以上の処理により、0系でオンライン処理
を行いつつ、0系の入出力制御装置30から1系の主記
憶装置21に対して診断用データの転送テストを実施す
ることができる。正常にテストが終了すると、図2に示
した様に両系共に正常な運転状態に移行することが可能
となる。
With the above processing, a transfer test of diagnostic data can be performed from the input / output control device 30 of the system 0 to the main storage device 21 of the system 1 while performing online processing in the system 0. When the test is completed normally, both systems can shift to a normal operation state as shown in FIG.

【0023】[0023]

【発明の効果】叙上の如く、本発明によれば、自系のオ
ンライン処理時に並行して他系のデータ転送テストを行
うことができるので、高信頼性の二重化システムを実現
することが可能となるという効果がある。
As described above, according to the present invention, the data transfer test of the other system can be performed in parallel with the on-line processing of the own system, so that a highly reliable duplex system can be realized. This has the effect of becoming

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施例の構成を示すシステムブロック
図である。
FIG. 1 is a system block diagram showing a configuration of an embodiment of the present invention.

【図2】両系共に正常な場合の0系の入出力制御装置3
0からの主記憶装置20,21へのアクセス態様を示す
概念図である。
FIG. 2 shows the input / output control device 3 of the system 0 when both systems are normal.
FIG. 3 is a conceptual diagram showing an access mode from 0 to the main storage devices 20 and 21.

【図3】1系の故障時における入出力制御装置30から
主記憶装置20へのアクセス状態を示す概念図である。
FIG. 3 is a conceptual diagram showing an access state from the input / output control device 30 to the main storage device 20 when a failure occurs in the first system.

【図4】0系の入出力制御装置30でオンライン処理を
行いつつ1系の主記憶装置21に対してテスト用のアク
セスを行う場合の概念図である。
FIG. 4 is a conceptual diagram illustrating a case where a test access is made to a primary system main storage device 21 while an on-line process is performed by a system 0 input / output control device 30;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10,11 中央処理装置 20,21 主記憶装置 30,31 入出力制御装置 40,41 バス 50,51 入出力装置 60,61 オンライン回路 70,71 テスト回路 10, 11 Central processing unit 20, 21 Main storage device 30, 31 I / O control device 40, 41 Bus 50, 51 I / O device 60, 61 Online circuit 70, 71 Test circuit

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 第1の中央処理装置,第1の主記憶装
置,第1の入出力装置,これ等各装置が共通接続された
第1のバスからなる第1の系と、第2の中央処理装置,
第2の主記憶装置,第2の入出力装置,これ等各装置が
共通接続された第2のバスからなる第2の系とを有する
二重化構成の情報処理システムであって、前記第1及び
第2の入出力制御装置の各々は、自系及び他系の両主記
憶装置に対して夫々オンラインアクセス自在なオンライ
ン手段と、自系及び他系の両主記憶装置に対して夫々テ
ストアクセス自在なテスト手段とを含み、前記オンライ
ン手段による自系の主記憶装置に対するアクセス中に、
前記テスト手段により他系の主記憶装置に対するテスト
アクセスをなすようにし、前記第1及び第2の主記憶装
置の各々は予め定められた診断用データを格納した診断
領域を有し、前記テスト手段は前記診断領域に対するリ
ードアクセスを行い、またこのリードされた診断用デー
タを反転して前記診断領域にライトアクセスするよう構
成されていることを特徴とする情報処理システム。
1. A first system comprising a first central processing unit, a first main storage device, a first input / output device, a first bus to which these devices are commonly connected, and a second system. Central processing unit,
An information processing system having a duplex configuration including a second main storage device, a second input / output device, and a second system including a second bus to which these devices are commonly connected. Each of the second input / output control devices has online means capable of online access to both main storage devices of the own system and the other system, and test access to both main storage devices of the own system and the other system. Test means, and during access to the main storage device of the own system by the online means,
The test means makes a test access to a main storage device of another system, and the first and second main storage devices are accessed.
Each of the devices is a diagnostic that stores predetermined diagnostic data.
Area, and the test means includes a resource for the diagnostic area.
Read access to the diagnostic data
So that the data can be inverted and write access can be made to the diagnostic area.
An information processing system characterized by being configured.
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