JP3008049B2 - 欠点検査装置 - Google Patents
欠点検査装置Info
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- JP3008049B2 JP3008049B2 JP3341108A JP34110891A JP3008049B2 JP 3008049 B2 JP3008049 B2 JP 3008049B2 JP 3341108 A JP3341108 A JP 3341108A JP 34110891 A JP34110891 A JP 34110891A JP 3008049 B2 JP3008049 B2 JP 3008049B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、移動するシート状被検
査物の被検査面に存在する欠点をＣＣＤカメラ等により
撮像し、この被検査面の検査結果をＣＲＴ等の画面上に
表示する欠点検査装置に関する。
査物の被検査面に存在する欠点をＣＣＤカメラ等により
撮像し、この被検査面の検査結果をＣＲＴ等の画面上に
表示する欠点検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、この種の欠点検査装置は、移動
するシート状の被検査物、例えば紙、布、フィルム、金
属等の被検査面を検査するために使用されるものであ
り、このため、従来の欠点検査装置は、被検査面上の欠
点を撮像するＣＣＤカメラ、被検査面の移動長さを検出
する長さ検出器、ＣＣＤカメラからの映像信号と長さ検
出器からの検出信号に基づき欠点のデータを処理するデ
ータ処理部、及び欠点のデータを表示するＣＲＴから概
略構成されている。
するシート状の被検査物、例えば紙、布、フィルム、金
属等の被検査面を検査するために使用されるものであ
り、このため、従来の欠点検査装置は、被検査面上の欠
点を撮像するＣＣＤカメラ、被検査面の移動長さを検出
する長さ検出器、ＣＣＤカメラからの映像信号と長さ検
出器からの検出信号に基づき欠点のデータを処理するデ
ータ処理部、及び欠点のデータを表示するＣＲＴから概
略構成されている。
【０００３】以上の構成からなる従来の欠点検査装置で
は、ＣＣＤカメラが被検査面上の欠点を撮像する毎に欠
点の映像信号を出力し、この映像信号に基づき欠点の種
類、例えば汚れ程度や穴の大きさ等が判別されて欠点種
別データが作成されると共に、この欠点種別データと長
さ検出器からの検出信号に基づき、データ処理部が欠点
の種類と位置を示す欠点データを作成して欠点撮像順に
ロギングする。
は、ＣＣＤカメラが被検査面上の欠点を撮像する毎に欠
点の映像信号を出力し、この映像信号に基づき欠点の種
類、例えば汚れ程度や穴の大きさ等が判別されて欠点種
別データが作成されると共に、この欠点種別データと長
さ検出器からの検出信号に基づき、データ処理部が欠点
の種類と位置を示す欠点データを作成して欠点撮像順に
ロギングする。
【０００４】さらに、データ処理部によりロギングされ
た欠点データに基づきＣＲＴが被検査面上の欠点の種類
と位置を検査結果として画面上に表示する。
た欠点データに基づきＣＲＴが被検査面上の欠点の種類
と位置を検査結果として画面上に表示する。
【０００５】このＣＲＴの画面上に表示される検査結果
の表示例を図５に示す。
の表示例を図５に示す。
【０００６】この図において、ＣＲＴの画面上には、Ｃ
ＣＤカメラにより撮像された欠点が被検査面の６つに分
割された幅方向、及び移動方向で決定される存在位置毎
に表示されていると共に、その欠点の種類（図において
は「欠点」と表わして簡略化した）も表示されている。
ＣＤカメラにより撮像された欠点が被検査面の６つに分
割された幅方向、及び移動方向で決定される存在位置毎
に表示されていると共に、その欠点の種類（図において
は「欠点」と表わして簡略化した）も表示されている。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような従来の欠点検査装置では、図５に示すようにＣＲ
Ｔの画面上には被検査面に存在した欠点個々の位置が表
示されるため、被検査面のどの位置に欠点があるか認識
可能であるが、逆に、被検査面全体における欠点の集中
領域、すなわち、全体的な欠点の存在状況を認識するこ
とができないという問題点がある。
ような従来の欠点検査装置では、図５に示すようにＣＲ
Ｔの画面上には被検査面に存在した欠点個々の位置が表
示されるため、被検査面のどの位置に欠点があるか認識
可能であるが、逆に、被検査面全体における欠点の集中
領域、すなわち、全体的な欠点の存在状況を認識するこ
とができないという問題点がある。
【０００８】特に、被検査面が数万メートルにもわたっ
て移動するものである時、品質管理上、被検査面のどの
部分に欠点が集中しているかを認識しなければ被検査面
の裁断工程等において検査結果を有効に利用することが
できない。
て移動するものである時、品質管理上、被検査面のどの
部分に欠点が集中しているかを認識しなければ被検査面
の裁断工程等において検査結果を有効に利用することが
できない。
【０００９】そこで、本発明は上記問題点に着目してな
されたもので、被検査面のブロック単位毎をグラフィッ
ク化して画面上に表示することにより被検査面全体にお
ける欠点の存在状況を認識可能とする欠点検査装置を提
供することを目的とする。
されたもので、被検査面のブロック単位毎をグラフィッ
ク化して画面上に表示することにより被検査面全体にお
ける欠点の存在状況を認識可能とする欠点検査装置を提
供することを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
請求項１記載の発明は、移動する被検査面上の欠点を欠
点検出部により検出すると共に、上記被検査面の移動長
さを長さ検出器により検出し、上記欠点検出部からの検
出データ及び長さ検出器からの検出信号に基づき被検査
面の検査結果を画面上に表示する欠点検査装置におい
て、上記欠点検出部からの検出データ及び長さ検出器か
らの検出信号に基づき上記被検査面のブロック単位毎に
欠点数を計数する欠点数計数手段と、上記欠点数計数手
段により計数された欠点数をブロック単位毎に記憶する
欠点数記憶手段と、上記欠点数記憶手段に記憶された欠
点数に基づき上記被検査面のブロック単位毎をグラフィ
ック化して上記画面上に表示するグラフィック表示手段
とを具備することを特徴とする。
請求項１記載の発明は、移動する被検査面上の欠点を欠
点検出部により検出すると共に、上記被検査面の移動長
さを長さ検出器により検出し、上記欠点検出部からの検
出データ及び長さ検出器からの検出信号に基づき被検査
面の検査結果を画面上に表示する欠点検査装置におい
て、上記欠点検出部からの検出データ及び長さ検出器か
らの検出信号に基づき上記被検査面のブロック単位毎に
欠点数を計数する欠点数計数手段と、上記欠点数計数手
段により計数された欠点数をブロック単位毎に記憶する
欠点数記憶手段と、上記欠点数記憶手段に記憶された欠
点数に基づき上記被検査面のブロック単位毎をグラフィ
ック化して上記画面上に表示するグラフィック表示手段
とを具備することを特徴とする。
【００１１】また、上記目的を達成するため請求項２記
載の発明は、上記欠点数記憶手段はその記憶域がアドレ
スにより示されるものであって、この記憶域にデータを
書き込むためアドレス指定する書き込みポインタを設定
すると共に、この記憶域からデータを読み出すためアド
レス指定する読み出しポインタを設定するポインタ設定
手段と、上記ポインタ設定手段により設定された書き込
みポインタの指定するアドレスの記憶域に上記欠点数計
数手段により計数されたブロック単位の欠点数を書き込
む欠点数書き込み手段と、上記被検査面が予め設定され
た長さを移動する毎に上記ポインタ設定手段により設定
されている書き込みポインタをインクリメントする書き
込みポインタインクリメント手段と、上記ポインタ設定
手段により設定されている書き込みポインタと読み出し
ポインタとの大きさを比較するポインタ比較手段と、上
記ポインタ比較手段により書き込みポインタが読み出し
ポインタより大きいと判定された場合、この読み出しポ
インタの指定するアドレスの記憶域からブロック単位の
欠点数を読み出して上記グラフィック表示手段に転送す
る欠点数読み出し手段と、上記欠点数読み出し手段が読
み出しポインタに基づく読み出しを終了する毎に上記ポ
インタ設定手段により設定されている読み出しポインタ
をインクリメントする読み出しポインタインクリメント
手段とを具備することを特徴とする。
載の発明は、上記欠点数記憶手段はその記憶域がアドレ
スにより示されるものであって、この記憶域にデータを
書き込むためアドレス指定する書き込みポインタを設定
すると共に、この記憶域からデータを読み出すためアド
レス指定する読み出しポインタを設定するポインタ設定
手段と、上記ポインタ設定手段により設定された書き込
みポインタの指定するアドレスの記憶域に上記欠点数計
数手段により計数されたブロック単位の欠点数を書き込
む欠点数書き込み手段と、上記被検査面が予め設定され
た長さを移動する毎に上記ポインタ設定手段により設定
されている書き込みポインタをインクリメントする書き
込みポインタインクリメント手段と、上記ポインタ設定
手段により設定されている書き込みポインタと読み出し
ポインタとの大きさを比較するポインタ比較手段と、上
記ポインタ比較手段により書き込みポインタが読み出し
ポインタより大きいと判定された場合、この読み出しポ
インタの指定するアドレスの記憶域からブロック単位の
欠点数を読み出して上記グラフィック表示手段に転送す
る欠点数読み出し手段と、上記欠点数読み出し手段が読
み出しポインタに基づく読み出しを終了する毎に上記ポ
インタ設定手段により設定されている読み出しポインタ
をインクリメントする読み出しポインタインクリメント
手段とを具備することを特徴とする。
【００１２】
【作用】請求項１記載の発明では、欠点検出部が被検査
面上の欠点を検出する毎に欠点の検出データを欠点数計
数手段に出力すると共に、この検出データを受信した欠
点数計数手段が検出データと長さ検出器からの検出信号
に基づき、上記被検査面の予め設定された移動長さによ
り決定される被検査面のブロック単位に存在した欠点数
を計数する。
面上の欠点を検出する毎に欠点の検出データを欠点数計
数手段に出力すると共に、この検出データを受信した欠
点数計数手段が検出データと長さ検出器からの検出信号
に基づき、上記被検査面の予め設定された移動長さによ
り決定される被検査面のブロック単位に存在した欠点数
を計数する。
【００１３】この欠点数計数手段により計数されたブロ
ック単位の欠点数は欠点数記憶手段に記憶されると共
に、この欠点数記憶手段からブロック単位毎に欠点数が
読み出されてグラフィック表示手段に転送される。
ック単位の欠点数は欠点数記憶手段に記憶されると共
に、この欠点数記憶手段からブロック単位毎に欠点数が
読み出されてグラフィック表示手段に転送される。
【００１４】さらに、ブロック単位毎に欠点数を受信し
たグラフィック表示手段は、このブロック単位毎の欠点
数に基づき被検査面のブロック単位毎をグラフィック化
すると共に、このグラフィック化された被検査面を検査
結果として画面上に表示する。
たグラフィック表示手段は、このブロック単位毎の欠点
数に基づき被検査面のブロック単位毎をグラフィック化
すると共に、このグラフィック化された被検査面を検査
結果として画面上に表示する。
【００１５】請求項２記載の発明では、ポインタ設定手
段が欠点数記憶手段の記憶域にデータを書き込むための
アドレスを指定する書き込みポインタを設定する。ま
た、ポインタ設定手段は、欠点数記憶手段の記憶域から
データを読み出すためのアドレスを指定する読み出しポ
インタを設定する。
段が欠点数記憶手段の記憶域にデータを書き込むための
アドレスを指定する書き込みポインタを設定する。ま
た、ポインタ設定手段は、欠点数記憶手段の記憶域から
データを読み出すためのアドレスを指定する読み出しポ
インタを設定する。
【００１６】このポインタ設定手段により設定された書
き込みポインタの指定するアドレスの記憶域に欠点数書
き込み手段が欠点数計数手段により計数されたブロック
単位の欠点数を書き込む。
き込みポインタの指定するアドレスの記憶域に欠点数書
き込み手段が欠点数計数手段により計数されたブロック
単位の欠点数を書き込む。
【００１７】また、書き込みポインタインクリメント手
段は、長さ検出器からの検出信号に基づき被検査面が予
め設定された長さを移動する毎に上記ポインタ設定手段
により設定されている書き込みポインタをインクリメン
トする。
段は、長さ検出器からの検出信号に基づき被検査面が予
め設定された長さを移動する毎に上記ポインタ設定手段
により設定されている書き込みポインタをインクリメン
トする。
【００１８】さらに、ポインタ比較手段が上記ポインタ
設定手段により設定されている書き込みポインタと読み
出しポインタとの大きさを比較し、この比較によって書
き込みポインタが読み出しポインタより大きいと判定さ
れた場合、欠点数読み出し手段がこの読み出しポインタ
の指定するアドレスの記憶域からブロック単位の欠点数
を読み出してグラフィック表示手段に転送する。
設定手段により設定されている書き込みポインタと読み
出しポインタとの大きさを比較し、この比較によって書
き込みポインタが読み出しポインタより大きいと判定さ
れた場合、欠点数読み出し手段がこの読み出しポインタ
の指定するアドレスの記憶域からブロック単位の欠点数
を読み出してグラフィック表示手段に転送する。
【００１９】また、この欠点数読み出し手段が読み出し
ポインタに基づく読み出しを終了する毎に読み出しポイ
ンタインクリメント手段が上記ポインタ設定手段により
設定されている読み出しポインタをインクリメントす
る。
ポインタに基づく読み出しを終了する毎に読み出しポイ
ンタインクリメント手段が上記ポインタ設定手段により
設定されている読み出しポインタをインクリメントす
る。
【００２０】
【実施例】以下、本発明に係る欠点検査装置の一実施例
を図１ないし図４に基づき詳細に説明する。
を図１ないし図４に基づき詳細に説明する。
【００２１】図１は、この検査装置を各機能毎に示した
ブロック構成図である。
ブロック構成図である。
【００２２】図１において、この検査装置は、移動する
シート状被検査物、例えば、紙、布、フィルム、金属等
の表面を検査するために使用されるものであるため、こ
の表面を被検査面として欠点を検出する欠点検出部１０
と被検査面の移動長さを検出する長さ検出器２０それぞ
れがＩ／Ｆ（インターフェイス）５０、５１を介してデ
ータ処理部３０に接続されていると共に、このデータ処
理部３０に検査結果を表示するグラフィック表示部４０
が接続されている。
シート状被検査物、例えば、紙、布、フィルム、金属等
の表面を検査するために使用されるものであるため、こ
の表面を被検査面として欠点を検出する欠点検出部１０
と被検査面の移動長さを検出する長さ検出器２０それぞ
れがＩ／Ｆ（インターフェイス）５０、５１を介してデ
ータ処理部３０に接続されていると共に、このデータ処
理部３０に検査結果を表示するグラフィック表示部４０
が接続されている。
【００２３】欠点検出部１０は、被検査面を撮像して汚
れや穴等の欠点の映像信号を出力する欠点検出器１１
と、この欠点検出器１１からの映像信号に基づき欠点の
種類、例えば、汚れ程度や穴の大きさ等を判別して欠点
種別データを出力する欠点種判別回路１２から構成され
ている。
れや穴等の欠点の映像信号を出力する欠点検出器１１
と、この欠点検出器１１からの映像信号に基づき欠点の
種類、例えば、汚れ程度や穴の大きさ等を判別して欠点
種別データを出力する欠点種判別回路１２から構成され
ている。
【００２４】本実施例では、６台の欠点検出器１１が移
動する被検査面の幅方向に並んで配置されていると共
に、この欠点検出器１１それぞれに欠点種判別回路１２
が接続されている。
動する被検査面の幅方向に並んで配置されていると共
に、この欠点検出器１１それぞれに欠点種判別回路１２
が接続されている。
【００２５】長さ検出器２０は、被検査面の移動長さを
検出してこの検出信号をデータ処理部３０に出力するも
のであり、本実施例では、この長さ検出器２０としてパ
ルスセンサが用いられると共に、このパルスセンサから
は検出信号としてパルス信号が出力される。
検出してこの検出信号をデータ処理部３０に出力するも
のであり、本実施例では、この長さ検出器２０としてパ
ルスセンサが用いられると共に、このパルスセンサから
は検出信号としてパルス信号が出力される。
【００２６】データ処理部３０は、ＣＰＵ３１、ＲＯＭ
３２、バッファ３３、及びＲＡＭ３４がそれぞれバス３
５に接続されて構成されている。
３２、バッファ３３、及びＲＡＭ３４がそれぞれバス３
５に接続されて構成されている。
【００２７】上記ＣＰＵ３１は、欠点種判別回路１２か
らの欠点種別データと長さ検出器２０からの検出信号に
基づき、被検査面のブロック単位毎にかつ欠点の種類毎
に欠点数を計数すると共に、このブロック単位毎の欠点
数をＲＡＭ３４に書き込んだり、ＲＡＭ３４から読み出
したりする。
らの欠点種別データと長さ検出器２０からの検出信号に
基づき、被検査面のブロック単位毎にかつ欠点の種類毎
に欠点数を計数すると共に、このブロック単位毎の欠点
数をＲＡＭ３４に書き込んだり、ＲＡＭ３４から読み出
したりする。
【００２８】ここで、被検査面のブロック単位とは、移
動する被検査面の幅方向の分割単位と移動方向の長さ単
位によって決定されるもので、この幅方向の分割単位
は、上記欠点検出器１１の撮像視野によって決定される
と共に、移動方向の長さ単位は、ＣＰＵ３１が長さ検出
器２０からの検出信号をカウントしてこのカウント数に
基づき、被検査面が予め設定された長さを移動したと判
断することにより決定される。
動する被検査面の幅方向の分割単位と移動方向の長さ単
位によって決定されるもので、この幅方向の分割単位
は、上記欠点検出器１１の撮像視野によって決定される
と共に、移動方向の長さ単位は、ＣＰＵ３１が長さ検出
器２０からの検出信号をカウントしてこのカウント数に
基づき、被検査面が予め設定された長さを移動したと判
断することにより決定される。
【００２９】なお、本実施例では、１つの欠点検出器１
１の撮像視野全範囲を１つの分割単位とすると共に、被
検査面の移動長さ１０００ｍを長さ単位とする。
１の撮像視野全範囲を１つの分割単位とすると共に、被
検査面の移動長さ１０００ｍを長さ単位とする。
【００３０】上記ＲＯＭ３２にはＣＰＵ３１に各種のデ
ータ処理を実行させるためのプログラムが格納されてお
り、また、上記バッファ３３にはＣＰＵ３１により計数
された欠点数が一時的にロギングされる。
ータ処理を実行させるためのプログラムが格納されてお
り、また、上記バッファ３３にはＣＰＵ３１により計数
された欠点数が一時的にロギングされる。
【００３１】上記ＲＡＭ３４は、ＣＰＵ３１により計数
された欠点数をブロック単位毎に記憶するものであり、
このため、このＲＡＭ３４のデータ記憶構造は図２に示
すように欠点数を記憶するための記憶域がアドレスによ
り示されるものであると共に、このアドレスがポインタ
により指定されるものである。この図において、０から
９９までの連続するポインタによりアドレスが指定され
ており、このアドレスが分割単位を示し、またポインタ
が長さ単位に対応するもので、このアドレスとポインタ
に基づきブロック単位の欠点数を記憶する記憶域が決定
される。
された欠点数をブロック単位毎に記憶するものであり、
このため、このＲＡＭ３４のデータ記憶構造は図２に示
すように欠点数を記憶するための記憶域がアドレスによ
り示されるものであると共に、このアドレスがポインタ
により指定されるものである。この図において、０から
９９までの連続するポインタによりアドレスが指定され
ており、このアドレスが分割単位を示し、またポインタ
が長さ単位に対応するもので、このアドレスとポインタ
に基づきブロック単位の欠点数を記憶する記憶域が決定
される。
【００３２】グラフィック表示部４０は、グラフィック
制御部４１とＣＲＴ４２から構成されており、このグラ
フィック制御部４１は、ＣＰＵ３１によりＲＡＭ３４か
ら読み出されたブロック単位毎の欠点数に基づき、被検
査面のブロック単位毎を色の濃淡、種類、または点滅等
によりグラフィック化すると共に、ＣＲＴ４２がグラフ
ィック制御部４１によりブロック単位毎にグラフィック
化された被検査面を検査結果として画面上に表示する。
制御部４１とＣＲＴ４２から構成されており、このグラ
フィック制御部４１は、ＣＰＵ３１によりＲＡＭ３４か
ら読み出されたブロック単位毎の欠点数に基づき、被検
査面のブロック単位毎を色の濃淡、種類、または点滅等
によりグラフィック化すると共に、ＣＲＴ４２がグラフ
ィック制御部４１によりブロック単位毎にグラフィック
化された被検査面を検査結果として画面上に表示する。
【００３３】ここで、再び図２を参照しながらＣＰＵ３
１の処理についてさらに詳しく説明する。
１の処理についてさらに詳しく説明する。
【００３４】ＣＰＵ３１は、図２に示すＲＡＭ３４の記
憶域毎にブロック単位の欠点数を書き込むため、この記
憶域のアドレスを指定する書き込みポインタＸを設定す
ると共に、この記憶域から欠点数を読み出すため、この
記憶域のアドレスを指定する読み出しポインタを設定す
る。
憶域毎にブロック単位の欠点数を書き込むため、この記
憶域のアドレスを指定する書き込みポインタＸを設定す
ると共に、この記憶域から欠点数を読み出すため、この
記憶域のアドレスを指定する読み出しポインタを設定す
る。
【００３５】このＣＰＵ３１により設定された書き込み
ポインタＸと読み出しポインタＹはＲＡＭ３４に記憶さ
れる。
ポインタＸと読み出しポインタＹはＲＡＭ３４に記憶さ
れる。
【００３６】ここで、欠点数を記憶するための記憶域を
示すアドレスは欠点検出器１１から出力される映像信号
に基づき決定されるもので、被検査面が１０００ｍ移動
する間に同一の欠点検出器１１により撮像された欠点の
種類毎の欠点数は同一のアドレスの記憶域に記憶され
る。
示すアドレスは欠点検出器１１から出力される映像信号
に基づき決定されるもので、被検査面が１０００ｍ移動
する間に同一の欠点検出器１１により撮像された欠点の
種類毎の欠点数は同一のアドレスの記憶域に記憶され
る。
【００３７】以上の処理により、ＣＰＵ３１は、書き込
みポインタＸの指定するアドレスの記憶域にブロック単
位に存在した欠点の種類毎の欠点数を書き込むと共に、
上記長さ検出器２０からの検出信号に基づき、被検査面
が予め設定された１０００ｍを移動した場合、上記書き
込みポインタＸをインクリメントする。
みポインタＸの指定するアドレスの記憶域にブロック単
位に存在した欠点の種類毎の欠点数を書き込むと共に、
上記長さ検出器２０からの検出信号に基づき、被検査面
が予め設定された１０００ｍを移動した場合、上記書き
込みポインタＸをインクリメントする。
【００３８】また、ＣＰＵ３１は、現在設定されてＲＡ
Ｍ３４に記憶されている書き込みポインタＸと読み出し
ポインタＹとの大きさを比較し、この書き込みポインタ
Ｘが読み出しポインタＹより大きいと判定した場合、こ
の読み出しポインタＹの指定するアドレスの記憶域から
ブロック単位の欠点数を読み出してグラフィック表示部
４０に転送する。
Ｍ３４に記憶されている書き込みポインタＸと読み出し
ポインタＹとの大きさを比較し、この書き込みポインタ
Ｘが読み出しポインタＹより大きいと判定した場合、こ
の読み出しポインタＹの指定するアドレスの記憶域から
ブロック単位の欠点数を読み出してグラフィック表示部
４０に転送する。
【００３９】さらに、ＣＰＵ３１は、読み出しポインタ
Ｙの指定するアドレスの記憶域からブロック単位の欠点
数の読み出しを終了すると現在設定されてＲＡＭ３４に
記憶されている読み出しポインタＹをインクリメントす
る。
Ｙの指定するアドレスの記憶域からブロック単位の欠点
数の読み出しを終了すると現在設定されてＲＡＭ３４に
記憶されている読み出しポインタＹをインクリメントす
る。
【００４０】以上の処理により、ＣＰＵ３１は、ブロッ
ク単位毎の欠点数をＲＡＭ３４に書き込んだり、また、
ＲＡＭ３４から読み出したりする。
ク単位毎の欠点数をＲＡＭ３４に書き込んだり、また、
ＲＡＭ３４から読み出したりする。
【００４１】以上の構成からなる検査装置の作用を図３
及び図４に基づき説明する。
及び図４に基づき説明する。
【００４２】図３は、この検査装置におけるデータの処
理手順を示したフローチャートである。
理手順を示したフローチャートである。
【００４３】図３において、まず、検点検出器１１が被
検査面上の欠点を撮像すると（ＳＴＥＰ１００“ＹＥ
Ｓ”）、欠点種判別回路１２がこの欠点の種類を判別し
て欠点種別データをＣＰＵ３１に出力する。
検査面上の欠点を撮像すると（ＳＴＥＰ１００“ＹＥ
Ｓ”）、欠点種判別回路１２がこの欠点の種類を判別し
て欠点種別データをＣＰＵ３１に出力する。
【００４４】この欠点種別データを受信したＣＰＵ３１
は、データ収集期間かどうか判断し（ＳＴＥＰ１１
０）、データ収集期間であるなら（ＳＴＥＰ１１０“Ｙ
ＥＳ”）書き込みポインタＸにより指定されたＲＡＭ３
４のアドレスをセットする（ＳＴＥＰ１２０）。
は、データ収集期間かどうか判断し（ＳＴＥＰ１１
０）、データ収集期間であるなら（ＳＴＥＰ１１０“Ｙ
ＥＳ”）書き込みポインタＸにより指定されたＲＡＭ３
４のアドレスをセットする（ＳＴＥＰ１２０）。
【００４５】その後、ＣＰＵ３１は、被検査面のブロッ
ク単位に存在した欠点の種類毎に欠点数を計数すると共
に、現在、ＲＡＭ３４に記憶されている書き込みアドレ
スＸがインクリメントされるまでセットされたアドレス
の記憶域にブロック単位の欠点数を加算する（ＳＴＥＰ
１３０）。
ク単位に存在した欠点の種類毎に欠点数を計数すると共
に、現在、ＲＡＭ３４に記憶されている書き込みアドレ
スＸがインクリメントされるまでセットされたアドレス
の記憶域にブロック単位の欠点数を加算する（ＳＴＥＰ
１３０）。
【００４６】これにより、ＲＡＭ３４の記憶域には、被
検査面のブロック単位に存在した欠点の種類毎の欠点数
が記憶される。
検査面のブロック単位に存在した欠点の種類毎の欠点数
が記憶される。
【００４７】次に、ＣＰＵ３１は、ＲＡＭ３４に現在記
憶されている書き込みポインタＸと読み出しポインタＹ
との大きさを比較し、この書き込みポインタＸが読み出
しポインタＹより大きいと判定した場合、ＣＰＵ３１は
この読み出しポインタＹの指定するアドレスの記憶域に
記憶された欠点の種類毎の欠点数を計数してブロック単
位の欠点数を読み出し、この欠点数をグラフィック制御
部４１に転送する（ＳＴＥＰ１４０）。
憶されている書き込みポインタＸと読み出しポインタＹ
との大きさを比較し、この書き込みポインタＸが読み出
しポインタＹより大きいと判定した場合、ＣＰＵ３１は
この読み出しポインタＹの指定するアドレスの記憶域に
記憶された欠点の種類毎の欠点数を計数してブロック単
位の欠点数を読み出し、この欠点数をグラフィック制御
部４１に転送する（ＳＴＥＰ１４０）。
【００４８】グラフィック制御部４１は、このブロック
単位の欠点数に基づき被検査面のブロック単位毎を色の
濃淡、種類、または点滅等によってグラフィック化する
と共に、ＣＲＴ４２がブロック単位毎にグラフィック化
された被検査面を検査結果として画面上に表示する（Ｓ
ＴＥＰ１５０）。
単位の欠点数に基づき被検査面のブロック単位毎を色の
濃淡、種類、または点滅等によってグラフィック化する
と共に、ＣＲＴ４２がブロック単位毎にグラフィック化
された被検査面を検査結果として画面上に表示する（Ｓ
ＴＥＰ１５０）。
【００４９】一方、ＳＴＥＰ１００“ＮＯ”及びＳＴＥ
Ｐ１１０“ＮＯ”の場合、ＳＴＥＰ１２０以降の処理は
行なわれない。
Ｐ１１０“ＮＯ”の場合、ＳＴＥＰ１２０以降の処理は
行なわれない。
【００５０】このＣＲＴ４２の画面上にグラフィック表
示された検査結果の表示例を図４に示す。なお、この図
は従来の表示例を示した図５と対応している。
示された検査結果の表示例を図４に示す。なお、この図
は従来の表示例を示した図５と対応している。
【００５１】図４において、ＣＲＴ４２の画面上には、
幅方向が６つ（Ｉ…VI）の分割単位で移動方向の１００
０ｍ毎を長さ単位とするブロック単位毎に被検査面がグ
ラフィック表示されている。
幅方向が６つ（Ｉ…VI）の分割単位で移動方向の１００
０ｍ毎を長さ単位とするブロック単位毎に被検査面がグ
ラフィック表示されている。
【００５２】すなわち、図５に示すように、幅方向の分
割単位がIIで移動方向の長さ単位が１０００ｍ〜２００
０ｍであるブロック単位には他のブロック単位と較べて
最大である５個の欠点が存在するので、これに対応して
本実施例のＣＲＴ４２の画面上には、図４に示すように
５個の欠点が存在するブロック単位が色の濃淡により最
も濃くグラフィック表示されている。
割単位がIIで移動方向の長さ単位が１０００ｍ〜２００
０ｍであるブロック単位には他のブロック単位と較べて
最大である５個の欠点が存在するので、これに対応して
本実施例のＣＲＴ４２の画面上には、図４に示すように
５個の欠点が存在するブロック単位が色の濃淡により最
も濃くグラフィック表示されている。
【００５３】したがって、以上の構成、作用からなる検
査装置によれば、ＣＰＵ３１が被検査面に存在する欠点
の欠点数をブロック単位毎に計数すると共に、このブロ
ック単位毎の欠点数に基づきグラフィック制御部４１が
被検査面のブロック単位毎を色の濃淡、種類、または点
滅によりグラフィック化し、グラフィック化された被検
査面がＣＲＴ４２の画面上に表示されるので、被検査面
全体における欠点の存在状況がブロック単位毎に認識可
能となる。
査装置によれば、ＣＰＵ３１が被検査面に存在する欠点
の欠点数をブロック単位毎に計数すると共に、このブロ
ック単位毎の欠点数に基づきグラフィック制御部４１が
被検査面のブロック単位毎を色の濃淡、種類、または点
滅によりグラフィック化し、グラフィック化された被検
査面がＣＲＴ４２の画面上に表示されるので、被検査面
全体における欠点の存在状況がブロック単位毎に認識可
能となる。
【００５４】また、この検査装置によれば、ＣＰＵ３１
が書き込みポインタＸ及び読み出しポインタＹに基づい
てＲＡＭ３４の記憶域にブロック単位の欠点数を書き込
んだり、または読み出したりすると共に、この書き込み
ポインタＸがインクリメントされて読み出しポインタＹ
より大きくなった場合に、この読み出しポインタＹの指
定するアドレスの記憶域から欠点数を読み出すので、デ
ータの処理を確実、かつ迅速に行うことができる。
が書き込みポインタＸ及び読み出しポインタＹに基づい
てＲＡＭ３４の記憶域にブロック単位の欠点数を書き込
んだり、または読み出したりすると共に、この書き込み
ポインタＸがインクリメントされて読み出しポインタＹ
より大きくなった場合に、この読み出しポインタＹの指
定するアドレスの記憶域から欠点数を読み出すので、デ
ータの処理を確実、かつ迅速に行うことができる。
【００５５】なお、本実施例の欠点検出器１１としては
ＣＣＤカメラ等のイメージセンサ、または、超音波やＸ
線等による不可視線イメージセンサが挙げられるが、こ
れに限定するものではなく、また、欠点検出器１１は６
台配置されるが６台に限定する必要はない。
ＣＣＤカメラ等のイメージセンサ、または、超音波やＸ
線等による不可視線イメージセンサが挙げられるが、こ
れに限定するものではなく、また、欠点検出器１１は６
台配置されるが６台に限定する必要はない。
【００５６】また、本実施例では１台の欠点検出器１１
の撮像視野全範囲を１つの分割単位としたが、この撮像
視野をグルーピングすることによって１台の欠点検出器
１１から複数の分割単位が決定されるようにしても良
い。
の撮像視野全範囲を１つの分割単位としたが、この撮像
視野をグルーピングすることによって１台の欠点検出器
１１から複数の分割単位が決定されるようにしても良
い。
【００５７】また、本実施例では、被検査面の移動長さ
を検出する長さ検出器２０としてパルスセンサが用いら
れるが、移動長さを検出できるものであれば他のもので
も良く、パルスセンサに限定するものではない。
を検出する長さ検出器２０としてパルスセンサが用いら
れるが、移動長さを検出できるものであれば他のもので
も良く、パルスセンサに限定するものではない。
【００５８】さらに、この長さ検出器２０からの検出信
号に基づき被検査面の移動する１０００ｍを長さ単位と
したが、これに限定するものではなく、１００ｍ以上を
長さ単位とすることが望ましいものである。
号に基づき被検査面の移動する１０００ｍを長さ単位と
したが、これに限定するものではなく、１００ｍ以上を
長さ単位とすることが望ましいものである。
【００５９】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、請求項
１記載の発明によれば、欠点数計数手段が被検査面に存
在する欠点の欠点数をブロック単位毎に計数すると共
に、このブロック単位毎の欠点数に基づきグラフィック
表示手段がブロック単位毎にグラフィック化された被検
査面を検査結果として画面上に表示するので、被検査面
全体における欠点の存在状況がブロック単位毎に認識可
能となり、被検査面の裁断工程等においてこの検査結果
を有効に利用することができる。
１記載の発明によれば、欠点数計数手段が被検査面に存
在する欠点の欠点数をブロック単位毎に計数すると共
に、このブロック単位毎の欠点数に基づきグラフィック
表示手段がブロック単位毎にグラフィック化された被検
査面を検査結果として画面上に表示するので、被検査面
全体における欠点の存在状況がブロック単位毎に認識可
能となり、被検査面の裁断工程等においてこの検査結果
を有効に利用することができる。
【００６０】また、請求項２記載の発明によれば、欠点
数書き込み手段及び欠点数読み出し手段が書き込みポイ
ンタ及び読み出しポインタに基づいて欠点数記憶手段の
記憶域毎にブロック単位の欠点数を書き込んだり、また
は読み出したりすると共に、ポインタ比較手段によりこ
の書き込みポインタが読み出しポインタより大きいと判
定された場合、この読み出しポインタの指定するアドレ
スの記憶域から欠点数を読み出すので、データの処理を
確実、かつ迅速に行うことができる。
数書き込み手段及び欠点数読み出し手段が書き込みポイ
ンタ及び読み出しポインタに基づいて欠点数記憶手段の
記憶域毎にブロック単位の欠点数を書き込んだり、また
は読み出したりすると共に、ポインタ比較手段によりこ
の書き込みポインタが読み出しポインタより大きいと判
定された場合、この読み出しポインタの指定するアドレ
スの記憶域から欠点数を読み出すので、データの処理を
確実、かつ迅速に行うことができる。
【図１】本発明に係る欠点検査装置を各機能毎に示した
ブロック構成図。
ブロック構成図。
【図２】この検査装置のＲＡＭのデータ記憶構造を示し
た概念図。
た概念図。
【図３】この検査装置におけるデータの処理手順を示し
たフローチャート。
たフローチャート。
【図４】この検査装置によりＣＲＴの画面上にグラフィ
ック表示された検査結果の表示例を示す図。
ック表示された検査結果の表示例を示す図。
【図５】従来の欠点検査装置によりＣＲＴの画面上に表
示された検査結果の表示例を示す図。
示された検査結果の表示例を示す図。
１０ 欠点検出部 ２０ 長さ検出器 ３１ ＣＰＵ（欠点数計数手段、ポインタ指定手段、欠
点数書き込み手段、書き込みポインタインクリメント手
段、ポインタ比較手段、欠点数読み出し手段、読み出し
ポインタインクリメント手段） ３２ ＲＯＭ ３４ ＲＡＭ（欠点数記憶手段） ４０ グラフィック表示部（グラフィック表示手段）
点数書き込み手段、書き込みポインタインクリメント手
段、ポインタ比較手段、欠点数読み出し手段、読み出し
ポインタインクリメント手段） ３２ ＲＯＭ ３４ ＲＡＭ（欠点数記憶手段） ４０ グラフィック表示部（グラフィック表示手段）
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 21/88 G01N 21/89 G06T 7/00 H04N 7/18
Claims (2)
- 【請求項１】 移動する被検査面上の欠点を欠点検出部
により検出すると共に、上記被検査面の移動長さを長さ
検出器により検出し、上記欠点検出部からの検出データ
及び長さ検出器からの検出信号に基づき被検査面の検査
結果を画面上に表示する欠点検査装置において、 上記欠点検出部からの検出データ及び長さ検出器からの
検出信号に基づき上記被検査面のブロック単位毎に欠点
数を計数する欠点数計数手段と、 上記欠点数計数手段により計数された欠点数をブロック
単位毎に記憶する欠点数記憶手段と、 上記欠点数記憶手段に記憶された欠点数に基づき上記被
検査面のブロック単位毎をグラフィック化して上記画面
上に表示するグラフィック表示手段と、 を具備することを特徴とする欠点検査装置。 - 【請求項２】 上記欠点数記憶手段はその記憶域がアド
レスにより示されるものであって、この記憶域にデータ
を書き込むためアドレス指定する書き込みポインタを設
定すると共に、この記憶域からデータを読み出すためア
ドレス指定する読み出しポインタを設定するポインタ設
定手段と、 上記ポインタ設定手段により設定された書き込みポイン
タの指定するアドレスの記憶域に上記欠点数計数手段に
より計数されたブロック単位の欠点数を書き込む欠点数
書き込み手段と、 上記被検査面が予め設定された長さを移動する毎に上記
ポインタ設定手段により設定されている書き込みポイン
タをインクリメントする書き込みポインタインクリメン
ト手段と、 上記ポインタ設定手段により設定されている書き込みポ
インタと読み出しポインタとの大きさを比較するポイン
タ比較手段と、 上記ポインタ比較手段により書き込みポインタが読み出
しポインタより大きいと判定された場合、この読み出し
ポインタの指定するアドレスの記憶域からブロック単位
の欠点数を読み出して上記グラフィック表示手段に転送
する欠点数読み出し手段と、 上記欠点数読み出し手段が読み出しポインタに基づく読
み出しを終了する毎に上記ポインタ設定手段により設定
されている読み出しポインタをインクリメントする読み
出しポインタインクリメント手段と、 を具備することを特徴とする請求項１記載の欠点検査装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3341108A JP3008049B2 (ja) | 1991-12-24 | 1991-12-24 | 欠点検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3341108A JP3008049B2 (ja) | 1991-12-24 | 1991-12-24 | 欠点検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05172761A JPH05172761A (ja) | 1993-07-09 |
| JP3008049B2 true JP3008049B2 (ja) | 2000-02-14 |
Family
ID=18343334
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3341108A Expired - Lifetime JP3008049B2 (ja) | 1991-12-24 | 1991-12-24 | 欠点検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3008049B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4707055B2 (ja) * | 2005-08-22 | 2011-06-22 | 住友化学株式会社 | 枚葉フィルム断裁配置評価装置及び枚葉フィルム断裁配置決定方法 |
-
1991
- 1991-12-24 JP JP3341108A patent/JP3008049B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05172761A (ja) | 1993-07-09 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19991020 |
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|
| EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
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