JP2999540B2 - 透明電極の形成方法 - Google Patents

透明電極の形成方法

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Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は、各種表示装置に用いられる透明電極の形成
方法に関する。
〔従来技術〕 通常、各種表示装置用の透明電極材には、光学的性質
及び抵抗値が低いことからITO(Indium Tin Oxide)が
広く使用されているが、その抵抗率は2〜5×10-4Ωcm
程度で、銅、アルミニウム等の金属より2桁も大きな値
である。
一方、液晶表示装置においては表示容量の増加、パタ
ーンの微細化に伴って透明電極の低抵抗化が求められて
いる。
例えば、duty1/400のSTN方式では10Ω/□以下が必要
である。しかし、ITO膜厚も2000〜5000Åと厚いものに
なってしまい、クラックや膜はがれが起こりやすくなっ
てしまう。
前記のように、透明電極を厚くするほかに、透明電極
2の端に細い金属膜を重ね合わせて補助電極4を形成
し、低抵抗化する方法〔第1図(a)及び(b)参照〕
もあるが、透明電極と補助電極の重ね合せが困難であ
り、電極表面の平面性も悪くなり、平坦化が必要とな
る。
低抵抗化と平坦化のために、特開平2−27318号で
は、透明電極の低抵抗化を電極材料の膜厚を厚くするこ
とで、また基板表面を平坦化するために電極間にレジス
トを埋めることで、解決しようとしている。
しかし、この方法では膜厚の厚みにも限度があり、抵
抗値を大きく低下させることはできない。
〔目 的〕
本発明の目的は、低抵抗化および平坦化が計れる透明
電極の形成方法を提供するにある。
〔構 成〕
本発明は、透明基板上にパターン形成される透明電極
の形成方法において、 (a) 透明基板上に形成した透明電極の上にレジスト
をパターン形成する工程 (b) 通常のエッチングに加えてサイドエッチングを
も発生させる工程 (c) サイドエッチング部に補助電極を形成する工程 (d) レジストを除去する工程 からなることを特徴とする透明電極の形成方法に関す
る。
本発明におけるサイドエッチングとは、第2図に示す
ようにレジストパターン3と被エッチング材2との積層
体のうち、レジストパターン3の存在しない部分を通常
のエッチングで除去したのち、第2図(c)や第3図に
示すように被エッチング材2のサイド部分をもエッチン
グすることを意味している。
以下、図面を参照しながら本発明を説明する。
第2図(a)〜(b)は、本発明透明電極の形成方法
の工程を示す説明図である。なお、第3図は第2図
(c)の一部分を示す拡大図、第4図は第2図(b)の
一部分を示す拡大図、第5図は本発明の形成方法で作製
されたストライプ状透明電極の一例を示す平面図であ
る。
第2図(a)は、透明電極2となる電極材を基板1上
に形成した状態を示している。
基板1は、従来より用いられているものであり、透明
電極2となる電極材としては、ITOの他にSnO2,ZnO2:Si,
ZnO2:Al,CdInO2,InO2等が使用できる。
前記した透明電極2となる電極材を基板1上に形成し
た後は、フォトレジストなどのレジスト3を、例えばス
トライプ状のパターンに形成する〔第2図(b)〕。一
般に、フォトレジストと被エッチング膜の密着性を高め
エッチング時のサイドエッチを防ぐために、フォトレジ
スト現像後にポストベーク処理が行なわれるが、ここで
は、ポストベークを行なわない。
次にエッチング処理を施こす。この処理は透明電極の
通常のエッチングに加えて、電極材の巾、すなわち透明
電極2の巾がレジストパターンの巾より細くなるように
サイドエッチングを行なう。このエッチング後の状態、
すなわちサイドエッチング後の状態を第2図(c)に、
その一部拡大図を第3図に示す。
第3図において、サイドエッチング部ΔWは、開口率
を高くするために最大電極巾の10%となるように形成す
る。
前記エッチングおよびサイドエッチングには、ウェッ
トエッチング法など従来のエッチング法が利用できる。
前記サイドエッチング後、従来法に準じたポストベー
ク処理を施こし、しかる後、レジストを残したまま、電
解メッキを行い、サイドエッチングされた部分に補助電
極4を形成する〔第2図(d)〕。前記ポストベーク処
理は、電解メッキ時のメッキ液が電極材2へしみ込むの
を防いでいる。
補助電極材としては、Au,Ni,Cu,Al等を使用すること
ができるが、ITOとAlのように直接接触させると反応を
起こすものもあり、補助電極材を2種以上、例えばCr/C
u/Cr/ITO,Cr/Ni/Cr/ITO等を用いてもよい。
補助電極形成後、レジストを常法により除去すること
により、補助電極を両側に配した透明電極が形成される
〔第2図(e)〕。第2図(e)の一部拡大図を第4図
に示す。
前記により形成された透明電極は、電極面が平坦であ
り、かつ両側に補助電極を配しているので低抵抗化され
ている。また、この透明電極を用いてSTN液晶セルを作
成しても何ら支障なく動作させることができる。
〔実施例〕
実施例1 膜厚2000Å、ルート抵抗20Ω/□のITO膜付の基板
〔第1図(a)参照〕に巾100mμ、長さ250mmのストラ
イプ状のパターンをフォトレジストで形成した〔第2図
(b)参照〕。その後第二塩化鉄と塩酸系のエッチャン
トでウエットエッチングを行った。このウェットエッチ
ング前にはポストベーク処理は施こさなかった。約2分
のエッチングによって片側約5μmのサイドエッチング
が生じた〔第2図(c)参照〕。
前記サイドエッチング後、130℃で30分間ベークを行
ったのち5×10-2mol/のNaAg(CN2水溶液中で3
分間銀メッキ(0.6mA/cm2)を行なった〔第2図(d)
参照〕。
メッキ終了後レジストを剥離したところ、透明電極の
両側に透明電極と同じ厚さで、4μm幅のAg補助電極が
形成された〔第2図(e)参照〕。
この透明電極は500Ω/lineであった。
比較例1 2000Åの膜厚のITOで巾100μm、長さ250mmの電極を
従来法で形成した。この補助電極なしの透明電極は5kΩ
/lineであった。
実施例2 実施例1と同様にして作成した巾330μm、長さ200mm
のストライプ状の電極を対抗電極としてツイスト角230
゜のSTN液晶セルを作成した。
このSTN液晶セルは何らの問題もなく動作した。
〔効 果〕
本発明透明電極の形成方法によれば、従来のものに較
べ低抵抗化され、かつ平坦化された透明電極を作製する
ことができる。
また、本発明の形成方法で作製された透明電極はSTN
液晶セルに用いても何ら不都合を生じることはないとい
う利点を有している。
【図面の簡単な説明】
第1図は、従来例の透明電極を示すものであって、
(a)は平面図、(b)は正面図であり、第2図(a)
〜(e)は、本発明透明電極の形成方法の工程を示す説
明図、第3図は、第2図(c)の一部拡大図、第4図
は、第2図(e)の一部拡大図、第5図は、本発明透明
電極の形成方法で作製されたストライプ状透明電極の一
例を示す平面図である。 1……基板、2……透明電極 3……レジスト、4……補助電極 ΔW……サイドエッチング部

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】透明基板上にパターン形成される透明電極
    の形成方法において、 (a)透明基板上に形成した透明電極の上にレジストを
    パターン形成する工程 (b)通常のエッチングに加えてサイドエッチングをも
    発生させる工程 (c)サイドエッチング部に補助電極を形成する工程 (d)レジストを除去する工程 からなることを特徴とする透明電極の形成方法。
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