JP2997968B2 - カメラ用測距装置 - Google Patents
カメラ用測距装置Info
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- JP2997968B2 JP2997968B2 JP7742992A JP7742992A JP2997968B2 JP 2997968 B2 JP2997968 B2 JP 2997968B2 JP 7742992 A JP7742992 A JP 7742992A JP 7742992 A JP7742992 A JP 7742992A JP 2997968 B2 JP2997968 B2 JP 2997968B2
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、カメラ用測距装置に
係り、特に受光素子で生成された第1、第2の受光電流
が入力され、差動演算結果を距離信号として出力する差
動演算手段を備えたカメラ用測距装置に関する。
係り、特に受光素子で生成された第1、第2の受光電流
が入力され、差動演算結果を距離信号として出力する差
動演算手段を備えたカメラ用測距装置に関する。
【0002】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】従来の
カメラ用測距装置は図1に示すように、自動焦点用IC
6(以下AFICという)、位置検出素子3(以下PS
Dという)、赤外線発光ダイオード1(以下IREDと
いう)を駆動する発光ダイオード駆動回路2、発光ダイ
オード駆動回路2を制御するマイクロプロセッサー20
(以下CPUという)、CPU20から制御され鏡胴1
9の撮影レンズ19aを合焦作動するレンズ駆動回路1
8で構成され、IRED1から投光レンズ1aを介して
被写体SUBへ投光された光は、被写体SUBで反射
し、受光レンズ3aを介してPSD3で受光される。P
SD3に反射光が入射されると、AFIC6のAF信号
出力端子T3からCPU20へ距離信号VLを送出す
る。CPU20はこの距離信号VLにもとづき鏡胴19
の撮影レンズ19aを合焦作動する。
カメラ用測距装置は図1に示すように、自動焦点用IC
6(以下AFICという)、位置検出素子3(以下PS
Dという)、赤外線発光ダイオード1(以下IREDと
いう)を駆動する発光ダイオード駆動回路2、発光ダイ
オード駆動回路2を制御するマイクロプロセッサー20
(以下CPUという)、CPU20から制御され鏡胴1
9の撮影レンズ19aを合焦作動するレンズ駆動回路1
8で構成され、IRED1から投光レンズ1aを介して
被写体SUBへ投光された光は、被写体SUBで反射
し、受光レンズ3aを介してPSD3で受光される。P
SD3に反射光が入射されると、AFIC6のAF信号
出力端子T3からCPU20へ距離信号VLを送出す
る。CPU20はこの距離信号VLにもとづき鏡胴19
の撮影レンズ19aを合焦作動する。
【0003】AFIC6は受光信号処理回路7、AF信
号出力用差動増幅器8、クランプレベル設定回路39
(本願ではクランプレベル設定回路9)で構成され、図
4に示すように受光信号処理回路7は距離電流用オペア
ンプOP2、OP3でPSD3から出力される距離電流
I1、I2を増幅する。距離電流用オペアンプOP2、
OP3で増幅された距離電流I1、I2は圧縮ダイオー
ドD1、 D2の作用で差動電流I3、I4となりAF
信号出力用差動増幅器8に設けられたトランジスタ
Q9、Q8の それぞれのベースへ送出される。トラン
ジスタQ9のコレクタは抵抗8を介して電源+VEに接
続され、トランジスタQ 9のコレクタと抵抗8の接続点
からAFI C6のAF信号出力端子T3を経由して距
離信号VLをCPU20へ送出する。 AFIC6には
一端が基準電位点に接続された定常光ホールドコンデン
サC1、 C2が外付けされ、定常光ホールドコンデン
サC1、C2の他端は定常光カット用 トランジスタQ
6、Q7のそれぞれのベースに接続され、コレクタは距
離電流用オペアンプOP2、OP3の入力側と接続され
る。また、エミッタには一端が基準電位点に接続された
抵抗R6、R7の他端を接続する。更に、定常光カツト
用オペアンプOP4、OP5の出力側は受光信号処理回
路制御端子T4に制御側が接続された 定常光カツト用
スイッチSW1、SW2を介して定常光カット用トラン
ジスタQ6 、Q7のそれぞれのベースに接続される。
定常光カツト用オペアンプOP4、OP5 の非反転入
力端子となる(+)側はアノードが電源+VEに接続さ
れた圧縮ダイオードD1、 D2のカソードと共に距離
電流用オペアンプOP2、OP3の出力側 と接続す
る。なお、定常光カツト用オペアンプOP4、OP5の
(−)側には第1基準電圧VREF1が印加される。
号出力用差動増幅器8、クランプレベル設定回路39
(本願ではクランプレベル設定回路9)で構成され、図
4に示すように受光信号処理回路7は距離電流用オペア
ンプOP2、OP3でPSD3から出力される距離電流
I1、I2を増幅する。距離電流用オペアンプOP2、
OP3で増幅された距離電流I1、I2は圧縮ダイオー
ドD1、 D2の作用で差動電流I3、I4となりAF
信号出力用差動増幅器8に設けられたトランジスタ
Q9、Q8の それぞれのベースへ送出される。トラン
ジスタQ9のコレクタは抵抗8を介して電源+VEに接
続され、トランジスタQ 9のコレクタと抵抗8の接続点
からAFI C6のAF信号出力端子T3を経由して距
離信号VLをCPU20へ送出する。 AFIC6には
一端が基準電位点に接続された定常光ホールドコンデン
サC1、 C2が外付けされ、定常光ホールドコンデン
サC1、C2の他端は定常光カット用 トランジスタQ
6、Q7のそれぞれのベースに接続され、コレクタは距
離電流用オペアンプOP2、OP3の入力側と接続され
る。また、エミッタには一端が基準電位点に接続された
抵抗R6、R7の他端を接続する。更に、定常光カツト
用オペアンプOP4、OP5の出力側は受光信号処理回
路制御端子T4に制御側が接続された 定常光カツト用
スイッチSW1、SW2を介して定常光カット用トラン
ジスタQ6 、Q7のそれぞれのベースに接続される。
定常光カツト用オペアンプOP4、OP5 の非反転入
力端子となる(+)側はアノードが電源+VEに接続さ
れた圧縮ダイオードD1、 D2のカソードと共に距離
電流用オペアンプOP2、OP3の出力側 と接続す
る。なお、定常光カツト用オペアンプOP4、OP5の
(−)側には第1基準電圧VREF1が印加される。
【0004】クランプレベル設定回路39にはオペアン
プOP1とクランプ電流出力トランジスタQ5及びクラ
ンプ電流設定用抵抗R11、R12が設けられ、オペア
ンプOP1の(+)側は一端が基準電位点に接続された
クランプ電流設定用抵抗R12の他端を接続する。ま
た、クランプ電流設定用抵抗R11の一端には第2基準
電圧VREF2が接続され、他端はオペアンプOP1の
(+)側と接続される。更に、クランプ 電流出力トラ
ンジスタQ5のコレクタは基準電位点と、ベースはオペ
アンプOP1の出力側と接続され、エミッタはオペアン
プOP1の(−)側と接続されると共 にAF信号出力
用差動増幅器8に設けられたトランジスタQ9のベース
に接続さ れる。
プOP1とクランプ電流出力トランジスタQ5及びクラ
ンプ電流設定用抵抗R11、R12が設けられ、オペア
ンプOP1の(+)側は一端が基準電位点に接続された
クランプ電流設定用抵抗R12の他端を接続する。ま
た、クランプ電流設定用抵抗R11の一端には第2基準
電圧VREF2が接続され、他端はオペアンプOP1の
(+)側と接続される。更に、クランプ 電流出力トラ
ンジスタQ5のコレクタは基準電位点と、ベースはオペ
アンプOP1の出力側と接続され、エミッタはオペアン
プOP1の(−)側と接続されると共 にAF信号出力
用差動増幅器8に設けられたトランジスタQ9のベース
に接続さ れる。
【0005】一般にPSD3はIRED1で発光される
発光波長の信号のみを受光することが望ましい。このた
め、IRED1で発光される発光波長以外をカツトする
よう、例えば樹脂等で形成された光学フィルタを設け、
外光成分を除去する。しかし、外光成分にはIRED1
と同じ波長の成分も含まれているので、PSD3からは
IRED1の発光による距離電流I1、I2のほか、外
光成分によるノイズ電流が出力される。そこで、IRE
D1の発光タイミングをCPU20で制御し、この外光
成分によるノイズ電流を除去するようになつている。つ
まり、CPU20が受光信号処理回路制御端子T4を介
して、定常光カツト用スイッチSW1、SW2を閉成し
た侭に制御していると、定常光カット用トランジスタQ
6、Q7のそれ ぞれのベースは定常光カット用トラン
ジスタQ6、Q7によりベースバイアスされるので距離
電流I1、I2以外の外光成分によるノイズ電流は圧縮
ダイオードD1 、 D2及び第1基準電圧VREF1で
定められたクリップレベルでクリップされる。IRED
1が発光されると、定常光カツト用スイッチSW1、S
W2が開成され、定常光カット用トランジスタQ6、Q
7のベースは定常光ホールドコンデンサC1、C2の電
位に固定される。したがつて、IRED1の発光による
距離電流I1、I 2 のみが距離電流用オペアンプO
P2、OP3で増幅され、圧縮ダイオードD1、 D2
に流しこまれる。このあとで、圧縮ダイオードD1、
D2による差動電流I3、I4がAF信号出力用差動増
幅器8に設けられたトランジスタQ9、Q8のそれ ぞ
れのベースへ印加され、AFIC6のAF信号出力端子
T3を経由して距離信 号VLとしてCPU20へ送出
される。この、距離信号VLを調整するには、クランプ
レベル設定回路39のクランプ電流設定用抵抗R11、
R12の抵抗値を変更する。クランプ電流設定用抵抗R
11、R12の抵抗値を変更すると、オペアンプOP 1
とクランプ電流出力トランジスタQ5によりAF信号出
力用差動増幅器8に設けられたトランジスタQ9のベー
ス電流が調整される。
発光波長の信号のみを受光することが望ましい。このた
め、IRED1で発光される発光波長以外をカツトする
よう、例えば樹脂等で形成された光学フィルタを設け、
外光成分を除去する。しかし、外光成分にはIRED1
と同じ波長の成分も含まれているので、PSD3からは
IRED1の発光による距離電流I1、I2のほか、外
光成分によるノイズ電流が出力される。そこで、IRE
D1の発光タイミングをCPU20で制御し、この外光
成分によるノイズ電流を除去するようになつている。つ
まり、CPU20が受光信号処理回路制御端子T4を介
して、定常光カツト用スイッチSW1、SW2を閉成し
た侭に制御していると、定常光カット用トランジスタQ
6、Q7のそれ ぞれのベースは定常光カット用トラン
ジスタQ6、Q7によりベースバイアスされるので距離
電流I1、I2以外の外光成分によるノイズ電流は圧縮
ダイオードD1 、 D2及び第1基準電圧VREF1で
定められたクリップレベルでクリップされる。IRED
1が発光されると、定常光カツト用スイッチSW1、S
W2が開成され、定常光カット用トランジスタQ6、Q
7のベースは定常光ホールドコンデンサC1、C2の電
位に固定される。したがつて、IRED1の発光による
距離電流I1、I 2 のみが距離電流用オペアンプO
P2、OP3で増幅され、圧縮ダイオードD1、 D2
に流しこまれる。このあとで、圧縮ダイオードD1、
D2による差動電流I3、I4がAF信号出力用差動増
幅器8に設けられたトランジスタQ9、Q8のそれ ぞ
れのベースへ印加され、AFIC6のAF信号出力端子
T3を経由して距離信 号VLとしてCPU20へ送出
される。この、距離信号VLを調整するには、クランプ
レベル設定回路39のクランプ電流設定用抵抗R11、
R12の抵抗値を変更する。クランプ電流設定用抵抗R
11、R12の抵抗値を変更すると、オペアンプOP 1
とクランプ電流出力トランジスタQ5によりAF信号出
力用差動増幅器8に設けられたトランジスタQ9のベー
ス電流が調整される。
【0006】上記構成のカメラ用測距装置ではクランプ
電流設定用抵抗R11、R12をIC内に組込むと変更
したい場合、変更経費が増加し、かつ、変更工程に係わ
る時間が必要である等の難点がある。また、クランプ電
流設定用抵抗R11、R12をIC外に外付け抵抗とし
て設けると、外付け部品の増加はできるだけ避けたいた
め、クランプレベルを自由に選択できない難点がある。
電流設定用抵抗R11、R12をIC内に組込むと変更
したい場合、変更経費が増加し、かつ、変更工程に係わ
る時間が必要である等の難点がある。また、クランプ電
流設定用抵抗R11、R12をIC外に外付け抵抗とし
て設けると、外付け部品の増加はできるだけ避けたいた
め、クランプレベルを自由に選択できない難点がある。
【0007】
【目的】この発明はこのような従来のカメラ用測距装置
の、難点を解消するためになされたもので、補正データ
を記憶する補正データ記憶回路を設けることにより、ク
ランプレベルを自由に選択し、かつ、IC外のクランプ
電流設定用抵抗を削減できるカメラ用測距装置を提供す
ることを目的とする。
の、難点を解消するためになされたもので、補正データ
を記憶する補正データ記憶回路を設けることにより、ク
ランプレベルを自由に選択し、かつ、IC外のクランプ
電流設定用抵抗を削減できるカメラ用測距装置を提供す
ることを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、測距用発光素
子から被写体へ投光された光の反射光を受光する受光素
子と、受光素子で生成された第1、第2の受光電流が入
力され、差動演算結果を距離信号として出力する差動演
算回路と、差動演算回路に入力された受光電流に加算さ
れ、受光電流を段階的に補正する段階的補正電流生成回
路と、段階的補正電流生成回路で生成される段階的補正
電流の一つを指定する補正電流指定回路と、補正電流指
定回路を作動させる補正データを記憶する補正データ記
憶回路と、補正データ記憶手段から読出された補正デー
タにより前記補正電流指定手段を制御し、かつ、差動演
算回路から出力される補正された距離信号によりレンズ
の合焦制御をおこなう制御回路とを備えている。
子から被写体へ投光された光の反射光を受光する受光素
子と、受光素子で生成された第1、第2の受光電流が入
力され、差動演算結果を距離信号として出力する差動演
算回路と、差動演算回路に入力された受光電流に加算さ
れ、受光電流を段階的に補正する段階的補正電流生成回
路と、段階的補正電流生成回路で生成される段階的補正
電流の一つを指定する補正電流指定回路と、補正電流指
定回路を作動させる補正データを記憶する補正データ記
憶回路と、補正データ記憶手段から読出された補正デー
タにより前記補正電流指定手段を制御し、かつ、差動演
算回路から出力される補正された距離信号によりレンズ
の合焦制御をおこなう制御回路とを備えている。
【0009】
【作用】受光素子で測距用発光素子から被写体へ投光さ
れた光の反射光を受光する。また、差動演算回路に受光
素子で生成された第1、第2の受光電流を入力する。こ
の、距離信号の補正は補正データ記憶回路から再生され
た補正データでおこない、制御回路で差動演算回路から
出力される補正された距離信号によりレンズの合焦制御
をおこなう。
れた光の反射光を受光する。また、差動演算回路に受光
素子で生成された第1、第2の受光電流を入力する。こ
の、距離信号の補正は補正データ記憶回路から再生され
た補正データでおこない、制御回路で差動演算回路から
出力される補正された距離信号によりレンズの合焦制御
をおこなう。
【0010】
【実施例】以下、本発明のカメラ用測距装置の一実施例
を図面を参照して説明する。
を図面を参照して説明する。
【0011】本発明のカメラ用測距装置は図1に示すよ
うに、AFIC6、PSD3、IRED1、発光ダイオ
ード駆動回路2、CPU20、レンズ駆動回路18で構
成され、AFIC6は受光信号処理回路7、AF信号出
力用差動増幅器8、クランプレベル設定回路9、2ビッ
トクランプレベル指定回路21、クランプレベル記憶回
路22で構成される。なお、受光信号処理回路7及びA
F信号出力用差動増幅器8は従来と同じ回路であるから
図示および説明を省略する。
うに、AFIC6、PSD3、IRED1、発光ダイオ
ード駆動回路2、CPU20、レンズ駆動回路18で構
成され、AFIC6は受光信号処理回路7、AF信号出
力用差動増幅器8、クランプレベル設定回路9、2ビッ
トクランプレベル指定回路21、クランプレベル記憶回
路22で構成される。なお、受光信号処理回路7及びA
F信号出力用差動増幅器8は従来と同じ回路であるから
図示および説明を省略する。
【0012】図2に示すようにAFIC6の受光信号処
理回路7から送出される差動電流I3 、I4はAF信
号出力用差動増幅器8に設けられたトランジスタQ9、
Q8のそれ ぞれのベースへ送出される。
理回路7から送出される差動電流I3 、I4はAF信
号出力用差動増幅器8に設けられたトランジスタQ9、
Q8のそれ ぞれのベースへ送出される。
【0013】クランプレベル設定回路9は、オペアンプ
OP1、クランプ電流出力トランジスタQ5、クランプ
用トランジスタQ1〜Q4、インバータ10a、10b
で構成 され、クランプ用トランジスタQ1〜Q4のエ
ミッタは基準電位点に、コレクタは抵抗R1〜R 4 を介
してオペアンプOP1の(+)側と接続される。また、
クラン プ用トランジスタQ1、Q3のベースはインバ
ータ10a、10bの出力側と接続され、Q2、Q4の
ベースはインバータ10a、10bの入力側と接続され
ている。更に、一端が第2基準電圧VREF2に接続さ
れた抵抗R5の他端はオペアンプOP1の(+)側と接
続される。つぎに、インバータ10a、10bの入力側
はそれぞれ2ビットクランプレベル指定端子T1、T2
を介して2ビットクランプレベル指定回路21と接続さ
れる。また、Dフリップフロップ回路等で構成された2
ビットクランプレベル指定回路21の入力側はCPU2
0の制御出力側と接続される。クランプレベル記憶回路
22から再生された補正データでCPU20は2ビット
クランプレベル指定回路21を制御し、2ビットクラン
プレベル指定回路21は制御に応じてクランプ用トラン
ジスタQ1〜Q4のうちの2つをオンにする。抵抗値
は、第2基準電圧V REF2 をR 5 とR 1 〜R 4 の内オ
ンした2つの抵抗で分圧することにより、クランプ電流
出力トランジスタQ 5 に流す電流が、例えば0.1nA
〜3nAになるように選択する。
OP1、クランプ電流出力トランジスタQ5、クランプ
用トランジスタQ1〜Q4、インバータ10a、10b
で構成 され、クランプ用トランジスタQ1〜Q4のエ
ミッタは基準電位点に、コレクタは抵抗R1〜R 4 を介
してオペアンプOP1の(+)側と接続される。また、
クラン プ用トランジスタQ1、Q3のベースはインバ
ータ10a、10bの出力側と接続され、Q2、Q4の
ベースはインバータ10a、10bの入力側と接続され
ている。更に、一端が第2基準電圧VREF2に接続さ
れた抵抗R5の他端はオペアンプOP1の(+)側と接
続される。つぎに、インバータ10a、10bの入力側
はそれぞれ2ビットクランプレベル指定端子T1、T2
を介して2ビットクランプレベル指定回路21と接続さ
れる。また、Dフリップフロップ回路等で構成された2
ビットクランプレベル指定回路21の入力側はCPU2
0の制御出力側と接続される。クランプレベル記憶回路
22から再生された補正データでCPU20は2ビット
クランプレベル指定回路21を制御し、2ビットクラン
プレベル指定回路21は制御に応じてクランプ用トラン
ジスタQ1〜Q4のうちの2つをオンにする。抵抗値
は、第2基準電圧V REF2 をR 5 とR 1 〜R 4 の内オ
ンした2つの抵抗で分圧することにより、クランプ電流
出力トランジスタQ 5 に流す電流が、例えば0.1nA
〜3nAになるように選択する。
【0014】次に上記構成のカメラ用測距装置での動作
を説明する。図3に示すAFIC6のAF信号出力端子
T3 から出力される距離信号VLは、被写体SUBま
での距離が5mまではのように直線性がよい特性であ
る。距離が5m〜8mになるとの特性はクランプレベ
ルが低い場合、 の様に直線性が悪くなり、ばらつきに
もよるが逆転現象が起こり、5mより近い出力となるこ
とがある。ここで〜の点線部分は、後述のとおり、
繰り返しや個体差によるばらつきを表す。はクラ
ンプレベルを変化させた場合の特性を示すもので、か
らへ重畳する電流が増えるに従い測定可能な距離が近
距離になるが、ばらつきによる距離の逆転現象は発生し
ない。この様な特性は、IRED1の発光のばらつき、
PSD3の受光感度のばらつき、AFIC6のノイズレ
ベルやカメラ内部の他の回路で発生するノイズ等に左右
され、カメラ毎に異なるため、このような特性はカメラ
作込み工程の中で判明する。従つて、カメラの製造工程
でどのレベルを選択するかを決定しこれをカメラごとに
記憶させておく必要がある。図1に示すクランプレベル
記憶回路22はこれを記憶する回路である。
を説明する。図3に示すAFIC6のAF信号出力端子
T3 から出力される距離信号VLは、被写体SUBま
での距離が5mまではのように直線性がよい特性であ
る。距離が5m〜8mになるとの特性はクランプレベ
ルが低い場合、 の様に直線性が悪くなり、ばらつきに
もよるが逆転現象が起こり、5mより近い出力となるこ
とがある。ここで〜の点線部分は、後述のとおり、
繰り返しや個体差によるばらつきを表す。はクラ
ンプレベルを変化させた場合の特性を示すもので、か
らへ重畳する電流が増えるに従い測定可能な距離が近
距離になるが、ばらつきによる距離の逆転現象は発生し
ない。この様な特性は、IRED1の発光のばらつき、
PSD3の受光感度のばらつき、AFIC6のノイズレ
ベルやカメラ内部の他の回路で発生するノイズ等に左右
され、カメラ毎に異なるため、このような特性はカメラ
作込み工程の中で判明する。従つて、カメラの製造工程
でどのレベルを選択するかを決定しこれをカメラごとに
記憶させておく必要がある。図1に示すクランプレベル
記憶回路22はこれを記憶する回路である。
【0015】実際の写真を撮影する際には、CPU20
により測距開始前にクランプレベル記憶回路22からク
ランプレベルを決める条件が読込まれ、それが、2ビッ
トクランプレベル指定回路21に送出され図3のに示
す特性になることを防止している。
により測距開始前にクランプレベル記憶回路22からク
ランプレベルを決める条件が読込まれ、それが、2ビッ
トクランプレベル指定回路21に送出され図3のに示
す特性になることを防止している。
【0016】上記実施例ではシングルビームについて説
明したが、マルチビームのカメラに適用してもよい。マ
ルチビームのカメラに適用するときはIREDの発光出
力がビーム毎に異なるためクランプレベルを例えばEE
PROMに記憶するよう構成してもよい。
明したが、マルチビームのカメラに適用してもよい。マ
ルチビームのカメラに適用するときはIREDの発光出
力がビーム毎に異なるためクランプレベルを例えばEE
PROMに記憶するよう構成してもよい。
【0017】更に、受光素子のノイズレベルは受光素子
の受ける光量の大きさによつて変化するため被写体輝度
が高くなると、遠距離の場合と同様にばらつきが増加す
る。この様な場合に対応するため、被写体輝度によりク
ランプレベルを変化させることができるプログラムをC
PUに内蔵しておけば、カメラ撮影時に被写体輝度を測
定し、そのあとで、クランプレベルを設定し測距すれば
遠距離でのばらつきを減少することができる。なお明る
い場合は絞りも大きく絞ることになるので被写体深度が
深くなり、遠距離側は測定誤差が少ないのでクランプレ
ベルによる補正を省略しても実用上差支えない。
の受ける光量の大きさによつて変化するため被写体輝度
が高くなると、遠距離の場合と同様にばらつきが増加す
る。この様な場合に対応するため、被写体輝度によりク
ランプレベルを変化させることができるプログラムをC
PUに内蔵しておけば、カメラ撮影時に被写体輝度を測
定し、そのあとで、クランプレベルを設定し測距すれば
遠距離でのばらつきを減少することができる。なお明る
い場合は絞りも大きく絞ることになるので被写体深度が
深くなり、遠距離側は測定誤差が少ないのでクランプレ
ベルによる補正を省略しても実用上差支えない。
【0018】
【発明の効果】補正データを記憶する補正データ記憶回
路を設けることにより、クランプレベルを自由に選択
し、かつ、IC外のクランプ電流設定用抵抗を削減でき
る。
路を設けることにより、クランプレベルを自由に選択
し、かつ、IC外のクランプ電流設定用抵抗を削減でき
る。
【0019】この、クランプレベルによるカメラの特性
補正技術を適用すれば、IC製造時の種々の要因による
カメラの特性のばらつきを補正でき、カメラの特性のば
らつきを補正することでカメラの品質を一定化できる。
また、ICのばらつきが補正できるのでICの歩留りを
向上し、コストを削減できる。また、マルチビームの場
合ビーム毎にクランプレベルを設定し直すことができる
ので最適条件で使用できる。また、被写体が高輝度の時
も測距のばらつきを抑制できる。
補正技術を適用すれば、IC製造時の種々の要因による
カメラの特性のばらつきを補正でき、カメラの特性のば
らつきを補正することでカメラの品質を一定化できる。
また、ICのばらつきが補正できるのでICの歩留りを
向上し、コストを削減できる。また、マルチビームの場
合ビーム毎にクランプレベルを設定し直すことができる
ので最適条件で使用できる。また、被写体が高輝度の時
も測距のばらつきを抑制できる。
【図1】本発明のカメラ用測距装置の一実施例を示す構
成図
成図
【図2】本発明のカメラ用測距装置の一実施例を示すブ
ロック図
ロック図
【図3】本発明のカメラ用測距装置の特性図
【図4】従来のカメラ用測距装置のブロック図
3 PSD(受光素子) 8 AF信号出力用差動増幅器(差動演算手段) 9 クランプレベル設定回路(段階的補正電流生成手
段) 20 CPU(制御手段) 21 2ビットクランプレベル指定回路(補正電流指定
手段) 22 クランプレベル記憶回路(補正データ記憶手段)
段) 20 CPU(制御手段) 21 2ビットクランプレベル指定回路(補正電流指定
手段) 22 クランプレベル記憶回路(補正データ記憶手段)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 伊藤 顕 千葉県四街道市鹿渡934−13番地 株式 会社精工舎千葉事業所内 (56)参考文献 特開 平3−81610(JP,A) 特開 昭63−148214(JP,A) 特開 昭60−211412(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G02B 7/28 - 7/40
Claims (1)
- 【請求項1】 測距用発光素子から被写体へ投光された
光の反射光を受光する受光素子と、前記受光素子で生成
された第1、第2の受光電流を入力され、差動演算結果
を距離信号として出力する差動演算手段と、前記差動演
算手段に入力された受光電流に加算され、前記受光電流
を段階的に補正する段階的補正電流生成手段と、前記段
階的補正電流生成手段で生成される段階的補正電流の一
つを指定する補正電流指定手段と、前記補正電流指定手
段を作動させる補正データを記憶する補正データ記憶手
段と、前記補正データ記憶手段から読出された補正デー
タにより前記補正電流指定手段を制御し、かつ、前記差
動演算手段から出力される補正された距離信号によりレ
ンズの合焦制御をおこなう制御手段とを備えたことを特
徴とするカメラ用測距装置
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7742992A JP2997968B2 (ja) | 1992-03-31 | 1992-03-31 | カメラ用測距装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7742992A JP2997968B2 (ja) | 1992-03-31 | 1992-03-31 | カメラ用測距装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05281460A JPH05281460A (ja) | 1993-10-29 |
JP2997968B2 true JP2997968B2 (ja) | 2000-01-11 |
Family
ID=13633755
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7742992A Expired - Fee Related JP2997968B2 (ja) | 1992-03-31 | 1992-03-31 | カメラ用測距装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2997968B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR970048872A (ko) * | 1995-12-30 | 1997-07-29 | 이대원 | 자동 초점 조절 방식의 반사율 보정 장치 및 그 방법 |
JP4738656B2 (ja) * | 2000-07-07 | 2011-08-03 | 富士フイルム株式会社 | 測距装置 |
-
1992
- 1992-03-31 JP JP7742992A patent/JP2997968B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH05281460A (ja) | 1993-10-29 |
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