JPH05281460A - カメラ用測距装置 - Google Patents
カメラ用測距装置Info
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- JPH05281460A JPH05281460A JP7742992A JP7742992A JPH05281460A JP H05281460 A JPH05281460 A JP H05281460A JP 7742992 A JP7742992 A JP 7742992A JP 7742992 A JP7742992 A JP 7742992A JP H05281460 A JPH05281460 A JP H05281460A
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- light
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Abstract
(57)【要約】
【構成】 受光素子で測距用発光素子から被写体へ投光
された光の反射光を受光する。また、差動演算回路に受
光素子で生成された第１、第２の受光電流を入力する。
この、距離信号の補正は補正データ記憶回路から再生さ
れた補正データでおこない、制御回路で差動演算回路か
ら出力される補正された距離信号によりレンズの合焦制
御をおこなう。 【効果】 補正データを記憶する補正データ記憶回路を
設けることにより、クランプレベルを自由に選択し、か
つ、ＩＣ外のクランプ電流設定用抵抗を削減できる。
された光の反射光を受光する。また、差動演算回路に受
光素子で生成された第１、第２の受光電流を入力する。
この、距離信号の補正は補正データ記憶回路から再生さ
れた補正データでおこない、制御回路で差動演算回路か
ら出力される補正された距離信号によりレンズの合焦制
御をおこなう。 【効果】 補正データを記憶する補正データ記憶回路を
設けることにより、クランプレベルを自由に選択し、か
つ、ＩＣ外のクランプ電流設定用抵抗を削減できる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、カメラ用測距装置に
係り、特に受光素子で生成された第１、第２の受光電流
を入力され、差動演算結果を距離信号として出力する差
動演算手段を備えたカメラ用測距装置に関する。
係り、特に受光素子で生成された第１、第２の受光電流
を入力され、差動演算結果を距離信号として出力する差
動演算手段を備えたカメラ用測距装置に関する。
【０００２】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】従来の
カメラ用測距装置は図１に示すように、自動焦点用ＩＣ
６（以下ＡＦＩＣという）、位置検出素子３（以下ＰＳ
Ｄという）、赤外線発光ダイオード１（以下ＩＲＥＤと
いう）を駆動する発光ダイオード駆動回路２、発光ダイ
オード駆動回路２を制御するマイクロプロセッサー２０
（以下ＣＰＵという）、ＣＰＵ２０から制御され鏡胴１
９の撮影レンズ１９ａを合焦作動するレンズ駆動回路１
８で構成され、ＩＲＥＤ１から投光レンズ１ａを介して
被写体ＳＵＢへ投光された光は、被写体ＳＵＢで反射
し、受光レンズ３ａを介してＰＳＤ３で受光される。Ｐ
ＳＤ３に反射光が入射されると、ＡＦＩＣ６のＡＦ信号
出力端子Ｔ3からＣＰＵ２０へ距離信号ＶＬを送出す
る。ＣＰＵ２０はこの距離信号ＶＬにもとずき鏡胴１９
の撮影レンズ１９ａを合焦作動する。
カメラ用測距装置は図１に示すように、自動焦点用ＩＣ
６（以下ＡＦＩＣという）、位置検出素子３（以下ＰＳ
Ｄという）、赤外線発光ダイオード１（以下ＩＲＥＤと
いう）を駆動する発光ダイオード駆動回路２、発光ダイ
オード駆動回路２を制御するマイクロプロセッサー２０
（以下ＣＰＵという）、ＣＰＵ２０から制御され鏡胴１
９の撮影レンズ１９ａを合焦作動するレンズ駆動回路１
８で構成され、ＩＲＥＤ１から投光レンズ１ａを介して
被写体ＳＵＢへ投光された光は、被写体ＳＵＢで反射
し、受光レンズ３ａを介してＰＳＤ３で受光される。Ｐ
ＳＤ３に反射光が入射されると、ＡＦＩＣ６のＡＦ信号
出力端子Ｔ3からＣＰＵ２０へ距離信号ＶＬを送出す
る。ＣＰＵ２０はこの距離信号ＶＬにもとずき鏡胴１９
の撮影レンズ１９ａを合焦作動する。
【０００３】ＡＦＩＣ６は受光信号処理回路７、ＡＦ信
号出力用差動増幅器８、クランプレベル設定回路３９
（本願ではクランプレベル設定回路９）で構成され、図
４に示すように受光信号処理回路７は距離電流用オペア
ンプＯＰ2、ＯＰ3でＰＳＤ３から出力される距離電流Ｉ
1、Ｉ2を増幅する。距離電流用オペアンプＯＰ2、ＯＰ3
で増幅された距離電流Ｉ1、Ｉ2は圧縮ダイオードＤ1、
Ｄ2の作用で差動電流Ｉ3、Ｉ4となりＡＦ信号出力用差
動増幅器８に設けられたトランジスタＱ9、Ｑ8のそれぞ
れのベースへ送出される。トランジスタＱ9のコレクタ
は抵抗8を介して電源＋ＶEに接続され、トランジスター
Ｑ9のコレクタと抵抗8の接続点からＡＦＩＣ６のＡＦ信
号出力端子Ｔ3を経由して距離信号ＶＬをＣＰＵ２０へ
送出する。ＡＦＩＣ６には一端が基準電位点に接続され
た定常光ホールドコンデンサＣ1、Ｃ2が外付けされ、定
常光ホールドコンデンサＣ1、Ｃ2の他端は定常光カット
用トランジスタＱ6、Ｑ7のそれぞれのベースに接続さ
れ、コレクタは距離電流用オペアンプＯＰ2、ＯＰ3の入
力側と接続される。また、エミッタには一端が基準電位
点に接続された抵抗Ｒ6、Ｒ7の他端を接続する。更に、
定常光カツト用ペアンプＯＰ4、ＯＰ5の出力側は受光信
号処理回路制御端子Ｔ4に制御側が接続された定常光カ
ツト用スイッチＳＷ1、ＳＷ2を介して定常光カット用ト
ランジスタＱ6、Ｑ7のそれぞれのベースに接続される。
定常光カツト用ペアンプＯＰ4、ＯＰ5の非反転入力端子
となる（＋）側はアノードが電源＋ＶEに接続された圧
縮ダイオードＤ1、 Ｄ2のカソードと共に距離電流用オ
ペアンプＯＰ2、ＯＰ3の出力側と接続する。なお、定常
光カツト用ペアンプＯＰ4、ＯＰ5の（−）側には第１基
準電圧ＶREF1が印加される。
号出力用差動増幅器８、クランプレベル設定回路３９
（本願ではクランプレベル設定回路９）で構成され、図
４に示すように受光信号処理回路７は距離電流用オペア
ンプＯＰ2、ＯＰ3でＰＳＤ３から出力される距離電流Ｉ
1、Ｉ2を増幅する。距離電流用オペアンプＯＰ2、ＯＰ3
で増幅された距離電流Ｉ1、Ｉ2は圧縮ダイオードＤ1、
Ｄ2の作用で差動電流Ｉ3、Ｉ4となりＡＦ信号出力用差
動増幅器８に設けられたトランジスタＱ9、Ｑ8のそれぞ
れのベースへ送出される。トランジスタＱ9のコレクタ
は抵抗8を介して電源＋ＶEに接続され、トランジスター
Ｑ9のコレクタと抵抗8の接続点からＡＦＩＣ６のＡＦ信
号出力端子Ｔ3を経由して距離信号ＶＬをＣＰＵ２０へ
送出する。ＡＦＩＣ６には一端が基準電位点に接続され
た定常光ホールドコンデンサＣ1、Ｃ2が外付けされ、定
常光ホールドコンデンサＣ1、Ｃ2の他端は定常光カット
用トランジスタＱ6、Ｑ7のそれぞれのベースに接続さ
れ、コレクタは距離電流用オペアンプＯＰ2、ＯＰ3の入
力側と接続される。また、エミッタには一端が基準電位
点に接続された抵抗Ｒ6、Ｒ7の他端を接続する。更に、
定常光カツト用ペアンプＯＰ4、ＯＰ5の出力側は受光信
号処理回路制御端子Ｔ4に制御側が接続された定常光カ
ツト用スイッチＳＷ1、ＳＷ2を介して定常光カット用ト
ランジスタＱ6、Ｑ7のそれぞれのベースに接続される。
定常光カツト用ペアンプＯＰ4、ＯＰ5の非反転入力端子
となる（＋）側はアノードが電源＋ＶEに接続された圧
縮ダイオードＤ1、 Ｄ2のカソードと共に距離電流用オ
ペアンプＯＰ2、ＯＰ3の出力側と接続する。なお、定常
光カツト用ペアンプＯＰ4、ＯＰ5の（−）側には第１基
準電圧ＶREF1が印加される。
【０００４】クランプレベル設定回路３９にはオペアン
プＯＰ1とクランプ電流出力トランジスタＱ5及びクラン
プ電流設定用抵抗Ｒ11、Ｒ12が設けられ、オペアンプＯ
Ｐ1の（＋）側は一端が基準電位点に接続されたクラン
プ電流設定用抵抗Ｒ12の他端を接続する。また、クラン
プ電流設定用抵抗Ｒ11の一端には第２基準電圧Ｖ
ＲＥＦ２が接続され、他端はオペアンプＯＰ１の（＋）
側と接続される。更に、クランプ電流出力トランジスタ
Ｑ5のコレクタは基準電位点と、ベースはオペアンプＯ
Ｐ1の出力側と接続され、エミッタはオペアンプＯＰ1の
（−）側と接続されると共にＡＦ信号出力用差動増幅器
８に設けられたトランジスタＱ9のベースに接続され
る。
プＯＰ1とクランプ電流出力トランジスタＱ5及びクラン
プ電流設定用抵抗Ｒ11、Ｒ12が設けられ、オペアンプＯ
Ｐ1の（＋）側は一端が基準電位点に接続されたクラン
プ電流設定用抵抗Ｒ12の他端を接続する。また、クラン
プ電流設定用抵抗Ｒ11の一端には第２基準電圧Ｖ
ＲＥＦ２が接続され、他端はオペアンプＯＰ１の（＋）
側と接続される。更に、クランプ電流出力トランジスタ
Ｑ5のコレクタは基準電位点と、ベースはオペアンプＯ
Ｐ1の出力側と接続され、エミッタはオペアンプＯＰ1の
（−）側と接続されると共にＡＦ信号出力用差動増幅器
８に設けられたトランジスタＱ9のベースに接続され
る。
【０００５】一般にＰＳＤ３はＩＲＥＤ１で発光される
発光波長の信号のみを受光することが望ましい。このた
め、ＩＲＥＤ１で発光される発光波長以外をカツトする
よう、例えば樹脂等で形成された光学フィルタを設け、
外光成分を除去する。しかし、外光成分にはＩＲＥＤ１
と同じ波長の成分も含まれているので、ＰＳＤ３からは
ＩＲＥＤ１の発光による距離電流Ｉ1、Ｉ2のほか、外光
成分によるノイズ電流が出力される。そこで、ＩＲＥＤ
１の発光タイミングをＣＰＵ２０で制御し、この外光成
分によるノイズ電流を除去するようになつている。つま
り、ＣＰＵ２０が受光信号処理回路制御端子Ｔ4を介し
て、定常光カツト用スイッチＳＷ1、ＳＷ2を閉成した儘
に制御していると、定常光カット用トランジスタＱ6、
Ｑ7のそれぞれのベースは定常光カット用トランジスタ
Ｑ6、Ｑ7によりベースバイアスされるので距離電流
Ｉ1、Ｉ2以外の外光成分によるノイズ電流は圧縮ダイオ
ードＤ1、 Ｄ2及び第１基準電圧ＶREF1で定められたク
リップレベルでクリップされる。ＩＲＥＤ１が発光され
ると、定常光カツト用スイッチＳＷ1、ＳＷ2が開成さ
れ、定常光カット用トランジスタＱ6、Ｑ7のベースは定
常光ホールドコンデンサＣ1、Ｃ2の電位に固定される。
したがつて、ＩＲＥＤ１の発光による距離電流Ｉ1、Ｉ2
のみが距離電流用オペアンプＯＰ2、ＯＰ3で増幅され、
圧縮ダイオードＤ1、Ｄ2に流しこまれる。このあとで、
圧縮ダイオードＤ1、 Ｄ2による差動電流Ｉ3、Ｉ4がＡ
Ｆ信号出力用差動増幅器８に設けられたトランジスタＱ
9、Ｑ8のそれぞれのベースへ印加され、ＡＦＩＣ６のＡ
Ｆ信号出力端子Ｔ3を経由して距離信号ＶＬとしてＣＰ
Ｕ２０へ送出される。この、距離信号ＶＬを調整するに
は、クランプレベル設定回路３９のクランプ電流設定用
抵抗Ｒ11、Ｒ12の抵抗値を変更する。クランプ電流設定
用抵抗Ｒ11、Ｒ12の抵抗値を変更すると、オペアンプＯ
Ｐ1とクランプ電流出力トランジスタＱ5によりＡＦ信号
出力用差動増幅器８に設けられたトランジスタＱ9のベ
ース電流が調整される。
発光波長の信号のみを受光することが望ましい。このた
め、ＩＲＥＤ１で発光される発光波長以外をカツトする
よう、例えば樹脂等で形成された光学フィルタを設け、
外光成分を除去する。しかし、外光成分にはＩＲＥＤ１
と同じ波長の成分も含まれているので、ＰＳＤ３からは
ＩＲＥＤ１の発光による距離電流Ｉ1、Ｉ2のほか、外光
成分によるノイズ電流が出力される。そこで、ＩＲＥＤ
１の発光タイミングをＣＰＵ２０で制御し、この外光成
分によるノイズ電流を除去するようになつている。つま
り、ＣＰＵ２０が受光信号処理回路制御端子Ｔ4を介し
て、定常光カツト用スイッチＳＷ1、ＳＷ2を閉成した儘
に制御していると、定常光カット用トランジスタＱ6、
Ｑ7のそれぞれのベースは定常光カット用トランジスタ
Ｑ6、Ｑ7によりベースバイアスされるので距離電流
Ｉ1、Ｉ2以外の外光成分によるノイズ電流は圧縮ダイオ
ードＤ1、 Ｄ2及び第１基準電圧ＶREF1で定められたク
リップレベルでクリップされる。ＩＲＥＤ１が発光され
ると、定常光カツト用スイッチＳＷ1、ＳＷ2が開成さ
れ、定常光カット用トランジスタＱ6、Ｑ7のベースは定
常光ホールドコンデンサＣ1、Ｃ2の電位に固定される。
したがつて、ＩＲＥＤ１の発光による距離電流Ｉ1、Ｉ2
のみが距離電流用オペアンプＯＰ2、ＯＰ3で増幅され、
圧縮ダイオードＤ1、Ｄ2に流しこまれる。このあとで、
圧縮ダイオードＤ1、 Ｄ2による差動電流Ｉ3、Ｉ4がＡ
Ｆ信号出力用差動増幅器８に設けられたトランジスタＱ
9、Ｑ8のそれぞれのベースへ印加され、ＡＦＩＣ６のＡ
Ｆ信号出力端子Ｔ3を経由して距離信号ＶＬとしてＣＰ
Ｕ２０へ送出される。この、距離信号ＶＬを調整するに
は、クランプレベル設定回路３９のクランプ電流設定用
抵抗Ｒ11、Ｒ12の抵抗値を変更する。クランプ電流設定
用抵抗Ｒ11、Ｒ12の抵抗値を変更すると、オペアンプＯ
Ｐ1とクランプ電流出力トランジスタＱ5によりＡＦ信号
出力用差動増幅器８に設けられたトランジスタＱ9のベ
ース電流が調整される。
【０００６】上記構成のカメラ用測距装置ではクランプ
電流設定用抵抗Ｒ11、Ｒ12をＩＣ内に組込むと変更した
い場合、変更経費が増加し、かつ、変更工程に係わる時
間が必要である等の難点がある。また、クランプ電流設
定用抵抗Ｒ11、Ｒ12をＩＣ外に外付け抵抗として設ける
と、外付け部品の増加はできるだけ避けたいため、クラ
ンプレベルを自由に選択できない難点がある。
電流設定用抵抗Ｒ11、Ｒ12をＩＣ内に組込むと変更した
い場合、変更経費が増加し、かつ、変更工程に係わる時
間が必要である等の難点がある。また、クランプ電流設
定用抵抗Ｒ11、Ｒ12をＩＣ外に外付け抵抗として設ける
と、外付け部品の増加はできるだけ避けたいため、クラ
ンプレベルを自由に選択できない難点がある。
【０００７】
【目的】この発明はこのような従来のカメラ用測距装置
の、難点を解消するためになされたもので、補正データ
を記憶する補正データ記憶回路を設けることにより、ク
ランプレベルを自由に選択し、かつ、ＩＣ外のクランプ
電流設定用抵抗を削減できるカメラ用測距装置を提供す
ることを目的とする。
の、難点を解消するためになされたもので、補正データ
を記憶する補正データ記憶回路を設けることにより、ク
ランプレベルを自由に選択し、かつ、ＩＣ外のクランプ
電流設定用抵抗を削減できるカメラ用測距装置を提供す
ることを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明は、測距用発光素
子から被写体へ投光された光の反射光を受光する受光素
子と、受光素子で生成された第１、第２の受光電流を入
力され、差動演算結果を距離信号として出力する差動演
算回路と、差動演算回路に入力された受光電流に段階的
に加算され、受光電流を補正する段階的補正電流生成回
路と、段階的補正電流生成回路で生成される段階的補正
電流の一つを指定する補正電流指定回路と、補正電流指
定回路を作動させる補正データを記憶する補正データ記
憶回路と、補正データ記憶手段から読出された補正デー
タにより前記補正電流指定手段を制御し、かつ、差動演
算回路から出力される補正された距離信号によりレンズ
の合焦制御をおこなう制御回路とを備えている。
子から被写体へ投光された光の反射光を受光する受光素
子と、受光素子で生成された第１、第２の受光電流を入
力され、差動演算結果を距離信号として出力する差動演
算回路と、差動演算回路に入力された受光電流に段階的
に加算され、受光電流を補正する段階的補正電流生成回
路と、段階的補正電流生成回路で生成される段階的補正
電流の一つを指定する補正電流指定回路と、補正電流指
定回路を作動させる補正データを記憶する補正データ記
憶回路と、補正データ記憶手段から読出された補正デー
タにより前記補正電流指定手段を制御し、かつ、差動演
算回路から出力される補正された距離信号によりレンズ
の合焦制御をおこなう制御回路とを備えている。
【０００９】
【作用】受光素子で測距用発光素子から被写体へ投光さ
れた光の反射光を受光する。また、差動演算回路に受光
素子で生成された第１、第２の受光電流を入力する。こ
の、距離信号の補正は補正データ記憶回路から再生され
た補正データでおこない、制御回路で差動演算回路から
出力される補正された距離信号によりレンズの合焦制御
をおこなう。
れた光の反射光を受光する。また、差動演算回路に受光
素子で生成された第１、第２の受光電流を入力する。こ
の、距離信号の補正は補正データ記憶回路から再生され
た補正データでおこない、制御回路で差動演算回路から
出力される補正された距離信号によりレンズの合焦制御
をおこなう。
【００１０】
【実施例】以下、本発明のカメラ用測距装置の一実施例
を図面を参照して説明する。
を図面を参照して説明する。
【００１１】本発明のカメラ用測距装置は図１に示すよ
うに、ＡＦＩＣ６、ＰＳＤ３、ＩＲＥＤ１、発光ダイオ
ード駆動回路２、ＣＰＵ２０、レンズ駆動回路１８で構
成され、ＡＦＩＣ６は受光信号処理回路７、ＡＦ信号出
力用差動増幅器８、クランプレベル設定回路９、２ビッ
トクランプレベル指定回路２１、クランプレベル記憶回
路２２で構成される。なお、受光信号処理回路７及びＡ
Ｆ信号出力用差動増幅器８は従来と同じ回路であるから
図示および説明を省略する。
うに、ＡＦＩＣ６、ＰＳＤ３、ＩＲＥＤ１、発光ダイオ
ード駆動回路２、ＣＰＵ２０、レンズ駆動回路１８で構
成され、ＡＦＩＣ６は受光信号処理回路７、ＡＦ信号出
力用差動増幅器８、クランプレベル設定回路９、２ビッ
トクランプレベル指定回路２１、クランプレベル記憶回
路２２で構成される。なお、受光信号処理回路７及びＡ
Ｆ信号出力用差動増幅器８は従来と同じ回路であるから
図示および説明を省略する。
【００１２】図２に示すようにＡＦＩＣ６の受光信号処
理回路７から送出される差動電流Ｉ3、Ｉ4はＡＦ信号出
力用差動増幅器８に設けられたトランジスタＱ9、Ｑ8の
それぞれのベースへ送出される。
理回路７から送出される差動電流Ｉ3、Ｉ4はＡＦ信号出
力用差動増幅器８に設けられたトランジスタＱ9、Ｑ8の
それぞれのベースへ送出される。
【００１３】クランプレベル設定回路９は、オペアンプ
ＯＰ1、クランプ電流出力トランジスタＱ5、クランプ用
トランジスタＱ1〜Ｑ4、インバータ１０ａ、１０ｂで構
成され、クランプ用トランジスタＱ1〜Ｑ4のエミッタは
基準電位点に、コレクタは抵抗Ｒ1〜Ｒ5を介してオペア
ンプＯＰ1の（＋）側と接続される。また、クランプ用
トランジスタＱ1、Ｑ3のベースはインバータ１０ａ、１
０ｂの出力側と接続され、Ｑ2、Ｑ4のベースはインバー
タ１０ａ、１０ｂの入力側と接続されている。更に、一
端が第２基準電圧ＶREF2に接続され抵抗Ｒ5の他端はオ
ペアンプＯＰ1の（＋）側と接続される。つぎに、イン
バータ１０ａ、１０ｂの入力側はそれぞれ２ビットクラ
ンプレベル指定端子Ｔ1、Ｔ2を介して２ビットクランプ
レベル指定回路２１と接続される。また、Ｄフリップフ
ロップ回路等で構成された２ビットクランプレベル指定
回路２１の入力側はＣＰＵ２０の制御出力側と接続され
る。クランプレベル記憶回路２２から再生された補正デ
ータでＣＰＵ２０は２ビットクランプレベル指定回路２
１を制御し、２ビットクランプレベル指定回路２１は制
御に応じてクランプ用トランジスタＱ1〜Ｑ4のうちの１
つをオンにする。
ＯＰ1、クランプ電流出力トランジスタＱ5、クランプ用
トランジスタＱ1〜Ｑ4、インバータ１０ａ、１０ｂで構
成され、クランプ用トランジスタＱ1〜Ｑ4のエミッタは
基準電位点に、コレクタは抵抗Ｒ1〜Ｒ5を介してオペア
ンプＯＰ1の（＋）側と接続される。また、クランプ用
トランジスタＱ1、Ｑ3のベースはインバータ１０ａ、１
０ｂの出力側と接続され、Ｑ2、Ｑ4のベースはインバー
タ１０ａ、１０ｂの入力側と接続されている。更に、一
端が第２基準電圧ＶREF2に接続され抵抗Ｒ5の他端はオ
ペアンプＯＰ1の（＋）側と接続される。つぎに、イン
バータ１０ａ、１０ｂの入力側はそれぞれ２ビットクラ
ンプレベル指定端子Ｔ1、Ｔ2を介して２ビットクランプ
レベル指定回路２１と接続される。また、Ｄフリップフ
ロップ回路等で構成された２ビットクランプレベル指定
回路２１の入力側はＣＰＵ２０の制御出力側と接続され
る。クランプレベル記憶回路２２から再生された補正デ
ータでＣＰＵ２０は２ビットクランプレベル指定回路２
１を制御し、２ビットクランプレベル指定回路２１は制
御に応じてクランプ用トランジスタＱ1〜Ｑ4のうちの１
つをオンにする。
【００１４】上記構成のカメラ用測距装置で図３に示す
ＡＦＩＣ６のＡＦ信号出力端子Ｔ3から出力される距離
信号ＶＬは距離が５ｍ〜８ｍになるとの特性はであ
るにも拘わらず、５ｍより近い出力となる。はク
ランプレベルを変化させた場合の特性を示すもので、重
畳する電流が増えるに従い測定可能な距離が近距離にな
るが、ばらつきによる距離の逆転現象は発生しない。こ
の様な特性は、ＩＲＥＤ１の発光のばらつき、ＰＳＤ３
の受光感度のばらつき、ＡＦＩＣ６のノイズレベルやカ
メラ内部の他の回路で発生するノイズ等に左右され、カ
メラ毎に異なるため、このような特性はカメラ作込み工
程の中で判明する。従つて、カメラの製造工程でどのレ
ベルを選択するかを決定しこれをカメラごとに記憶させ
ておく必要がある。図１に示すクランプレベル記憶回路
２２はこれを記憶する回路である。
ＡＦＩＣ６のＡＦ信号出力端子Ｔ3から出力される距離
信号ＶＬは距離が５ｍ〜８ｍになるとの特性はであ
るにも拘わらず、５ｍより近い出力となる。はク
ランプレベルを変化させた場合の特性を示すもので、重
畳する電流が増えるに従い測定可能な距離が近距離にな
るが、ばらつきによる距離の逆転現象は発生しない。こ
の様な特性は、ＩＲＥＤ１の発光のばらつき、ＰＳＤ３
の受光感度のばらつき、ＡＦＩＣ６のノイズレベルやカ
メラ内部の他の回路で発生するノイズ等に左右され、カ
メラ毎に異なるため、このような特性はカメラ作込み工
程の中で判明する。従つて、カメラの製造工程でどのレ
ベルを選択するかを決定しこれをカメラごとに記憶させ
ておく必要がある。図１に示すクランプレベル記憶回路
２２はこれを記憶する回路である。
【００１５】実際の写真を撮影する際には、ＣＰＵ２０
により測距開始前にクランプレベル記憶回路２２からク
ランプレベルを決める条件が読込まれ、それが、２ビッ
トクランプレベル指定回路２１に送出され図３のに示
す特性になることを防止している。
により測距開始前にクランプレベル記憶回路２２からク
ランプレベルを決める条件が読込まれ、それが、２ビッ
トクランプレベル指定回路２１に送出され図３のに示
す特性になることを防止している。
【００１６】上記実施例ではシングルビームについて説
明したが、マルチビームのカメラに適用してもよい。マ
ルチビームのカメラに適用するときはＩＲＥＤの発光出
力がビーム毎に異なるためクランプレベルを例えばＥＥ
ＰＲＯＭに記憶するよう構成してもよい。
明したが、マルチビームのカメラに適用してもよい。マ
ルチビームのカメラに適用するときはＩＲＥＤの発光出
力がビーム毎に異なるためクランプレベルを例えばＥＥ
ＰＲＯＭに記憶するよう構成してもよい。
【００１７】更に、受光素子のノイズレベルは受光素子
の受ける光量の大きさによつて変化するため被写体輝度
が高くなると、遠距離の場合と同様にばらつきが増加す
る。この様な場合に対応するため、被写体輝度によりク
ランプレベルを変化させることができるプログラムをＣ
ＰＵに内蔵しておけば、カメラ撮影時に被写体輝度を測
定し、そのあとで、クランプレベルを設定し測距すれば
遠距離でのばらつきを減少することができる。なお明る
い場合は絞りも大きく絞ることになるので被写体深度が
深くなるので遠距離側のは測定誤差は少ないのでクラン
プレベルによる補正を省略しても実用上差支えない。
の受ける光量の大きさによつて変化するため被写体輝度
が高くなると、遠距離の場合と同様にばらつきが増加す
る。この様な場合に対応するため、被写体輝度によりク
ランプレベルを変化させることができるプログラムをＣ
ＰＵに内蔵しておけば、カメラ撮影時に被写体輝度を測
定し、そのあとで、クランプレベルを設定し測距すれば
遠距離でのばらつきを減少することができる。なお明る
い場合は絞りも大きく絞ることになるので被写体深度が
深くなるので遠距離側のは測定誤差は少ないのでクラン
プレベルによる補正を省略しても実用上差支えない。
【００１８】
【発明の効果】補正データを記憶する補正データ記憶回
路を設けることにより、クランプレベルを自由に選択
し、かつ、ＩＣ外のクランプ電流設定用抵抗を削減でき
る。
路を設けることにより、クランプレベルを自由に選択
し、かつ、ＩＣ外のクランプ電流設定用抵抗を削減でき
る。
【００１９】この、クランプレベルによるカメラの特性
補正技術を適用すれば、ＩＣ製造時の種々の要因による
カメラの特性のばらつきを補正でき、カメラの特性のば
らつきを補正することでカメラの品質を一定化できる。
また、ＩＣのばらつきが補正できるのでＩＣの歩留りを
向上し、コストを削減できる。また、マルチビームの場
合ビーム毎にクランプレベルを設定し直すことができる
ので最適条件で使用れきる。また、被写体が高輝度の時
も測距のばらつきを抑圧できる。
補正技術を適用すれば、ＩＣ製造時の種々の要因による
カメラの特性のばらつきを補正でき、カメラの特性のば
らつきを補正することでカメラの品質を一定化できる。
また、ＩＣのばらつきが補正できるのでＩＣの歩留りを
向上し、コストを削減できる。また、マルチビームの場
合ビーム毎にクランプレベルを設定し直すことができる
ので最適条件で使用れきる。また、被写体が高輝度の時
も測距のばらつきを抑圧できる。
【図１】本発明のカメラ用測距装置の一実施例を示す構
成図
成図
【図２】本発明のカメラ用測距装置の一実施例を示すブ
ロック図
ロック図
【図３】本発明のカメラ用測距装置の特性図
【図４】従来のカメラ用測距装置のブロック図
３ ＰＳＤ（受光素子） ８ ＡＦ信号出力用差動増幅器（差動演算手段） ９ 測光手段（測定手段） ２０ ＣＰＵ（制御手段） ２１ ２ビットクランプレベル指定回路（段階的補正電
流生成手段） ２２ クランプレベル記憶回路（補正データ記憶手段）
流生成手段） ２２ クランプレベル記憶回路（補正データ記憶手段）
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 伊藤 顕 千葉県四街道市鹿渡934−13番地 株式会 社精工舎千葉事業所内
Claims (1)
- 【請求項１】 測距用発光素子から被写体へ投光された
光の反射光を受光する受光素子と、前記受光素子で生成
された第１、第２の受光電流を入力され、差動演算結果
を距離信号として出力する差動演算手段と、前記差動演
算手段に入力された受光電流に段階的に加算され、前記
受光電流を補正する段階的補正電流生成手段と、前記段
階的補正電流生成手段で生成される段階的補正電流の一
つを指定する補正電流指定手段と、前記補正電流指定手
段を作動させる補正データを記憶する補正データ記憶手
段と、前記補正データ記憶手段から読出された補正デー
タにより前記補正電流指定手段を制御し、かつ、前記差
動演算手段から出力される補正された距離信号によりレ
ンズの合焦制御をおこなう制御手段とを備えたことを特
徴とするカメラ用測距装置
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7742992A JP2997968B2 (ja) | 1992-03-31 | 1992-03-31 | カメラ用測距装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7742992A JP2997968B2 (ja) | 1992-03-31 | 1992-03-31 | カメラ用測距装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05281460A true JPH05281460A (ja) | 1993-10-29 |
| JP2997968B2 JP2997968B2 (ja) | 2000-01-11 |
Family
ID=13633755
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7742992A Expired - Fee Related JP2997968B2 (ja) | 1992-03-31 | 1992-03-31 | カメラ用測距装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2997968B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR970048872A (ko) * | 1995-12-30 | 1997-07-29 | 이대원 | 자동 초점 조절 방식의 반사율 보정 장치 및 그 방법 |
| JP2002098525A (ja) * | 2000-07-07 | 2002-04-05 | Fuji Photo Optical Co Ltd | 測距装置 |
-
1992
- 1992-03-31 JP JP7742992A patent/JP2997968B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR970048872A (ko) * | 1995-12-30 | 1997-07-29 | 이대원 | 자동 초점 조절 방식의 반사율 보정 장치 및 그 방법 |
| JP2002098525A (ja) * | 2000-07-07 | 2002-04-05 | Fuji Photo Optical Co Ltd | 測距装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2997968B2 (ja) | 2000-01-11 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |