JP2985297B2 - 電気機器 - Google Patents

電気機器

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JP2985297B2
JP2985297B2 JP2409401A JP40940190A JP2985297B2 JP 2985297 B2 JP2985297 B2 JP 2985297B2 JP 2409401 A JP2409401 A JP 2409401A JP 40940190 A JP40940190 A JP 40940190A JP 2985297 B2 JP2985297 B2 JP 2985297B2
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勝昭 中野
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】〔発明の目的〕
【0002】
【産業上の利用分野】この発明は、露光用やスキャナ用
等に好適なランプ点灯装置を備えた複写機やファクシミ
リ等の電気機器に係り、特に、ランプへの通電を制御す
る保護リレー等の開閉装置をフェイルセーフに改良した
電気機器に関する。
【0003】
【従来の技術】従来、露光用やスキャナ用等のランプ点
灯装置を備えた複写機やファクシミリ等の電気機器で
は、光源であるハロゲンランプに、保護リレーの常閉接
点や位相制御回路のトラクアック等を介して商用交流電
源等の電源に接続し、位相制御回路によりハロゲンラン
プ4の印加電圧の位相角を変化させることによりハロゲ
ンランプ4に供給される電力を連続的に制御するように
なっている。
【0004】また、ハロゲンランプに異常電圧等が印加
されたときには、この保護リレーの励磁コイルを励磁し
て常閉接点を開き、ハロゲンランプへの通電を遮断して
ハロゲンランプの保護を図っている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の保護リレーでは、その開閉接点が常閉である
ために、正常時には常に閉状態である一方、異常時には
励磁コイルを励磁して接点を開放し、その励磁状態を保
持する必要がある。
【0006】このために、保護リレーが動作中、つま
り、励磁コイルが励磁中に、この保護リレーが何らかの
原因により故障して励磁コイルの励磁が遮断された場合
には、常閉接点の開動作を保持できなくなって閉じてし
まうので、電源電圧が直接ハロゲンランプに印加されて
定格以上で点灯させ、破損させる可能性が高い。
【0007】また、トライアック等が故障した場合も同
様の理由によりハロゲンランプを破損させる可能性が高
い。
【0008】つまり、保護リレーの開閉接点が常閉であ
るために、保護リレーが故障した場合には常に開閉接点
を閉じる可能性が高く、ひいてはハロンランプを破損さ
せる可能性が高い。
【0009】そこで、この発明はこのような事情を考慮
してなされたもので、その目的は、仮に保護リレー等が
故障した場合でも確実にランプへの通電を遮断してその
破損を未然に防止することができる電気機器を提供する
ことにある。
【0010】〔発明の構成〕
【0011】
【課題を解決するための手段】この発明は、従来例の課
題が、保護リレーの開閉接点を常閉接点にした点にある
ことに着目してなされたもので、これを常開接点にして
フェイルセーフ効果を図ったものであり、次のように構
成される。
【0012】つまりこの発明は、電気機器本体と、電源
に接続され電気機器に組み込まれた複数の組込み機器
と;複数の組込み機器を点検して正常異常を判断する自
己診断回路と;電源に常開接点および位相制御手段を介
して接続されるランプと;この常開接点を開閉する開閉
装置と;位相制御手段へ位相制御信号を出力するゲート
・トリガ回路と;開閉装置およびゲート・トリガ回路に
対して電源の入切を一括して行うスイッチング素子と;
前記ランプの印加電圧を検出する印加電圧検出手段と;
前記ランプを点灯させるときに自己診断回路が正常と判
断した状態でスイッチング素子を制御し、ゲート・トリ
ガ回路から位相制御信号を出力可能にしてかつ前記開閉
装置により前記常開接点を閉じて通電する一方、前記印
加電圧検出手段により検出されたランプ印加電圧の通電
時間が連続して設定時間を超えたときにスイッチング素
子を制御し、ゲート・トリガ回路の位相制御信号の出力
を遮断するとともに、常開接点を開放させる制御手段と
を有することを特徴とする。
【0013】
【作用】ランプを点灯させるときは、制御手段が常開接
点を開閉装置により閉じる。このために、電源電圧が閉
じた常開接点を介してランプに印加され、ランプが点灯
する。
【0014】このときのランプ印加電圧は印加電圧検出
手段により検出される。そして、この検出電圧の通電時
間が連続して設定時間を超えると、制御手段が異常と判
断して常開接点を開閉装置により開放させる。このため
にランプへの通電が遮断され、ランプが消灯する。
【0015】その結果、ランプの長時間連続点灯による
破損を未然に防止できる。
【0016】また、開閉装置の開閉接点が常開接点であ
り、常時、開状態に付勢されているので、万一、開閉装
置の故障等で励磁コイルが消磁されても、接点は常に開
状態へ付勢する。したがって、開閉装置等の故障時には
常にランプへの通電を遮断するので、いわゆるフェイル
セーフの効果を奏する。
【0017】さらに、ランプの連続点灯時間が設定時間
を超えると、スイッチング素子によりゲート・トリガ回
路と開閉装置への電源の入力をも遮断するので、常開接
点と位相制御手段のいずれか一方が異常で正常に動作し
ない場合でも、他方が正常に動作する場合には、常開接
点を開き、またはゲート・トリガ回路からトライアック
に与えられるゲート・トリガ信号が遮断されるので、ラ
ンプを消灯させることができる。しかも、上述したよう
に常開接点が故障するモードとしては常開接点が開くモ
ードが多いので、より安全性が向上する。
【0018】
【実施例】以下、この発明の一実施例を図1に基づいて
説明する。
【0019】図1はこの発明の一実施例の全体構成を示
す電気回路図であり、図において、ランプ点灯装置1
は、複写機やファクシミリ等の電気機器に、その露光用
やスキャナ用等として組み込まれるものである。
【0020】このランプ点灯装置1は商用交流電源等の
電源Vに、常開接点2、位相制御手段のトライアック3
を順次介してハロゲンランプ4を電気的に接続してい
る。
【0021】ハロゲンランプ4にはこのハロゲンランプ
4に印加される電圧を検出する印加電圧検出回路5を並
列に接続している。
【0022】常開接点2は、開閉装置である保護リレー
6内に内蔵された図示しない励磁コイルのオンオフによ
り開閉されるものであり、この励磁コイルの無励磁ない
し消磁時には常時開放されるように付勢される一方、そ
の励磁時には接点を閉じるものである。
【0023】トライアック3はそのゲート3aをゲート
・トリガ回路7のゲート・トリガ出力端子7bに接続
し、ゲート・トリガ回路7からのゲートトリガ信号を受
けてスイッチングすることにより、ハロゲンランプ4の
印加電圧の位相角を変化させ、ハロゲンランプ4に供給
される電力を連続的に制御する位相制御回路に構成され
ている。
【0024】つまり、この位相制御回路はハロゲンラン
プ4による露光やスキャニングに対応させて、間欠的に
ハロゲンランプ4を点灯させるものであり、その間欠点
灯の点灯時に露光またはスキャニングする一方、その消
灯(OFF)時にスキャニング等を原位置に復帰させる
ようになっている。
【0025】ゲート・トリガ回路7および保護リレー6
はスイッチング素子である例えばFET(電界効果型ト
ランジスタ)8を介して直流電源9等に接続されてい
る。
【0026】FET8はそのゲートを自己診断回路10
の出力端に接続する一方、ソース側を電圧判定手段11
aを介してANDゲート11の入力端に接続している。
電圧判定手段11aは保護リレー6に印加される電圧が
所定レベルに入っているか否かを判定し、所定レベル以
外(例えば24Vに対し±10%)のとき、ON信号の
出力を停止させるものである。
【0027】自己診断回路10は例えば複写機等の組込
機器の複数の点検箇所をそれぞれ点検して、正常と判断
したときに動作スタンバイ信号をスイッチング素子8に
与えて、これを閉じると共に、ANDゲート11に与え
るものである。図2はこの自己手段回路10と、組込み
機器の複数の点検箇所および制御手段12との接続関係
を主に示すブロック図である。
【0028】ANDゲート11は動作スタンバイ信号
と、スイッチング素子8が閉じ、かつリレー6の印加電
圧が所定レベルに入っているときに出力されるON信号
を共に受けたときに、ON(導通)して、ゲート信号を
制御手段12に与えるものである。
【0029】制御手段12はこのゲート信号を受けたと
きにハロゲンランプ4を点灯させる一方、このハロゲン
ランプ4の点灯が連続して長時間に及ぶ場合にはこれを
強制的に消灯させるものである。
【0030】つまり、ハロゲンランプ4が間欠的ではな
く連続して長時間点灯した場合には高温に昇温して破損
する可能性が高くなると共に、ハロゲンランプ4に近接
するモールド部品や電子部品を高温に加熱して悪影響を
与える可能性が高くなる。
【0031】そこで、このハロゲンランプ4の長時間連
続点灯を防止するために、制御手段12を設けている。
【0032】制御手段12はその入力端をタイマー13
を介して印加電圧検出手段5の入力端5aに接続し、こ
の印加電圧検出手段5で検出されたハロゲンランプ4の
印加電圧の通電(ON)時間をタイマー13によりカウ
ントさせる。
【0033】タイマー13はハロゲンランプ4の印加電
圧の通電時間をカウントするものであり、OFF時間に
はカウントをゼロにクリアする。その理由は、ハロゲン
ランプ4を間欠的に点灯させる場合には連続点灯の場合
に比してハロゲンランプ4が破損する可能性が殆どない
からである。
【0034】制御手段12はタイマー13によりカウン
トされたハロゲンランプ4の連続通電時間が予め設定さ
れた設定時間に達したときに、ハロゲンランプ4の点灯
を強制的に消灯させるために、トランジスタ14のベー
スに与えていた。制御信号を停止させる。
【0035】次にこの実施例の作用を説明する。
【0036】自己診断回路10が組込機器の各点検箇所
を点検して正常と判断すると、動作スタンバイ信号がF
ET8のゲートとANDゲート11に与えられ、FET
8を閉じる。
【0037】これにより、直流電源9の所定電圧が保護
リレー6とゲート・トリガ回路7に印加されると共に、
閉じたFET8の出力(ソース)側から電圧判定手段1
1aを介してON信号が動作スタンバイ信号と共にAN
Dゲート11に与えられ、ANDゲート11がONし、
ゲート信号が制御手段12に与えられる。
【0038】このために、制御手段12がON信号をト
ランジスタ14のベースに与えて、これをONさせる。
すると、保護リレー6の励磁コイルが励磁されて、常開
接点2が閉じ、電源1の電圧がトライアック3を介して
ハロゲンランプ4に印加される。
【0039】トライアック3はゲート・トリガ回路7か
らのトリガ信号を受けて、ハロゲンランプ4の印加電圧
を位相制御し、例えば定格電圧以下で余裕を持って間欠
的に点灯させる。
【0040】つまり、露光時やスキャニング等のときに
ハロゲンランプ4を点灯させ、スキャニング等の復帰の
ときに消灯させる。
【0041】このハロゲンランプ4の点灯時の印加電圧
は印加電圧検出手段5により常時検出され、その点灯時
の印加電圧の通電時間がタイマー13により検出され
る。
【0042】そして、通電時間が設定時間を超えたとき
に制御手段12は異常と判断して、トランジスタ14に
与えているON信号を停止させる。このために、トラン
ジスタ14がOFF(非導通)して保護リレー6の励磁
コイルが消磁され、常開接点2が開き、ハロゲンランプ
4への通電を遮断させ、ハロゲンランプ4を消灯させ
る。
【0043】したがって、ハロゲンランプ4の長時間連
続点灯による破損を未然に防止できる。
【0044】また、保護リレー6の接点2が常開である
ので、仮に保護リレー6やトライアック3等が故障した
場合には、常に常開接点2を開放させて、ハロゲンラン
プ4への通電を遮断して消灯させるので、ハロゲンラン
プ4の破損を常に防止することができ、フェイルセーフ
効果を奏する。
【0045】
【発明の効果】以上説明したようにこの発明は、ランプ
印加電圧の通電時間が連続して設定時間を超えたときは
常開接点を開放させてランプへの通電を遮断する制御手
段を設けたので、ランプの連続点灯による破損を未然に
防止することができる。
【0046】また、ランプへの通電を遮断する接点が常
開接点であるので、この常開接点を開閉する開閉装置が
故障した場合でも、常に接点を開放させることができ、
ランプへの通電を遮断してランプの破損を防止すること
ができ、フェイルセーフの効果を奏する。
【0047】さらに、ランプの連続点灯時間が設定時間
を超えると、スイッチング素子によりゲート・トリガ回
路と開閉装置への電源の入力をも遮断するので、常開接
点と位相制御手段のいずれか一方が異常で正常に動作し
ない場合でも、他方が正常に動作する場合には、常開接
点を開き、またはゲート・トリガ回路からトライアック
に与えられるゲート・トリガ信号が遮断されるので、ラ
ンプを消灯させることができる。しかも、上述したよう
に常開接点が故障するモードとしては常開接点が開くモ
ードが多いので、より安全性が向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明に係る電気機器の一実施例の電気回路
図。
【図2】図1で示す自己診断回路と制御手段と点検箇所
との接続関係を示すブロック図。
【符号の説明】
1 電源 2 常開接点 3 トライアック 4 ハロゲンランプ 5 印加電圧検出手段 6 保護リレー 7 ゲート・トリガ回路 8 FET 10 自己診断回路 12 制御手段 13 タイマー

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電気機器本体と、電源に接続され電気機
    器に組み込まれた複数の組込み機器と; 複数の組込み機器を点検して正常異常を判断する自己診
    断回路と; 電源に常開接点および位相制御手段を介して接続される
    ランプと; この常開接点を開閉する開閉装置と; 位相制御手段へ位相制御信号を出力するゲート・トリガ
    回路と; 開閉装置およびゲート・トリガ回路に対して電源の入切
    を一括して行うスイッチング素子と; 前記ランプの印加電圧を検出する印加電圧検出手段と; 前記ランプを点灯させるときに自己診断回路が正常と判
    断した状態でスイッチング素子を制御し、ゲート・トリ
    ガ回路から位相制御信号を出力可能にしてかつ前記開閉
    装置により前記常開接点を閉じて通電する一方、前記印
    加電圧検出手段により検出されたランプ印加電圧の通電
    時間が連続して設定時間を超えたときにスイッチング素
    子を制御し、ゲート・トリガ回路の位相制御信号の出力
    を遮断するとともに、常開接点を開放させる制御手段と
    を有することを特徴とする電気機器。
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