JP2976698B2 - 電子部品の製造方法 - Google Patents

電子部品の製造方法

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、マザー基板から多数の
電子部品を切り出す工程を備える電子部品の製造方法に
関し、特に、個々の電子部品を切り出す寸法を決定する
工程が改良された電子部品の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】コンデンサ等の電子部品では、マザー基
板上において多数の電子部品を構成し、該マザー基板を
個々の電子部品単位に切り出すことにより、電子部品が
量産されている。このような電子部品の製造方法の一例
を、高周波用チップ型コンデンサを例にとり、図2を参
照して説明する。まず、図2(a)に示すように、誘電
体材料よりなるマザー基板1の上面及び下面に、それぞ
れ、全面電極2,3をスクリーン印刷等より形成する。
次に、上記マザー基板1を、切断装置としてのダイサー
にセットし、図2(b)に示すようにあらかじめ設定し
た基準寸法に従って複数個のコンデンサ・チップ4a〜
4fを切り出す。この際、コンデンサ・チップ4a〜4
fは、それぞれ、図2(b)の矢印xの方向の寸法が異
なるように切り出される。そして、各コンデンサ・チッ
プ4a〜4fの静電容量を測定し、目的とする容量に一
番近いコンデンサ・チップを選び出し、そのコンデンサ
・チップの矢印X方向の寸法に合わせて、上記マザー基
板1の矢印Xと直交する方向における切断寸法を決定
し、残りのマザー基板1を該寸法に従って切断し、多数
のチップ型コンデンサを得ていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記のように、従来の
電子部品の製造方法では、マザー基板1をダイサーにセ
ットした後、上記コンデンサ・チップ4a〜4fを切り
出し、静電容量を測定するという一連の工程の間、ダイ
サーの動作が停止されている。従って、多数の電子部品
を量産するにあたり、上記コンデンサ・チップ4a〜4
fの切り出し及び静電容量の測定を行なうのに必要な時
間の分だけ、ダイサーの稼働効率が低下するという問題
があった。
【0004】本発明の目的は、マザー基板から多数の電
子部品を切り出すに際し、ダイサーの稼働効率を高める
ことができ、従って電子部品の量産性を高め得る製造方
法を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、マザー基板か
ら多数の電子部品を切り出して個々の電子部品を得る方
法であって、一方面に全面電極が形成されており、他方
面に、目的とする素子の電極面積に応じて面積が異なら
された複数種の部分電極と、マザー電極とが形成された
マザー基板を用意し、前記複数の部分電極のそれぞれと
全面電極との間に電圧を印加し、各部分電極と全面電極
との対向している各部分の電気的性能を測定し、目的と
する性能の部分電極の寸法に応じて、上記マザー電極と
全面電極とが対向されているマザー基板部分を切断し、
個々の電子部品を得ることを特徴とする、電子部品の製
造方法である。
【0006】
【作用】本発明では、マザー基板から個々の電子部品を
得るためにマザー基板を切断する寸法の決定が、上記マ
ザー基板に形成された部分電極と全面電極との間に電圧
を印加して、各部分電極と全面電極との対向している部
分の電気的性能を測定することにより行われる。すなわ
ち、マザー基板を最終的に切断するための寸法の決定
が、マザー基板を切断することなく行われ得る。よっ
て、上記切断寸法の決定に際しての電気的性能測定作業
を、ダイサーにマザー基板を設定する前に行うことがで
きるため、ダイサーでは最終的なマザー基板の切断工程
のみを行えばよい。よって、ダイサーの稼働効率を効果
的に高めることが可能となる。
【0007】
【実施例の説明】以下、図面を参照しつつ、本発明の一
実施例を説明することにより本発明を明らかにする。本
実施例では、まず、図1に示すマザー基板5を用意す
る。マザー基板5の上面には、端線5a近傍の細長い領
域5b内に、複数の部分電極6a〜6dが形成されてい
る。部分電極6a〜6dは、図示の矢印X方向の寸法が
異ならされており、他方、X方向と直交する方向の寸法
が一定とされた矩形の形状に構成されている。また、細
長い領域5bを除いた残りの全領域にはマザー電極7が
形成されている。他方、マザー基板5の下面には全面電
極8が形成されている。
【0008】なお、上記部分電極6a〜6d、マザー電
極7及び全面電極8は、スクリーン印刷等の適宜の方法
により形成され得る。次に、上記マザー基板5におい
て、部分電極6a〜6dのそれぞれと、全面電極8との
間に電圧を印加し、各部分電極6a〜6dと全面電極8
とが対向している部分の静電容量を測定する。この測定
結果に基づき、目的とする静電容量に一番近い部分の部
分電極を選択し、該部分電極のX方向の長さ寸法をマザ
ー基板5の切断寸法として採用する。
【0009】次に、上記マザー基板5をダイサー等の切
断装置にセットし、上記のようにして選択された切断寸
法に従って、マザー基板5を、矢印X方向と直交する方
向に切断し、X方向については上記部分電極6a〜6d
の幅(矢印×方向と直交する方向の長さ)と等しい寸法
で切断することにより、目的とする静電容量のチップ型
コンデンサを多数得ることができる。上記のように、部
分電極6a〜6dは、目的とする容量に一番近い容量を
取得し得るX方向寸法を決定するために形成されている
ものであるため、通常、目的とする静電容量を得るため
の寸法を中心として、該寸法よりも短いものから長いも
のまで複数種類形成されることが必要である。
【0010】また、図示の実施例では、上記部分電極6
a〜6dは、X方向の寸法のみが異ならされていたが、
X方向と直交する方向の寸法が異ならされている部分電
極を複数形成してもよい。さらに、上記実施例は、チッ
プ型コンデンサを得るための方法に適用したものである
が、本発明は、基板を介して電極が対向されておりかつ
対向されている両電極間で電気的な性能を引き出す電子
部品の製造方法一般に適用することができ、例えば圧電
共振子等の他の電子部品の製造方法にも適用することが
できる。
【0011】
【発明の効果】以上のように、本発明では、マザー基板
を切断することなく、複数の部分電極のそれぞれと全面
電極との間で電気的な性能を測定することにより、マザ
ー基板を切断するための基準寸法が決定される。従っ
て、該マザー基板を切断する基準寸法を決定した後にマ
ザー基板をダイサーにセットしてマザー基板の切断工程
を実施し得るため、ダイサーの稼働効率を、ひいては電
子部品の量産性を飛躍的に高めることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の電子部品の製造方法を説明
するための斜視図。
【図2】(a)及び(b)は、従来の電子部品の製造方
法を説明するための各斜視図。
【符号の簡単な説明】
5…マザー基板 6a〜6d…部分電極 7…マザー電極 8…全面電極

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一方面に全面電極が形成されており、他
    方面に、目的とする電子部品の電極面積に応じて面積が
    異ならされた複数種の部分電極と、マザー電極とが形成
    されたマザー基板を用意し、 前記複数の部分電極のそれぞれと全面電極との間に電圧
    を印加し、各部分電極と全面電極との対向している各部
    分の電気的性能を測定し、目的とする性能の部分電極の
    寸法に従って、上記マザー電極と全面電極とが対向され
    ているマザー基板部分を切断し、個々の電子部品を得る
    ことを特徴とする、電子部品の製造方法。
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