JP2973901B2 - 半導体樹脂封止用金型 - Google Patents

半導体樹脂封止用金型

Info

Publication number
JP2973901B2
JP2973901B2 JP7304795A JP30479595A JP2973901B2 JP 2973901 B2 JP2973901 B2 JP 2973901B2 JP 7304795 A JP7304795 A JP 7304795A JP 30479595 A JP30479595 A JP 30479595A JP 2973901 B2 JP2973901 B2 JP 2973901B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mold
resin
gate
air vent
cavity
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP7304795A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH09148354A (ja
Inventor
健仁 稲葉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
Nippon Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Electric Co Ltd filed Critical Nippon Electric Co Ltd
Priority to JP7304795A priority Critical patent/JP2973901B2/ja
Publication of JPH09148354A publication Critical patent/JPH09148354A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2973901B2 publication Critical patent/JP2973901B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
  • Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は樹脂封止型半導体装
置を樹脂封止するための半導体樹脂封止用金型に関す
る。
【0002】
【従来の技術】DIP,TSOP,SOJと略称される
樹脂封止型半導体装置は、いずれも長方形または正方形
をした樹脂パッケージの2つの対向する側面にのみアウ
タリードを突出させた構造されており、この種の半導体
装置を製造するための樹脂封止用金型では、アウタリー
ドが配置されないキャビティ側面に樹脂注入口(以下、
ゲートと称する)を配置した構成がとられている。例え
ば、図8に示すように、下金型11のキャビティ13
と、上金型12のキャビティ14で構成される金型で
は、アウタリードが配置されない側面の一部に樹脂ポッ
ト15にランナ16を介して接続されるゲート17が配
置され、この側面に対向する側面にはキャビティ内の空
気を抜くためのエアー排出用通気孔(以下、エアーベン
トと称する)19が設けられている。
【0003】この金型を用いて半導体装置を樹脂封止す
る場合には、図9(a)のように、下金型11と上金型
12を予め所望する温度に熱し、かつ下金型11上にリ
ードフレーム構体21をセットする。このリードフレー
ム構体21は、リードフレーム21のアイランド22上
に半導体素子24を固定し、ボンディングワイヤ25に
より半導体素子24eの電極(図中省略)とリードフレ
ーム22のインナーリード26とをボンディングしたも
のである。そして、図9(b)のように、樹脂ポット1
5内に樹脂タブレット27を投入し、下金型11を上昇
させ、リードフレーム構体21を挟持した状態で型締め
を行う。
【0004】次に、下金型11の熱により、樹脂タブレ
ット27が軟化した後に、図9(c)のように、タブレ
ット加圧用のプランジャ28が上昇し、樹脂27はラン
ナ16を流れ、キャビティ13,14内に圧入力され
る。このとき、樹脂27はゲート17を通過し、キャビ
ティ13,14内にあった空気を反対側の側面のエアベ
ント19から押し出しながら、キャビティ内に充填さ
れ、図9(d)のように、封止が完了される。その後、
樹脂27の硬化が終了するまで型締めされた状態で保持
され、樹脂27の硬化後に可動側の下金型11が開き、
図示を省略したイジェクターピンが突きだし、樹脂封止
済みのパッケージを金型から離型し、半導体装置の樹脂
封止を実現する。
【0005】この樹脂の圧入時に、樹脂は図10に示す
ように充填されていくが、ゲート17のある側面にはエ
アーベントが存在しないので、ゲート17のある側面側
のパッケージコーナー部に閉じ込められた空気が逃げ場
を失い、この空気が成形される樹脂27内に取り込ま
れ、成形されたパッケージにおけるボイドや、外観不良
となる。
【0006】また、図11は特開平3−206629号
公報に記載されている金型であり、ここでは、下金型3
1、上金型32、分割金型33と3つのブロックで構成
されている。下金型31には、図示しないランナーと、
サブランナー34、下パッケージとなる下キャビティ3
5、およびエアーベント36が形成され、また、リード
フレーム37を固定するためのリードフレームガイドピ
ン38と、分割金型32を固定するためのガイドピン3
9がそれぞれ設置されている。上金型32には、ICの
上パッケージとなる部分の上型キャビティ40と、ガイ
ドピン逃げ穴41が形成されている。さらに、分割金型
33fには、上面と底面とにエアーベント42が形成さ
れており、また、ガイド穴43およびリードフレームガ
イドピン逃げ穴44がそれぞれ貫通されている。
【0007】この金型を用いた樹脂封止においては、上
下の金型31,32と、分割金型33の間に前記したよ
うに構成されるリードフレーム37が挟持され、サブラ
ンナ34より溶融した樹脂が上下の各金型のキャビティ
35,40へ注入されていく。この時、キャビティ内に
注入された樹脂は、キャビティ内の空気を分割金型33
の上下面に形成されたエアーベント42、下金型31に
形成されたエアーベント36より排出しながらキャビテ
ィ内に充填され、樹脂注入が行われる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】この種の半導体素子の
樹脂封入は、樹脂流入過程においてゲートより注入され
た溶融樹脂がキャビティ内を進行して充填されるわけで
あるが、例えば図8,図9の金型においては、溶融樹脂
は、図10に示したような流動形態であり、この時、キ
ャビティ13,14内の空気は、エアーベント19より
自然排気されるが、この金型構造では、ゲート17の側
面に対して反対側の側面の任意の位置にしかエアーベン
ト19が無いために、ゲート17のある側の側面からは
キャビティ13,14内の空気が排出されないので、ゲ
ート17の有る側のキャビティコーナ部において空気が
樹脂内に巻き込まれ、この空気が樹脂パッケージにおけ
るボイドの多発、未充填の発生の原因となり、パッケー
ジの封止性、耐湿性等の信頼性の低下の原因となる。
【0009】特に、近年におけるパッケージの薄型によ
り、樹脂の高流動化が進んでいるが、樹脂を高流動化す
ることによりエアベントバリが長くなるので、従来、約
30μ程度あったエアベント深さを5μ以下にしなけれ
ばならない。このため、エアベント断面積が従来の約1
/6となり、樹脂充填中にキャビティ内の空気をスムー
ズに排気できないので、樹脂流動パターンの乱れによる
ボイドの多発、未充填の発生が顕著なものとなってい
る。
【0010】一方、特開平3−206629号公報にて
開示されている金型においても、分割金型にエアベント
を設けているが、このエアベントもゲートからみればキ
ャビティの対向面であるため、前記したと同様の問題が
ある。また、この金型は、金型が3分割されているの
で、封入機の金型開閉構造が複雑になり、封入機の自動
機化、コンパクト化が困難であり、装置価格も高くなる
という問題がある。
【0011】本発明の目的は、キャビティ内の空気を効
果的に排出し、成形される樹脂への空気の巻き込みを防
止して、ボイドや未充填の発生を防止し、封止性や耐湿
性等の信頼性を向上した半導体樹脂封止用金型を提供す
ることにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体樹脂封止
用金型は、DIP,TSOP,SOJ等のように矩形の
パッケージの対向する2つの側面にアウターリードが配
置される樹脂封止型半導体装置を樹脂封止するための金
型であって、上金型と下金型とで矩形をしたキャビティ
を画成し、前記アウターリードが配置されない前記半導
体装置の2つの側面のうちの一方の側面に対応する前記
キャビティの一側面の一部に前記キャビティ内に樹脂を
圧送するためのゲートを有し、前記アウターリードが配
置されない前記半導体装置の前記2つの側面のそれぞれ
に対応する前記キャビティの2つの側面のそれぞれに前
記キャビティ内の空気を抜くためのエアベントが設けら
れていることを特徴とす
【0013】この場合、一方の側面では、ゲートは側面
の中間位置に配置され、このゲートを挟む両側のコーナ
部にエアベントが配置される。また、ゲートはその側面
の一つのコーナ部に配置され、この側面の他方のコーナ
部にエアベントが配置される。さらに、エアベントは、
一方の側面とこれに対向する側面の略全域にわたって配
置されることが好ましい。
【0014】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施形態を図面を
参照して説明する。図1は本発明をDIP型樹脂封止半
導体装置の樹脂封止用金型に適用した例であり、(a)
は下金型の平面図、(b)は上金型の各平面構成図であ
る。図1のように、下金型11及び上金型12の各金型
にそれぞれ複数個のキャビティ13,14が配列形成さ
れ、かつ下金型11の各キャビティ13間には樹脂ポッ
ト15が配置され、ランナ16を通して各キャビティ1
3に連通されている。このキャビティ13とランナ16
とをつなぐゲート17は、樹脂封止される半導体装置の
アウターリードが位置されない2つのパッケージ側面の
うち、前記樹脂ポット15に近い側の側面の中間位置に
設置される。また、前記下金型11と上金型12には、
それぞれキャビティ13,14に連通されるエアーベン
ト18,19が設けられているが、ここでは、それぞれ
前記ゲート17が配置された側面に対向する反対側の側
面のパッケージコーナ部にエアーベント19が設けら
れ、ゲートが配置された側面のパッケージコーナ部にエ
アーベント18が設けられている。
【0015】このような金型を用いて半導体装置を樹脂
封止する工程を図2の断面図に示す。先ず、図2(a)
のように、上金型12と下金型11を予め所望する温度
に熱し、下金型11上にリードフレーム構体21をセッ
トする。このリードフレーム構体21は、リードフレー
ム22のアイランド23に銀ペースト等を用いて半導体
素子24を固定し、ボンディングワイヤ25により半導
体素子24の電極(図中省略)とリードフレーム22の
インナーリード26とをボンディングしたものである。
そして、図2(b)のように、樹脂ポット15内に樹脂
タブレット27を投入し、下金型11を上昇させ、リー
ドフレーム構体21を挟持した状態で型締めを行う。
【0016】次に、図2(c)のように、下金型11の
熱により、樹脂タブレット27が軟化した後に、タブレ
ット加圧用のプランジャ28が上昇し、軟化された樹脂
27はランナ16を流れ、キャビティ13,14内に圧
入力される。このとき、樹脂27はゲート17を通過
し、キャビティ13,14内にあった空気を反対側の側
面のエアベント19と、ゲート17側の側面のエアベン
ト18のそれぞれから押し出しながら、キャビティ1
3,14内に充填され、図2(d)のように、封止が完
了される。その後、図示は省略するが、樹脂の硬化が終
了するまで型締めされた状態で保持され、樹脂27の硬
化後に可動側の下金型11が開き、イジェクターピンの
突き出しによって樹脂封止済みのパッケージを金型から
離型し、半導体装置の樹脂封止を実現する。
【0017】このように、この金型構造では、キャビテ
ィ13,14内に圧入される樹脂27は、図3に示すよ
うに、エアーベント19によってキャビティ内の空気を
排出しながら、ゲート17からキャビティ13,14内
に徐々に充填されてゆくが、ゲート17のある側の側面
のパッケージコーナ部にキャビティ内の空気を巻き込ん
でも、ゲート17のある側の側面にもエアーベント18
が存在しているので、ここから空気が排出されることに
より、成形される樹脂でのボイド、未充填の発生を防止
できる。また、このようにゲート17側にもエアベント
18を設けることで、キャビティ全体としてエアベント
のエリアが広くなるので、エアベント深さを浅くして
も、エアベントの断面積を広く確保でき、キャビティ内
の空気の排気効率を十分に確保することが可能となり、
前記した効果を更に高めることが可能となる。
【0018】図4は本発明の第2の実施形態の金型を示
しており、(a)は下金型、(b)は上金型のそれぞれ
平面構成図である。なお、第1の実施形態と等価な部分
には同一符号を付してある。この実施形態では、各キャ
ビティ13,14は半導体装置のアウタリードが位置さ
れない側面の1つのコーナ部にゲート17を配置してい
る。そして、このゲート17が設けられた側面に対向す
る反対側の側面の両コーナ部にエアーベント19が、ゲ
ート17を配置している側面のゲートに隣接するコーナ
部にエアーベント18が設けられている。
【0019】この金型を用いて樹脂封止を行う場合に
も、図3に示したように、下金型11と上金型12を予
め所望する温度に熱し、下金型11上にリードフレーム
構体21をセットする(図3(a))。このリードフレ
ーム構体21は、リードフレーム22に半導体素子24
を搭載し、かつボンディングワイヤ25によりリードフ
レーム22のインナーリード26に対してボンディング
したものであることは同じである。そして、樹脂ポット
15内に樹脂タブレット27を投入し、下金型11を上
昇させ、リードフレーム構体21を挟持した状態で型締
めを行う(図3(b))。
【0020】次に、下金型11の熱により、樹脂タブレ
ット27が軟化した後に、タブレット加圧用のプランジ
ャ28が上昇し、樹脂はランナ16を流れ、キャビティ
13,14内に圧入力される。このとき、樹脂27はゲ
ート17を通過し、キャビティ13,14内にあった空
気を反対側の側面のコーナ部に設けられたエアベント1
9と、ゲート17側の側面のコーナ部に設けられたエア
ベント18のそれぞれから押し出しながら、キャビティ
13,14内に充填され、封止が完了する(図3
(c),(d))。その後、樹脂の硬化が終了するまで
型締めされた状態で保持され、樹脂の硬化後に可動側の
下金型11が開き、イジェクターピンの突きだしにより
樹脂封止済みのパッケージを金型から離型し、半導体装
置の樹脂封止を実現する(E)。
【0021】このとき、この第2の実施形態の金型構造
では、キャビティ13,14内に圧入される樹脂27
は、図5に示すように、エアーベント19からキャビテ
ィ内の空気を排出させながらゲート17が設けられた側
面のコーナ部からキャビティ内に充填されてゆくが、こ
のときゲート17のある側の側面のパッケージコーナ部
にキャビティ13,13内の空気を巻き込んでも、ゲー
ト17のある側の側面にエアーベント18があるので、
ここから空気が排出されることにより、成形される樹脂
でのボイド、未充填の発生を防止できる。
【0022】ここで、前記第1及び第2の実施形態の各
金型においては、図6及び図7にそれぞれ示すように、
下金型11と上金型12にそれぞれ設けられるエアベン
ト18,19をパッケージコーナ部だけでなく、アウタ
ーリードの存在しない側面全体に形成してもよい。した
がって、キャビティ13,14内におけるエアベントエ
リアが広くなり、エアベントの総断面積が大きくなる。
これにより、キャビティ内の空気の排気効率が高くな
り、空気の巻き込み量が減ることにより、ボイド、未充
填をさらに有効に防止することが可能となる。
【0023】なお、前記実施形態は、DIP型半導体装
置を樹脂封止する場合を例として説明したが、TSO
P,SOJのように、アウターリードが矩形型のパッケ
ージの2つの側面にのみ設けられている樹脂封止型の半
導体装置であれば、同様に本発明を適用することが可能
である。
【0024】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、DIP,
TSOP,SOJのように、リードが長方形または正方
形の2側面にしか存在せず、ゲートがリードの無い側面
に設置されている半導体装置の樹脂封止金型において、
エアベントをゲートの無い側の側面だけでなく、ゲート
のある側の側面にも設置することにより、ゲートの有る
側の側面のコーナ部に巻き込まれた空気を排気すること
が可能となり、空気の排気効率を高めることができる。
また、キャビティにおけるエアベントのエリアが広くな
るので、エアベント深さを浅くしても、エアベントの断
面積を広くでき、キャビティ内の空気の排気効率をさら
に高めることができる。これにより、封止される樹脂に
おけるボイドや未充填を防止することが可能となり、樹
脂パッケージの外観歩留りを向上すると共に、信頼性の
高い半導体装置が提供できるという効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態の金型の平面構成図で
ある。
【図2】第1の実施形態における樹脂封止工程を説明す
るための断面図である。
【図3】第1の実施形態の樹脂注入時の樹脂流れ状態を
説明するための模式的な平面図である。
【図4】本発明の第2の実施形態の金型の平面構成図で
ある。
【図5】第2の実施形態の樹脂注入時の樹脂流れ状態を
説明するための模式的な平面図である。
【図6】第1の実施形態の変形例を示す平面構成図であ
る。
【図7】第2の実施形態の変形例を示す平面構成図であ
る。
【図8】従来の金型の一例の平面構成図である。
【図9】図8の金型における樹脂封止工程を説明するた
めの断面図である。
【図10】図8の金型の樹脂注入時の樹脂流れ状態を説
明するための模式的な平面図である。
【図11】従来公知の金型の一例を示す分解斜視図であ
る。
【符号の説明】
11 下金型 12 上金型 13,14 キャビティ 15 樹脂ポット 16 ランナ 17 ゲート 18,19 エアーベント 21 リードフレーム構体 24 半導体素子
フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI // B29L 31:34 (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H01L 21/56 B29C 45/02 B29C 45/14 B29C 45/26 B29C 45/34

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 DIP,TSOP,SOJ等のように矩
    形のパッケージの対向する2つの側面にアウターリード
    が配置される樹脂封止型半導体装置を樹脂封止するため
    の金型であって、上金型と下金型とで矩形をしたキャビ
    ティを画成し、前記アウターリードが配置されない前記
    半導体装置の2つの側面のうちの一方の側面に対応する
    前記キャビティの一側面の一部に前記キャビティ内に樹
    脂を圧送するためのゲートを有し、前記アウターリード
    が配置されない前記半導体装置の前記2つの側面のそれ
    ぞれに対応する前記キャビティの2つの側面のそれぞれ
    に前記キャビティ内の空気を抜くためのエアベントが設
    けられていることを特徴とする半導体樹脂封止用金型。
  2. 【請求項2】 前記一方の側面では、前記ゲートはその
    側面の中間位置に配置され、このゲートを挟む両側のコ
    ーナ部に前記エアベントが配置されている請求項に記
    載の半導体樹脂封止用金型。
  3. 【請求項3】 前記一方の側面では、前記ゲートはその
    側面の一つのコーナ部に配置され、この側面の他方のコ
    ーナ部にエアベントが配置されている請求項に記載の
    半導体樹脂封止用金型。
  4. 【請求項4】 前記エアベントは、前記一方の側面とこ
    れに対向する側面の略全域にわたって配置される請求項
    に記載の半導体樹脂封止用金型。
JP7304795A 1995-11-22 1995-11-22 半導体樹脂封止用金型 Expired - Lifetime JP2973901B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7304795A JP2973901B2 (ja) 1995-11-22 1995-11-22 半導体樹脂封止用金型

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7304795A JP2973901B2 (ja) 1995-11-22 1995-11-22 半導体樹脂封止用金型

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH09148354A JPH09148354A (ja) 1997-06-06
JP2973901B2 true JP2973901B2 (ja) 1999-11-08

Family

ID=17937335

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7304795A Expired - Lifetime JP2973901B2 (ja) 1995-11-22 1995-11-22 半導体樹脂封止用金型

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2973901B2 (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4973033B2 (ja) * 2006-07-03 2012-07-11 三菱電機株式会社 パワーモジュールの製造方法
JP4821827B2 (ja) * 2008-09-30 2011-11-24 株式会社デンソー 樹脂成形品の製造方法、及び成形型
JP5148445B2 (ja) * 2008-10-06 2013-02-20 シャープ株式会社 半導体装置の製造方法及び半導体装置の製造装置
CN114083746A (zh) * 2020-08-24 2022-02-25 上海神奕医疗科技有限公司 封装装置、封装方法、脉冲发生器和植入式医疗器械

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6316629A (ja) * 1986-07-09 1988-01-23 Hitachi Ltd レジンモ−ルド方法および被モ−ルド物
JPH0420587U (ja) * 1990-06-08 1992-02-20
JPH079614U (ja) * 1993-07-22 1995-02-10 株式会社ニフコ 自動車用窓ガラスの取付構造

Also Published As

Publication number Publication date
JPH09148354A (ja) 1997-06-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100889422B1 (ko) 반도체 장치의 제조 방법 및 반도체 장치
KR200309906Y1 (ko) 반도체 패키지 제조용 리드프레임
EP0454440B1 (en) Method of encapsulating a semiconductor device
JPH01192154A (ja) リードフレーム
JP3456983B2 (ja) リードフレームおよび樹脂封止型半導体装置の製造方法
JP2973901B2 (ja) 半導体樹脂封止用金型
JP3727446B2 (ja) 半導体装置の樹脂封止成形金型
JPH06302633A (ja) 半導体装置の製造方法
JP2598988B2 (ja) 電子部品の樹脂封止成形方法
CN112838014A (zh) 树脂成形后的引线框的制造方法、树脂成形品的制造方法及引线框
JPS609131A (ja) 半導体装置の樹脂封止方法及び樹脂封止装置
EP0130552A2 (en) Electronic device method using a leadframe with an integral mold vent means
JP3246037B2 (ja) 半導体チップのトランスファーモールド用金型
JP2778332B2 (ja) 半導体装置の製造方法
JP3609821B1 (ja) 半導体装置封止用金型およびそれを用いた半導体装置封止方法
JPH10135375A (ja) 半導体装置ならびに半導体装置の製造方法および製造装置
JPH0936152A (ja) 樹脂封止型半導体装置の製造方法
JPH07221244A (ja) リードフレーム
JP3182302B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置の製造方法
KR100531423B1 (ko) 반도체 패키지 제조용 리드프레임 및 이에 적용되는 몰드다이, 그리고 이를 이용한 패키지 제조장치.
JPS60111432A (ja) 半導体装置用樹脂封止金型
JPH05237864A (ja) 樹脂封止型半導体装置の製造方法及びそれに用いる治具
JPH05102217A (ja) 半導体装置およびその製造方法並びにそれに使用される成形装置
JPH09129661A (ja) 成形装置および成形方法
JPH11220087A (ja) リードフレームおよびそれを用いた半導体装置ならびにその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Effective date: 20041015

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

A131 Notification of reasons for refusal

Effective date: 20041027

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20041224

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20050131

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Effective date: 20050301

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

R150 Certificate of patent (=grant) or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 3

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080311

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 4

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090311

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090311

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100311

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 6

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110311

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 7

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120311

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 7

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120311

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130311

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130311

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 9

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140311

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250