JPH05102217A - 半導体装置およびその製造方法並びにそれに使用される成形装置 - Google Patents

半導体装置およびその製造方法並びにそれに使用される成形装置

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JPH05102217A
JPH05102217A JP28362491A JP28362491A JPH05102217A JP H05102217 A JPH05102217 A JP H05102217A JP 28362491 A JP28362491 A JP 28362491A JP 28362491 A JP28362491 A JP 28362491A JP H05102217 A JPH05102217 A JP H05102217A
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JP
Japan
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resin
cavity
gate
wire
press
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JP28362491A
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Tomio Yamada
富男 山田
Akiro Hoshi
彰郎 星
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
    • B29C45/00Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor
    • B29C45/14Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor incorporating preformed parts or layers, e.g. injection moulding around inserts or for coating articles
    • B29C45/14639Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor incorporating preformed parts or layers, e.g. injection moulding around inserts or for coating articles for obtaining an insulating effect, e.g. for electrical components
    • B29C45/14655Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor incorporating preformed parts or layers, e.g. injection moulding around inserts or for coating articles for obtaining an insulating effect, e.g. for electrical components connected to or mounted on a carrier, e.g. lead frame
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
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    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
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    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 樹脂によるボンディングワイヤ流れ、およ
び、ワークの上下方向の振動を防止することができる成
形技術を提供することにある。 【構成】 ゲート38をキャビティー40においてワイ
ヤ23の放射状の中心に向かう方向に形成し、ワーク2
4を挟んでゲート38と反対側に押さえピン45をワー
ク24を支持するように設ける。エアベント46を押さ
えピン45周りに開口する。 【効果】 ゲート38からキャビティー40に圧入され
たレジン47がワーク24に直角に当たりワイヤ23に
沿って放射方向に流れるため、レジン流れによるワイヤ
アーチの横倒れ現象を防止することができる。レジン4
7のワーク24への衝突によりワーク24が振動しよう
とするが、ワーク24が押さえピン45で押さえられて
いるため、振動は防止される。また、キャビティー40
のエアはエアベント46から全て排気される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体装置およびその
製造方法並びにそれに使用される成形装置に係り、特
に、樹脂封止パッケージの成形時におけるボンディング
ワイヤの流れを防止する技術に関し、例えば、多ピンで
低価格が要求されるクワッド・フラット・樹脂封止パッ
ケージを備えている半導体集積回路装置(以下、QFP
・ICということがある。)に利用して有効な技術に関
する。
【0002】
【従来の技術】一般に、QFP・ICは、電子回路が作
り込まれている半導体ペレットと、半導体ペレットの四
方に放射状に配設されている複数本のリードと、半導体
ペレットの各電極パッドと各リードの内側先端部との間
にそれぞれ橋絡されて放射状に配されているワイヤ群
と、半導体ペレット、各リードの一部およびワイヤ群を
樹脂封止している樹脂封止パッケージとを備えている。
そして、このQFP・ICの樹脂封止パッケージはトラ
ンスファ成形装置によって加圧成形されるのが通例であ
る。
【0003】この樹脂封止パッケージを成形するトラン
スファ成形装置は、互いに型合わせされる上型および下
型と、上型および下型の合わせ面間に実質的に形成さ
れ、前記半導体ペレット、各リードの一部およびワイヤ
を収容するキャビティーと、キャビティーに開設されて
いるゲートと、ゲートに流体的に接続されており、ポッ
トからの樹脂をゲートを通じてキャビティーに圧入する
ランナとを備えている。そして、成形材料をキャビティ
ーに圧入するためのゲートは、QFP・ICを成形する
成形装置の場合、正方形のコーナ部に配設されており、
圧入された樹脂が対角線方向に進んで行くようになって
いる。
【0004】ところで、日本国特許庁公開特許公報、特
開昭60−9131号には、図12に示されているよう
な樹脂封止装置が開示されている。すなわち、注入ゲー
ト1がキャビティー2の水平方向と直交する方向であっ
て、ボンディングワイヤ3の組付側と反対側に配され
て、キャビティー2と連通するように形成されている。
そして、この樹脂封止装置の樹脂封止パッケージ成形工
程においては、注入ゲート1からキャビティー2に注入
された樹脂材料5が破線矢印で示されているようにワイ
ヤ3を緊張させる方向に流れるので、ワイヤ3が変形さ
れてワイヤ3、3同士またはワイヤ3とペレット4とが
接触して短絡する危険性が防止されることになる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】前記したように、トラ
ンスファ成形装置においてゲートがキャビティーのコー
ナ部に開設されていると、ボンディングワイヤの長さが
長くなった場合に、アーチの長さが長いボンディングワ
イヤが圧入される樹脂により横に流されて変形されてし
まうという問題点があることが、本発明者によって明ら
かにされた。
【0006】本発明の目的は、樹脂によるボンディング
ワイヤ流れを防止することができる成形技術を提供する
ことにある。
【0007】また、前記公報に開示されている樹脂封止
装置においては、次のような問題点があることが本発明
者によって明らかにされた。
【0008】 キャビティー2内に収容されたワーク
であるリードフレーム6のダイステージ7にキャビティ
ー2に注入された樹脂材料5が直接衝突するため、リー
ドフレーム6に吊られたダイステージ7が振動(所謂踊
り現象が発生)する。
【0009】 ダイステージ7が振動することによ
り、ワイヤ3が切断したり、ワイヤ3がダイステージ7
に接触したり、ダイステージ7下の樹脂封止層の厚さに
ばらつきが発生したりする等の問題が発生する。
【0010】 エアベント10がキャビティーの周囲
に開口されることになるため、パッケージのワイヤ3側
領域に気泡8が形成されてしまう。
【0011】本発明の第2の目的は、ダイステージの振
動および気泡の発生を回避することができる半導体装置
の製造技術を提供することにある。
【0012】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
【0013】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を説明すれば、次の通り
である。
【0014】すなわち、電子回路が作り込まれている半
導体ペレットと、半導体ペレットの外方に放射状に配線
されている複数本のリードと、半導体ペレットの各電極
パッドと各リードの内側先端部との間にそれぞれ橋絡さ
れて放射状に配されているワイヤ群と、半導体ペレッ
ト、各リードの一部およびワイヤ群を樹脂封止している
樹脂封止パッケージとを備えている半導体装置における
前記樹脂封止パッケージを成形する成形装置であって、
互いに型合わせされる上型および下型と、上型および下
型の合わせ面間に実質的に形成され、前記半導体ペレッ
ト、各リードの一部およびワイヤを収容するキャビティ
ーと、キャビティーに開設されているゲートと、ゲート
に流体的に接続されており、ポットからの樹脂をゲート
を通じてキャビティーに圧入するランナとを備えている
成形装置において、前記ゲートが前記キャビティーに収
容されたワイヤ群の放射状の中心に向かうように、この
キャビティーのワイヤ群に対向する主面に開設されてお
り、また、このキャビティーのゲートと反対側の主面に
は押さえピンが樹脂のキャビティーへの圧入時に前記半
導体ペレットを支持するように、かつ、中心線方向に沿
って進退自在に挿入されており、さらに、この主面にお
ける押さえピンの周りに、エアベントが開設されている
ことを特徴とする。
【0015】
【作用】前記手段により、樹脂封止パッケージが成形さ
れるに際しては、予め、ワークは電子回路が作り込まれ
ている半導体ペレットの各電極パッドと、半導体ペレッ
トの外方に放射状に配線されている複数本のリードの内
側先端部との間にワイヤがそれぞれ橋絡された状態に製
造される。
【0016】そして、樹脂封止パッケージの成形時にお
いて、前記ワークがキャビティー内にセットされ、半導
体ペレットのワイヤ群と反対側の主面が押さえピンによ
って支持される。樹脂封止パッケージは樹脂がキャビテ
ィーに圧入されることにより成形される。このとき、そ
の樹脂はワークのワイヤ群の放射状の中心に向かうよう
に、キャビティーに圧入される。その結果、圧入された
樹脂は各ワイヤに向かって放射状に拡散されて行く。
【0017】また、樹脂のキャビティーへの圧入に伴っ
て、キャビティー内のエアは前記半導体ペレットを樹脂
圧入方向と反対側の主面において押さえているピンの周
りに開設されたエアベントから排気される。そして、圧
入された樹脂が押さえピン付近に達する時に押さえピン
が後退される。
【0018】前記した手段によれば、キャビティーに圧
入された樹脂が各ワイヤに沿って放射状に拡散して行く
ため、各ワイヤのアーチが圧入されて拡散して行く樹脂
によって横倒しにされることはない。したがって、隣り
合うワイヤ同士の短絡の発生を防止することができる。
【0019】また、圧入された樹脂は、半導体ペレット
に垂直に衝突するが、ワークは反対側主面において押さ
えピンにより支持されているため、ワークが振動するこ
とは防止される。さらに、エアベントが押さえピンの周
りに形成されているため、キャビティー内のエアを完全
に排気することができ、樹脂封止パッケージ内に気泡が
形成されるのを防止することができる。
【0020】
【実施例】図1以降は本発明の一実施例であるQFP・
ICの製造方法を説明する各工程を示す各説明図であ
る。
【0021】本実施例において、本発明に係る半導体装
置は、低熱抵抗を実現するための半導体集積回路装置で
ある放熱性の良好な樹脂封止形クワッド・フラット・パ
ッケージを備えているIC(以下、低熱抵抗形QFP・
IC、または、単に、ICということがある。)として
構成されている。
【0022】以下、本発明の一実施例であるこの低熱抵
抗形QFP・ICの製造方法を説明する。この説明によ
り、前記低熱抵抗形QFP・ICについての構成の詳細
が共に明らかにされる。
【0023】本実施例において、低熱抵抗形QFP・I
Cの製造方法には、図2に示されている多連リードフレ
ーム11が使用されている。この多連リードフレーム1
1は、鉄−ニッケル合金や燐青銅等のような比較的大き
い機械的強度を有するばね材料からなる薄板が用いられ
て、打ち抜きプレス加工またはエッチング加工等のよう
な適当な手段により一体成形されており、この多連リー
ドフレーム11の表面には銀(Ag)等を用いためっき
処理が、後述するワイヤボンディングが適正に実施され
るように部分的または全体的に施されている(図示せ
ず)。この多連リードフレーム11には複数の単位リー
ドフレーム12が横方向に1列に並設されている。但
し、一単位のみが図示されている。
【0024】単位リードフレーム12は位置決め孔13
aが開設されている外枠13を一対備えており、両外枠
13は所定の間隔で平行になるように配されて一連にそ
れぞれ延設されている。隣り合う単位リードフレーム1
2、12間には一対のセクション枠14が両外枠13、
13間に互いに平行に配されて一体的に架設されてお
り、これら外枠、セクション枠により形成される略正方
形の枠体(フレーム)内に単位リードフレーム12が構
成されている。
【0025】各単位リードフレーム12において、外枠
13およびセクション枠14の接続部にはダム吊り部材
15が略直角方向にそれぞれ配されて一体的に突設され
ており、ダム吊り部材15には4本のダム部材16が略
正方形の枠形状になるように配されて、一体的に吊持さ
れている。各ダム部材16には4本の放熱フィンリード
17が4箇所のコーナ部にそれぞれ配されて、対角線方
向に突出するように一体的に突設されている。
【0026】そして、4本の放熱フィンリード17の外
側先端部には放熱フィン18が一体的に突設されてお
り、この放熱フィン18は後記するリード19のアウタ
部19bと対応する形状および配置にそれぞれ形成され
ている。各放熱フィンリード17の内側先端部には略正
方形形状のタブ20が枠形状と同心的に配されて、これ
ら放熱フィンリード17により吊持されるように一体的
に連設されている。各放熱フィンリード17はタブ20
付近においてそれぞれ屈曲されており、この放熱フィン
リード17の屈曲によって、タブ20は後記するリード
19群の面よりも、後記するペレット22の厚さ分程度
下げられている(所謂タブ下げ。)。
【0027】また、ダム部材16には電気配線としての
リード19が複数本、長手方向に等間隔に配されて、互
いに平行で、ダム部材16と直交するように一体的に突
設されている。各リード19の内側端部は先端が後記す
るペレットをボンディングするためのタブ20を取り囲
むように配されることにより、インナ部19aをそれぞ
れ構成している。他方、各リード19の外側延長部分
は、その先端が外枠13およびセクション枠14に接続
されており、アウタ部19bをそれぞれ構成している。
そして、ダム部材16における隣り合うリード19、1
9間の部分は、後述するパッケージ成形時にレジンの流
れをせき止めるダム16aを実質的に構成している。
【0028】このように構成されている多連リードフレ
ームには各単位リードフレーム毎にペレット・ボンディ
ング作業、続いて、ワイヤ・ボンディング作業が実施さ
れる。これらボンディング作業は多連リードフレームが
横方向にピッチ送りされることにより、各単位リードフ
レーム毎に順次実施される。
【0029】まず、ペレット・ボンディング作業によ
り、半導体装置の製造工程における所謂前工程において
集積回路を作り込まれた半導体集積回路構造物としての
ペレット22が、図3(a)および(b)に示されてい
るように、各単位リードフレーム12におけるタブ20
上の略中央部に配されて、タブ20とペレット22との
間に形成されたボンディング層21によって機械的に固
着されることによりボンディングされる。ペレットボン
ディング層21の形成手段としては、金−シリコン共晶
層、はんだ付け層および銀ペースト接着層等々によるボ
ンディング法を用いることが可能である。但し、必要に
応じて、ペレットからタブへの熱伝達の障壁とならない
ように、ボンディング層21を形成することが望まし
い。
【0030】続いて、ワイヤボンディング作業により、
図3(a)および(b)に示されているように、タブ2
0上にボンディングされたペレット22の電極パッド2
2aと、各単位リードフレーム12におけるリード19
のインナ部19aとの間に、ボンディングワイヤ23が
超音波熱圧着式ワイヤボンディング装置等のような適当
なワイヤボンディング装置(図示せず)が使用されるこ
とにより、その両端部をそれぞれボンディングされて橋
絡される。これにより、ペレット22に作り込まれてい
る集積回路は、電極パッド22a、ボンディングワイヤ
23、リード19のインナ部19aおよびアウタ部19
bを介して電気的に外部に引き出されることになる。
【0031】このようにしてペレットおよびワイヤ・ボ
ンディングされた組立体24には、各単位リードフレー
ム毎に樹脂封止するパッケージ25群が、図1、図4、
図5および図6に示されているようなトランスファ成形
装置30を使用されて、単位リードフレーム群について
同時成形される。
【0032】図1、図4、図5および図6に示されてい
るトランスファ成形装置は、シリンダ装置等(図示せ
ず)によって互いに型締めされる一対の上型31と下型
32とを備えており、上型31と下型32との合わせ面
にはワークおよびプレート用凹部33aと、プレート位
置決め用凹部33bとが互いに協働して収容部33を形
成するように、複数組(但し、一単位のみが図示されて
いる。以下、同じ。)没設されている。
【0033】上型31の合わせ面にはポット34が開設
されており、ポット34にはシリンダ装置(図示せず)
により進退されるプランジャ35が成形材料としての樹
脂(以下、レジンという。)を送給し得るように挿入さ
れている。下型32の合わせ面にはカル36がポット3
4との対向位置に配されて没設されているとともに、複
数条のランナ37がポット34にそれぞれ接続するよう
に配されて没設されている。各ランナ37の一部はプレ
ート位置決め用凹部33bの底面にそれぞれ敷設されて
おり、その凹部33bの底面における端部には後記する
プレート39に開設されたゲート38がレジンを後記す
るキャビティー40内に注入し得るように形成されてい
る。
【0034】下型32のプレート位置決め用凹部33b
のそれぞれにはプレート39が着脱自在に嵌入されてお
り、このプレート39はワークとしての前記組立体(以
下、ワークということがある。)24における多連リー
ドフレーム11の平面形状よりも若干大きめに相似する
長方形の板形状に形成されているとともに、凹部33b
に嵌入され、かつ、上型31と下型32とが型締めされ
た状態において、上型31により押さえられるように形
成されている。
【0035】プレート39の幅方向の中央部には下型キ
ャビティー凹部40bが複数個、1列に並べられて没設
されており、各キャビティー凹部40bはこのプレート
39が下型32にセットされた状態において、上型31
に形成された上型キャビティー凹部40bに、それぞれ
対向することにより、平面形状が正方形のキャビティー
40を協働して構成するようにそれぞれ形成されてい
る。
【0036】プレート39の下面には前記ランナ37に
流体的に接続されるゲート38がキャビティー40に連
通するように垂直方向上向きに開設されており、離型を
容易にするため、このゲート38にはテーパが上方に行
くにしたがって太さが次第に細くなって行くように形成
されている。
【0037】他方、プレート39の上面には逃げ凹部4
1がワーク24における多連リードフレーム11の厚さ
を逃げ得るように、その多連リードフレーム11の平面
形状に大きめに相似する長方形の穴形状に没設されてい
る。
【0038】上型31には上型用エジェクタピン42が
複数本、離型時に、上型31のキャビティー凹部40a
に成形された樹脂封止パッケージ25を下方へ押して、
凹部40aから押し出すように摺動自在に挿入されてい
る。また、下型32には下型用エジェクタピン43が複
数本、離型時に、プレート39のキャビティー凹部40
bに成形された樹脂封止パッケージ25を上方へ押し
て、凹部40bから押し出すように摺動自在に挿入され
ている。さらに、下型32にはランナ用エジェクタピン
44が複数本、離型時に、下型32に成形されたランナ
残渣を上方へ押して、ランナ37から押し出すように摺
動自在に挿入されている。
【0039】本実施例において、上型31の凹所40a
における底面の中央には押さえピン45がゲート38に
対向するように配されて、キャビティー40内に突出し
て前記ワーク24におけるタブ20に当接するように摺
動自在に挿入されている。この押さえピン45はエジェ
クタピン42とは別に進退し得るように構成されている
とともに、図示しない駆動装置により、プランジャ35
の樹脂圧入作動に関連して進退作動されるように構成さ
れている。すなわち、プランジャ35の前進による樹脂
のキャビティー40への圧送開始時には、押さえピン4
5はキャビティー40内に突出されてタブ20に当接さ
れた状態になっており、開始から所定時間経過した後、
その先端面が上型凹所40aの底面と一致する位置まで
後退されるようになっている。
【0040】さらに、上型31にはキャビティー40内
のエアを樹脂の圧入に伴って排出するためのエアベント
46が、押さえピン45の周囲に円形環状に形成され
て、キャビティー40内外を連通させるように開設され
ている。このエアベント46はキャビティー40内への
樹脂の圧入に伴ってエアを充分に排出させることができ
る大きさや形状、構造に構成されている。反面、このエ
アベント46はキャビティー40が樹脂で満たされた後
に樹脂がこのエアベント46から漏洩するのを防止する
ことができる大きさや形状、構造に構成されている。
【0041】次に、このように構成されているトランス
ファ成形装置30が使用されて、ワークとしての前記構
成に係る組立体24に樹脂封止パッケージ25が成形さ
れる成形方法を説明する。
【0042】トランスファ成形時、ワークである組立体
24は複数個が、下型32の凹部33b内に予めそれぞ
れ嵌入されている各プレート39上にそれぞれ載置状態
にセットされる。このとき、図1に示されているよう
に、各ワーク24における多連リードフレーム11がプ
レート39の各逃げ凹部41内に同心的にそれぞれ配さ
れ、各キャビティー凹部40b内にペレット22、ワイ
ヤ23およびリード19のインナ部19aがそれぞれ収
容される。
【0043】続いて、上型31と下型32とが互いに合
わされて、型締めされる。これにより、各プレート39
が上型31と下型32との間にそれぞれ固定されるとと
もに、ワーク24が各プレート39と上型31との間に
それぞれ固定される。
【0044】次いで、成形材料として加熱溶融された樹
脂(以下、レジンという。)47がポット34からプラ
ンジャ35によりランナ37およびゲート38を通じ
て、各キャビティー40に送給されて圧入される。
【0045】このとき、ゲート38がキャビティー40
の中央部に配設されているため、図7に示されているよ
うに、ゲート38からキャビティー40に圧入されたレ
ジン47はキャビティー40の中央部から、各ワイヤ2
3に沿うように放射状に拡散して充填されて行く。した
がって、レジン47によるワイヤ23の流れは防止され
る。
【0046】ところで、図8に示されているように、ゲ
ート38’がキャビティー40’の側面におけるコーナ
部の一つに、レジン47をキャビティー40’の対角線
に沿う方向に圧入するように形成されている場合、ゲー
ト38’から対角線方向に圧入されたレジン47によ
り、ゲート38’に対向するコーナ部に位置するワイヤ
23が対角線の両外側方向にかき分けられるように流さ
れる状態になるため、このコーナ部の両脇においてそれ
ぞれ隣り合うワイヤ23、23同士が互いに接触し、短
絡不良が発生する。
【0047】しかし、本実施例においては、図7に示さ
れているように、ゲート38がキャビティー40の下面
の中心においてワイヤ23の放射状の中心線に沿う方向
に開設されているため、ゲート38からキャビティーに
圧入されたレジン47はペレット22に衝突した後、ワ
イヤ23の放射状方向に沿ってそれぞれ拡散することに
なる。つまり、レジン47の拡散によりコーナ部に位置
するワイヤ23がかき分けられるように流される現象は
防止されるため、ワイヤ23がかき分けられるように流
されることによる隣り合うワイヤ23、23間の接触現
象の発生は回避されることになる。したがって、ワイヤ
23、23間の接触現象による短絡不良の発生はなく、
樹脂封止パッケージ成形作業の歩留り、並びに、当該樹
脂封止パッケージの品質および信頼性が高められる。
【0048】ここで、レジン47がゲート38からキャ
ビティー40に圧入された際、最初に、レジン47はワ
ーク24の中心に衝突することになるため、ワーク24
にはワーク24に交差する方向(垂直方向)の力が付勢
される。この付勢力により、ワーク24がその方向に振
動しようとする。
【0049】しかし、本実施例においては、ワーク24
のゲート38と反対側に位置するタブ20の裏面には押
さえピン45が当接されて支持されているため、ワーク
24の振動は阻止される。このとき、ゲート38が重力
方向に対して上向きに形成されているため、ゲート38
からキャビティー40に圧入されるレジン47は重力に
抗して進行することになる。したがって、レジン47は
ワーク24に除々に衝突することになるため、レジン4
7によるワーク24に対するモールド圧ストレスは減殺
される。
【0050】したがって、ワーク24の振動に伴うワイ
ヤ26の断線や、ワイヤ26とペレット22との接触に
よる短絡不良、また、樹脂封止パッケージ25の厚さの
ばらつき等の二次的障害の発生は未然に防止されること
になる。
【0051】また、キャビティー40内に閉じ込められ
たエアは、レジン47のキャビティー40への圧入時に
は、レジン47の圧入に伴ってキャビティー40の外部
へ押されるように排出されることになる。本実施例にお
いては、このキャビティー内エア排出のためのエアベン
ト46が、押さえピン45の周囲、すなわち、キャビテ
ィー40の天井面における中央に形成されているため、
キャビティー40内のエアはレジン47の圧入に伴って
キャビティー40から全て排出される。
【0052】すなわち、ワーク24を挟んでゲート38
と対向するエアベント46は、レジン47がワーク24
を迂回するように流れるため、レジン47が圧入される
ゲート38から最長の位置に開口されていることにな
る。このため、各エアベント46にレジン47が達する
のはキャビティー40の他の各場所に比べて最後にな
る。したがって、レジン47により各エアベント46が
塞がれることにより、キャビティー40内のエアがキャ
ビティー40内に取り残される現象が発生することはな
い。
【0053】つまり、キャビティー40内のエアは、ゲ
ート38に対して最長位置に開口された各エアベント4
6からレジン47の押し出し作用により必然的に全て排
出されるため、樹脂封止パッケージ25に残留エアによ
る気泡が形成されることはない。このとき、ゲート38
が重力方向上向きに開口されていると、エアの排出がよ
り一層良好になる。なぜなら、エアはキャビティー40
の上部に移動し易く、キャビティー40の下端から注入
されるレジン47により自然に上方に押される状態にな
るためである。
【0054】本実施例において、図1に示されているよ
うに、レジン47がキャビティー40内にある程度充填
され、充填されたレジン47の先端部がタブ20を回り
込んで上型凹所40aにおける押さえピン45の付近ま
で到達すると、図9に示されているように、押さえピン
45はその先端面が上型凹所40aの底面に合致する所
までキャビティー40内から後退される。この押さえピ
ン45の後退作動のタイミングは、プランジャ35の速
度に依存するレジン47の圧入速度、および、レジン4
7のゲルタイム(硬化するまでの時間)に基づいて理論
的に求めることも可能であるが、実験やコンピュータに
よるシミュレーション等の経験的解析手法により、各成
形条件に対応して最適値を求めることが望ましい。
【0055】図9に示されているように、押さえピン4
5の先端面がキャビティー40の内面と一致された後、
キャビティー40内の押さえピン45が突出していた空
間にはレジン47が充填される。このとき、レジン47
はこの空間に全周方向から充填されるとともに、この空
間のエアはその中心に位置するエアベント46から完全
に排出されて行く。したがって、キャビティー40内に
はレジン47が隙間なく充填されることになる。
【0056】注入後、レジン47が熱硬化されて樹脂封
止パッケージ25が成形されると、上型31および下型
32は互いに型開きされるとともに、各エジェクタピン
42、43、44によりワーク24、プレート29およ
びランナ痕が離型される。つまり、パッケージ25を成
形されたワーク24はトランスファ成形装置30から脱
装される。
【0057】そして、このようにして樹脂成形されたパ
ッケージ25の内部には、図10および図11で参照さ
れるように、ペレット22、リード19のインナ部19
a、ボンディングワイヤ23および放熱フィンリード1
7が樹脂封止されることになる。また、放熱フィンリー
ド17における外側端部側に形成された放熱フィン18
は樹脂封止パッケージ25のコーナ部側面からそれぞれ
直角方向に突出された状態になっている。
【0058】さらに、この状態において、樹脂封止パッ
ケージ25の一主面の中央にはゲート痕26が残ってい
る。また、樹脂封止パッケージ25のゲート痕26と反
対側の主面の中央には押さえピン痕27が残っている。
【0059】その後、樹脂封止パッケージ25が成形さ
れた組立体24はリード切断成形工程において、各単位
リードフレーム12毎に順次、リード切断装置(図示せ
ず)により、各リード19および放熱フィン18から、
外枠13、セクション枠14および各ダム16aを切り
落された後、リード成形装置(図示せず)により、リー
ド19のアウタ部19bおよび放熱フィン18をガル・
ウイング形状にそれぞれ屈曲成形される。これにより、
図10および図11に示されている低熱抵抗形QFP・
IC28が製造されたことになる。
【0060】前記実施例によれば次の効果が得られる。 レジン圧入時にペレットがボンディングされたタブ
の反対側の主面を押さえピンで支持することにより、イ
ンサート成形されるワークとしてのペレットやリードを
位置決めすることができるとともに、これらの振動を防
止することができるため、樹脂封止パッケージにおける
厚さ方向のばらつきの発生を防止することができるとと
もに、ワイヤ断線や短絡不良の発生を防止することがで
きる。
【0061】 エアベントを押さえピンの周囲、すな
わち、キャビティーにおけるゲートと反対側主面の中央
に開設することにより、キャビティー内のエアをレジン
の圧入に伴って全て排出することができるため、樹脂封
止パッケージ内に気泡が発生するのを防止することがで
きる。
【0062】 また、前記の構成により、レジンの
最終充填時の合わせ目がペレットと反対側のタブ背面に
形成されるため、樹脂封止パッケージの品質および信頼
性を高めることができる。
【0063】 ゲートをキャビティーにおいてワイヤ
の放射状の中心に向かう方向に形成するとともに、エア
ベントをキャビティーのゲートの反対側主面の対向位置
に開口することにより、ゲートからキャビティーに圧入
されたレジンをキャビティーの4隅に位置するワイヤに
おいても各ワイヤに沿って流し、かつ、放射方向に拡散
させることができるため、レジンの流れによるワイヤの
横方向への流れ(ワイヤアーチの横倒れ)現象を防止す
ることができる。
【0064】 レジンの拡散によるワイヤの横方向へ
の流れ(ワイヤアーチの横倒れ)現象を防止することに
より、隣り合うワイヤの接触現象の発生を防止すること
ができるため、接触現象による短絡不良の発生を防止す
ることができる。
【0065】 樹脂封止パッケージ成形時のワイヤ流
れによる短絡不良の発生を防止することにより、ペレッ
トの外径寸法が比較的大きい場合においてもワイヤのア
ーチ長さを比較的長く設定することができるため、QF
P・ICにおいて多ピン化をより一層促進することがで
きる。
【0066】 前記により、通例、ペレットの外径
寸法およびワイヤ長さが大きくなり、かつ、多ピンにな
るQFP・ICにおいても、樹脂封止パッケージについ
てトランスファ成形による加圧成形が可能になるため、
樹脂封止パッケージの成形歩留りを高めることができる
とともに、しいてはQFP・ICの品質および信頼性を
高めることができる。
【0067】 レジンをワイヤの放射状の中心に向け
て圧入するゲートを重力方向に対して上向きに形成する
ことにより、ゲートからキャビティーに圧入されるレジ
ンは重力に抗して進行する状態になるため、レジンによ
るペレットに対するモールド圧ストレスを減殺させるこ
とができる。
【0068】 また、ゲートを重力方向に対して上向
きに形成するとともに、エアベントを上側に開設するこ
とにより、キャビティーの上部に移動し易いエアをキャ
ビティーの下端からレジンにより自然にキャビティーの
上部に自然に押し上げさせるため、エアを確実にキャビ
ティー外部に排出させることができ、樹脂封止パッケー
ジの内部に気泡が発生するのをより一層確実に防止する
ことができる。
【0069】以上本発明者によってなされた発明を実施
例に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施例に
限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で
種々変更可能であることはいうまでもない。
【0070】例えば、キャビティーの中心に垂直方向
で、かつ、ペレットの中心に向くように明けられるゲー
トは、プレートに配設するに限らず、下型または上型が
ランナと一直線状に配設されて離型が可能な場合には、
下型または上型に直接的に配設してもよい。
【0071】また、ゲートは重力方向に対して上向きに
配設するに限らず、下向きに配設してもよい。
【0072】さらに、ゲートおよびプレートは下型に配
設するに限らず、上型に配設してもよい。また、エアベ
ントは上型に配設するに限らず、下型に配設してもよ
い。
【0073】以上の説明では主として本発明者によって
なされた発明をその背景となった利用分野であるQFP
・ICに適用した場合について主に説明したが、それに
限定されるものではなく、樹脂封止パッケージを備えて
いる半導体装置全般に適用することができる。特に、本
発明は、ペレットの外径寸法およびワイヤのアーチ寸法
が大きく、かつ、多ピンで、しかも、低価格が要求され
る半導体装置の製造技術に利用して優れた効果が得られ
る。
【0074】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、次
の通りである。
【0075】ゲートをキャビティーにおいてワイヤの放
射状の中心に向かう方向に形成するとともに、エアベン
トをキャビティーにおいてワークを挟んでゲートの反対
側位置に開口することにより、ゲートからキャビティー
に圧入されたレジンがワイヤに沿って放射方向に流れる
状態になるため、ペレットの4隅に位置するワイヤ群に
おいて、レジンの流れによるワイヤの横方向への流れ
(ワイヤアーチの横倒れ)現象を防止することができ、
ペレットの4隅に位置するワイヤ群におけるワイヤ同士
の短絡不良の発生を未然に防止することができる。
【0076】レジン圧入時にペレットがボンディングさ
れたタブの反対側の主面に押さえピンで支持することに
より、インサート成形されるワークとしてのペレットや
リードを位置決めすることができるとともに、これらの
振動を防止することができるため、樹脂封止パッケージ
における厚さ方向のばらつきの発生を防止することがで
きるとともに、ワイヤ断線や短絡不良の発生を防止する
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例であるQFP・ICの製造方
法における主要部である樹脂封止工程を示す一部省略正
面断面図である。
【図2】そのQFP・ICの製造方法に使用される多連
リードフレームを示す一部省略平面図である。
【図3】ペレットおよびワイヤ・ボンディング工程後を
示す一部省略平面図およびb−b線に沿う断面図であ
る。
【図4】樹脂封止パッケージの成形に使用されるトラン
スファ成形装置を示す一部省略分解正面断面図である。
【図5】その一部省略底面図である。
【図6】その一部省略平面図である。
【図7】樹脂封止パッケージ成形時の作用を説明するた
めの底面断面図である。
【図8】同じく比較例を示す底面断面図である。
【図9】樹脂封止工程の最終段階を示す一部省略正面断
面図である。
【図10】本発明の一実施例であるQFP・ICの製造
方法により製造された本発明の一実施例であるQFP・
ICを示す一部切断正面図である。
【図11】その一部切断底面図である。
【図12】従来例を示す図1に相当する一部省略正面断
面図である。
【符号の説明】
11…多連リードフレーム、12…単位リードフレー
ム、13…外枠、14…セクション枠、15…ダム吊り
部材、16…ダム部材、16a…ダム、17…放熱フィ
ンリード、18…放熱フィン、19…リード、19a…
インナ部、19b…アウタ部、20…タブ、21…ボン
ディング層、22…ペレット、23…ワイヤ、24…組
立体(ワーク)、25…樹脂封止パッケージ、26…ゲ
ート痕、27…押さえピン痕、28…QFP・IC(半
導体装置)、30…トランスファ成形装置、31…上
型、32…下型、33…ワーク収容部、34…ポット、
35…プランジャ、36…カル、37…ランナ、38…
ゲート、39…プレート、40…キャビティー、41…
逃げ凹部、42、43、44…エジェクタピン、45…
押さえピン、46…エアベント、47…レジン。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 主面に電子回路が作り込まれている半導
    体ペレットと、半導体ペレットの外方に配線されている
    複数本のリードと、半導体ペレットの各電極パッドと各
    リードの内側先端部との間にそれぞれ橋絡されているワ
    イヤ群と、半導体ペレット、各リードの一部およびワイ
    ヤ群を樹脂封止している樹脂封止パッケージを備えてい
    る半導体装置において、 前記樹脂封止パッケージは加圧成形法により成形されて
    いるとともに、そのゲート痕が半導体ペレットの主面上
    の樹脂封止パッケージの一部に位置しており、また、樹
    脂封止パッケージのゲート痕と反対側の主面には加圧成
    形時に前記半導体ペレットを支える押さえピンの痕が形
    成されていることを特徴とする半導体装置。
  2. 【請求項2】 電子回路が作り込まれている半導体ペレ
    ットの各電極パッドと、半導体ペレットの外方に放射状
    に配線されている複数本のリードの内側先端部との間に
    ワイヤがそれぞれ橋絡される工程と、 樹脂封止パッケージが半導体ペレット、各リードの一部
    およびワイヤ群を樹脂封止するように成形される成形工
    程と、を備えている半導体装置の製造方法であって、 前記樹脂封止パッケージの成形工程において、樹脂封止
    パッケージは樹脂がキャビティーに圧入されることによ
    り成形されるとともに、その樹脂は前記ワイヤ群の放射
    状の中心に向けられて、かつ、圧入された樹脂が各ワイ
    ヤに向かって放射状に拡散されて行くように圧入され、 また、樹脂のキャビティーへの圧入時に前記半導体ペレ
    ットが樹脂圧入方向と反対側の主面において押さえピン
    により支持されるとともに、圧入された樹脂が押さえピ
    ン付近に達する時に押さえピンが後退されることを特徴
    とする半導体装置の製造方法。
  3. 【請求項3】 電子回路が作り込まれている半導体ペレ
    ットと、半導体ペレットの外方に放射状に配線されてい
    る複数本のリードと、半導体ペレットの各電極パッドと
    各リードの内側先端部との間にそれぞれ橋絡されて放射
    状に配されているワイヤ群と、半導体ペレット、各リー
    ドの一部およびワイヤ群を樹脂封止している樹脂封止パ
    ッケージとを備えている半導体装置における前記樹脂封
    止パッケージを成形する成形装置であって、 互いに型合わせされる上型および下型と、上型および下
    型の合わせ面間に形成され、前記半導体ペレット、各リ
    ードの一部およびワイヤを収容するキャビティーと、キ
    ャビティーに開設されているゲートと、ゲートに流体的
    に接続されており、ポットからの樹脂をゲートを通じて
    キャビティーに圧入するランナとを備えている成形装置
    において、 前記ゲートが前記キャビティーに収容されたワイヤ群の
    放射状の中心に向かうように、このキャビティーのワイ
    ヤ群に対向する主面に開設されており、 また、このキャビティーのゲートと反対側の主面には押
    さえピンが樹脂のキャビティーへの圧入時に前記半導体
    ペレットを支持するように、かつ、中心線方向に沿って
    進退自在に挿入されており、 さらに、この主面における押さえピンの周りに、エアベ
    ントが開設されていることを特徴とする成形装置。
JP28362491A 1991-10-02 1991-10-02 半導体装置およびその製造方法並びにそれに使用される成形装置 Pending JPH05102217A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09116051A (ja) * 1995-10-19 1997-05-02 Nec Corp 樹脂封止半導体装置およびその製造装置
JP2003011187A (ja) * 2001-07-03 2003-01-15 Towa Corp 樹脂封止装置及び樹脂封止方法
JP2013120914A (ja) * 2011-12-09 2013-06-17 Semiconductor Components Industries Llc 回路装置の製造方法
CN115351179A (zh) * 2022-09-05 2022-11-18 东和半导体设备(南通)有限公司 一种带有压紧装置的散热片封装模具

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