JP2959408B2 - 比較回路 - Google Patents
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Description
速A/D変換器等において用いられる比較回路に関す
る。
示される。図8に示されるように、本従来例は、抵抗R
1 、R2 と、コレクタが、ぞれぞれ抵抗R1 、R2 を介
して電源端子Vccに接続され、ベースにそれぞれアナロ
グ入力電圧Vi1、Vi2が入力されて、エミッタが共通接
続されるNPNトランジスタQ1 、Q2 とから構成され
る入力電圧比較部1と、コレクタがそれぞれNPNトラ
ンジスタQ2 、Q1 のコレクタに接続され、ベースがそ
れぞれNPNトランジスタQ1 、Q2 のコレクタに接続
されて、エミッタが共通接続されるNPNトランジスタ
Q3 、Q4 とから構成される正帰還ラッチ部2と、コレ
クタがそれぞれNPNトランジスタQ1 、Q2 の共通エ
ミッタおよびNPNトランジスタQ3 、Q4 の共通エミ
ッタに接続され、ゲートにそれぞれ正相クロック信号φ
11および逆相クロック信号φ12が入力されて、エミッタ
が共通接続されるNPNトランジスタQ5 、Q6 とから
構成される電流スイッチ3と、一端がNPNトランジス
タQ5 、Q6 の共通エミッタに接続され、他端が接地さ
れた定電流源4とを備えている。
(d)および(e)は、後に説明する本発明の実施例と
従来の比較回路の出力波形図であり、図(c)および
(d)は、それぞれアナログ入力電圧Vi1、Vi2と、正
相クロック信号φ11および逆相クロック信号φ12とを示
し、図(b)は本従来例における出力電圧Vo1、Vi2の
出力波形を示している。以下、図8、図2(b)、
(c)および(d)を参照して、本従来例の動作につい
て説明する。
ベースに入力される正相クロック信号φ11が高レベルに
なるか低レベルになるか(NPNトランジスタQ6 のベ
ースに入力される逆相クロック信号φ11が低レベルにな
るか高レベルになるか)に応じて、電流スイッチ3を介
して、入力電圧比較部1および正帰還ラッチ部2の何れ
か一方に定電流源4の電流が流れる。正相クロック信号
φ11が高レベル(逆相クロック信号φ12が低レベル)に
なる場合をフォロー・モードと呼び、逆相クロック信号
φ12が高レベル(正相クロック信号φ11が低レベル)に
なる場合をラッチ・モードと呼ぶ。この図8に示される
比較回路のように、入力電圧比較部1と正帰還ラッチ部
2を有する比較回路は、二つのアナログ入力電圧Vi1お
よびVi2の差電圧|Vi1−Vi2|が微小電圧の場合に用
いられることが多いが、ここでは、入力電圧比較部1と
正帰還ラッチ部2とをバイポーラ素子で構成しているた
め、オフセット電圧を小さくでき、高精度入力が可能と
なる。このため、以下においては、アナログ入力電圧V
i1およびVi2の差電圧|Vi1−Vi2|が微小電圧の場合
について説明する。また、クロック周波数が低い場合に
ついて説明する。
フォロー・モード(図2(d)参照)においては、アナ
ログ入力電圧Vi1およびVi2(図2(c)参照)は、当
該入力電圧比較部1において電圧レベルの大小関係が比
較され、両アナログ入力電圧の微小差電圧が増幅されて
出力される。続いて、ラッチ・モード(図2(d)参
照)においては、フォロー・モードにおいて増幅された
出力電圧が、正帰還をかけられた正帰還ラッチ部2によ
り、図2(b)に示されるように、下記の電圧レべルま
で再度増幅される。
合には、比較回路は正常な比較結果を出力していると云
われる。
(d)参照)に切替わると、図2(b)に示されるよう
に、或る時間後において、出力電圧Vo1、Vo2は一旦同
一電圧レベルとなり、その後、二つのアナログ入力電圧
Vi1、Vi2の大小関係が比較され、その微小入力差電圧
が入力電圧比較部1により増幅される。図2(d)およ
び(b)に示されるように、比較回路がラッチ・モード
からフォロー・モードに切替わり、二つの出力電圧
Vo1、Vo2が、上述のように同電位になるまでの時間を
リカバー時間Tr2と云う。図8における従来の比較回路
においては、当該リカバー時間Tr2は、定電流源4の電
流値および出力端子の負荷容量等により決まり、負荷容
量が大きい場合には、リカバリー時間が大きくなる。
路においては、クロック周波数が高い場合には、比較回
路がラッチ・モードからフォロー・モードに切替わる際
に、リカバー時間が長くかかるために、二つの出力電圧
Vo1、Vo2が同電位になり、入力差電圧が比較されると
いうことがないままラッチされるために、誤まった比較
結果が出力される惧れがあるという欠点がある。
レクタがそれぞれ第1、第2の抵抗を介して第1の電源
に接続されるとともに、それぞれ第2、第1の出力端子
に接続され、ベースがそれぞれ第1、第2のアナログ入
力端子に接続され、エミッタが共通接続される第1、第
2のNPNトランジスタと;コレクタがそれぞれ前記第
2、第1の抵抗を介して前記第1の電源に接続されると
ともに、それぞれ前記第1、第2の出力端子に接続さ
れ、ベースがそれぞれ前記第1、第2のNPNトランジ
スタの各コレクタに接続され、エミッタが共通接続され
る第3、第4のNPNトランジスタと;前記第1、第2
のNPNトランジスタの各コレクタの間に挿入接続さ
れ、所定のスイッチ制御信号により、前記第1、第2の
NPNトランジスタのコレクタ間の導通/遮断を制御す
るスイッチ手段と;コレクタが、それぞれ前記第1、第
2のNPNトランジスタの共通接続されたエミッタ、お
よび前記第3、第4のNPNトランジスタの共通接続さ
れたエミッタに接続され、ベースが、それぞれ第1、第
2のクロック信号端子に接続され、エミッタが共通接続
される第5、第6のNPNトランジスタと;前記第5、
第6のNPNトランジスタの共通接続されたエミッタと
第2の電源との間に接続される定電流源とを備えること
を特徴とする。
ぞれ第3、第4のクロック信号端子に接続され、ドレイ
ンが前記第2の出力端子に共通接続されて、ソースが前
記第1の出力端子に共通接続されるPMOSトランジス
タおよびNMOSトランジスタを含むトランスファ・ゲ
ートにより形成してもよく、或はまたゲートが第3のク
ロック信号端子に接続され、ドレインが前記第2の出力
端子に接続されて、ソースが前記第1の出力端子に接続
されるPMOSトランジスタにより形成してもよく、更
に、ゲートが第3のクロック信号端子に接続され、ドレ
インが前記第2の出力端子に接続されて、ソースが前記
第1の出力端子に接続されるNMOSトランジスタによ
り形成してもよい。
る。
ク図である。図1に示されるように、本実施例は、コレ
クタが、それぞれ抵抗R1 、R2 を介して電源端子Vcc
に接続され、ベースにそれぞれアナログ入力電圧Vi1、
Vi2が入力されて、エミッタが共通接続されるNPNト
ランジスタQ1 、Q2 および前記抵抗R1 、R2 を含む
入力電圧比較部1と、コレクタがそれぞれNPNトラン
ジスタQ2 、Q1 のコレクタに接続され、ベースがそれ
ぞれNPNトランジスタQ1 、Q2 のコレクタに接続さ
れて、エミッタが共通接続されるNPNトランジスタQ
3 、Q4 を含む正帰還ラッチ部2と、コレクタがそれぞ
れNPNトランジスタQ1 、Q2 の共通エミッタ、NP
NトランジスタQ3 、Q4 の共通エミッタに接続され、
ゲートにそれぞれ正相クロック信号φ11、逆相クロック
信号φ12が入力されて、エミッタが共通接続されるNP
NトランジスタQ5 、Q6 を含む電流スイッチ3と、一
端がNPNトランジスタQ5 、Q6 の共通エミッタに接
続され、他端が接地される定電流源4と、スイッチ5と
を備えて構成される。
(d)および(e)は、本実施例と前述の従来の比較回
路における出力波形図であり、図2(c)および(d)
は、それぞれ本実施例におけるアナログ入力電圧Vi1、
Vi2と、正相クロック信号φ11および逆相クロック信号
φ12とを示し、図(a)は、本実施例における出力電圧
Vo1、Vi2の出力波形を示しており、図2(e)は、本
実施例におけるスイッチ5に対するスイッチ制御信号φ
2 を示している。なお、このスイッチ制御信号φ2は、
正相クロック信号φ11に同期するパルス信号として入力
されるが、当該パルス信号の高レベルの時間幅は、正相
クロック信号φ11の高レベルの時間幅よりも短かい値に
設定されており、スイッチ5に入力されて、高レベルの
時点においてスイッチ5を導通状態に設定する。以下、
図1、図2(a)、(c)、(d)および(e)を参照
して、本実施例の動作について説明する。
PNトランジスタQ5 のベースに入力される正相クロッ
ク信号φ11が高レベルになるか低レベルになるか(NP
NトランジスタQ6 のベースに入力される逆相クロック
信号φ12が低レベルになるか高レベルになるか)に応じ
て、電流スイッチ3を介して、入力電圧比較部1および
正帰還ラッチ部2の何れか一方に定電流源4に電流が流
れる。通常、入力電圧比較部1と正帰還ラッチ部2を有
する比較回路は、二つのアナログ入力電圧Vi1、Vi2の
差電圧|Vi1−Vi2|が微小電圧の場合に用いられるこ
とが多いので、前述の従来例の場合と同様に、以下にお
いては、アナログ入力電圧Vi1、Vi2の差電圧|Vi1−
Vi2|が微小電圧である場合について説明する。
示されるように、スイッチ制御信号φ2 が低レベルの状
態においては、スイッチ5は遮断状態となっており、従
来例の場合と同様に、フォロー・モード(図2(d)参
照)において、アナログ入力電圧Vi1、Vi2(図2
(c)参照)は、入力電圧比較部1において電圧レベル
の大小関係が比較され、両アナログ入力電圧の微小差電
圧が増幅されて出力される。続いて、ラッチ・モード
(図2(d)参照)においては、フォロー・モードにお
いて増幅された出力電圧Vo1、Vo2が、正帰還をかけら
れた正帰還ラッチ部2により、図2(b)に示されるよ
うに、前述の(1)式および(2)式に示される電圧レ
べルVH 、VL まで再度増幅されて出力される。
・モードになると、正相クロック信号φ11と同期状態に
あるスイッチ制御信号φ2 は、比較回路がフォロー・モ
ードになった直後において高レベルとなり、これにより
スイッチ5が導通して、入力電圧Vi1、Vi2に対応する
二つの出力電圧Vo1、Vo2は、強制的にほぼ同電位にな
る(図2(a)、(c)、(d)および(e)参照)。
この場合におけるリカバー時間は、図2(a)に示され
るようにTr1となる。前述の従来の比較回路におけるリ
カバー時間Tr2は、定電流源4の電流値および出力端子
の負荷容量等により略々決まり、負荷容量が大きい場合
には、リカバー時間が大きくなるという問題があるが、
これに対して、本実施例においては、出力端子間にスイ
ッチ手段を設けて、強制的に二つの出力電圧Vo1、Vo2
を同電位に引込むことにより、リカバー時間の大幅な短
縮を図っている(Tr1<Tr2)。これにより、図2
(a)および(b)に示されるように、従来の比較回路
においては、正相クロック信号φ11および逆相クロック
信号φ12のクロック周波数が高い場合には、フォロー・
モードにおいて、入力電圧を比較することができない状
態のままでラッチ・モードに移行する状態となり、前述
の(1)式および(2)式のような比較回路として正常
な比較結果を出力することができなくなる惧れがある。
しかしながら、本発明の比較回路においては、上述のよ
うにリカバー時間を短縮することにより、従来よりも高
いクロック周波数の正相クロック信号φ11および逆相ク
ロック信号φ12に対しても、正常な比較結果を出力する
ことができる。
び(e)は、図2に示される出力波形図とは異なるタイ
ミングで比較回路を動作させた時の、本実施例と前述の
従来の比較回路における出力波形図である。図2と異な
る点は、スイッチ制御信号φ2 が正相クロック信号φ11
と同期し、且つハイレベル、ローレベルの状態が同一と
なる波形である点である。なお、図3(b)の出力波形
は、前述の従来例における出力波形そのものであり、図
2(b)と同一の波形である。図3(c)、(d)およ
び(e)に示されるように、入力電圧Vi1、Vi2に対応
して、スイッチ制御信号φ2 は、フォロー・モードにお
いては、常時高レベルとなってスイッチ5が導通状態と
なり、また、ラッチ・モードにおいては、常時低レベル
となってスイッチ5は遮断状態となる。また、フォロー
・モードにおいては、スイッチ5が導通するとともに、
入力電圧比較部1を経由して定電流源4に電流が流れる
状態となり、これにより、二つの出力電圧Vo1、Vo2は
略々同電位になるが、スイッチ5のオン抵抗により若干
の差電圧を生じ、その大小関係は入力電圧Vi1、Vi2に
対応している。続くラッチ・モードにおいては、スイッ
チ5が遮断するとともに、正帰還ラッチ部2を経由して
定電流源4に電流が流れる状態となり、これにより、若
干の差電圧のある二つの出力電圧Vo1、Vo2は、正帰還
のかかったNPNトランジスタQ3 、Q4 により、VH
またはVL の電圧レベルまで増幅される。続いて、比較
回路がフォロー・モードになると、スイッチ5が導通
し、二つの出力電圧Vo1、Vo2は、強制的に同電位にな
って出力される。この場合におけるリカバー時間T
r1は、図2(a)に示される出力波形と同様に、従来の
比較回路に比較して大幅に短縮することが可能となり、
これにより、従来よりも高いクロック周波数の正相クロ
ック信号φ11および逆相クロック信号φ12に対しても、
正常な比較結果を出力することができる。
る。図4に示されるように、本回路は、ドレインが、そ
れぞれ抵抗R1 、R2 を介して電源端子Vccに接続さ
れ、ゲートにそれぞれアナログ入力電圧Vi1、Vi2が入
力されて、ソースが共通接続されるNMOSトランジス
タM1 、M2 および前記抵抗R1 、R2 を含む入力電圧
比較部1と、ドレインがそれぞれNMOSトランジスタ
M2 、M1 のドレインに接続され、ゲートがそれぞれN
MOSトランジスタM1 、M2 のドレインに接続され
て、ソースが共通接続されるNMOSトランジスタ
M3 、M4 を含む正帰還ラッチ部2と、ドレインがそれ
ぞれNMOSトランジスタM1 、M2 の共通ソースおよ
びNMOSトランジスタM3 、M4 の共通ソースに接続
され、ゲートにそれぞれ正相クロック信号φ11および逆
相クロック信号φ12が入力されて、ソースが共通接続さ
れるNMOSトランジスタM5 、M6 を含む電流スイッ
チ3と、一端がNMOSトランジスタM5 、M6 の共通
ソースに接続され、他端が接地点に接続される定電流源
4と、NMOSトランジスタM1 、M2 のコレクタ間に
接続されるスイッチ5とを備えて構成される。なお、こ
の回路の動作は、第1の実施例の場合と同様であるが、
差動増幅部、ラッチ部をMOSトランジスタ(FET)
で構成しているので、高精度動作が期待できない。
本発明の第2、第3および第4の実施例を示す回路図で
ある。図5に示される第2の実施例においては、図1に
おけるスイッチ5が、ゲートにスイッチ制御信号φ21、
φ22がそれぞれ印加され、ドレインがNPNトランジス
タQ1 のコレクタに接続されて、ソースがNPNトラン
ジスタQ2 のコレクタに接続されるNMOSトランジス
タおよびPMOSトランジスタにより形成されるトラン
スファ・ゲートTGにより構成されている。なお、この
場合におけるスイッチ制御信号φ22は、スイッチ制御信
号φ21の反転信号である。図6に示される第3の実施例
においては、図1におけるスイッチ5が、ゲートにスイ
ッチ制御信号φ21が印加され、ドレインがNPNトラン
ジスタQ1 のコレクタに接続されて、ソースがNPNト
ランジスタQ2 のコレクタに接続されるNMOSトラン
ジスタMN1 により構成されている。また、図7に示さ
れる第4の実施例においては、図1におけるスイッチ5
が、ゲートにスイッチ制御信号φ22が印加され、ドレイ
ンがNPNトランジスタQ1 のコレクタに接続されて、
ソースがNPNトランジスタQ2 のコレクタに接続され
るPMOSトランジスタMP1 により構成されている。
なお、これらの第2、第3および第4の実施例の動作
は、第1の実施例の動作と同様であるので、その説明は
省略する。
出力端子間にスイッチ手段を設け、高速クロック周波数
のクロック信号入力に対しても常時正常な比較結果を出
力することがてきるという効果がある。
る。
る。
る。
ジスタ M1 、M2 、M3 、M4 、M5 、M6 、MN1 NM
OSトランジスタ TG トランスファ・ゲート MP1 PMOSトランジスタ
Claims (4)
- 【請求項1】 コレクタがそれぞれ第1、第2の抵抗を
介して第1の電源に接続されるとともに、それぞれ第
2、第1の出力端子に接続され、ベースがそれぞれ第
1、第2のアナログ入力端子に接続され、エミッタが共
通接続される第1、第2のNPNトランジスタと、 コレクタがそれぞれ前記第2、第1の抵抗を介して前記
第1の電源に接続されるとともに、それぞれ前記第1、
第2の出力端子に接続され、ベースがそれぞれ前記第
1、第2のNPNトランジスタの各コレクタに接続さ
れ、エミッタが共通接続される第3、第4のNPNトラ
ンジスタと、 前記第1、第2のNPNトランジスタの各コレクタの間
に挿入接続され、所定のスイッチ制御信号により、前記
第1、第2のNPNトランジスタのコレクタ間の導通/
遮断を制御するスイッチ手段と、 コレクタが、それぞれ前記第1、第2のNPNトランジ
スタの共通接続されたエミッタ、および前記第3、第4
のNPNトランジスタの共通接続されたエミッタに接続
され、ベースが、それぞれ第1、第2のクロック信号端
子に接続され、エミッタが共通接続される第5、第6の
NPNトランジスタと、 前記第5、第6のNPNトランジスタの共通接続された
エミッタと第2の電源との間に接続される定電流源とを
備えることを特徴とする比較回路。 - 【請求項2】 前記スイッチ手段が、ゲートがそれぞれ
第3、第4のクロック信号端子に接続され、ドレインが
前記第2の出力端子に共通接続されて、ソースが前記第
1の出力端子に共通接続されるPMOSトランジスタお
よびNMOSトランジスタを含むトランスファ・ゲート
により形成される請求項1記載の比較回路。 - 【請求項3】 前記スイッチ手段が、ゲートが第3のク
ロック信号端子に接続され、ドレインが前記第2の出力
端子に接続されて、ソースが前記第1の出力端子に接続
されるPMOSトランジスタにより形成される請求項1
記載の比較回路。 - 【請求項4】 前記スイッチ手段が、ゲートが第3のク
ロック信号端子に接続され、ドレインが前記第2の出力
端子に接続されて、ソースが前記第1の出力端子に接続
されるNMOSトランジスタにより形成される請求項1
記載の比較回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6208467A JP2959408B2 (ja) | 1994-09-01 | 1994-09-01 | 比較回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6208467A JP2959408B2 (ja) | 1994-09-01 | 1994-09-01 | 比較回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0879026A JPH0879026A (ja) | 1996-03-22 |
JP2959408B2 true JP2959408B2 (ja) | 1999-10-06 |
Family
ID=16556669
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6208467A Expired - Lifetime JP2959408B2 (ja) | 1994-09-01 | 1994-09-01 | 比較回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2959408B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6070797A (en) * | 1998-01-13 | 2000-06-06 | Info Telecom | Positioning device for a smart card reader |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59148425A (ja) * | 1983-02-15 | 1984-08-25 | Sony Corp | レベル比較器 |
JPH05175803A (ja) * | 1991-12-25 | 1993-07-13 | Hitachi Ltd | 電圧比較回路、及びアナログ・ディジタル変換器 |
-
1994
- 1994-09-01 JP JP6208467A patent/JP2959408B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0879026A (ja) | 1996-03-22 |
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