JP2941257B1 - 測定装置 - Google Patents

Abstract

【要約】 【課題】 無駄な測定条件の算出処理を省き測定作業能
率を向上させる。 【解決手段】 測定条件を用いて測定対象に対する測定
を実施する測定装置において、入力されるパラメータを
記憶するパラメータメモリ１５ａ〜１５ｃと、このパラ
メータメモリの各パラメータが更新されたことを示す更
新フラグ１９と、測定条件を記憶する測定条件メモリ１
１と、測定開始指令が入力したとき、更新フラグが設定
憶されていると、パラメータメモリに記憶されている各
パラメータを用いて測定条件を算出する測定条件算出手
段１６と、算出された測定条件で測定条件メモリに記憶
されている測定条件を更新する測定条件更新手段１７
と、更新された測定条件を用いて測定対象を測定する測
定部１２とを備えている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、測定対象が有する
各種特性を測定する測定装置に係わり、特に測定者が各
種測定条件を任意に設定可能な測定条件設定装置が組込
まれた測定装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】例えば、各種電子部品や、変換器や増幅
器や中継器等の各種電子装置が有する各種特性を測定す
る測定装置は、測定対象や測定目的によって測定者（ユ
ーザ）が測定条件を任意に設定可能に構成されている。
通常、これらの測定条件は測定者が測定対象に対する実
際の測定を開始する前に例えば前面の操作パネルを用い
て入力された複数のパラメータを用いて所定のアルゴリ
ズムに基づいて算出される。算出された測定条件は一旦
測定条件メモリに記憶保持される。そして、測定者が測
定開始指令を入力すると、測定条件メモリに記憶されて
いる測定条件を用いて測定対象に対する測定を開始す
る。

【０００３】この測定装置における測定条件の具体的設
定手法の一例を図６乃至図９を用いて説明する。図６は
各種電子部品や各種電子装置の周波数特性を測定する測
定装置１の前面の操作パネル２を示す図である。操作パ
ネル２には、測定結果を表示する表示器３の他に電源ス
イッチ４，測定対象を接続するための入出力端子５ａ，
５ｂ、置数キー（テンキー）６，複数の設定キー７，ダ
イヤルキー８等が配設されている。

【０００４】この測定装置１を用いて測定される周波数
特性においては、図６の表示器３の表示画面に示すよう
に、横軸が周波数ｆであり、縦軸が測定される振幅や位
相や遅延時間や増幅率や減衰率や変調度等の種々の測定
値である。そして、横軸の周波数ｆの値を順番に変化さ
せていって、各周波数値を有する試験信号を測定対象に
印加してこの試験対象からの応答信号を測定して所定の
データ処理を施した後、測定値として表示画面上にプロ
ットしていく。この場合、横軸における高い周波数精度
（確度）を確保するために、測定周波数をシンセサイザ
を用いて設定している。

【０００５】この場合、測定者が、個々の測定対象に対
して、測定すべき周波数特性における開始周波数ｆ_S と
終了周波数ｆ_E と測定点数Ｎとを、置数キー６と設定キ
ー７との組合せキー操作で入力する。なお、開始周波数
ｆ_S と終了周波数ｆ_E との代りに中心周波数と周波数ス
パンとを入力する場合もある。

【０００６】測定装置１内に組込まれた測定条件設定装
置は、入力された開始周波数ｆ_S と終了周波数ｆ_E と測
定点数Ｎとの３個のパラメータを用いて測定者が意図す
る測定条件を算出する。

【０００７】図７は、測定条件設定装置が組込まれた測
定装置１の概略構成を示すブロック図である。置数キー
６と設定キー７内の開始周波数設定キー７ａとで入力さ
れた開始周波数ｆ_S は測定条件算出部９のバッファ１０
ａへ書込まれる。同様に、置数キー６と終了周波数設定
キー７ｂとで入力された終了周波数ｆ_E は測定条件算出
部９のバッファ１０ｂへ書込まれる。さらに、置数キー
６と測定点数設定キー７ｃとで入力された測定点数Ｎは
測定条件算出部９のバッファ１０ｃへ書込まれる。

【０００８】測定条件算出部９は、開始周波数ｆ_S から
終了周波数ｆ_E までの周波数範囲を（Ｎ−１）等分し
て、開始点と終了点とを含む区分された境目にＮ個の測
定点Ｐを設定する。なお、周波数範囲の区分法として、
各測定点間の周波数幅が等しいリニア区分法と、周波数
軸を一旦対数変換し、この対数変換された後の周波数範
囲を等分化する対数区分法とがある。算出された各測定
点Ｐにおける周波数は、測定条件メモリ１１へ書込まれ
て記憶保持される。

【０００９】そして、測定者が測定開始キー７ｄを押す
と、測定部１２が起動して、図９の流れ図に示すよう
に、測定条件メモリ１１に記憶されている各測定点Ｐの
周波数を順番に読出して、シンセサイザを駆動して、測
定対象に対して試験信号を印加して実際の測定を実行し
ていく。各測定点Ｐにおける測定結果はデータ処理部１
３でデータ処理された後、表示器３の表示画面上の対応
する測定点Ｐの縦軸上にプロットされる。

【００１０】測定条件を決定するための前述した開始周
波数ｆ_S と終了周波数ｆ_E と測定点数Ｎとの３個のパラ
メータは、当然、測定者が測定対象の種別や測定目的に
応じて任意のタイミングで変更可能である。また、常に
３個のパラメータ全部を変更する必要はなく、その変更
順序も一定である必要はない。そして、測定装置１とし
ては、測定者が測定開始キー７ｄを押すと、直ちに、測
定部１２が測定条件メモリ１１から前述した各周波数等
の測定条件を読出して、測定を開始する。

【００１１】したがって、測定条件算出部９は、測定者
が何時測定開始キー７ｄを押してもよいように、いずれ
の設定キー７ａ、７ｂ、７ｃが押されたとしても、現時
点で各バッファ１０ａ、１０ｂ、１０ｃに入力されてい
る各パラメータを用いて、測定条件を算出している。

【００１２】すなわち、図８の流れ図に示すように、置
数キー６と開始周波数設定キー７ａの操作によって開始
周波数ｆ_S が変更されたり（Ｓ１）、置数キー６と終了
周波数設定キー７ｂの操作によって終了周波数ｆ_E が変
更されたり（Ｓ４）、置数キー６と測定点数設定キー７
Ｃの操作によって測定点数Ｎが変更されると（Ｓ５）、
その都度、Ｓ２へ進み、各バッファ１０ａ、１０ｂ、１
０ｃに入力されている各パラメータｆ_S ，ｆ_E ，Ｎを用
いて、各測定点Ｐにおける測定条件（周波数）を算出
し、算出した各測定点の測定条件（周波数）を測定条件
メモリ１１へ書込む（Ｓ３）。

【００１３】なお、当然、測定条件算出部９が測定条件
の算出処理動作中は、たとえ測定開始キー７ｄが押され
たとしても、その測定開始指令を受け付けないように制
御されている。

【００１４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図８、
図９に示す流れ図に従って、各パラメータｆ_S ，ｆ_E ，
Ｎを用いて測定条件を設定する測定条件設定装置が組込
まれた測定装置においても、まだ改良すべき次のような
課題があった。

【００１５】すなわち、例えば、測定者が、次の測定対
象の測定開始に際して、たとえ全部のパラメータｆ_S ，
ｆ_{E ,}Ｎを変更する場合であっても、３個のパラメータ
ｆ_S，ｆ_E ，Ｎが各バッファ１０ａ，１０ｂ，１０ｃに
書込まれた時点で、まとめて測定条件の算出処理を実行
するのではなくて、各パラメータが入力される毎に、そ
の時点で、３個の各バッファ１０ａ，１０ｂ、１０ｃに
記憶されている各パラメータｆ_S ，ｆ_E ，Ｎを用いて測
定条件が算出されて測定条件メモリ１１へ書き込まれ
る。

【００１６】その結果、一つの測定対象に対して、３回
測定条件の算出処理が実行されることになる。しかも、
その３回の算出された測定条件のうち実際に使用される
のは、最後に入力されたパラメータに応じて算出された
測定結果のみであり、先に入力されたパラメータに応じ
て算出された測定結果は、全く使用されない。

【００１７】前述したように、測定条件算出部９が測定
条件の算出処理動作中は、たとえ測定開始キー７ｄが押
されたとしても、その測定開始指令は受付けられないの
で、新規の測定対象に対する測定を開始するに際して、
実質的な測定条件の算出処理時間は同じであるにもかか
わらず、変更するパラメータの数に応じて、演算処理時
間が異なる。

【００１８】その結果、測定者にとっては、パラメータ
を設定してから測定開始キー７ｄの押下げ可能時刻まで
の時間が異なるので、操作性が大幅に低下する。また、
上述した３つのパラメータｆ_S ，ｆ_E ，Ｎを変更する場
合においても、各パラメータの入力順序によって全体の
演算処理時間が大きく変化する。すなわち、上述した３
つのパラメータｆ_S ，ｆ_E ，Ｎのうち測定点数Ｎが演算
処理時間に最も大きく影響を及ぼす。すなわち、測定点
数Ｎが多いと演算処理時間が大きくなる。

【００１９】したがって、この測定点数Ｎを増加する場
合はこの増加した測定点数Ｎのパラメータを最後に入力
し、この測定点数Ｎを減少する場合はこの減少した測定
点数Ｎのパラメータを最初に入力すれば、全体の演算処
理時間を短縮できる。

【００２０】しかし、新規の測定対象に対する測定を開
始するに際して、その都度、前回の設定内容と比較対照
を行って、各パラメータの設定順序を変更することを測
定者に強要することは、測定装置全体の操作性を大きく
損なうことになる。

【００２１】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
ものであり、順不同に操作入力される各パラメータを用
いた測定条件の算出タイミングを別途操作入力すること
により、測定対象を測定するに際して、たとえ複数のパ
ラメータを変更したとしても、測定条件の算出処理を１
回のみとすることができ、全体の演算処理時間を短縮す
ることができ、測定者にとって、各パラメータの設定時
刻から測定開始操作可能時刻までの待ち時間を短縮する
ことができ、測定作業効率を大幅に向上できる測定装置
を提供することを目的とする。

【００２２】

【課題を解決するための手段】本発明の測定装置は、任
意のタイミングで順不同に入力される複数のパラメータ
における各々の最新情報を記憶するパラメータメモリ
と、測定条件算出指令が操作入力したときのみ、パラメ
ータメモリに記憶されている複数のパラメータにおける
各々の最新情報に基づいて測定条件を算出する測定条件
算出手段と、この算出された測定条件を記憶する測定条
件メモリと、この測定条件メモリに記憶されている測定
条件を用いて測定対象に対する測定を実施する測定部と
を備えたものである。

【００２３】このように構成された測定装置において
は、測定者は、測定対象を測定するに際して、測定条件
を変更する場合は、必要なパラメータを設定した後、例
えば測定条件算出指令を入力すると、この時点で各パラ
メータメモリに記憶されている各パラメータに基づいて
新規の測定条件が初めて算出される。

【００２４】よって、使用されない測定条件が算出され
ることが未然に防止され、全体の演算処理時間が短縮さ
れるので、この測定条件設定装置が組込まれた測定装置
における測定作業効率を向上することができる。

【００２５】また、別の発明の測定装置においては、任
意のタイミングで順不同に入力される複数のパラメータ
における各々の最新情報を記憶するパラメータメモリ
と、このパラメータメモリに記憶されている各パラメー
タが更新されたことを示す更新フラグを記憶するフラグ
メモリと、測定開始指令が入力したとき、フラグメモリ
に更新フラグが記憶されていると、パラメータメモリに
記憶されている複数のパラメータにおける各々の最新情
報に基づいて測定条件を算出する測定条件算出手段と、
測定条件を記憶する測定条件メモリと、測定条件算出手
段で算出された測定条件で測定条件メモリに記憶されて
いる測定条件を更新する測定条件更新手段と、この更新
後の測定条件を用いて測定対象に対する測定を実施する
測定部とを備えている。

【００２６】このように構成された測定装置において
は、上述した発明における測定条件算出指令を測定開始
指令で兼用している。したがって、基本的に、測定開始
指令が入力されるとパラメータメモリに記憶されている
各パラメータを用いて測定条件が算出されて、この算出
された測定条件を用いて実際の測定が実施される。

【００２７】この場合、前回測定開始指令が入力された
時刻からパラメータが全く更新されない場合は、前回算
出した測定条件をそもまま使用することが可能である。
よって、この発明においては、更新されたことを示す更
新フラグを設けて、この更新フラグが設定されていた時
のみ測定条件を算出するようにしている。

【００２８】よって、測定条件を変更せずに多数の測定
対象を連続して測定する場合における測定作業能率を大
幅に向上できる。さらに別の発明は、任意のタイミング
で順不同に入力される複数のパラメータに基づく測定条
件を記憶する測定条件メモリを有し、入力される測定開
始指令に応じて、前記測定条件メモリにて記憶されてい
る測定条件を用いて測定対象に対する測定を実施する測
定装置に適用される。

【００２９】そして、上記課題を解消するために、本発
明においては、入力される複数のパラメータにおける各
々の最新情報を記憶するパラメータメモリと、測定条件
算出指令が操作入力したときのみ、パラメータメモリに
記憶されている複数のパラメータにおける各々の最新情
報に基づいて測定条件を算出する測定条件算出手段と、
この算出された測定条件で測定条件メモリに記憶されて
いる測定条件を更新する測定条件更新手段と、測定開始
指令が入力したとき、測定条件メモリに記憶されている
更新後の測定条件を用いて測定対象に対する測定を実施
する測定部とを備えている。

【００３０】さらに別の発明は、上述した発明の測定装
置において、入力される複数のパラメータにおける各々
の最新情報を記憶するパラメータメモリと、このパラメ
ータメモリに記憶されている各パラメータが更新された
ことを示す更新フラグを記憶するフラグメモリと、測定
開始指令が入力したとき、フラグメモリに更新フラグが
記憶されていると、パラメータメモリに記憶されている
複数のパラメータにおける各々の最新情報に基づいて測
定条件を算出する測定条件算出手段と、この算出された
測定条件で測定条件メモリに記憶されている測定条件を
更新する測定条件更新手段と、この更新後の測定条件を
用いて測定対象に対する測定を実施する測定部とを備え
たものである。

【００３１】また、別の発明においては、上述した測定
条件更新手段は、測定条件算出手段で算出された測定条
件で測定条件メモリに記憶されている測定条件を更新す
るとともに、更新フラグを解除するようにしている。こ
のような構成であっても、上述した各発明とほぼ同様の
効果を奏することがができる。

【００３２】

【発明の実施の形態】以下、本発明の各実施形態を図面
を用いて説明する。 （第１実施形態）図１は本発明の第１実施形態における
測定装置の概略構成を示すブロック図である。図７に示
す従来の測定装置と同一部分には同一符号が付されてい
る。したがって、重複する部分の詳細説明を省略する。
なお、測定装置の前面の操作パネルは図６に示す従来装
置における操作パネル２と同じである。

【００３３】置数キー６と開始周波数設定キー７ａとで
入力された一つのパラメータとしての開始周波数ｆ_S は
本発明の第１実施形態の測定条件設定装置１４内におけ
るパラメータメモリ１５ａへ書込まれる。同様に、置数
キー６と終了周波数設定キー７ｂとで入力された別のパ
ラメータとしての終了周波数ｆ_E は測定条件設定装置１
４内におけるパラメータメモリ１５ｂへ書込まれる。さ
らに、置数キー６と測定点数設定キー７ｃとで入力され
たさらに別のパラメータとしての測定点数Ｎは測定条件
設定装置１４内におけるパラメータメモリ１５ｃへ書込
まれる。

【００３４】各パラメータメモリ１５ａ，１５ｂ，１５
ｃは、入力された各パラメータを記憶保持すると共に、
新規のパラメータ入力されると記憶しているパラメータ
を新規入力されたパラメータに順次更新していく。

【００３５】測定条件設定装置１４は、一種のマイクロ
コンピユータで構成されており、図示するように、上述
した３つのパラメータメモリ１５ａ，１５ｂ，１５ｃの
他に算出された各測定点Ｐにおける測定周波数等の測定
条件を記憶する測定条件メモリ１１、及び上述した３つ
のパラメータメモリ１５ａ，１５ｂ，１５ｃのうち一つ
の以上のパラメータメモリの記憶内容が更新されたこと
を示す更新フラグを記憶するフラグメモリ１９が形成さ
れている。

【００３６】さらに、測定条件設定装置１４内には、ア
プリケーションプログラム上に形成された、測定条件算
出部１６，測定条件更新部１７，測定指示部１８が設け
られている。測定条件算出部１６はパラメータメモリ１
５ａ，１５ｂ，１５ｃに記憶されている開始周波数ｆ_S
,終了周波数ｆ_E 及び測定点数Ｎを用いて、例えば各測
定点における測定周波数からなる測定条件を算出する。
測定条件更新部１７は測定条件メモリ１１に記憶されて
いる測定条件を測定条件算出部１６で算出された測定条
件に更新する。さらに、測定指示部１８は測定部１２に
対して、測定開始指示を送出する。

【００３７】なお、上述した説明においては、測定条件
設定装置１４内を機能ブロックに分けたが、互いに機能
を兼ねることも可能である。例えば、測定条件更新部１
７が測定条件メモリ１１に記憶されている測定条件を更
新完了後に測定部１２に対して測定指示を送ることも可
能である。

【００３８】測定部１２は、測定指示部１８から測定開
始指示が入力されると、図４の流れ図に示すように、測
定条件メモリ１１に記憶されている各測定点Ｐの周波数
を順番に読出して、シンセサイザを駆動して、測定対象
に対して試験信号を印加して実際の測定を実行してい
く。各測定点Ｐにおける測定結果はデータ処理部１３で
データ処理された後、表示器３の表示画面上の対応する
測定点Ｐの縦軸上にプロットされる。

【００３９】そして、測定条件設定装置１４は、図２及
び図３の流れ図に従って測定条件の設定処理及び測定指
示処理を実施する。置数キー６と開始周波数設定キー７
ａの操作によって開始周波数ｆ_S が入力されると（Ｑ
１）、現在、対応するパラメータメモリ１５ａに同一の
開始周波数ｆ_S が既に記憶されていないことを確認した
のち（Ｑ２）、このパラメータメモリ１５ａに記憶され
ている開始周波数ｆ_S を今回入力した最新の開始周波数
ｆ_S に書き換える（Ｑ３）。そして、フラグメモリ１９
の更新フラグを１に設定する（Ｑ４）。なお、現在パラ
メータメモリ１５ａに同一の開始周波数ｆ_S が既に記憶
されている場合は、なにもしない。

【００４０】置数キー６と終了周波数設定キー７ｂの操
作によって終了周波数ｆ_E が入力されると（Ｑ５）、現
在、パラメータメモリ１５ｂに同一の終了周波数ｆ_E が
既に記憶されていないことを確認したのち（Ｑ６）、こ
のパラメータメモリ１５ｂに記憶されている終了周波数
ｆ_E を今回入力した最新の終了周波数ｆ_E に書き換える
（Ｑ７）。そして、フラグメモリ１９の更新フラグを１
に設定する（Ｑ８）。なお、現在、パラメータメモリ１
５ｂに同一の終了周波数ｆ_E が既に記憶されている場合
は、なにもしない。

【００４１】同様に、置数キー６と測定点数設定キー７
ｃの操作によって測定点数Ｎが入力されると（Ｑ９）、
現在、パラメータメモリ１５ｃに同一の測定点数Ｎが既
に記憶されていないことを確認したのち（Ｑ１０）、こ
のパラメータメモリ１５ｃに記憶されている測定点数Ｎ
を今回入力した最新の測定点数Ｎに書き換える（Ｑ１
１）。そして、フラグメモリ１９の更新フラグを１に設
定する（Ｑ１２）。なお、現在、パラメータメモリ１５
ｃに同一の測定点数Ｎが既に記憶されている場合は、な
にもしない。

【００４２】そして、測定者による測定開始キー７ｄが
キー操作され、測定開始指令が入力されると（Ｑ１
３）、フラグメモリ１９の更新フラグの設定状態を調べ
て（Ｑ１４）、更新フラグが１に設定されていた場合、
Ｑ１６へ進み、測定条件算出部１６が起動して、各パラ
メータメモリ１５ａ、１５ｂ、１５ｃに記憶されている
開始周波数ｆ_{S ,}終了周波数ｆ_E 及び測定点数Ｎを読出
して、例えば各測定点における測定周波数からなる測定
条件を算出する（Ｑ１５）。

【００４３】次に、測定条件更新部１７が起動して、測
定条件メモリ１１に記憶されている測定条件を今回測定
条件算出部１６で算出された測定条件に更新する（Ｑ１
６）。そして、フラグメモリ１９の更新フラグを０に解
除する（Ｑ１７）。その後、測定指示部１８が起動し
て、測定部１２に対して、実際の測定開始指示を送出す
る（Ｑ１８）。なお、例えば、更新フラグを０に解除し
た終了信号をもって、測定を開始できるようにしてもよ
い。

【００４４】なお、Ｑ１４にて、フラグメモリ１９の更
新フラグが０に解除されたままであると、今回、新規に
測定条件を算出する必要がないので、そのままＱ１８へ
進み、測定指示部１８を起動させて、測定部１２に対し
て、測定開始指示を送出する。この場合は、フラグメモ
リ９の更新フラグが０であることを確認後、測定を開始
せしめるようにしてもよい。

【００４５】このように構成された第１実施形態の測定
条装置においては、測定者は、測定対象を測定するに際
して、測定条件を変更する場合は、開始周波数ｆ_{S ,}終
了周波数ｆ_E 及び測定点数Ｎ内の必要なパラメータを置
数キー６と対応する各設定キー７ａ，７ｂ、７ｃを用い
て設定した後、測定開始キー７ｄをを入力すると、この
時点で更新フラグが１に設定されていたときのみ、各パ
ラメータメモリ１５ａ、１５ｂ、１５ｃに記憶されてい
る開始周波数ｆ_S ，終了周波数ｆ_E 及び測定点数Ｎに基
づいて新規の測定条件が初めて算出される。

【００４６】よって、使用されない測定条件が算出され
ることが未然に防止され、全体の演算処理時間が短縮さ
れるので、この測定条件設定装置１４が組込まれた測定
装置における測定作業効率を向上することができる。

【００４７】この場合、前回の測定開始キー７ｄが操作
された時刻から開始周波数ｆ_S ，終了周波数ｆ_E 及び測
定点数Ｎの各パラメータが全く更新されない場合は、前
回算出した測定条件をそもまま使用することが可能であ
る。よって、この実施形態の測定装置においては、更新
フラグが設定されていた時のみ測定条件を算出するよう
にしている。よって、測定条件を変更せずに多数の測定
対象を連続して測定する場合における測定作業能率を大
幅に向上できる。

【００４８】（第２実施形態）図５は本発明の第２実施
形態における測定条件設定装置１４ａが組込まれた測定
装置の概略構成を示すブロック図である。図１に示す第
１実施形態の測定条件設定装置１４と同一部分には同一
符号が付されている。したがって、重複する部分の詳細
説明を省略する。

【００４９】この第２実施形態の測定条件設定装置１４
ａにおいては、フラグメモリ１９と測定指示部１８の代
りに、操作パネル２の設定キー７内に条件算出キー７ｅ
が設けられている。そして、測定者がこの条件算出キー
７ｅを押すと、測定条件算出指令が測定条件設定装置１
４ａへ入力される。さらに、測定開始キー７ｄから入力
される測定開始指令は測定条件設定装置１４ａを経由し
て測定部１２へ入力される。

【００５０】このように構成された第２実施形態におけ
る測定条件設定装置１４ａが組込まれた測定装置におい
ては、図１に示す第１実施形態の測定装置と同様に、置
数キー６と各設定キー７ａ、７ｂ、７ｃのキー操作で入
力される開始周波数ｆ_S ，終了周波数ｆ_E 及び測定点数
Ｎの各パラメータは、それぞれ対応する各パラメータメ
モリ１５ａ、１５ｂ、１５ｃへ順次入力されて、その記
憶内容がその都度最新値に更新される。

【００５１】そして、測定者は、必要なパラメータを設
定した後、条件算出キー７ｅを押すと、この時点で各パ
ラメータメモリ１５ａ〜１５ｃに記憶されている各パラ
メータに基づいて新規の測定条件が初めて算出され、算
出された測定条件は測定条件メモリ１１へ書き込まれ
る。

【００５２】そして、測定者は、その後に、測定開始キ
ー７ｄを押せば、測定部１２が測定条件メモリ１１に記
憶された測定条件を用いて、測定対象に対する測定を実
施する。

【００５３】よって、第１実施形態の測定装置と同様
に、使用されない測定条件が算出されることが未然に防
止され、全体の演算処理時間が短縮されるので、この測
定条件設定装置が組込まれた測定装置における測定作業
効率を向上することができる。

【００５４】なお、本発明は上述した各実施形態に限定
されるものではない。各実施形態においては、パラメー
タとして、開始周波数ｆ_S ，終了周波数ｆ_E 及び測定点
数Ｎの３つを採用したが、他の種類のパラメータを採用
することも可能である。

【００５５】

【発明の効果】以上説明したように、本発明の測定装置
においては、順不同に操作入力される各パラメータを用
いた測定条件の算出タイミングを別途操作入力してい
る。したがって、測定対象を測定するに際して、たとえ
複数のパラメータを変更したとしても、測定条件の算出
処理を１回のみとすることができ、全体の演算処理時間
を短縮することがどき、測定者にとって、各パラメータ
の設定時刻から測定開始操作可能時刻までの待ち時間を
短縮することができ、測定作業効率を大幅に向上でき
る。

【００５６】また、測定開始操作をした時に、パラメー
タが変更されている場合のみ測定条件の算出を実施して
いる。よって、測定条件を変更せずに多数の測定対象を
連続して測定する場合における測定作業能率を大幅に向
上できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１実施形態に係わる測定装置の概略
構成を示すブロック図

【図２】同第１実施形態の測定装置に組込まれた測定条
件設定装置の動作を示す流れ図

【図３】同じく第１実施形態の測定装置に組込まれた測
定条件設定装置の動作を示す流れ図

【図４】同じく第１実施形態の測定装置に組込まれた測
定条件設定装置の動作を示す流れ図

【図５】本発明の第２実施形態に係わる測定装置の概略
構成を示すブロック図

【図６】一般的な測定装置の前面における操作パネルを
示す図

【図７】従来の測定装置に組込まれた測定条件設定装置
の概略構成を示すブロック図

【図８】同従来の測定装置に組込まれた測定条件設定装
置の動作を示す流れ図

【図９】同じく従来の測定装置に組込まれた測定条件設
定装置の動作を示す流れ図

【符号の説明】

１…測定装置 ３…表示器 ６…置数キー ７ａ…開始周波数設定キー ７ｂ…終了周波数設定キー ７ｃ…測定点数設定キー ７ｄ…測定開始キー ７ｅ…条件算出キー １１…測定条件メモリ １２…測定部 １３…データ処理部 １４，１４ａ…測定条件設定装置 １５ａ，１５ｂ，１５ｃ…パラメータメモリ １６…測定条件算出部 １７…測定条件更新部 １８…測定指示部 １９…フラグメモリ

フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.⁶，ＤＢ名) G01R 31/00 G01R 23/16 G01R 27/28 G01D 21/00 G06F 3/02

Claims (5)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 任意のタイミングで順不同に入力される
   複数のパラメータにおける各々の最新情報を記憶するパ
   ラメータメモリ（15a 〜15c ）と、 測定条件算出指令が操作入力したときのみ、前記パラメ
   ータメモリに記憶されている複数のパラメータにおける
   各々の最新情報に基づいて測定条件を算出する測定条件
   算出手段（16）と、 この算出された測定条件を記憶する測定条件メモリ（1
   1）と、 この測定条件メモリに記憶されている測定条件を用いて
   測定対象に対する測定を実施する測定部（12）とを備え
   た測定装置。
2. 【請求項２】 任意のタイミングで順不同に入力される
   複数のパラメータにおける各々の最新情報を記憶するパ
   ラメータメモリ（15a 〜15c ）と、 このパラメータメモリに記憶されている各パラメータが
   更新されたことを示す更新フラグを記憶するフラグメモ
   リ（19）と、 測定開始指令が入力したとき、前記フラグメモリに更新
   フラグが記憶されていると、前記パラメータメモリに記
   憶されている複数のパラメータにおける各々の最新情報
   に基づいて測定条件を算出する測定条件算出手段（16）
   と、 測定条件を記憶する測定条件メモリ（11）と、 前記測定条件算出手段で算出された測定条件で前記測定
   条件メモリに記憶されている測定条件を更新する測定条
   件更新手段（17）と、 この更新後の測定条件を用いて前記測定対象に対する測
   定を実施する測定部（12）とを備えた測定装置。
3. 【請求項３】 任意のタイミングで順不同に入力される
   複数のパラメータに基づく測定条件を記憶する測定条件
   メモリ（11）を有し、入力される測定開始指令に応じ
   て、前記測定条件メモリにて記憶されている測定条件を
   用いて測定対象に対する測定を実施する測定装置におい
   て、 前記入力される複数のパラメータにおける各々の最新情
   報を記憶するパラメータメモリ（15a 〜15c ）と、 測定条件算出指令が操作入力したときのみ、前記パラメ
   ータメモリに記憶されている複数のパラメータにおける
   各々の最新情報に基づいて測定条件を算出する測定条件
   算出手段（16）と、 この算出された測定条件で前記測定条件メモリに記憶さ
   れている測定条件を更新する測定条件更新手段（17）
   と、 前記測定開始指令が入力したとき、前記測定条件メモリ
   に記憶されている更新後の測定条件を用いて前記測定対
   象に対する測定を実施する測定部（12）とを備えた測定
   装置。
4. 【請求項４】 任意のタイミングで順不同に入力される
   複数のパラメータに基づく測定条件を記憶する測定条件
   メモリ（11）を有し、入力される測定開始指令に応じ
   て、前記測定条件メモリにて記憶されている測定条件を
   用いて測定対象に対する測定を実施する測定装置におい
   て、 前記入力される複数のパラメータにおける各々の最新情
   報を記憶するパラメータメモリ（15a 〜15c ）と、 このパラメータメモリに記憶されている各パラメータが
   更新されたことを示す更新フラグを記憶するフラグメモ
   リ（19）と、 前記測定開始指令が入力したとき、前記フラグメモリに
   更新フラグが記憶されていると、前記パラメータメモリ
   に記憶されている複数のパラメータにおける各々の最新
   情報に基づいて測定条件を算出する測定条件算出手段
   （16）と、 この算出された測定条件で前記測定条件メモリに記憶さ
   れている測定条件を更新する測定条件更新手段（17）
   と、 この更新後の測定条件を用いて前記測定対象に対する測
   定を実施する測定部（12）とを備えた測定装置。
5. 【請求項５】 前記測定条件更新手段は、前記測定条件
   算出手段で算出された測定条件で前記測定条件メモリに
   記憶されている測定条件を更新するとともに、前記更新
   フラグを解除することを特徴とする請求項４記載の測定
   装置。